Кристаллы-монохроматоры

ХАРАКТЕРИСТИКИ НЕКОТОРЫХ КРИСТАЛЛ-МОНОХРОМАТОРОВ [c.117]

Ф — фокус рентгеновской трубки М — кристалл-монохроматор О — образец П — пленка [c.121]

Кристаллы-монохроматоры, характеристики 117 Кристаллографические индексы 102 [c.349]

Чувствительность фазового анализа может быть значительно повышена за счет монохроматизации излучения с помощью кристалл-монохроматоров, что приводит к ослаблению фона рентгенограммы [14]. При этом в ряде случаев можно определять наличие дисперсных фаз путем съемки непосредственно со шлифа. [c.138]

ХАРАКТЕРИСТИКИ КРИСТАЛЛОВ-МОНОХРОМАТОРОВ [c.77]

При отражении лучей от кристаллов-монохроматоров могут сохраняться высшие гармоники (лучи с Я/3 и т. д.). Для исключения высших гар- [c.77]

Отражательная способность кристаллов-монохроматоров [c.79]

В таблице приведены значения коэффициентов отражения рентгеновских лучей Р для ряда кристаллов-монохроматоров (/ — относительная интенсивность для Си/Са-излучения, й—оптимальная толщина кристалла при съемке на прохождение на медном излучении) 250]. [c.79]

В таблице приведены значения наиболее рациональной толщины кристаллов-монохроматоров, изготовленных из различных материалов, при съемке на Си/С-излучении на прохождение [250]. [c.79]

В таблице приведены углы отражения и интервалы углов фокусировки Лд для некоторых кристаллов-монохроматоров при съемке на Мо-, Си-, Со-и Ре-излучениях для /Са-дублета [250]. [c.80]

При съемке с кристаллом-монохроматором поляризационный множитель вычисляется из соотношений (а) для кинематического рассеяния рентгеновских лучей монохроматором [c.335]

На рис. 197 и 198 приведены зависимости между углами а поворота кристалла-монохроматора и углами скольжения для случая конкурирующей экстинкции [448]. Цифры у кривых обозначают индексы плоскостей, от которых следует ожидать конкурирующей экстинкции . [c.843]

Координаты атомов в некоторых структурах 361—379 Коэффициенты линейного расширения 694-695 Кристаллы-монохроматоры 77—86 [c.861]

Рис. 2.7. а) Спектральное распределение интенсивности излучения рентгеновской трубки с молибденовым антикатодом при напряжении 30 кВ. б) Распределение по энергиям нейтронов, испускаемых реактором заштрихован интервал длин волн, пропускаемых кристаллом-.монохроматором [6]. [c.68]

Рис. 2.8. На кристалл-монохроматор падает пучок рентгеновских лучей из трубки или нейтронов из реактора. Монохроматор в результате брэгговского отражения выделяет узкую полосу из широкого диапазона длин волн падающего излучения. Вверху показано разложение (полученное отражением от второго кристалла) пучка нейтронов с X — 1,16 A, полученного с помощью монохроматора (кристалл флюорита кальция). Максимум интенсивности при Я = 0,58 A составляет менее 1% максимума интенсивности при Х=1,16А. Стрелкой показан максимум интенсивности, отвечающий основному пучку (180 000 отсчетов в минуту). Основным является пучок, проходящий через второй кристалл без отражения [6].

На рис. 2.7,а показано спектральное распределение интенсивности излучения рентгеновской трубки с молибденовым антикатодом при напряжении в 30 кВ. На рис. 2.7,6 показано распределение по энергиям нейтронов, испускаемых ядерным реактором. Отразив пучок рентгеновских лучей или нейтронов от кристалла-монохроматора, как показано на рис. 2.8, получают п чок с распределением интенсивности, которое, например, на рис. 2.7,6 показано заштрихованной полосой. Простой нейтронный спектрометр, используемый для исследований методом вращения кристалла, изображен на рис, 2.9. [c.69]

Все предшествующие рассуждения относились к свету определенной длины волны, т. е. к небольшому спектральному интервалу. При значительном разнообразии в длинах волн следует принять во внимание, что показатели преломлений для обеих волн зависят от длины волны (дисперсия), причем их разность также меняется с длиной волны. Благодаря этому обстоятельству можно использовать прохождение поляризованного света через кристалл для разделения двух близких длин волн (поляризационный монохроматор Вуда) (см. упражнение 166). [c.393]

Дифракция медленных нейтронов от кристалла, или метод кристаллического монохроматора [c.340]

Детальное изучение сечения взаимодействия медленных и тепловых нейтронов было произведено с помощью нейтронной спектроскопии, которая позволяет выделять нейтроны данной энергии из непрерывного спектра. Наиболее широко применяются четыре метода нейтронной спектроскопии, два из которых (метод механического монохроматора и метод дифракции нейтронов от кристалла) реально выделяют в данном направлении моноэнергетические нейтроны, а два других (метод мигающего ускорителя и метод механического селектора) выделяют нейтроны с данной энергией по времени пролета. Нейтронная спектроскопия подтвердила правильность боровских представлений [c.357]

Коллиматор формирует рабочий пучок первичного излучения — квазипараллельный или с заданной расходимостью. С коллиматором может быть совмещён кристалл-монохроматор, выделяющий излучение нужного спектрального состава. В Р, к., использующих синхрот-ронвое излучение, для подавления гармоник служат зеркала полного отражения. В конструкциях коллиматора предусмотрены, устранение излучения, рассеянного от краёв формирующих пучок деталей, а также возможность установки Селективно поглощающих фильтров. [c.343]

Рис. 3. Схемы расположения узлов основных типов рентгеновских камер для исследовании поликристаллов а — дебаевская камера 6.—фокусирующая камера с изогнутым кристаллом-монохроматором для исследования образцов на просвет (область передних углов дифракции) в — фокусирующая камера для обратной съёмки (большие углы дифракции) на плоскую кассету. Стрелкам показаны направления прямого и дифрагирог ванного пучков. Механизмы движения образца, установки камеры у рентгеновской трубки и защита от рассеянного излучения на схеме не приведены. О — образец Г — фбкус рентгеновской трубки М — кристалл-монохроматор К — кассета с фо-, топлёнкой Ф Я — ловушка, перехватывающая первичный пучок ФО — окружность фокусировки дифракционных максимумов КЛ — коллиматор МЦ — механизм центрировки образца.

Монохроматизацня первичного пучка наиболее эффективна с помощью изогнутого кристалла-монохроматора (рис. 5.18). При такой схеме съемки используется широко расходящийся пучок, а максимумы оказываются узкими, т. е. сфокусированными, если монохро.матор изогнут по радиусу, равному диаметру барабана, на котором располагается пленка. Монохромати-зация позволяет существенно повысить чувствительность фотометода и обнаруживать самые слабые максимумы за счет уменьшения фона рентгенограммы. [c.120]

К аналогичному заключению пришли Варбюртен и другие [82, 831. Ими использовались кристалл — монохроматоры [3 (220) 1 с угловым разрешением 4,05" [c.447]

Особенно большое значение имеет тщательная юстировка гониометра при исследовании тонкой структуры монокристаллов с яримеяением кристалл-монохроматора, так как в этом случае разъюстировка прибора приводит к существенным потерям интенсивности. [c.48]

В ряде задач Р. к. применяются совместно с монохроматорами рентгеновского излучения. Монохроматор является или конструктивно отдельным узлом, или вводится в конструкцию камеры. В качестве кристалл-монохроматоров применяют плоские и изогнутые (постоянный или переменный радиусы изгиба) кристаллы [3]. Кроме изгиба по цилиндрич. поверхности (сходимость лучей в линию), применяют точечные монохроматоры (сходимость в точку), что достигается комбинацией двух цилиндрических монохроматоров или кристаллом двойной кривизны (рис. И). Изогнутые кристалл-мо-нохроматоры эффективно применяют в фокусирующих методах съемки. [c.421]

В качестве кристаллов монохроматоров чаще всего применяют кварц, алюминий, каменную соль, кальцит, цинк, флюорит, пен-тоэритрит. [c.194]

Недавно предложен оригинальный способ монохроматизации излучения без кристаллов-монохроматоров [20]. Способ основан на ионизационном действии рентгеновых лучей и применении в качестве регистратора квантов, пропорциональных или сцинтиляционных счетчиков. [c.194]

Кристаллы-монохроматоры применяют во всех случаях, когда необходимо выделить одну длину волны характеристического излучения (например, /(ад) и уменьшить фон. Так, монохроматоры применяюг при исследовании радиального распределения электронной плотности в атомах аморфных и жидких материалов, при исследовании рассеяния под малыми углами, при точных измерениях интенсивности и ширины линии, в фазовом анализе и т. д. [c.77]

Рис. 5.8. Разрез трехосного кристаллического спектрометра Брокхауза, показанного на рис, 5.9. I — заглушка канала реактора 2 — наружи ая поверхность реактора 3 — вспомогательная заглушка 4 — враш,аюш,ееся защитное ограждение 5 — кристалл-монохроматор (J — контрольный счетчик 7 — образец —счетчик, наполненный ВРз Р — кристалл-анализатор.

Рис. 2. Осн. схемы рентг. камер для исследования поликристаллов а — дебаев-ская камера б — фокусирующая камера с изогнутым кристаллом - монохроматором для исследования образцов на просвет

Идеей наиболее распространенных методов нейтронной спектроскопии является выделение нейтроногв заданной энергии из непрерывного спектра. Это выделение может быть либо пространственным, когда в данном направлении летят моноэнергети-ческие нейтроны (метод механического монохроматора, дифракция нейтронов от кристалла), либо временным, когда в данном направлении одновременно вылетают нейтроны всех энергий, но в зависимости от величины энергии они приходят в заданную точку пространства в разное время (с большей энергией, т. е. более быстрые, раньше). Такое временное выделение называется методом времени пролета. В области низких энергий (примерно до 10- -100 кэв) этот метод имеет два варианта метод механического селектора, когда для обеспечения одновременности вылета нейтронов используются механические прерыватели пучков нейтронов — затворы, и метод мигающего ускорителя, при котором короткие импульсы нейтронов получаются за счет импульсной бомбардировки мишени заряженными частицами или (во вторичном процессе) у Квантами. [c.329]

Гониометрическая приставка ГПД предназначена для работы в режиме двойного кристалл-спектрометра с дифрактометром ДРОН-2,0 для съемки кривых отражения, Приставка состоит из монохроматора и держателя образца, точность отсчета угла поворота образца достигает 1" в угловом диапазоне до 45, выбираемом в любом месте интервала от О до oG0°, [c.494]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...