Метод сканирования

Метод сканирования (упорядоченного перебора). В соответствии с этим методом осуществляется последовательный просмотр всех узлов и-мерной решетки в заданной области изменения параметров оптимизации, которая определяется условиями [c.153]

Алгоритм, реализующий метод сканирования, может быть построен как совокупность вложенных друг в друга циклов, общим для которых является участок по расчету и проверке ограничений и функции цели. Количество таких циклов равно числу параметров оптимизации п [c.154]

Наиболее распространенным приемом, позволяющим отстроиться от локальности направленных методов поиска, является организация алгоритмов, в которых на первом этапе применяется пассивный поиск, а в дальнейшем — один из методов направленного поиска. Такое комби нирование методов оптимизации позволяет вести направленный обзор области поиска из нескольких начальных точек (как это показано в примере на рис. 5.21), которые могут формироваться методами сканирования или статистических испытаний. Важно отметить, что начальные точки должны находиться в области допустимых значений параметров. Схема организации комбинированного алгоритма поисковой оптимизации, дающего возможность определять приближения к глобальному экстремуму функции цели, представлена на рис. 5.28. [c.164]

Предлагаемые в литературе [5.20, 5.37] способы, основанные на сочетании метода сканирования (с большим шагом) с последующими локальными поисками вершин, по существу сводятся к перебору локальных экстремумов и запоминанию наивысшего или наинизшего из них. [c.202]

Это краткое замечание имеет целью дать лишь самое поверхностное представление о типах обработки, которые возможны с применением некогерентных систем, основанных на геометрии изображения и им подобных. Они включают в себя пространственные и временные методы сканирования, многоканальную обработку и т.д. и проектируются на основе широкого диапазона устройств (светодиодов, матриц ПЗС и т.д.). [c.121]

Для контроля и уточнения задача оптимизации решалась также и методом нелинейного программирования с помощью ЭВМ. В данном случае задача поиска минимума функции Ка двух переменных d и к, которые связаны условием (60), не решается в явном виде относительно одной переменной. Для решения задачи оптимизации применялся метод обобщенного критерия в сочетании с методом сканирования [61. Результаты вычислений Ка min приведены на рис. 20, а опт в табл. 8. и данные и результаты вычислений из уравнений (60), (61) практически одинаковы. [c.184]

Исследование тонких магнитных пленок. Параметры линии ФМР чувствительны к несовершенствам кристаллической структуры тонкого слоя ферромагнетика. Поэтому ФМР используют для контроля качества тонких эпитаксиальных магнитных пленок. В работах [13.28, 13.291 предложены методы сканирования пленок резонатором ФМР, что позволяет установить области дефектной кристаллической структуры. [c.193]

Микроволновые голограммы регистрируются методом сканирования. Микроволновой приемник, перемещаясь в интерференционном поле, осуществляет поточечную регистрацию голограммы. Снимаемый с приемника сигнал управляет яркостью свечения лампы, излучение которой фокусируется на фотопленке. Эта фотопленка перемещается относительно лампы синхронно с перемещением приемника, но со значительно меньшей скоростью. Причем отношение скоростей перемещения фотопленки и приемника равно отношению длин волн излучения, используемого при реконструкции, и микроволнового излучения. Таким образом получается амплитудная голограмма, которая может быть реконструирована с использованием излучения видимого диапазона спектра. [c.194]

Для коллимирования пучка газового лазера диаметром 5 мм в ближней зоне применяется телескопическая система. Она расширяет пучок до 40 мм в диаметре. Такая система состоит из микроскопического объектива диаметром 49 мм с фокусным расстоянием 18 мм и телескопического объектива диаметром 343 мм с фокусным расстоянием 48 мм. Дифракционные картины возникают при взаимодействии пучка диаметром 40 мм с расположенной на его оси диафрагмой диаметром 5 мм. Система линз переносит дифракционные картины в фокальную плоскость, и там они исследуются методом сканирования при помощи фотоумножителя 931-А, на входе которого установлена ограничивающая диафрагма диаметром 0,4 мм. Исследовались два случая в первом лазер работал с полусферическим резонатором при максимальном расстоянии между зеркалами, при котором его излучение было еще стабильно, а во втором резонатор был укорочен на 1%. [c.62]

Картины излучения диодов исследовались методом сканирования. Диоды укреплялись на поворотном столе, который обеспечивал вращение либо вокруг оси, перпендикулярной плоскости р — /1-перехода, либо вокруг оси, лежащей в плоскости р — п-перехода и параллельной полированным поверхностям. Излучение диода исследовалось также при помощи монохроматора с щелевой диафрагмой, обеспечивающей угловое разрешение не ниже 0,1°, и спектральным разрешением не ниже 1 А [44]. [c.66]

Если допустимы достаточно большие времена усреднения, то можно пользоваться обычным методом фотографирования колец. Кольца также можно регистрировать при помощи самописца, если немного изменить оптическое расстояние между зеркалами и записывать выходной сигнал фотоприемника, направленного на центр интерференционной картины. Можно применить также метод сканирования за счет изменения давления внутри эталона [22] или же пьезоэлектрического [23] или магнитострик-ционного сканирования. [c.422]

Изотопическое смещение линии Л=1850 А исследовалось также методом сканирования в магнитном поле [201]. Этот метод гораздо менее точен, чем метод пересечения уровней, и, по-видимому, для таких сложных контуров мало пригоден и не может конкурировать с методом пересечения уровней. [c.322]

Для исследования контура линии применялся метод погло-ш,ения и метод сканирования в электрическом поле [48]. Можно показать, что даже в тех случаях, когда только незнач.итель-ная часть ато.мов (несколько процентов) возбуждается благодаря ударам второго рода, контур линии значительно искажен по сравнению с чисто доплеровским, возникающим при электронном возбуждении. [c.334]

О методах сканирования см. ниже. [c.458]

Основное достоинство этого метода сканирования в том, что зеркала интерферометра остаются неподвижными. Для сканирования одного порядка интерференции фокусное расстояние объектива /пер изменяют на 100 мм и более, что может быть легко осуществлено с большой точностью. В аналогичном случае смещение зеркала интерферометра на К/2 с высокой точностью осуществить затруднительно. [c.502]

Применяя тот или другой метод сканирования, можно создать фотоэлектрическую установку с интерферометром Фабри—Перо. Для исследования излучения стабильных источников света применяются одноканальные схемы, состоящие из интерферометра, механизма сканирования и регистрирующей части. Если источник недостаточно стабилен или вовсе не дает устойчивого во времени излучения, необходима двухканальная система регистрации. [c.177]

Метод сканирования дает возможность наблюдать живые клетки биологических препаратов в ультрафиолетовых лучах в течение длительного времени без повреждения клеток. Это объясняется тем, что прн числе строк развертки 625 время облучения каждой точки препарата за 24 ч работы не превышает сек. [c.78]

Вообщ,е задачи условной оптимизации более сложны, чем задачи безусловной оптимизации. Для их решения используют специально разработанные методы программирования с ограничениями. Одним из таких методов, которые относятся к методам поиска глобального экстремума, является метод сканирования, состоящий в том, что допустимая область поиска, определяемая системой ограничений, разбивается на к подобластей, в центре каждой из которых определяется значение целевой функции. Если целевая функция зависит от п параметров, необходимо выполнить вариантов расчета. Для надежного определения глобального минимума необходимо увеличивать число к подобластей, что приводит к большим затратам машинного времени. [c.319]

Так, при небольшом числе параметров оптимизации и невысокой требуемой точности решения методы пассивного поиска еще остаются конкурентоспособными с комбинированными методами. Например, при Дх. = 0,25 и и = 3 решение задачи методом сканирования требует 75 оЬращений к модели объекта. Метод сканирования целесообразно также применять и при дискретно изменяемых параметрах оптимизации. Кроме того, нужно принимать во внимание отмеченную ранее простоту реализации алгоритмов пассивного поиска и тот факт, что они являются неотъемлемым атрибутом для формирования комбинированных алгоритмов. [c.172]

Программная система позволяет применять для оптимизационных расчетов гиродвигателей методы сканирования, статистических испытаний, градиента, случайного поиска, покоординатного улучшения функции цели (Гаусса—Зейделя). При этом имеется возможность проводить расчеты ГД различных типов асинхронных с короткозамкнутым ротором, синхронных с магнитозлектрическим возбуждением, синхронных реактивных, бесконтактных двигателей постоянного тока, а также ГД различных конструктивных схем и исполнений, с различными алгоритмами управления, что достигается применением общих методов и алгоритмов анализа физических процессов, определяющих функциональные свойства проектируемых объектов, рациональным выбором входных данных. [c.231]

Среди методов сканирования значительное внимание уделено методу граничного скаьшрования (BS - Boundary-S an) [17], предназначенному преимущественно для проверки межсоединений на печатных платах и в многокристальных СБИС. Для этого в каждый чип вводятся сдвигающие регистры, состоящие из ячеек по одной на каждый внешний вывод. Благодаря ячейкам можно при [c.133]

Значительным прогрессом в аппаратурном обеспечении количественной металлографии явилось создание приборов, действие которых основано на при1щипе сканирования микроструктуры световым лучом. Используют два принципиально различных метода сканирования. При сканировании щелью пользуются узкой щелеобразной аиертурой, расположенной перпендикулярно к линии сканирования. Высота сканирующей щели при этом превышает средний линейный размер (поперечник) микрочастиц. При сканировании пятном световой луч прочерчивает линию, ширина которой (равная диаметру пятна) должна быть возможно меньшего размера и значительно меньше среднего линейного размера микрочастиц. Процесс сканирования пятном подобен анализу микроструктуры с применением секущих линий. [c.490]

Проиллюстрированный с помощью имитатора принцип действия С. п. относится к одноканаль-Е ы м методам спектрометрии. В распространённых наряду с ними многоканальных методах сканирование не применяется и потоки разных Я регистрируются одновременно. В имитаторе этому соответствует наложение на экран 1 другого неподвижного экрана, имеющего N отверстий для разных Я. со своими АФ при этом поток от каждого отверстия (канала) регистрируется независимо. [c.612]

Среди методов сканирования значительное внимание уделяется методу граничного сканирования BS — boundary-s an), предназначенному преимущественно для проверки соединений на печатных платах и в многокристальных [c.227]

Исследования метода сканирования лазерного пучка с использованием интерферометра Маха — Цендера для целен тета-модуляции изображения проводятся совместно Дайалом и Ли в Калифорнийском университете. [c.612]

Этот метод сканирования, предложенный в [9.116], фактически основан на усилении света, отраженного от того или иного участка поверхности ПВМС (рис. 9.20). Усиление в данном случае осуществляется за счет двухволнового (или четырехволнового) взаимодействия на смещенной фазовой решетке в ФРК- При этом желателен нелинейный режим процесса, что в принципе при больших про- [c.247]

Для определения поперечного распределения интенсивности в выходном пучке первого газового цезиевого лазера с оптической накачкой применялся метод сканирования [35]. Генерация происходила в полусферическом резонаторе на длине волны 7,18 JHK. Пространственное распределение выходного излучения ввиду отсутствия для этого диапазона пленок и фотоэмиссион-ных приемников было измерено путем сканирования пучка приемником из германия, легированного золотом. [c.60]

Кроме аппаратурных искажений спектров поглощения, вызываемых конечной шириной аппаратной функции монохроматора, при регпстрацпи спектра методом сканирования (см. ниже) возникают и инерционные аппаратурные искажения, вносимые усили-26 [c.403]

Рис. 6. профили интепсиБкости люминесцентного излучени т экситонов в параболической потенциальной яме (примером такого излучения является светлое пятно на рис. 1) [4], Экспериментальные кривые получены методом сканирования (рис. 3) при двух длинах волн, характеризующих излучение свободных экситонов (1) и экситонных молекул (2) таким образом профили интенсивности, имеющие гауссову форму, характеризуют пространственное распред ление экситонов и биэкситоиов. Молекулы, обладающие удвоенной массой, но той же тепловой энергией, располагаются в яме на большей глубине, и радиус их распределения [c.143]

Контур линии Ьа в излучающей трубке можно определить методом сканирования в электрическом поле [89, 90]. Зная контуры линии испускания и поглощения, можно рассчитать величину поглощения, т. е. для этого частного случая метод линейчатого поглощения становится безэталонным. [c.291]

Сравнивая рассматриваемую схему с предыдущей, в которой кодирование спектральных составляющих осуществлялось временными частотами, можно заключить, что аналогом скорости V является sin , а аналогом частоты со = 2я/ — величина 4л/d. Соответственно возможна реализация двух отмеченных методов сканирования. Отметим также, что анализирующая дифракционная решетка осуществляет гетеродинирование, т. е. превращает высокие пространственные частоты первичной интерференционной картины в низкие — вторичной, на которых и осуществляется регистрация спектра. [c.477]

Третий метод сканирования основан на изменении расстояния между интерференционными пластинами эту операцию необходимо осуществлять очень точно. Изменение расстояния можно производить либо механическим, либо электромагнитным способами. Механические способы заключаются в перемещении одной из интерференционных пластин с помощью шарнирного параллелограммного механизма, микрометренного винта или посредством пружинного подвеса. Перечисленные способы перемещения хотя и возможны, но связаны с большими технологическими трудностями, так как точность перемещения пластины должна быть очень высока (0,0025—0,0075 мкм). [c.500]

Высокие метрологические характеристики могут быть достигнуты в анализаторах, построенных по методу сканирования в плоскости источника излучения —системе бегущего луча (рис. 31, г, д). Освещение препарата производится последовательно движущимся лучом, сфокусированным в плоскости препарата. При электронном сканировании источником света служит пятно электроннолучевой трубки (ЭЛТ), обегающее экран этой трубки. При механическом сканировании используется диск Нипкова. 9 263 [c.263]

С помощью ИК-профилографов, использующих метод сканирования, определяют топографию температуры на поверхности изделия. Перемещение объекта контроля осуществляют при помощи двухкоординатного столика, на котором располагают о ьект. Применяют для контроля качества пайки и сварки, обнаружения трещин, раковин, обрывов или плохих контактов, неоднородных включений в материале для выявления дефектов гальванических покрытий (локальные разрывы, пустоты и т.п.). [c.215]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...