Сканирование пучка

Одномерное Ф-преобразование. Использование одномерного преобразования Фурье связано с получением информации при сканировании пучком электронов в направлении локального распространения трещины, совпадающем с измеряемой величиной шага усталостных бороздок. Получаемая информация представляет собой дискретный ряд точек, соответствующих различной интенсивности сигнала. Д.ля получения максимальной точности, ограниченной реальным временем обработки получаемой информации, вычисляют 512 Ф-гармоник (как было показано выше, для больших гармоник увеличивается точность определения размеров периода структуры). Достоверное нахождение до 512 периодов на исходной строке определяет необходимость ввода 1024 точек этой строки. Сигнал с исходной строки запоминается и затем производится его сглаживание и фильтрация импульсных помех. Только после очистки сигнала от помех осуществляется быстрое, дискретное преобразование Фурье с представлением окончательного результата в виде амплитуд гармоник и соответствующих им размеров периода рельефа исходной структуры, которыми применительно к усталостным бороздкам являются величины 5, — шаги продвижения усталостной трещины. [c.209]

В сканирующих электронных микроскопах высокого разрешения изображение рельефа получают при сканировании пучком электронов по поверхности образца. [c.185]

Установка для ионной имплантации включает ионный источник У системы ускорения и фокусировки ионов, разделения пучка ионов по массе, сканирования пучка 6 приемную камеру 2 и вакуумную систему (рис. 1.16). Имеется несколько типов ионных источников, основанных на различных принципах ионизации электронным ударом, фотоионизация, химическая ионизация. [c.441]

Путем сканирования пучка оптическим приемником, регистрирующим в каждый момент времени интенсивность небольшой части пучка. [c.44]

Рис. 3.5. Схемы установок ионной имплантации а — установка малых и средних доз 6 — установка с разделением по массам после ускорения в—сильноточная установка г - высокоэнергетическая установка t) — установка больших доз с источником, находящимся под высоким потенциалом / -ионный источник 2—система вытягивания и первичного формирования пучка 3 масс-сепаратор 4 — высоковольтный модуль 5—регулируемая диафрагма 6 — система ускорения 7- фокусирующая линза 8 — пластины сканирования пучка 9—приемная камера

К основным элементам установки ионного легирования относятся ионный источник, масс-сепаратор, системы ускорения, формирования и сканирования пучка, камера обработки, вакуумная система. В зависимости от класса задач, для решения которых разработана установка, ее компоновка и устройство отдельных элементов могут различаться. На рис. 3.5, а — в показаны основные типы установок согласно классификации [26]. Наибольшее распространение получили [c.85]

Системы ускорения, формирования и сканирования пучка. [c.87]

Динамика тепловой линзы определяется режимом нагрева и условиями теплопередачи в среде теплопроводностью, вынужденной конвекцией (ветер, сканирование пучка), свободной конвекцией. [c.63]

Рассматривая вопросы сканирования пучка, необходимо затронуть проблему движения среды относительно пучка с околозвуковыми скоростями. [c.71]

Для сканирования пучка необходимо отклонение в обоих направлениях. Суммарный отклоняющий потенциал и является суперпозицией их и [c.582]

Для иллюстрации этого процесса положим, что точки, составляющие следящее перекрестье, начинают светиться на экране в порядке, обозначенном на рис. 32 снизу вверх по вертикали и слева направо по горизонтали. В ЭВМ каждой точке приписано весовое значение, соответствующее ее расстоянию от центра перекрестья. Так, точка 1 имеет вес —3, точка 2 — вес —2, точка 6 — вес +2 и т. п. Как только световое перо увидит точку, ЭВМ добавляет в счетчик ее весовое значение..Для линии на экране ЭВМ делит суммарный вес на число точек, тем самым вычисляя среднюю позицию или центр тяжести линии. Пусть, например, по вертикали световое перо видит точки о, 4, 5. 6, и 7. Далее ЭВМ вычисляет (—1 +0 +1 Н-2 +3)/5=1. Тогда при следующем сканировании пучка электронов новое положение следящего перекрестья по вертикали сместится на одну точку вверх. Точно так же, пусть по горизонтали перо видит точки 8, 9, 10, 11. Тогда горизонтальная координата следящего перекрестья изменится на (—3 —2 —1 +0)/4 =—1,5, т. е. центр следящего перекрестья при последующем сканировании сместится, кроме того, влево на полтора шага между точками. [c.45]

Последовательное прохождение пучков света различных, длин волн через выходную щель (сканирование спектра) осуществляется поворотом диспергирующих призм Ри Р2 и Рз с помощью специального мотора. При этом перемещение линзы О2 вдоль оптической оси связано с вращением призм. Тем самым при сканировании спектра достигается автоматическая фокусировка пучков света различных длин волн в плоскости щели выходного коллиматора. По выходе из щели 82 световой пучок с помощью линзы Оз фокусируется на фотокатод фотоэлектронного умножителя (ФЭУ). [c.120]

Из анализа приведенных соотношений следует, что направленность ультразвукового пучка тем выше, чем больше размер излучателя и меньше длина волны. Для решения таких практических задач, как определение шага сканирования, оценка условной протяженности дефектов, проектирование стандартных образцов предприятия (СОП), требуется знать ширину ультразвукового пучка на определенном расстоянии от излучателя. Для симметричного поля круглого или квадратного пьезоэлектрического преобразователя (ПЭП) удобнее пользоваться его полушириной, которую в зависимости от глубины г определяют по формуле г tg G. [c.21]

ЦНИИТМАШ. В зависимости от траектории распространения ультразвукового пучка относительно поверхности сканирования РС-ПЭП типа Дуэт называют хордовыми и угловыми (рис. 3.17, а, б). Применение хордовых РС-ПЭП возможно только для контроля изделий с большой кривизной поверхности (прежде всего труб с диаметром D < 100 мм). Принципиальная особенность этих ПЭП [4]— прозвучивание дефекта горизонтально поляризованной вол- [c.156]

Режим НЛО (режим теплового потока) осуществляется сканированием пучка шпрерывиого лазера (напр,, аргонового мощностью 20 Вт). Время отжига в этом режиме Т(,тжС= 1 —10 мс. Длина диффузии тепла (2XT(, j ) 10 2—10 см, т. е. по всей толщине образца d (рис.) устанавливается градиент темп-ры, обусловливающий тепловой поток от входной грани к выходной. Распределение темп-ры в плоскости облучаемой поверхности сильно неоднородно [(Зх отж) где R — характерный поперечный размер образца (Л>сг)], поэтому для получения однородного отжига необходимо сканирование луча. [c.561]

Для поиска лоцируемого объекта и получения его изображения применяются злектромеханич. системы сканирования пучка излучения в виде зеркал, оптич. клиньев и т. д. для быстрого сканирования используются пьезоэлектрич, и акустооптич. дефлекторы с Частотой сканирования до единиц кГц. [c.433]

Для определения поперечного распределения интенсивности в выходном пучке первого газового цезиевого лазера с оптической накачкой применялся метод сканирования [35]. Генерация происходила в полусферическом резонаторе на длине волны 7,18 JHK. Пространственное распределение выходного излучения ввиду отсутствия для этого диапазона пленок и фотоэмиссион-ных приемников было измерено путем сканирования пучка приемником из германия, легированного золотом. [c.60]

Ускорение пучка осуществляется системой многоэлектронных линз. Потери ионов, обусловленные существованием объемного электрического заряда, создают дополнительные проблемы и при конструировании систем формирования ионных пучков высокой интенсивности. Чаще всего в таких установках применяют двух- и трехэлектродные линзы для создания одно- и двухзазорного ускорения [125]. В сильноточных установках ионного легирования широко используют магнитные квадрупольные линзы, способные компенсировать расширение пучка под действием пространственного заряда. Для обработки больших площадей необходимо либо расфокусировать пучок, либо обеспечить его сканирование. Расфокусировка приводит к неоднородности потока, и на практике чаще используют сканирование пучка. Разработаны различные системы сканирования электростатическое, электромагнитное, механическое сканирование, комбинированные системы. Если к монохроматичности пучка не предъявляется жестких требований, то эффективное сканирование в электромагнитном поле можно обеспечить, модулируя по энергии вытягиваемый из источника пучок ионов [109]. В связи с упоминавшимся пространственным зарядом в сильноточных установках для сканирования часто применяют механические системы пучок ионов неподвижен или сканирует лишь в одной плоскости, а равномерность облучения обеспечивается перемещением обрабатываемой детали. [c.87]

Отметим, что при периоде следования импульсно-периодического излучения /г— (3/2) возможен эффект подфокусировки подветренной части пучка тепловым профилем предшествующего лазерного импульса. В случае (1.51) при гиперзвуковых линейных скоростях сканирования пучка в пространстве (М 1) дефокусировка сохраняется в направлении, перпендикулярном направлению сканирования, в то время как по оси в направлении сканирования газовая линза становится фокусирующей. [c.29]

Яркий пример этого можно видеть на микрофотографиях поверхностей монокристаллов, полученных в сканирующем электронном микроскопе впервые такие изменения наблюдал Коутс [56] и обсудил Букер и др. [27] (см. также [28].) Сканирование пучка обычно делается так, чтобы пучок проходил через центральную точку конечной линзы. Тогда по мере того, как пучок будет обегать поверхность, угол падения на поверхность кристалла будет меняться. Когда пучок падает под углом, близким к углу Брэгга для сильного отражения, эффективный коэффициент поглощения уменьшается и первичный пучок глубже проникает внутрь кристалла. В результате уменьшается число вторичных электронов, образующихся достаточно близко к поверхности, чтобы они могли покинуть кристалл и быть зарегистрированными. Следовательно, изображение, которое формируется при индикации сигнала, полученного при сборе вторичных электронов, будет весьма напоминать картину линий, возникающую при обращении дифракционной картины, полученной в эксперименте на прохождение широкоуглового сходящегося пучка через монокристалл, или с небольшими отличиями картину кикучи-линий. [c.331]

Отклонение пучков частиц применяется в различных целях. Самый общий классический тип отклонения используется в катод-нО Лучевых трубках, установках литографии, сканирующих электронных микроскопах и других аналитических приборах. Его цель — сканирование пучка по поверхности. Главной особенностью этого типа отклонения является то, что неотклонен-ный пучок имеет прямолинейную оптическую ось следовательно, анализ отклонения может быть основан на принципах, использованных в предыдущих главах. [c.580]

Для предотвращения корневых дефектов необходимо формировать пародинамический канал с достаточно широкой нижней частью и закруглением канала. Изменение формы канала осуществляется изменением формы распределения плотности мощности электронного nji4-ка в зоне сварки, например круговым сканированием пучка. Расширение корня шва позволяет также )пменьшить опасность несплавлений свариваемых деталей из-за проявления остаточных или наведенных магнитных полей. [c.418]

Одним из наиболее важных узлов многоканальной адаптивной системы с фазовой модуляцией является фазовый модулятор — корректор фазового фронта. Обычно фазовая модуляция с небольшой глубиной (около VIO) осуществляется с помощью зеркальных вибромодуляторов, при этом деформация профиля зеркала на десятые доли длины волны излучения служащая для осуществления сканирования пучков по поверхности наблюдаемого объекта, производится с большой частотой, задаваемой генераторами каждого канала. Сравнительно медленные деформации (10...15 мкм и более), служащие для коррекции фазового фронта, т. е. для компенсации искажений, вносимых средой, осуществляются с гораздо меньшей частотой. В известных системах 139] нашли применение составные многосегментные зеркала, элементы которых закреплялись на выдвигаемых основаниях типа поршней ( поршневые зеркала), а также деформируемые гибкие зеркала мембранного типа. При разделении функций модуляторов-сканаторов и корректоров в качестве последних можно использовать акусто- и электрооптические фазовращатели. [c.158]

Радиометрия — это метод получения информадии о внутреннем состоянии объекта контроля с регистрацией выходящего пучка излучения в виде электрических сигналов. Схема данного метода контроля приведена на рис. 6.17. В радиометрии используют в основном два метода среднетоковый и импульсный, которые различают способами регистрации излучения и электронной обработки информации. Контроль осуществляется сканированием объекта узким пучком. Плотность потока выходного пучка при наличии дефекта меняется и преобразуется в электрический сигнал, пропорциональный плотности пучка. В среднетоковом методе используют сцинцилляционные кристаллы, которые выдают сигнал в виде среднего тока, а в импульсном — полупроводниковые счетчики, которые регистрируют излучение в виде последовательности импульсов двумя независимыми полупроводниковыми детекторами. [c.164]

Запись энергетических спектров оже-электронов может осуществляться в двух режимах зондирования без сканирования электронным пучком (информация берется с плоп ади, определяемой сечением пучка, диаметр которого -I мкм) и в режиме сканирования электронным пучком, при этом величина площади сканирования может задаваться в пределах от 20 х 20 мкм до 5x5 мм-. [c.156]

Погрешности коллимации включают в себя погрешности юстировки, по-греншости, вызванные конечной толщиной и шириной пучка, погрешности непараллельности геометрии пучка и плоскости сканирования, расходимости или сходимости пучка, погрешности, вызванные рассеянным излучением, так называемые коллимационные шумы, вызванные механическими и тепловыми нагрузками на элементы рентгенооптики в процессе сканирования и недостаточной жесткостью связи между узлами излучателя, коллиматоров и детекторов, погрешности дополнительных элементов рентгенооп-тнки (выравнивающих клиньев, регулировочных образцов, управляемых диафрагм и т. п.). [c.450]

Система сканирования 111-го поколения — изделие вращается в веерном пучке излучения, источник в процессе сканирования неподвижен, матрица может перемещаться на один, два и т. д. шага с целью формирования матрицы измерения разных размеров 256X256, 512X512 и т. д. Масштабирование можно осуществлять совместным перемещением источника и матрицы детекторов. [c.472]

Приготовление образцов с покрытиями для просмотра в растровом микроскопе обычно не вызывает затруднений и может проводиться в соответствии с рекомендациями по подготовке металлических образцов [256]. Особое внимание следует обратить на предотвращение изменений рельефа (отслоение и выкрашивание покрытий) при механической подготовке объектов исследования. При изучении неэлектропроводных покрытий для отекания заряда, возникшего на поверхности при сканировании электронного пучка, на образец наносится проводящая пленка углерода или металла. В качестве объекта изучения могут применяться сравнительно крупные образцы —. до 70X20 мм в сечении (размеры должны соответствовать объекто-держателю). [c.180]

Пьезопреобразователи в виде фазированных рещеток для управления параметрами акустического поля находят в УЗ-дефекто-скопии все большее распространение. Основные их преимущества состоят в значительном повышении производительности контроля по сравнению с механическим сканированием, возможности управления диаграммой направленности (изменение угла ввода и ширины пучка), обеспечении статической и динамической фокусировки. Применение фазированных решеток особенно эффективно при создании приборов, позволяющих осуществлять визуализацию изображений с развертками типа А, В и С. [c.174]

Смотреть страницы где упоминается термин Сканирование пучка : [c.137] [c.152] [c.161] [c.170] [c.348] [c.441] [c.71] [c.96] [c.235] [c.60] [c.346] [c.346] [c.46] [c.200] [c.125] [c.159] [c.259] [c.463] [c.464] [c.253] [c.156]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...