Фотопленка

Центральное проецирование устанавливает однозначное соответствие между фигурой и ее изображением, например изображения на киноэкране, фотопленке. [c.8]

Радиографический контроль. Контроль проникающим излучение.м используется для обнаружения микропор и трещин. Рентгеновские лучи или гамма-лучи проходят через испытуемый материал и фиксируются на фотопленку или экран дефектоскопа. [c.185]

Рентгеновские лучи невидимы глазом. Они проходят без существенного поглощения через значительные слои вещества, непрозрачного для видимого света. Обнаруживают рентгеновские лучи по их способности вызывать определенное свечение некоторых кристаллов и действовать на фотопленку. [c.280]

В качестве которого служило хорошо матированное стекло, освещенное излучением гелий-неонового лазера, причем для рис. 4.23,а—в освещенная область представляла собой кружок с диаметром около 2Ь = 0,3 мм. Освещенность фотопленки имеет характерную нерегулярную зернистую структуру, причем размер пятен или зерен увеличивается пропорционально расстоянию й. [c.109]

Участки фотографий с повышенным значением освещенности отвечают, очевидно, тому, что волны, приходящие в них из различных точек матового стекла, оказываются, по случайным обстоятельствам, преимущественно синфазными. Наоборот, в участках с пониженной освещенностью происходит взаимное гашение волн, приходящих из разных точек матового стекла. Для того чтобы степень синфазности этих волн существенно изменилась, нужно сместиться в плоскости фотопленки на некоторое расстояние его среднее значение и будет определять размер области когерентности. Таким образом, среднее зерно есть область когерентности, и средний его размер есть размер области когерентности. Изменение размера зерен с изменением расстояния с1 между матовым стеклом и фотопленкой согласуется с расчетом, ибо размер области когерентности / ог пропорционален й. [c.110]

В другой конструкции голографического зонда (рис. 31, б) предварительно подготовленная небольшая фотопластинка или фотопленка крепится в оправе на световоде. Для уменьшения влияния отражений на границе раздела между подложкой эмульсии и торцом световода находится иммерсионная жидкость. Ввиду меньшей механической стабильности такая конструкция используется при импульсном режиме освещения когерентным источником. При перезарядке фотопластинки(или пленки) устройство может применяться многократно. [c.81]

Изображение, восстановленное голограммой, фотографируют, причем на фотопленке одновременно фиксируется резкое изображение исследуемого объекта, помещенного в рабочую зону, и контрастная интерференционная картина. [c.107]

Дифракционную картину, получаемую при рассеянии излучения от кристалла, в случае рентгенографии и электронографии фиксируют на фотопленке или фотопластине, а в случае нейтронографии— счетчиком Гейгера. [c.35]

Метод рентгеновского гониометра. Рентгенограмма вращения не всегда позволяет получить полную информацию об интерференционной картине. Дело в том, что в некоторых случаях при исследовании методом вращения вследствие симметрии кристалла в одно и то же место фотопленки попадает несколько интерференционных лучей. Этого недостатка лишен метод рентгеновского гониометра. В этом методе используют монохроматическое излучение, кристалл вращают вокруг выбранной оси, кассета с цилиндрической пленкой движется возвратно-поступательно вдоль оси вращающегося кристалла, поэтому отражения разделяются по их третьей координате. Снимают не всю дифракционную картину, а с помощью определенного приспособления вырезают одну какую-нибудь слоевую линию, чаще всего нулевую (рис. 1,48). При таком методе съемки каждый интерференционный рефлекс попадает в определенное место на пленке и наложения рефлексов не происходит. С помощью такой развертки, используя сферы отражения, определяют индексы интерференции и по ним устанавливают законы погасания (см. выше). Затем по таблицам определяют федоровскую пространственную группу симметрии, т. е. полный набор элементов симметрии, присущий данной пространственной решетке, знание которого в дальнейшем облегчает расчеты проекций электронной плотности. Далее определяют интенсивности каждого рефлекса, по ним — значения структурных амплитуд и строят проекции электронной плотности. [c.52]

Для выявления дефектов материала методом гамма-дефекто-скопии исследуемую деталь устанавливают между радиоактивным препаратом и фотопленкой (рис. 186). Проходя через дефектный участок, например раковину, у-лучи ослабляются в меньшей степени, чем в здоровой части детали и поэтому вызывают в этом месте более сильное физико-химическое действие на фотоэмульсию. [c.381]

Рассмотрим несколько подробнее рентгенографический метод анализа текстур. Прежде всего с помощью этого метода легко устанавливается наличие или отсутствие текстуры. При отсутствии текстуры линии (или кольца) на дебаеграмме (рентгенограмме, снятой на фотопленку) зачернены равномерно (рис. 160,а). При наличии текстуры равномерность почернения линий исчезает. На линиях выявляются отдельные интерференционные максимумы почернения, расположенные вдоль этих [c.265]

Однако в последнее время для изучения строения металлических сплавов начали применять метод радиографии. При выплавке в металл вводят известное количество радио" тивного изотопа того элемента, распределение которого в металле изучаг 1а макро- или микрошлиф из приготовленного таким способом металла накладывают фотопленку. В местах расположения изучаемого элемента, к которому примешан теперь его радиоактивный изотоп, фотопленка окажется засвеченной радиоактивным излучением. Фотографируя под микроскопом проявленную пленку, можно получить микрорадиограмму с увеличением до 150 раз, [c.39]

Наибольшее распрострпиенне получили электромеханические ЧА. В зависимости от точности и быстродействия их разделяют на координатографы и графопостроители. Чертежные автоматы, работающие с высокой точностью и малой скоростью (погрешность 0,05 мм и менее, перемещение пишущего узла не более нескольких десятков миллиметров в секунду), называют координатографами. Кроме черчения в координатографах используются и другие способы нанесения рисунка — вырезание, гравирование, экспонирование. В качестве носителя изображения применяют фотопластины, фотопленки, пластины, покрытые слоем лака или эмали. Координатографы используют, например, для получения фотооригиналов печатных плат. Графопостроители работают с большей скоростью, но с меньшей точностью (погрешность не менее 0,02 мм при скорости перемещения пишущего узла до 1 м/с). [c.50]

Экономичным методом регистрации ионизационного излучения является флюорография, ири которой регястрац.чя изобрли<епия па фотопленку гребует в некоторых случаях в 6. . 10 раз меньше серебра, нежели типовая рентгеновская. [c.119]

Документ (лат. с1оситеп1ит — свидетельство, доказательство) — информация, нанесенная на определенный носитель (бумагу, перфокарту, фотопленку, магнитную пленку и т. п.) с целью ее хранения или передачи. [c.13]

В зависимости от условий освещенности и чувствительности фотопленки путь свету от объектива к фотопленке открывается с помош.ью затвора на заданный интервал времени, обычно на сотые доли секунды. Световой поток регулируется н 1со,яьцевым отверстием в диафрагме за объективом, диаметр отверстия можно плавно изменять. [c.273]

Спектр можно наблюдать через окуляр, используемый в качестве лупы. Если нужно получить фотографию спектра, то фотопленку или фотопластинку помещают в том месте, где получается действительное изображение спектра. Прибор для фотографи- [c.276]

При открывании зaт opa фотоаппарата на короткое время объектив проецирует иа фотопленку изображение предметов. В различных местах фотопленки освобождается разное количество свободных атомов серебра, в каждом месте число освобоисденных атомов серебра пропорционально числу падающих фотонов света. Таким образом, в фотоплаг тсе возникает изображение из частиц металлического серебра. Частицы металлического серебра, возникающие в 1фисталле под действием света, очень малы. Поэтому изображение из кристаллов серебра, возникающее в фотопленке под действием сзета, называется скрытым изображением. [c.306]

Изображение на фотопленке получается негативным, т. е. светлым местам объекта соответствуют темные места фотографического изображения. Дл.-i получения нормального, позитивного, изображения производится повторный процесс фотографирования с негатива на фотобумагу, после чего производятся операции прсязления и фикспрова-пая. [c.306]

При наблюдении, например, звезд глаз реагирует на свет, испущенный в направлении наблюдателя всей поверхностью звезды следовательно, в данном случае удобно говорить о силе света звезды. В фотографических приборах неважно, в каком направлении прищел свет в данную точку фотопленки и вызвал ее почернение, т. е. пленка осуществляет интегрирование энергии по углам поэтому здесь регистрируется освещенность. В приборах с фотоэлектрическими или тепловыми приемниками излучения измеряется, как правило, полный поток, попадающий на всю поверхность приемника по всем направлениям. [c.50]

Рис. 4.23. Фотография случайного распределения освещенности, создаваемой протяхселным источником света (матовое стекло), при расстояниях от источника до фотопленки ё, равных 10 см (а), 30 см (б), 100 см (в).

В случае кристаллических порошков или поликристаллических тел структурное исследование можно выполнить по методу, предложенному в 1916 г. Дебаем и Шерером, а также Хеллом. Монохроматический пучок рентгеновских лучей направляется на столбик прессованного кристаллического порошка или палочку из поликрис-таллического материала (рис. 19.7) различные кристаллики препарата имеют всевозможные ориентации, так что падающий пучок образует с атомными плоскостями самые разнообразные углы. Лучи заданной длины волны к отразятся под разными углами от различных атомных плоскостей, соответствующих различным зна-ч, ниям 6 (см. (118.1)), создавая на фотопленке, окружающей препарат, соответствующую дифракционную картину. Рис. 19.8 воспроизводит полученную рентгенограмму в центре виден след прямого пучка вправо и влево расположены следы отраженных лучей, причем каждая пара симметричных следов соответствует отражению от кристаллографических плоскостей одного определенного направления. Зная длину волны % и измеряя углы скольжения 9, мы можем [c.411]

Если вокруг вращающегося кристалла поместить фотопленку (кассета — цилиндр, вдоль оси которого помещен вращаю- щийся кристалл), то все дифра ционные рефлексы, как видно из [c.50]

Метод порошка (метод Дебая — Шеррера). Для исследования структуры поликристаллов используют монохроматическое излучение длины волны X. Съемку рентгенограмм производят ли-<6q на плоскую фотопленку, как в методе Лауэ (рис. 1.43), либо на пленку, расположенную на внутренней поверхности цилиндрической камеры, в центре которой установлен образец. В каче-.52 [c.52]

J - стойка для регулирования высоты трубки 2 - держатель трубки 3 - мет ш-лический кожух 4 - рентгеновская трубка 5 - отливка 6 - кассета с фотопленкой 7 - защитные свиицовые листы 8 - высоковольтный трансформатор 9 - ограиичиваюи ая свинцовая диафрагма 10 - анод II - катод 12 - стол [c.375]

Проходя через металл отливки, рентгеновские лучи частично поглощаются им, частично пронизывают металл, частично отражаются многочисленными поверхностями металлических кристаллов, давая рассеянное вторичное рентгеновское излучение. Интенсивность поглощения рентгеновских лучей металлом зависит от плотности элемента и от его места в Периодической системе элементов Д. И. Менделеева, от атомного номера. Чем больше атомный номер просЕючиваемого элемента, тем больше он поглощает рентгеновских лучей. Поглощенная энергия рентгеновских лучей вызывает появление "скрытогхз изображения" за счет изменений бромистого серебра, находящегхкя в эмульсии, и превращения его в металлическое состояние на экране установки или фиксирования изображения на фотопленке. [c.376]

В зависимости от фи.п1ко-механических свойств отливок (из цветных и черных металлов) расстояние Н (см. рис. 185) от рентгеновской трубки до фотопленки 6, расположенной на столе /2, могут быть различным. Бхли отливки из цветных сплавов (алюминия и др.), излучение следует произвести с большего расстояния "мягкими лучами или, наоборот, из жаропрочных сплавов с меньшей высоты и жссткими лучами". [c.376]

I - котейпер с источником у-ю лучения 2 - сварной шов ни детали 3 - дефект в детали газовые пузыри, шлак) 4 - фотопленка [c.380]

Широкое распространение получил субтрактивный способ цветного фотографирования на трехслойных фотоматериалах. Фотопленки имеют три галоидосеребряных слоя, каждый из которых чувствителен к одной трети спектра (рис. 29.1,11). Цепосредствеиио на основу наносится слой, сенсибилизированный к лучам красной части спектра (г) над ним расположен слой, чувствительный к зеленой части (б). На этом слое находится специальный желтый слой (б), играющий роль светофильтра, который предохраняет два предыдущих сенсибилизированных слоя от действия синих лучей, прощед- [c.194]

Генерацию второй гармоники впервые наблюдал Франкен в 1961 г. Схема эксперимента приведена на рис. 36.3. Сфокусированное излучение рубинового лазера 1 направляется на тонкую кристаллическую пластинку 2. Из пластинки, помимо исходного красного излучения лазера (Х = 0,6943 мкм), выходит также ультрафиолетовое излучение (Х = 0,3472 мкм). Это излучение отделяется от исходного светофильтрами 3 или спектральными приборами и регистрируется подходящим приемником излучения (фотопленка или фотоумножитель). Этот опыт особенно хорошо наблюдать, если вместо рубинового лазера использовать инфракрасный, например неодимовый, лазер (Х=1,06 мкм). Тогда из пластинки 2 выходит пучок зеленого света (А, = 0,53 мкм). [c.304]

Нели створ рельса задан пучком лазера, то на фотопленке вместе с изображением сетки н индекса получится изображение лазерного пятна определенных размеров. Но положению пятна на фоне сетки можно судить о непрямолинейносги и негоризонтальности рельса, а также вычислить отклонетше другого рельса от линии, параллельной лучу лазера Для определения негоризонтальности второго рельса необходимо установить над ним вторую камеру. [c.59]

Перемотка фотопленки и срабатывание затвора производится автоматически при движении крана, то есть фиксатщя результатов измерений производится на движущейся фотопленке. Для того, чтобы фотоизображение сетки, индекса и следа лазерного пучка не имели смаза, максимальная скорость движения крана не должна превышать 1,2 м/с при времени экспонирования 0,01 с. [c.59]

В НИИПГ разработана система автоматизированного измерения (рис.28). Первоначально здесь в качестве экрана использовали фотопленку, которая протягивалась синхронно с движением крана. [c.136]

Получение в спектре достаточно интенсивной линии Яр облегчается, если использовать резкое изображение дуги на входной щели спектрографа. Расстояние между электродами нужно выбирать небольщим, например 1 мм. В этом случае свечение дуги определяется в основном приэлектродными областями, где концентрации заряженных частиц выще и, следовательно, линия ярче. Больщое значение имеет и правильный выбор фотоматериалов. Для проведения данной работы подходят фотопластинки типа спектральные № 2 . Их длинноволновая граница чувствительности находится вблизи 495 нм. Линия (,> = 486,1 нм) попадает в. область еще достаточно хорошей их чувствительности. Менее подходят фотопластинки панхром , так как они обладают провалом чувствительности в сине-зеленой области спектра. Можно пользоваться также фотопленкой, например, типа РФ-3. [c.275]

Наиболее распространенными устройствами ввода полутоновых изображений считаются устройства, измеряющие коэффициент пропускания, и устройства, измеряющие оптическую плотность. К наиболее распространенным устройствам выво и полутоновых изображений относятся устройства вывода для оперативного конфоля и устройства вывода д.1я регистрации и хранения на фотопленке. [c.126]

В качестве детекторов в дозиметрах применяются ионизационные камеры непрерывного действия (см. гл. IX, 4), газоразрядные счетчики, фотопленки и сцинтилляторы. Очень высокие дозы (до 10 Р и выше) измеряются по выходу некоторых радиационнохимических реакций. Для прямого определения энергии, выделяемой излучением в веществе, пользуются калориметрическими методами. [c.673]

Изотопные приборы, основанные на использовании проникающей способности у- (реже р-) излучения, в настоящее время занимают более половины всех поставок радиационной техники. В основу почти всех этих приборов положен один и тот же простой принцип счет в детекторе меняется, если меняется толщина или вид материала между детектором и источником. На основе этого принципа конструируются и выпускаются различные толщиномеры, плотномеры, уровнемеры, счетчики предметов, 7-дефектоскопы и многие другие приборы. На этом принципе основаны многочисленные у-релейные устройства, автоматически контролирующие и регулирующие ход производственных процессов. Бета-излучение сильно поглощается веществом. Из-за непрерывности (З-спектра (см. гл. VI, 4, п. 4) и из-за искривления пути электронов в веществе (см. гл. Vni, 3) разные электроны источника имеют разный пробег, от нулевого до некоторого максимального. Количество прошедших через вещество электронов довольно резко зависит от толщины слоя. Поэтому р-толщиномеры имеют довольно хорошую точность, но могут измерять лишь небольшие толщины. Такие толщиномеры применяются, например, для контроля за толщиной производимой фотопленки. Пленка проходит между источником и детектором. Малейшее отклонение толщины от стандартной изменяет число поглощаемых пленкой электронов, т. е. меняет скорость счета детектора. Для больших толщин используются у-толщино-меры. Интересной разновидностью прибора такого типа является односторонний у-толщиномер, измеряющий толщину определенного материала по величине у-излучения, рассеянного назад. Такие толщиномеры применяют для контроля размеров труб на Московском, нефтезаводе. Приборы, основанные на проникающей способности [c.683]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...