Аппаратная функция ширина

Следовательно, можно считать, что спектральный прибор, выделив синусоидальные составляющие из исследуемого излучения, как бы провел экспериментальное разложение заданной функции в ряд Фурье. Математическая операция получения спектра функции E t) и физический эксперимент, заключающийся в разложении электромагнитной волны на составляющие, привели к одинаковым результатам и, по-видимому, близки по количеству получаемой информации об исследуемом излучении. Такое же сравнение математического и физического спектров можно провести и в более сложном случае, когда изучаемая функция не является суммой гармонических колебаний, хотя отличная от нуля ширина аппаратной функции усложняет интерпретацию эксперимента и приводит к дополнительным трудностям, которые здесь не рассмотрены. [c.69]

Осн. характеристиками М., определяющими выбор параметров его оптич. системы, являются лучистый поток проходящий через выходную щель предел разрешения 6Я, т. е. найм, разность длин волн, ещё различимая в выходном излучении М., либо его разрешающая способность г, определяемая, как и для любого др. спектрального прибора, отношением Я/бЯ, а также относительное отверстие объектива коллиматора Ад, Разрешающая способность г, ширина выделяемого спектрального интервала бЯ и спектральное распределение энергии излучения, прошедшего через выходную щель, определяются аппаратной функцией М., к-рую можно представить как распределение потока лучистой энергии по ширине изобра.- [c.210]

В прецизионной С. твёрдых материалов и покрытий для правильной интерпретации результатов измерений в некогерентном излучении вводится представление о многомерной аппаратной функции измерений (АФИ) А(й, ф, х). Ширина АФИ по координатам К, ф, х соответствует спектральному (бЛ), угловому (бф) и пространственному (бх) интервалам, выделяемым в дан-пой схеме измерений. Каждое измеренное значение X и его погрешность АХ рассматриваются как результат операции свёртки многомерных ф-ций Х ), ф, х) А( ь, ф, х) в данных конкретных условиях, описываемых комбинацией параметров к, ф, х, бЛ, бф, бх (при известных поляризации и темп-ре) с соответствующими допусками по каждому из параметров. Функциональные зависимости X от параметров Я, ф, х измеряются так один из параметров сканируется, а [c.626]

Основная проблема при измерении длины волны та же самая, что и при измерении любой длины точность отметки. Чтобы определить длину волны, пользуются эталоном (обычно нелинейным)— стабильным и воспроизводимым источником излучения. По шкале, калиброванной при помощи эталона, измеряют длину волны неизвестного излучения. Точность такого метода определяется погрешностью, с которой можно зафиксировать центры масштабных меток эталона и следов неизвестного излучения. Чем уже эти следы, тем выше точность измерения. Ширина же следа представляет собой свертку аппаратных функций источника, измерительного прибора и приемника. В отличие от рентгеновской или дальней инфракрасной области возможности измерения длины волны в оптическом диапазоне обычно не ограничиваются разрешающей способностью фотоприемника. Можно сконструировать оптическую систему с достаточно высокой дисперсией, чтобы полностью использовать разрешающую способность оптики. Обычные спектрографические фотопластинки и фотоумножители не вносят заметного уширения в линию. [c.321]

Форма аппаратной функции реального спектрального прибора определяется рядом факторов, действующих одновременно конечной шириной щели, аберрациями, дифракцией, различного рода дефектами оптических деталей, фотослоем (при фотографической регистрации). Но спектральные приборы часто используются [c.45]

Величина 6/. называется спектральной шириной аппаратной функции. [c.49]

Для простоты и наглядности рассуждений будем считать, что разность между o)i и (02 (а также между со2 и м3) значительно превышает ширину аппаратной функции йм. Тогда измерение интенсивности света на одной частоте не приведет к искажению измерений на другой частоте и мы зарегистрируем три максимума. Пусть приемник света в исследуемом интервале частот малоселективен, а поглощение радиации в самом приборе неселективно. Тогда отношение квадратов амплитуд (или отношение площадей под тремя пиками на спектрограмме) будет равно отношению . Если преодолеть трудности с калибровкой прибора, всегда сопутствующие абсолютным измерениям , то сумма указанных площадей определит среднее значение исследуемой функции. [c.69]

Экспериментальная установка. Для измерений Ме по ширинам линий с линейным штарк-эффектом удобно использовать спектрограф с большой дисперсией, чтобы при получаемых уширениях можно было пренебречь аппаратными искажениями. Если ширина аппаратной функции не превышает /б от ширины линии, аппаратные искажения можно считать малыми. [c.274]

Идеальная интерферограмма предполагается бесконечно протяжённой, при этом разрешающая сила Ф.-с. была бы бесконечно велика. Целый ряд факторов, однако, ограничивает достижимое разрешение конечные пределы ме-ханич. перемещения зеркала Л/г, возможности цифровой регистрации и обработки интерферограммы, неидеаль-ность оптич. системы и др. Как правило, форма и ширина аппаратной функции Ф.-с. определяются пределом измеие- [c.389]

Следует подчеркнуть, что аппаратная функция представляет пространственное распределение энергии монохроматического излучения в направлении днснерсии, длпна же волны во всех точках этого распределения одна и та же. Если же входная щель освещена излучением, имеющим сложный спектр с некоторой зависимостью от длины волны, например излучением спектральной линии конечной ширины, то каждая монохроматическая компонента этой линии отобразится в фокальной плоскости камерного объектива в виде аппаратной функции с конечной шириной а. Поэтому распределение энергии в спектральной линии отличается от истинного расиределення яркости по длинам воли в спектральной линии [c.43]

Конечная шпрпна анпаратноп функции реальных спектральных приборов также ограничивает возможность различения в спектре двух близких спектральных линий. Если длины волн л и л Ь к двух монохроматических линий от.личаются значительно, так что расстояние между центрами их изображений (т. е. между центрами соответствующих аппаратных функций) больше ширины аппаратной функции. сИ> а (рпс. 1.21, а), то такие линии наблюдаются раздельно, т. е. уверенно разрешаются. Если же бл мало, так что (]1 << а, то аппаратные функции для обеих линий в значительной своей части перекрываются (рис. 1.21, б) и в результирующем распределении мы пе всегда сможем установить наличие двух линий — лпшш пе будут разрешены. Такпм образом, при определении разрешающей способности, по существу, речь идет о разрешении двух близких аппарат- [c.43]

Д1ожно условно считать две монохроматические линии л и л 4--р б/, одинаковой интенсивности разрешенными, если расстояние между центрами аппаратных функцпй dl равно ширине аппаратной функции а (рис. 1.23). Этот критерий, по существу, является методом оценки ширины аппаратной функции. [c.45]

Отметим, что прп ширинах щелей, близких к нормальной ( 1 %о), аппаратная функция имеет форму, промежуточную между дифракционной и щелевой, п ее трудно аппрокспмпровать простым аналитическим выражением. [c.47]

Поскольку любой вид дополнительных аппаратурных искажений. кроме дифракции,приводит к увеличению ширины результирующей аппаратной функции (а>ад), то очевидно, что при дифракционной аппаратной функции данный спектральный прибор с одномерной дисперсией имеет максилгальную разрешающую способность. Ее называют предельной пли теоретической, а иногда дифракционной разрешающей способностью. При реальной аппаратной функции спектрального прибора, отличной от дифракционной, разрешающая способность меньше теоретической, и обычно ее называет реальной пли практической. В частности, разрешающая способность, определяемая согласно критерию Релея. также является теоретической, ее иногда называют релеевской разрешающей способностью. Релеевская разрешающая способность коли- [c.48]

Каждой точке лпнпн дпсперспп можно приписать определенную длину волны пли частоту, и поэтому лпиепную ширину аппаратной функции а можно выразить в спектральных единицах, например в длинах волн, хотя всем точкам аппаратной функции соответствует одна и та же длина волны. [c.49]

Пусть в той части фокальной плоскости, где расположена аппаратная функция, обратная линейная дисперсия равна (Ш(И-, тогда интервал длин волн на участке длины, равном ширине аппаратной функцпп а, равен [c.49]

Поскольку равенство с11 = а (см. рис. 1.23) определяет условие разрешения двух аппаратных функций, то, очевидно, спектральная ширина аппаратной функции (1.52) численно равна интервалу длин волн разрешаемых монохроматических линий к и Я — бл. Тогда согласно определению (1.46) можно записать выражение для разрешаюгцей способности в виде [c.49]

Распределение освещенности в спектральной линпи зависит от формы аппаратной функции. Рассмотрим сначала случай широкой входной щели (sj s ) п безаберрацпоиной фокусирующей оптики, т. е. случай чисто щелевой аппаратной функции (1.48) с шириной = S. Будем также считать, что яркость постоянна по ширине п высоте входной щелп. Поскольку в нашем случае (см. рпс. 1.29) на щель отображается источник при условии иолного заполнения коллиматора, то это соответствует некогерентному освещению щели. [c.55]

Мы рассмотрели случай широких щелей ( 1 ), безаберра-ционпой фокусирующей оптики и пренебрегали дифракцией, т. е. имели дело с чисто щелевой аппаратной функцией. При ширинах щелей, близких к нормальной ( > ю), а также прп наличии аберраций аппаратная функция от.шчается от чисто щелевой, а ее полная ширина бо.тьше геометрической ширины 8.2, определяемой (1.3). [c.58]

Естественно, что прп широких щелях, когда в (1.65) 32 )3> 6X2, аппаратная функция становится близкой к чпсто щелевой с шириной = 6 2, которая линейно связана с %. [c.62]

Весь ход зависимости полной ширины аппаратной функции от 51 удобно рассмотреть в виде зависимости безразхмерпого отношения = 5. 2/б 2 от 51.510, преобразовав (1.65) к впду [c.62]

Заметим, что почти линейная зависимость освещенности от. Sj (см. рис. 1.31) при 5j < 5 ,) связана с те.м, что здесь аппаратная функция почти чисто пещелевая и ее шпрпна мало меняется, тогда как величина потока, концентрирующегося в изображении, пропорциональна ширине щели Sj. [c.62]

Для определенности примем, что ширина ш ели больше нормальной т. е. что аппаратная функция чисто щелевая и имеет шнрпну 5. Тогда полная длина, занимаемая участком спектра Аа в фокальной плоскости, равна (см. рис. 1.33) [c.65]

Примем теперь во внимание сделанные нами ранее допущения. А именно, пусть величина АК настолько велика, а ширина столь мала (хотя 5 > ю), что А1 5 п, следовательно, с большой степенью точности выполняется приближенное равенство AZ л А . Это и означает, что растяжение участка спектра вследствие дисперсии много больше ширины аппаратной функции. Для непрерывного спектра этому условию всегда можно удовлетворить соответствующим выбором интервала АА. С учетом вышесказанного мы можем написать выражение для площадп рассматриваемого участка спектра АА в виде [c.65]

Смотреть страницы где упоминается термин Аппаратная функция ширина : [c.70] [c.318] [c.164] [c.165] [c.166] [c.659] [c.175] [c.606] [c.611] [c.46] [c.417] [c.42] [c.42] [c.43] [c.43] [c.46] [c.47] [c.53] [c.54] [c.55] [c.58] [c.59] [c.59] [c.61] [c.62] [c.63] [c.65]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...