Спектрограф дифракционный

Спектрограф дифракционный 154 Спираль Корню 133—135 [c.428]

Мы видим, что разрешающая сила призмы зависит от размера ее основания Ь и дисперсии вещества, из которого она сделана. В спектроскопической практике иногда используют уникальные установки, содержащие несколько очень больших призм, изготовленных из специально подобранных сортов стекла. Разрешающая сила таких устройств близка к разрешающей силе спектрографа с дифракционной решеткой стандартной величины. [c.325]

Дифракционные явления в спектрографах (хроматическая разрешающая сила) [c.366]

Очень большое значение имеют дифракционные явления в спектрографах. Если узкая щель аппарата освещена небольшим удаленным источником света (т. е. почти параллельным пучком), то на объектив коллиматора падает очень узкий пучок света. В таком случае работала бы очень небольшая часть объектива, что соответствовало бы очень малой разрешающей способности его и, следовательно, могло бы повести к нерезкому изображению щели на ( юто-пластинке. Однако на щели происходит дифракция света, ведущая к тому, что коллиматор заполняется светом в соответствии с размерами щели. [c.366]

Каждое двумерное изображение может быть разложено в двумерный спектр пространственных частот. Эта операция соответствует представлению изображения в виде набора синусоидальных дифракционных решеток разных периодов и ориентаций аналогично тому, как в радиотехнике или спектрографии при разложении сигнала в спектр его представляют в виде набора синусоидальных колебаний разных частот. [c.50]

Большинство задач эмиссионного анализа решается при использовании спектральных линий, расположенных в видимом, ближнем ультрафиолетовом (УФ) и инфракрасном (ИК) участках спектра. В соответствии с этим чаще всего применяются спектрографы, работающие в интервале длин волн 200—1000 нм. Они строятся как с применением дифракционных решеток, так и призменных систем. В последнем случае приборы подразделяются на две группы 1) для УФ-области спектра и 2) для видимой и ближней ИК-области. В приборах первого типа призмы и другие оптические детали обычно изготовляются из кварца, в приборах второго типа — из стекла. [c.8]

Рассматривая объектив коллиматора через прорезь в кассетной части спектрографа и наблюдая за изменением дифракционной картины при различных ширинах щели, определите нормальную ширину щели спектрографа. Сравните ее с вычисленной по формуле (1.9). [c.28]

Небольшая спектральная ширина насыщенной области линии обусловливает применение спектральной аппаратуры с большой разрешающей способностью, например спектрографов с дифракционной решеткой. Весьма перспективным представляется применение эталона Фабри — Перо. Подобрав соответствующим образом параметры эталона , можно получить от данной спектральной линии достаточно большое центральное пятно интерференционной картины. Круглая диафрагма позволяет вырезать из этого пятна центральную область, соответствующую насыщенному излучению центра линии. Интенсивность выделенного таким образом насыщенного излучения линии измеряется с помощью какого-либо фотоэлектрического фотометра. [c.419]

В варианте панорамного нелинейного спектрографа для регистрации ИК-спектров не требуется никакой спектральной аппаратуры видимого диапазона, но тем не менее по разрешающей способности такие приборы сравнимы с серийными дифракционными ИК-спектрографами [237]. [c.125]

Неоднородно уширенная спектральная линия газового лазера едва-едва разрешается самыми лучшими из имеющихся в настоящее время спектрографами с дифракционной решеткой, а это самая широкая линия выходного спектра газового лазера. Для анализа мод резонатора газового лазера требуется аппаратура с более высоким разрешением. Спектрографы же и монохроматоры с дифракционной решеткой вполне пригодны для анализа спектральных характеристик твердотельных и полупроводниковых лазеров. [c.330]

Если разрешающая сила дифракционных приборов недостаточна для исследования спектров газовых лазеров, то призменные спектрографы, разрешение которых еще меньше, пригодны лишь для исследования лазеров, излучающих широкие полосы. Приборами с дифракционной решеткой можно пользоваться для спектрального анализа выходного излучения газовых лазеров и спектроскопической идентификации переходов, особенно в дальней инфракрасной области, где фотографические методы непригодны и приходится прибегать к помощи фотоприемников. [c.330]

В лазерной спектроскопии представляют интерес три основных типа приборов, измеряющих длины волн призменный спектрограф, предназначенный для фоторегистрации дифракционный монохроматор с регулируемыми входной и выходной щелями, снабженный набором фотоприемников и решеток для перекрытия спектрального диапазона от ультрафиолетовой до дальней инфракрасной области, и, наконец, интерферометр Фабри—Перо, в котором чаще всего применяется пьезоэлектрическое сканирование с набором зеркал и приемников для ближней ультрафиолетовой и дальней инфракрасной области спектра. Ниже мы рассмотрим основные особенности таких приборов. [c.334]

Спектрографы с дифракционной решеткой. В дифракционных спектрографах применяют решетки двух основных типов вогнутые и плоские. Вогнутые решетки обычно гравируют на зеркалах с номинальным радиусом кривизны, равным 1, 2, 3 или 10 м. Вогнутая решетка сочетает в себе дисперсионные и фокусирующие свойства, а поэтому она позволяет обходиться без линз, для которых неизбежны хроматические аберрации. [c.340]

ЧТО допустимы большие углы блеска (0 63°). Решетка размером 25 см обеспечивает разрешающую силу 8,6- 10 в диапазоне длин волн 5000 А. Чтобы полностью реализовать такую теоретическую разрешающую силу, для нее обычно требуются зеркала с радиусом кривизны 10 м. Обратная линейная дисперсия спектрографов с дифракционной решеткой порядка 0,1 к мм. [c.342]

Поскольку порядок интерференции велик, а область дисперсии прибора мала, в ряде случаев для наблюдения отдельной спектральной линии необходимо дополнительное поперечное спектральное разложение света. Можно также установить эталон Фабри — Перо перед щелью дифракционного спектрографа, так что каждая линия будет представлять собой полоску, вырезанную из системы колец. Полное разрешение системы, состоящей из эталона Фабри — Перо и спектрографа, достаточно высоко для изучения средней сверхтонкой структуры большого числа спектральных линий. Правда, в лазерной спектроскопии интерес представляет обычно одна или всего лишь несколько линий, так что вместо системы с поперечной дисперсией можно взять узкополосный фильтр. [c.346]

Ниже мы рассмотрим вопрос об измерениях при помощи спектрографов с дифракционной решеткой и призменных спектрографов. В призменных спектрографах преобладает нелинейная дисперсия. Поэтому для таких спектрографов требуется набор близко расположенных друг к другу стандартных линий вдоль всей фотопластинки. Это необходимо для того, чтобы получить график зависимости дисперсии от расстояния вдоль пластинки. Для определения длины волны некоторой спектральной линии измеряют расстояние между двумя стандартными линиями и неизвестной линией. Чтобы получить искомую длину волны неизвестной линии, добавляют нелинейные поправки. Чем больше стандартных линий, тем лучше можно построить поправочную кривую дисперсии. Из-за ограничений, присущих фотографическому методу, а также из-за влияния температуры и давления на длину волны, которая используется для измерения точности спектрографа, каждая калибровка относится к определенной фотографии. [c.354]

Если длина волны излучения лазера относится к видимой области спектра, то можно пользоваться обычной фотографической методикой. Излучение одного или нескольких импульсов регистрируется на фотопленке, расположенной в фокальной плоскости спектрографа с дифракционной решеткой. Четкость картины зависит от разрешения применяемого прибора. Максимальное разрешение прибора с дифракционной решеткой дается формулой (8.59) [c.383]

Профиль дифракционной картины, образующейся в спектрографе с прямоугольной апертурой при освещении бесконечно узкой щели плоской монохроматической волной, имеет вид [c.418]

Установка в спектрографе дифракционной вогнутой решетки по Иглю 152 [c.818]

В этом методе интерферометр (например, Жамена) скрещивается со спектрографом (дифракционной решеткой или призмой с большой дисперсией). Интерферометр устанавливают так, что он дает в белом свете горизонтальные интерференционные полосы на щели спектрографа, установленной вертикально. Цветную интерференционную картину, полученную на щели, спектрограф развертывает в горизонтальном направлении. Спектр оказывается пересеченным в продольном направлении интерференционными полосами, каждая из которых характеризуется одним и тем же порядком интерференции. [c.534]

У призмы разрешающая сила обычно значительно меньше, чем у дифракционной решетки, но она вполне достаточна для решения многих физических и технических задач. Поэтому нельзя считать, что призменные спектрографы и монохроматоры утратили С1юе значение, хотя в спектральном приборостроении бесспорно прогрессивна тенденция все более широкого использования дифракционных решеток. [c.325]

Полученный результат справедлив лишь при достаточно широкой щели, когда можно пренебреч . дифракционными эффектами. Пусть ширина входной щели настолько мала, что объектив коллиматора окажется в пределах первого дифракционного максимума, иными слова.ми, ф == л/6, т. е. мы имеем дело с нормальной щелью. Тогда при дальнейшем сужении щели эффективно используемый световой поток будет резко падать. Зависимость освещенности в центре спектральной линии от ширины щели спектрографа (в единицах нормальной щели Ьо) показана на рис. 6.58. Из графика видно, что при регистрации линейчатых спектров выгодно выбирать щель, ширина которой в 2—3 раза больше ширины нормальной щели. [c.327]

Наилучшие результаты получаются по методу скрещения спектральных аппаратов, причем одним из них служит, например, интерферометр Жамена, а вторым — обычный спектрограф с призмой или дифракционной решеткой, обладающей большой дисперсией (Вуд, Д. С. Рождественский). Их надо расположить таким [c.544]

Широкое распространение получили дифракционные решётки как диспергирующие элементы в спектральных приборах (монохроматорах, спектрографах, спектрофотометрах и др.) и как элементы резонаторов в лазерах с перестройкой частоты излучения. Они используются также в качестве ответвителей монохроматич. (лазерного) излучения (см. Дифракционный ответвитель) велика их роль в интегральных оптич. устройствах. ракция на ультразвуке в прозрачных средах позволяет определить упругие константы вещества, а вакже создать акустооптич. модуляторы света (см. также Акустооптика), применяемые в светодальномерах, оптич. локаторах и системах оптической связи. [c.420]

Основой оптич. схем С. п. этой группы является диспергирующий элемент дифракционная решётка, зше-летт, эшелле, интерферометр Фабри — Перо, спектральная призма), обладающий угловой дисперсией Дф/ДЯ, что позволяет развернуть в фокальной плоскости изображения входной щели в излучении разных к (рис. 3). Для объективов Oj и обычно используются зеркала, не обладающие хроматич. аберрациями (в отличие от линзовых систем). Если в фокальной плоскости установлена одна выходная щель, схема С. п. представляет собой схему монохроматора, если неск. щелей,— полихроматора, если фоточувствит. слой или глаз,— спектрографа или спектроскопа. [c.612]

СПЕКТРОГРАФ (от спектр и греч, grapho — пишу) — спектральный прибор, в к-ром приёмник излучения регистрирует одновременно весь оптич. спектр, развёрнутый по длинам волн на фокальной поверхности с помощью оптич. системы с диспергирующим элементом (призмой, дифракционной решёткой, эшелеттом, эшеллем). Оптич. схема С. выбирается таким образом, чтобы на фокальной поверхности (желательно — плоскости) изображения входной щели в разных длинах волн были по возможности свободны от аберраций (в отличие от схем монохроматоров, где требование отсутствия аберраций относится лишь к изображениям, лежащим на выходной щели прибора). [c.620]

Развитие дифракционной рентгеновской спектроскопии началось в конце 1920-х годов, когда Комптон и Доан [43] впервые предложили использовать для разложения рентгеновских спектров штриховую решетку, работающую при малых скользящих углах, а Осгуд [80] применил для этой цели вогнутую решетку. Вплоть до 1950-х годов центральной задачей спектроскопии в мягкой рентгеновской области оставалась систематизация спектров и измерение длин волн линий, а основным типом прибора классический спектрограф скользящего падения со сферической решеткой на роуландовском круге (схема Пашена— Рунге или ее модификации). Регистрация спектров проводилась на фотопленку. Достоинствами таких спектрографов являются широкая рабочая область спектра (в типичном случае от 0,5 до 50—100 нм), высокое разрешение, превышающее 10 при оптимальных размерах решетки и входной щели, и универсальность для различных типов источников. Основные недостатки — малая светосила, связанная с аберрационными ограничениями ширины решетки, а также отсутствие пространственного разрешения по высоте щели вследствие астигматизма. [c.281]

Рис. 5.1. Денситограммы спектров излучения неодимового лазера, полученные с помощью нелинейно-оптического панорамного спектрографа ( ) и дифракционного ИК-спектрографа (б) [224, 236].

G1 — голографическая дифракционная решетка для создания задержанного фронта импульса G2 — голографическая дифракционная решетка, выполняющая роль делителя светового луча L — цилиндрическая линза D — кювета с лазерным красителем BS — делитель света SP — спектрограф ST — двухпикосекундная развертывающая камера (по [2.21]). [c.100]

Разрешающую способность призменного спектрографа можно увеличить, применяя разные наборы призм, один из которых показан на фиг. 6.3. Это дает возможность увеличить эффективную ширину основания призмы и обойти трудности, связанные с изготовлением больших стеклянных блоков с достаточно высокой оптической однородностью. При / > 50 000 из-за высокой стоимости призм приходится обращаться к приборам с дифракционными решетками. (Разнообразные многопризменные устройства описаны в литературе.) [c.337]

Все схемы спектрографов с вогнутыми решетками, кроме схемы Водсворта, основаны на принципе Роуленда щель прибора, решетка и дифракционный спектр располагаются на окружности, которой касается вогнутая решетка и диаметр которой равен радиусу кривизны решетки. [c.340]

Результаты, полученные при измерениях на дифракционных спектрографах, обрабатывают другими методами. В Аргоннской лаборатории была создана установка Пашена с конфигурацией, столь близкой к круговой, что можно было измерить длины волн вполне с удовлетворительной точностью (0,001 см ), пользуясь формулой решетки тА. = d(sin 0 — sin 0 ). Лишь немногие решеточные системы подобного типа обеспечивают такую точность, так что прибор приходится калибровать по эталонам длин волн. Поскольку дисперсия нелинейна, необходимо вычислить поправочную кривую (обычно пользуются методом наименьших квад-эатов и полиномиальной аппроксимацией). При выборе эталонов необходима некоторая осторожность, так как не всегда можно сравнить линии в различных порядках (особенно для старых решеток — из-за ошибки, обусловленной затуплением резца). Поскольку более новые плоские решетки допускают такое сравнение, при выборе эталона длины волны допустима большая свобода. Почти то же самое относится к эшелле. [c.355]

Стандарты второго типа, или линии класса В, получают интерполяцией в спектрах, даваемых призменными или дифракционными спектрографами. Для них достаточна погрешность 0,01 нм, но налагается дополнительное требование, чтобы близлежащие линии не слиш- [c.666]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...