Дифракционная решетка одномерная

Дифракционная решетка одномерная синусоидальная 151, 152 [c.426]

Остановимся в заключение на вопросе о разрешающей способности дифракционной решетки (одномерной) в рентгеновской области спектра. Формула (47.3) для разрешающей способности решетки относится к случаю, когда решетка дает фраунгоферову дифракционную картину. Как было выяснено выше, в рентгеноскопии реализуется противоположный случай. Фокусирующего устройства нет, а фотопластинка ставится на малых расстояниях от решетки. В таких условиях дифракционные пучки подчиняются геометрической оптике, и формулой (47.3) пользоваться нельзя. [c.395]

В предыдущих параграфах этой главы рассматривалась одномерная задача дифракции плоской волны на правильной структуре из N параллельных щелей. При расчете коэффициента пропускания дифракционной решетки учитывалась зависимость лишь от одной переменной величины (текущей координаты х). Считалось, что ось X, лежащая в плоскости решетки, направлена перпендикулярно образующим щелей. При перемещении приемника параллельно оси У никаких интерференционных эффектов не наблюдалось — вдоль щели интенсивности складывались. Перейдем к исследованию дифракции в более сложных слу- [c.344]

Дифракционная решетка как одномерная структура [c.224]

Совокупность N периодически расположенных щелей на непрозрачной плоскости называется одномерной дифракционной решеткой. Расстояние между одноименными краями соседних щелей а называется постоянной, или периодом дифракционной решетки. [c.247]

Рассмотрим одномерную многощелевую прозрачную дифракционную решетку, показанную в предыдущих главах, которая играет роль объекта, изображение которого строится линзой (рис. 5.3). Волновые фронты, образующие разные дифракционные максимумы, приходят в разные фокальные точки задней фокальной плоскости линзы. Свет, проходящий [c.92]

В 1960 г. после пяти лет измерений профилей волн конечной амплитуды в поликристаллах (см. ниже раздел 4.28) я обнаружил, что функция отклика одномерной динамической пластичности отожженных поликристаллических металлов была параболической с коэффициентами, зависящими линейно от окружающей температуры. Результаты этих первых успешных измерений параметров пластических волн, ставших возможными благодаря открытому мной новому техническому применению тонкой дифракционной решетки, естественно привели к сравнительному изучению квазистатического отклика для тех же твердых тел. Одномерная функция отклика при квазистатической деформации отожженных поликристаллов и при III стадии определяющей сдвиговой деформации кубических монокристаллов, также рассматривавшейся в этом систематическом исследовании, имела такую же форму, как и наблюдаемая в динамических опытах. Сходство функций отклика на протяжении нагружения для конечной деформации отожженных кристаллических тел в этих трех различных ситуациях привело к тому, что я предпринял большое исследование для сравнения коэффициентов парабол при определенных значениях Т1Т сходственной (гомологической) температуры. [c.140]

Понятие пространственной частоты оказывается чрезвычайно полезным в оптике. Последнее легко пояснить на примере образования изображения оптической системой [13]. Объект, описываемый выражением т( ), представляет собой одномерную дифракционную решетку. Как известно, при освещении одномерной синусоидальной дифракционной решетки плоской волной, нормальной к ее поверхности, в выходной плоскости, будем иметь три плоские волны нулевой порядок дифракции— волну света, прошедшую решетку без дифракции, и две сопряженные плоские волны, дифрагировавшие под углами -f0 и —в. Угол дифракции находится по формуле дифракционной решетки [c.19]

Первые ДОЭ — дифракционные решетки — были созданы более двух веков тому назад. Амплитудная одномерная дифракционная решетка представляет собой плоский транспарант, на котором чередуются светлые и темные параллельные полоски (штрихи и щели). Полоски имеют одинаковую ширину. На рис. 1Л показан фрагмент одномерной амплитудной дифракционной решетки, а на рис. 1.2 показана функция света вдоль решетки по оси х. [c.11]

В большинстве одномерных модуляторов применяются дифракционные решетки с модулированным профилем, т.е. каждый бит переносится на несущей частоте. Следовательно, согласно эмпирическому правилу, несущая частота должна быть и 4 раза выше, чем тактовая частота. Число цифр, которое может быть размещено в дифракционном модуляторе, эквивалентно тактовой частоте, умноженной на быстродействие ячейки, нли тf/4, где т — быстродействие ячейки, а f — частота модуляции. Это эквивалентно утверждению, что каждый бит четыре раза представлен несущей частотой. Акустооптические модуляторы обычно имеют произведение т/, достигающее 2000, так что акустооптические модуляторы могут содержать в себе одновременно до 500 цифр. Важно согласовать тактовую частоту с частотой, на которой работает сам модулятор. Если используется тактовая частота в 10 МГц, и для 1-ГГц ячейки гf=2000, тогда в ячейке будут содержаться только 20 цифр. [c.213]

Идею метода фазового контраста проще всего выяснить на примере периодической структуры — одномерной дифракционной решетки. Различие между амплитудной и фазовой решетками с интересующей нас точки зрения по существу уже было выяснено в 53, Остановимся на этом вопросе более подробно. [c.378]

Если осветить одномерную (двумерную) решетку монохроматическим светом, то получится одномерная (двумерная) картина распределения по дифракционным порядкам, которая описывается простыми уравнениями с одним (линейная решетка) или парным индексом (правильная структура на плоскости). Трех- [c.349]

Точно такие же соображения применяются в случае двухмерной решетки, т. е. решетки в форме двухмерной структуры, каждая точка которой имеет идентичную апертуру (разд. 2.6). В случае сборной решетки каждая апертура может быть, например, малым отверстием или группой отверстий. Дифракционная картина в этом случае представляет собой двухмерную решетку пятен освещенности, причем порядок дифракции каждого пятна определяется двумя целыми числами (сравните три числа в уравнениях (2.18) для трехмерной решетки). Рекомбинация, вторая стадия в формировании изображения, выполняется точно таким же способом, как и в одномерном случае. [c.95]

Естественным развитием одномерных бинарных амплитудных и фазовых дифракционных решеток являются соответствуюш пе двумерные (2-В) радиа,пьно-сим-метричные решетки (зонные пластинки). [c.12]

Рис. 2,37. Дифракционная картина, получаемая от одномерной решетки с меж атомным расстоянием а с помощью монохроматического рентгеновского пучка, перпендикулярного к решетке, а) Интерференция с усилением имеет место, если а os 0 = лЯ, где л — целое число, б) Для данного п дифрагированные лучи лежат на поверхности конуса.

Дифракция от одномерной (линейной) и квадратной (плоской) решеток. Получение дифракционной картины от одномерной решетки с постоянной, решетки а показано иа рнс. 2.37 ). Структуры, до некоторой степени похожие [c.108]

В этом случае дифракционная картина в фокальной плоскости состоит из светлых пятен, расположенных в узлах также квадратной сетки. Поместим в фокальной плоскости узкую щель, с помощью которой можно открывать прямолинейные ряды из таких пятен, а остальные пятна закрывать. Если щель горизонтальна и достаточно узка, то она выделит прямолинейный ряд максимумов, расположенных вдоль горизонтальной прямой (рис. 221, а). Такай ряд максимумов аналогичен дифракционной картине от одномерной решетки с вертикальными щелями. Поэтому оптическое изображение квадратной сетки при введении горизонтальной щели перейдет [c.373]

Двумерной решеткой называется всякая структура, свойства которой периодически меняются в двух различных направлениях. Примером могут служить две скрещенные одномерные решетки, т. е. решетки, наложенные одна на другую таким образом, что штрихи одной решетки пересекаются со штрихами другой под некоторым углом. Дифракционная картина от такой структуры, как нетрудно показать, может быть получена путем наложения дифракционных картин от соответствующих одномерных решеток. [c.384]

Рассмотрим излучение длинной и тонкой самосветящейся нити, каждая точка которой испускает плоскую волну, падающую нормально на щель ширины Ь в непрозрачном экране. Образующие щели пара.илельны светящейся нити. Примем это направление за ось Y. Ось X проведем в плоскости непрозрачного экрана перпендикулярно образующим щели, а ось Z — перпендикулярно этой плоскости. Очевидно, что в данном случае можно решать одномерную задачу без учета интерференции вдоль оси Y, так как все точки бесконечно длинной самосветящейся нити являются совершенно некогерентными источниками. Как это обычно делается, будем решать скалярную задачу. В дальнейшем мы затронем вопрос о постановке электромагнитной векторной задачи лишь в связи с появившимися за последнее время работами о поляризации излучения дифракционной решеткой. [c.283]

Наиб, ярко Д. р. л. выражена в кристаллах, являющихся для рентгеновских лучей естеств. трёхмерными дифракционными решетками. Дифракц. максимумы в них возникают в направлениях, в к-рых вторичные (рассеянные атомами) волны распространяются с одинаковыми фазами. Для кристаллов это условие фазировки требует удовлетворения одновременно TpiiM условиям дифракции на одномерных дифракц. решетках [c.671]

В каждом из изучавшихся металлов при всех рассмотренных уровнях температуры окружающей среды я обнаружил, как теперь хорошо известно, что экспериментально найденная определяющая функция напряжение — деформация является параболической, имеющей вид а=Ре / . Возможно, менее известен факт, что также экспериментально я смог разрешить последний остававшийся вопрос, а именно, было ли явление действительно одномерным и изохори-ческим. Я достиг этого, используя записи изменения во времени поверхностного угла, получавшиеся одновременно в каждом из опытов с дифракционными решетками. Серии из 59 ударных испытаний, выполнявшихся с начала 60-х гг. XX века при одной и той же максимальной скорости частиц 2030 см/с, с использованием решеток, расположенных на четырех разных расстояниях от поверхности удара, показаны на рис. 4.164. Число опытов, по результатам [c.258]

Общая теория дифракционной решетки. Пусть на отражательную одномерную перподпческую решетку с периодом (1 падает световая волна. В соответствии с принципом Гюйгенса — Френеля [1.2] каждую точку поверхности решетки можно рассматривать как центр вторичных сферических волп. Результирующее световое колебаппе в любой точке пространства вне решетки мы найдем суммированием вторичных волп. приходящих в данную точку пространства от всех точек дифракционной решетки, с учетом их фаз п амплитуд. В да.льнейшем будем рассматривать решетку конечных размеров, а результирующее поле искать в удаленной от нее точке, что соответствует дифракции Фраунгофера [1.2]. Кроме того, будем считать, что и источник света также находится в достаточно удаленной точке н от него на решетку падает плоская волна. Эти условия соответствуют использованию плоской дифракционной решетки в снектральтнлх приборах с входным п выходным коллиматорами. [c.203]

На рис. 178 представлена система точек с тангенциальными смещениями, моделирующая криволинейный кристалл , и полученная от нее оптическая дифракционная картина [7], на которой хорошо видны описанные особенности. При образовании текстурдиаг-рамм, т. е. при вращении обратной решетки, одномерную дифракцию по направлениям а и Ь выявить трудно, так как вращение вокруг оси с размажет соответствующие эффекты. В направлении же с этого не произойдет, и одномерная дифракция может быть выявлена. Таким образом, рентгенограмма осевой текстуры криволинейных кристаллов должна иметь вид, показанный на схеме рис. 179. Нужно отметить, что такого рода дифракционные эффекты — размытие острых рефлексов с увеличением R, слияние дальних слоевых в непрерывную линию — наблюдаются во многих случаях при исследовании кристаллических полимеров (см., например, рис. 72). Это показывает, что практически почти всегда кристаллы полимеров являются в той или иной степени криволинейными . [c.280]

Из-за того, что значительная часть света поглощается амплитудным транспарантом, дифракционная эффективность в первом порядке не превышает 10%. У одномерной (1-В) фазовой дифракционной решетки этот показатель приблшзительно в 4 раза выше. Фрагмент одномерной фазовой дифракционной решетки схематично показан на рис. 1.3. [c.12]

Согласно (3.9), (3.10), задача дифракции плоской волны на одномерной дифракционной решетке сводится к рассмотрению двух независимых задач задачи дифракции плоской волны с ТЕ-иштяризацией [Е ф О, = 0) и задачи дифракции плоской волны с ТМ-поляризацией (Ж ф 0,1 г = 0) [4, 5]. При этом произвольная [c.143]

Прежде чем решать за дачу дифракции плоской во/шы на одномерной идеально отражающей дифракционной решетке, приведем вывод интегрального уравнения, связываюш,его световое поле и плотность поверхностного тока на вдеально проводящей поверхности. [c.149]

Рассмотрим простейП1ую одномерную амплитудную решетку — регулярную структуру, состоящую из iV параллельных щелей с шириной каждой ш,ели Ь и расстоянием между соседними щелями (периодом решетки) d (рис. 9.1). При нормальном падении монохроматического света на амплитудт1ую дифракционную решетку оптическая разность хода для волн, испущенных соседними щелями, равна Д = SIH0, а соответствующий фазовый сдвиг [c.149]

Случай двумерной дифракционной решетки принципиально ничем не отличается от одномерного аналога. В двух ортогональных плоскостях образуются системы главных дифракционных максимумов, угловые положения которых определяются соответствующими периодами по осям X и У. Кроме расположенного вдоль осей наиболее яркого креста, по плоскости наблюдаются максимумы меньшей интенсивности, отвечающие перекрестным произведениям фурье-обра-зов обеих решеток. При этом картины дифракции от позитивной и негативной решетки абсолютно одинаковы везде, за исключением центра.чьного максимума нулевого порядка [c.159]

В современной СВЧ технике решетки эффективно используются в волноводных и особенно антенных устройствах, причем круг выполняемых ими функций уже не ограничен только управлением поляризацией излучения [226]. Однако, по-видимому, не будет преувеличением сказать, что только с развитием милли- и субмиллиметровой квазиоптической техники решетки из брусьев круглого сечения, или, как принято их здесь называть, одномерные сетки нашли свое подлинное местоназначение. Искусственно создаваемые периодические структуры оказались адекватными квазиоптике в том смысле, что в ней удается реализовать ситуацию, в которой поперечные макроскопические размеры структур много больше длины волны рабочего излучения % (и краевые искажения волны не существенны), а микроскопические размеры — период I и радиус проводников а — могут быть как много меньше, так и сравнимы с В результате решетки можно использовать и в додифракционной (X > /), и в дифракционной [c.63]

Рис. 238. Одномерная решетка и картина оптической дифракции на ней (в), увеличение ширикш штрихов решетки и соответствующее сужение узлов дифракционной картины (б) [28]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...