Модуляция смещением

Модулирующее напряжение при модуляции смещением вводится последовательно с напряжением источника смещения (фиг. 49). [c.585]

Рже. 1.41. Модуляция смещения центра штрихов дифракционного микрорельефа [c.26]

Транзистор о управляющим р—п переходом — полевой транзистор, работа которого основана на модуляции эффективного сечения канала модуляция осуществляется изменением толщины запорного слоя обратно смещенного р—п перехода [3]. [c.159]

Первая стадия представляет собой превращение структуры типа В2 в фазу с несоразмерной структурой и является фазовым превращением второго рода. На второй стадии происходит превращение этой несоразмерной фазы в соразмерную фазу, которое является фазовым превращением первого рода. Характерной особенностью первого превращения является увеличение интенсивности рефлексов типа 1/3 при понижении Т. Кроме того, на этой стадии положение указанных рефлексов не соответствует точно положению 1/3 обратной решетки. Если смещение положений рефлексов обозначить как 1/3 (1— У) (110) и 1/3 (1—б) (111), то можно отметить, что величины У и б невелики, соответственно 0,045 и 0,012. Появление таких рефлексов соответствует модуляции решетки, однако при этом период элементарной ячейки не является кратным целому числу периодов ячейки исходной фазы. Указанную модуляцию решетки авторы попытались рассмотреть с помощью концепции волн зарядовой плотности. [c.64]

Метод пространственной модуляции светового пучка (иногда его называют зеркальным [16]) основан на последующем преобразовании пространственного смещения пучка, линейного или углового, позиционно-чувствительным элементом (фотопреобразователем). Работу позиционно-чувствительного фотопреобразователя запи шем в общем виде [20] [c.125]

На рис. 5.28 показан лазер с модуляцией добротности, использующий соответствующую комбинацию поляризатора и ячейки Поккельса. Ячейка Поккельса ориентирована и к ней подведено напряжение смещения таким [c.287]

В заключение этого раздела следует оговорить, что мы коснулись лишь простейших видов распределений сигналов и шумов, встречающихся в практике инженерного проектирования систем связи. В действительности число видов распределений значительно больше, аналитические выражения распределений (сигнала, шума и их комбинаций) зависят от целого ряда параметров, таких, как длительность интервала наблюдения, ширина полосы частот шумового сигнала, смещение несущей частоты сигнала от центральной частоты шумового поля, ширина полосы входного фильтра, интенсивности полей, вид модуляции, степень турбулентности атмосферы и др. Строгий вывод ряда распределений с учетом сказанного приведен в приложении 2, а сводная таблица — в разд. 1.2. [c.22]

РИС. 7.5. Зависимость коэффициента пропускания Т электрооптического модулятора со скрещенными поляризаторами от приложенного напряжения. Модулятор смещен в точку Г = х/2, что приводит к коэффициенту пропускания 50%. Малое синусоидальное приложенное напряжение обеспечивает модуляцию интенсивности на выходе относительно точки смешения. [c.261]

Переключение между состояниями с высоким и низким коэффициентами пропускания можно осуществлять либо кратковременным увеличением энергии пучка на входе, либо изменением напряжения смещения модулятора (замечание фр зависит от напряжения смещения). Можно показать, что кривая BD отвечает неустойчивому состоянию и физически не реализуется. Доказательство этого и рассмотрение динамики переключения выходит за рамки данной книги. Особый интерес представляет кривая рис. 8.14, а, отвечающая = 0,6тг, поскольку она обладает свойствами, характерными для большого дифференциального усиления. Если входная энергия оказывается вблизи скачка кривой, то небольшая модуляция входной энергии будет приводить к большой модуляции энергии на выходе. Существует много других интересных возможностей использования таких устройств, например для формирования импульсов и ограничения мощности (см. задачу 8.6). [c.325]

Полученная в результате линейной фильтрации интерферограмма может содержать мультипликативную помеху за счет частичного перекрытия спектров соседних гармоник и перекрестной модуляции математической интерферограммы низкочастотными функция-мшА (х, у), х, у) (см. (9.3)). На одномерных интерферограммах мультипликативные помехи являются существенно более низкочастотными, чем математическая интерферограмма, а для их подавления можно использовать тот факт, что искомая математическая интерферограмма представляет собой синусоидальное колебание с постоянной амплитудой. Значения наблюдаемой интерферограммы в ее экстремумах можно рассматривать как оценки отсчетов мультипликативной помехи. Саму помеху можно восстановить, а значит, и скомпенсировать, интерполируя ее значения между найденными отсчетами. Точность такой компенсации, помимо точности интерполяции, определяется величиной смещения экстремумов математической интерферограммы за счет мультипликативной помехи. При этом относительная ошибка измерения значения мультипликативной помехи имеет величину порядка квадрата отношения ее производной к ней самой [74]. Отсюда следует, что если мультипликативная помеха является медленно меняющейся функцией, эта ошибка будет невелика. [c.186]

Скорость поперечного смещения струны представляет собой колебание с амплитудно-частотной модуляцией [c.104]

Из рисунков видно, как увеличение скорости движения среды приводит к монотонному сужению областей неустойчивости и смещению их в область более низких частот. При этом уменьшается и максимально допустимая глубина модуляции т = — 3 )Qo/( ) и в пределе, при 3 1, все области сжимаются в одну точку. [c.156]

Поскольку интенсивность интерференционных полос в плоскости Рг изменяется по закону (1— os л )/2, экспозиция в этой плоскости изменяется от О до своего максимального значения в синусоидальной волне и вся модуляция должна определяться входным светом. При умеренных экспозициях мы будем находиться на изгибе кривой t — Е, где коэффициент усиления мал. В этом случае необходима некогерентная подсветка плоскости Рз, которая обеспечит смещение рабочей точки на линейный участок. [c.566]

Среди специализиров. МП можно выделить МП для обработки сигналов (сигнальные МП), к-рые по сути дела являются алгоритмич. МП, обрабатывающими информацию, заданную не в цифровом виде. При этом перед началом её цифровой обработки МП преобразует эту информацию в цифровой вид (напр., аналоговый сигнал — с помощью встроенного аналого-цифрового преобразователя). В случае аналоговых входных сигналов обрабатывающий их специализиров. МП наз. аналоговым МП [4]. Они могут выполнять функции любой аналоговой схемы (усиление сигнала, модуляцию, смещение, фильтрацию и др.) в реальном масштабе времени. При этом применение аналогового МП значительно повышает точность обработки сигналов, их воспроизводимость, расширяет функциональные возможности обработки сигналов за счёт цифровых методов. [c.141]

Выходная информация интерполятора может быть непосредственно использована в цифровой следящей системе станка. В большинстве случаев в настоящее время предпочитают пользоваться фазовой модуляцией с записью выходной информации интерполятора на магнитную ленту. При этом информация об обрабатываемом контуре представляется в виде смещения фазы сигнала относительно опорной частоты 500 eq. Блок-схема следящей системы станка при условии записи информации на магнитной ленте в виде фазомо-дулированных сигналов представлена на фиг. 2. [c.141]

Благодаря описанным эффектам интенсивность излучения лазера будет циклически меняться, причем полный цикл модуляции интенсивности излучения будет происходить при смещении внешнего зеркала 4 на Х/2 (в случае существования только продольных мод как в резонаторе /, так и в резонаторе II). Аналогичная периодичность модуляции излучения лазера наблюдается и в случае, когда в резонаторах lull существуют продольные и поперечные моды, но каустические поверхности разноименных мод этих резонаторов не соприкасаются (например, в зеркальном, симметричном относительно внутреннего зеркала 3, резонаторе). [c.234]

Появление лазеров вызвало интенсивное развитие методов внутр. М, с., основанных на управлении когерентным излучением за счёт изменения параметров лазера. При этом мы. устройства, применяемые как внеш. модуляторы, номещаются внутри оптического резонатора лазера. Используя разл. способы внутр. модуляции, получают любой вид М. с. амплитудный, частотный, фазовый и поляризационный. Частотой излучения лазера управляют, изменяя добротность оптич. резонатора лазера, напр. менян оптич. длину резонатора. С этой целью одно из зеркал резонатора закрепляют либо на магнитострикционном стержне (см. Магнитострикционный преобразователь), либо на пьезоэлементе и изменяют длину резонатора синхронно с модулирующим напряжением. Тот же эффект достигается путём изменения показателя преломления среды, заполняющей резонатор, для чего используется электрооптич. кристалл. Частотную модуляцию излучения лазера можно получить также при наложении на активную среду магн. или электрич. полей (см. Зеемана эффект, Штарка эффект), под действием К-рых происходит расщепление и смещение рабочих уровней атомов, ответственных за генерацию когерентного излучения. Изменяя величину коэф. усиления, получают амплитудную модуляцию излучения лазера. Для этого воздействуют на разность населённостей активной среды, либо изменяя мощность её возбуждения, либо используя всцомогат. возбуждение, приводящее к-перераспределению населённостей. Амплитудная модуляция излучения может быть получена и при помощи модуляции тока разряда газовых или полупроводниковых лазеров, работающих в непрерывном режиме. Одним из методов управления когерентным излучением является модуляция величины обратной связи лазера, т. е. коэф. отражения зеркал резонатора. С этой целью используют резонатор, одно из зеркал к-рого вращается с большой скоростью, и потому условия генерации выполняются лить в короткие промежутки времени. Вместо зеркал часто используют вращающуюся призму полного внутр. отражения. Изменение величины обратной связи можно получить, заменяя одно из зеркал на систему зеркал, образующих интерферометр Фабри — Перо. Коэф. отражения такого резонатора зависит от расстояния между зеркалами, изменяя к-рое можно модулировать интенсивность излучения и получать т. н. гигантские импульсы, мощность излучения в к-рых существенно превосходит мощность непрерывной генерации. Наконец, излучение лазеров также модулируют, изменяя добротность оптич. резонатора путем введения потерь, величина к-рых управляется внеш. сигналом. Для этого используют модуляторы на основе элек- [c.184]

При Р, с. отдельными молекулами, в отличие от Р. с. атомами, в спектре рассеяния появляются новые, соседние с несмещённой, линии. Неупругое Р. с. молекулами наз. комбинационкшж рассеянием света (эффектом Рамана). Классик, теория объясняет это рассеяние внутримолекулярным движением, модулирующим электронную поляризуемость молекул, что приводит к появлению спектральных сателлитов воз-бужда ющей гармоники и вместе с этим меняет интенсивность рассеянного света. Интенсивность сателлитов определяется глубиной модуляции поляризуемости и обычно составляет 10 и менее от интенсивности рэле-евской ЛИВИИ. Причём стоксовы компоненты рассеяния гораздо интенсивнее антистоксовых при темп-рах Г /г со — а к. Смещение линий Дш = со — о/ определяется частотами внутримолекулярных колебаний. [c.279]

В магнитоупорндоченвых веществах основную роль в С.-ф. в. играет модуляция упругими колебаниями решётки обменного взаимодействия между спинами. В свою очередь, коллективные колебания спинов спиновые волны), распространяясь по кристаллу, вызывают смещения ионов решётки, что приводит к возникновению связанных т. н. магнитоупругих колебаний. Их интенсивность возрастает при совпадении частот спиновой и упругой волн с одинаковым волновым вектором. [c.647]

Ближний порядок в истинном смысле (или жидкоподобный, статистический [10, 29, 44]) проявляется в модуляции интенсивности фона диффузного рассеяния (рис. 5.21), который меняется в зависимости от типа ближнего порядка. Этот порядок может быть типа расслоения (сегрегации) при положительном знаке энергии смещения и преимущественных соседствах одноименных атомов и типа упорядочения при отрицательном знаке энергии смещения и преимущественных соседствах разноименных атомов. Характер и степень отклонения относительного расположения атомов компонентов твердого раствора от равномерно-статистического определяется знаком и величиной параметра ближнего порядка = 1— —Пав 1Св 1 (28). [c.128]

Аналогичные методы получения укороченных импульсов путем создания вначале линейного частотного смещения (чирпа) с последующим сжатием импульса активно использовались в области радиолокации после Второй мировой войны (радары с частотной модуляцией). [c.522]

Рис. 7.5 иллюстрирует также сам процесс амплитудной модуляции оптического сигнала. На модулятор обычно накладывают смещающее напряжение таким образом, чтобы создать фиксированную задержку Гд = х/2 и добиться коэффициента пропускания 50%. Этого смещения можно достичь, прикладывая напряжение V = VJ2 или, что более удобно, используя кристалл с естественным дзулучепреломлением (рис. 7.4) для создания разности фаз (задержки) между составляющими х иу, равной х/2. При этом ма- [c.261]

РИС. 8.6. Зависимость коэффициента пропускания электрооптического модулятора Фабри — Перо от приложенного напряжения. Модулятор смещен в рабочую точку, расположенную на полувысоте максимума пропускания. Небольшое приложеииое синусоидальное напряжение приводит к модуляции иитеисивности на выходе относительно точки смещения. [c.312]

Если падающий световой пучок является монохроматическим, то интенсивность прошедшего пучка зависит от величины ф, которая, как следует из (8.2.6), является электрически перестраиваемой. Кроме того, если резонатор Фабри — Перо смещен таким образом, что коэффициент его пропускания в отсутствие модулирующего напряжения равен 50%, то интенсивность прошедшего излучения будет сильно модулироваться относительно малыми модулирующими напряжениями. Это иллюстрируется на рис. 8.6. Большая глубина модуляции обусловлена резким пиком пропускания, разумеется, при условии, что резанатор имеет высокую добротность. Действительно, в соответствии с выражением (8.2.3) наклон кривой пропускания в точке, расположенной на ее полувысоте, запишется в виде [c.312]

В волоконно-оптических системах связи, работающих на длине волны 1.55 мкм. чтобы уменьшить действие ДГС, можно идти двумя путями. Во-первых, использовать световоды со смещенной дисперсией (см. разд. 1.2.3), в которых длина волны минимальной дисперсии совпадает с длиной волны минимальных потерь. И, во-вторых, использовать полупроводниковые лазеры, работающие преимущественно на одной продольной моде, так чтобы спектральная ширина источника в непрерывной генерации была ниже 100 МГц [21]. Для таких лазеров в уравнении (3.4.2) под W понимается уже ширина спектра импульса. Если гауссовский импульс не имеет частотной модуляции, то В. Тогда из уравнения (3.4.2) следует, что при L=50km ДГС некритична вплоть до скоростей передачи 10 Гбит/с. [c.74]

На рис. 3.9 особенно заметно, что величина произведения BL при отрицательных значениях частотной модуляции С резко падает. Это происходит из-за того, что уширение импульса растет, когда Pj С положительно (см. рис. 3.2). К сожалению, для полупроводниковых лазеров с непосредственной модуляцией, работающих на длине волны 1,55 мкм, С обычно отрицательно и имеет типичную величину около 5-6 [21]. Из рис. 3.9 видно, что для таких значений С BL ограничено величиной < 100 Гбит/(с-км). Поэтому оптические системы связи на длине волны 1,55 мкм часто ограничены дисперсией, даже если в качестве источников используются одномодовые полупроводниковые лазеры. При L = 50 км такие системы могут работать со скоростью В <2 Гбит/с. Дальнейшее увеличение скорости возможно на пути использования либо лазеров без частотной модуляции. либо световодов со смещенной дисперсией. Отметим, что произведение BL максимально при положительном значении С 1, поскольку, когда Р2 С отрицательно, импульс сначала несколько снижается (см. рис. 3.2). Так как С в полупроводниковых лазерах главным образом отрицательно, наилучшее функционирование [c.75]

НОМ компрессоре импульс сначала распространяется в световоде в области положительной дисперсии групповых скоростей, а затем происходит его сжатие при помощи пары дифракционных решеток. Задача световода - наложить практически линейную частотную модуляцию за счет комбинации нелинейных и дисперсионных эффектов [39]. Пара дифракционных решеток создает отрицательную дисперсию групповых скоростей, необходимую для сжатия импульсов с положительной частотной модуляцией [4, 7]. С другой стороны, компрессор, основанный на эффекте многосолитонного сжатия, состоит только из отрезка световода специально подобранной длины. Начальный импульс распространяется в области отрицательной дисперсии световода и сжимается за счет совместного действия ФСМ и дисперсии. Компрессия здесь обусловлен фазой начального сжатия, через которую проходят все солитоны высших порядков до того, как их начальная форма восстановится после одного периода соли-тона (см. разд. 5.2). Коэффициент сжатия зависит от пиковой мощности импульса, определяющей порядок солитона N. Оба типа компрессоров взаимно дополняют друг друга, работая обычно в разных областях спектра граница определяется длиной волны нулевой дисперсии ( 1,3 мкм для кварцевых световодов). Таким образом, волоконно-решеточный компрессор используется для сжатия импульсов в видимой и ближней инфракрасной областях спектра, в то время как компрессоры, основанные на эффекте многосолитонного сжатия, используются в области 1,3-1,6 мкм. В области 1,3 мкм за счет использования световодов со смещенной дисперсией можно применять компрессоры обоих типов. Двухкаскадная схема сжатия, где использовались оба типа компрессоров, позволила получить коэффициент сжатия 5000 в области 1,32 мкм [38]. [c.149]

Для керамики с памятью двулучепреломление достигает 1,2х Х10 (в состоянии памяти сохраняется 1,15-10- ). Следует, однако, учесть, что деформация такой керамики в области пространственной модуляции света, в том числе путем ее частичной перепо-ляризации, затруднена вследствие опосредованного (деформационного) характера ее поляризации электрическим полем. Поэтому при повторяющихся включениях и выключениях электрического поля, особенно при больших значениях последнего (более 5 кВ/см), накапливается остаточная деформация, в результате которой снижается оптический контраст модуляции света — имеет место явление необратимой поляризации элемента или образца вне области приложения электрического поля. Оно носит в керамике с памятью общий характер, так как деформационные напряжения в этом пьезоэлектрическом материале имеют место при любом способе приложения к нему электрического напряжения. Явление приводит к появлению неустранимых шумов на границах и вне области приложения электрического поля, что ведет к ухудшению оптических характеристик ПВМС, в том числе и со смещением (деформацией) керамики. [c.71]

Из выражения (6.30) следует, что спектр интенсивности излучения, пропущенного через двукратно экспонированную спеклограмму и подвергнутого оптическому фурье-преобразованию с помощью линзы, представляет собой картину периодических полос, аналогичную картине интерференции Юнга от двух точечных источников. Период наблюдаемой картины определяется величиной смещения объекта Хо, что позволяет легко рассчитать величину смещения, измерив период полос. Типичная спекл-интерферограмма, соответствующая жесткому смещению объекта в собственной плоскости, приведена на рнс. 60. Как видим, осуществление фурье-преобразования пропущенного спеклограммой поля является обязательным, поскольку именно в результате фурье-преобразования сдвиг спекл-структуры в плоскости изображения преобразуется в наклон друг относительно друга двух диффузно рассеянных волн. В силу взаимной когерентности эти волны интерфертруют и на фоне относительно высокочастотной спекл-структуры наблюдается низкочастотная пространственная модуляция интенсивности ). Отметим, что при когерентном сложении двух спекл-полей, как показано в [153], результирующая спекл-картина практически не отличается от складываемых. [c.114]

Следует отметить, что в рассматриваемом случае не происходит нарушения структуры поверхности объекта в деформированной области, что обеспечивает сохранение условия корреляции соответствующих спекл-структур (до и после деформации) и, следовательно, образования спекл-интерферо-граммы. Если же в промежутке времени между последовательными зкспо-жциями структура поверхности нарушается, то в результате пространственной фильтрации в минимуме интер рограммы поступательного смещения часть объекта с нарушенной структурой наблюдается в виде светлой области на темном поле без модуляции интерференционными полосами. [c.132]

В качестве тестового смещения выберем наклон поверхности объекта на малый угол со относительно оси у, лежащей в плоскости объекта. Известно [74], что такое смещение приводит к линейной фазовой модуляции объектного поля вида ехр [/2 я (1 + os 7) сол/Х] и к поперечному смещению фурье-образа этого поля на величину Д = (1 + os 7) со/, где X - длина волны, 7 - угол падения освещающего объект пучка, х - координата в плоскости объекта, / - фокусное расстояние фурье-преобразующей линзы. [c.168]

Здесь первые два слагаемых с учетом (8.20) описьшают спекл-структуру в исходном и смещенном состояниях объекта, тогда как третье слагаемое -интерференционный член - описывает интерферограмму. Для исключения из рассмотрения спекл-модуляции проведем усреднение по пространствен- [c.194]

Важную роль как предшественники голографии сыграли работы Брэгга [4—6] в рентгеновской микроскопии и еш,е раньше работы Вольфке [36]. Исследования Брэгга были связаны также с получением полной записи рассеянного волнового поля от объекта, а именно от кристалла, облученного рентгеновскими лучами. Как и голография, метод Брэгга представлял собой двухступенчатый дифракционный процесс. Зафиксированное на фотопленке рентгеновское излучение, рассеянное кристаллом, использовалось затем для восстановления аналогичной волновой картины в видимом свете. Брэгг, как и Вольфке, рассматривал кристалл в виде трехмерной периодической структуры следовательно, если кристалл освещается плоской волной, то в соответствии с правилами брэгговской дифракции в каждый момент времени создается только одна составляющая (пространственная частота) дифрагированной волны. С точки зрения теории это различие непринципиально. В любом случае необходимо записать фазу и амплитуду, однако детекторы позволяют регистрировать лишь амплитуду. В методе Брэгга кристалл выбирался такой симметрии, что дифракционная картина (фурье-образ) в дальнем иоле, создаваемая точками объекта, становилась вещественной, т. е. лишенной какой-либо фазовой модуляции. Кроме того, исследуемые кристаллы имели в центре ячейки тяжелый атом, что обеспечивало смещенный фон, в результате чего фурье-образ представлял собой не только вещественную, но и положительную величину. Таким образом, достаточно было измерить только амплитуды плоских волн, соответствующих фурье-компонентам. Брэггу оставалось лишь, после того как он записал амплитуду волны, сконструировать маску с отверстиями, расположение и размер которых соответствовали бы значениям фурье-компонент. При освещении маски когерентным светом формировалась бы дифракционная картина дальнего поля, представляющая собой изображение атомной структуры кристалла. Эти исследования были продолжены Бюргером [7] и Бёршем [3], выполнившими аналогичные эксперименты в ФРГ. [c.13]

Преобразуя пространственную модуляцию дважды экспонированной голограммы во временную, можно точно установить координаты полос посредством измерения фазы (которое нужно выполнить очень точно) относительно фазы любой другой точки восстановленного изображения. В частности, для непосредственного измерения наклона смещения можно раздельно использовать два детектора, устарювленных на фиксированном расстоянии друг от друга это существенный результат, поскольку прямое измерение наклона приводит к возрастанию точности измерений деформации. [c.548]

Опорный сигнал h t) также складывается электрически с уровнем смещения и используется для модуляции по амплитуде несущей частоты сигнала, поступающего на вход акустооптической ячейки, установленной в плоскости Рь Плоскость Р, с помощью линз Li и La отображается на плоскость Рз, а установленная в плоскости Рз щель Шлирена пропускает на выход только пучок первого порядка, благодаря чему интенсивность, регистрируемая линейкой < то-детекторов, установленной в плоскости Рд, дается выражением [c.575]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...