МЕТОДЫ ПРЕПАРИРОВАНИЯ

Эта сложность методов препарирования часто тормозит эффективное использование электронного микроскопа для решения тех или иных частных проблем поэтому в каждом конкретном случае исследователю приходится заново решать вопрос о наиболее простой и в то же время наиболее надежной методике, обеспечивающей получение необходимых данных. [c.3]

Поскольку сведения о методах препарирования, разработанных применительно к различным конкретным случаям научно-исследовательской практики, распылены в очень большом количестве отечественной и зарубежной литературы, знакомство с ними часто бывает весьма затруднительным. В связи с этим [c.3]

Прежде чем приступить к рассмотрению различных методов препарирования объектов для их исследования с помощью электронного микроскопа, кратко остановимся на основных физических процессах, происходящих в электронном микроскопе. Это позволит, с одной стороны, правильно подойти к выбору объектов и методов их исследования, а с другой стороны,— более наглядно представить механизм возникновения изображения. [c.5]

Достоинством этого метода препарирования порошков является го, что частицы обволакиваются пленкой, предотвращающей их коагуляцию. Однако не всегда удается избежать образования больших скоплений частиц при приготовлении суспензии, что затрудняет, а иногда и делает невозможным определение размера и формы этих частиц. Кроме того, толщина пленки после включения в нее объекта достигает в этом месте толщины исследуемых частиц (фиг. 18), что сильно снижает контраст получаемого изображения и его четкость вследствие увеличения диффузионного фона вокруг частицы. Для предотвращения этого недостатка можно [c.31]

В настоящем параграфе мы опишем несколько методов препарирования, которые могут найти и более широкое применение не только для волокнистых объектов [158]. [c.150]

Наибольший интерес представляют два основных аспекта строения поверхностных слоев химический состав и характер упорядочения атомов и молекул. При этом под термином поверхностный слой могут подразумеваться совершенно различные объекты — от нескольких атомарных слоев при исследовании адсорбции и адгезии, до десятков и сотен микрометров при анализе деформационных и диффузионных процессов, прогнозировании износостойкости. Охватить весь диапазон анализируемых глубин возможно либо с использованием специальных методов препарирования образцов (разрушающие методы анализа), либо используя комплекс методов исследования. К наиболее распространенным методам препарирования относятся создание поперечного или косого шлифа, послойный анализ с применением механического, химического, электролитического или ионного полирования. Важнейшим недостатком перечисленных методов является возмущающее влияние обработки на структуру поверхности. В результате возможно перераспределение дислокационной плотности, преимущественный унос тех или иных компонентов материалов сложного химического состава, развитие поверхностной сегрегации. Нередко обработка приводит к недопустимо сильному загрязнению изучаемой поверхности. [c.160]

При оценке возможности применения того или иного Метода препарирования жидких аэрозольных частиц выбирают тот из них, при котором время нахождения частиц в условиях испарения меньше времени видимого изменения их размеров. [c.143]

В электронной микроскопии используют различные методы препарирования исходных образцов стеклопластиков. На первой стадии изготавливается шлиф материала. Шлифование ведут на специальных станках с применением на последней стадии пасты ГОИ дисперсностью 1-7 мкм. После отмывания пасты с поверхности проводят травление шлифа для удаления продуктов шлифовальной обработки из дефектов. Травление осуществляют разбавленными кислотами, растворителями или их парами. После [c.62]

Отличный метод препарирования образцов для микроскопических исследований в поляризованном свете [c.586]

Из предыдущего изложения видно, что независимо от метода препарирования для получения хорошо полированного шлифа необходимо выполнить некоторые условия. Прежде всего это [c.27]

Ионное травление применяют главным образом при изучении металлов, используемых в ядерной энергетике, а так же как метод препарирования в электронной микроскопии, благодаря тому, что оно позволяет относительно легко регулировать степень травления. Метод ионной бомбардировки мог бы дать интересные результаты в оптической микроскопии. [c.46]

Создание электронного микроскопа и улучшение методов препарирования образцов позволило в последнее время изучить морфологию мартенсита с использованием все больших разрешений. В частности, было показано, что мартенситный кристалл, выявляемый с помощью оптического микроскопа, в действительности состоит из большого числа микрокристаллов. [c.82]

Следовательно, в отраженном свете этот цвет с длиной волны X будет более или менее исключен. Итак, препарированная по указанному методу пластинка приобретает способность избирательного отражения световых лучей и в отраженном свете будет давать то распределение цветов, которое было применено при ее приготовлении пластинка дает возможность видеть в отраженном свете изображение в натуральных цветах. Механизм действия пластинки становится особенно ясным, если рассмотреть процесс отражения по методу, изложенному в 51. [c.119]

Работы, опубликованные в последнее время, позволяют надеяться на то, что прямое исследование покрытий получит большее развитие благодаря препарированию образцов в установках для ионного утонения [251, 253, 257]. Утонение ионным пучком в некоторых случаях может оказаться единственной методикой приготовления образцов из керамических, тугоплавких и пористых материалов. Сущность метода состоит в том, что ионы с энергией 3—6 кэВ, бомбардируя образец, выбивают из него один или несколько атомов в расчете на один ион. Происходит утонение образца со скоростью 0,5—5 мкм/ч. [c.178]

Ниже рассматриваются способы препарирования образцов для исследования их методами тепловой световой микроскопии. [c.11]

Однако следует иметь в виду, что растекание спирта происходит в течение некоторого времени, за которое мелкие частицы, осаждающиеся более медленно, смываются растекающейся каплей спирта на края пленки. Особенно существенно это при препарировании порошков материалов, обладающих большим удельным весом. Поэтому удобнее препарат по этому методу наносить на пленку, имеющую большую площадь, после чего отбирать для просмотра в электронном микроскопе различные ее участки. Это позволит учесть указанную неравномерность. [c.33]

Для утончения образца может быть использован следующий метод [53]. Образец, приготовленный в виде тонкого цилиндра диаметром 3 мм, подвергают последовательно электролитическому полированию с обеих сторон (фиг. 21). Полирование производят до тех пор, пока в центральной части образца не появятся отверстия. Некоторая область, расположенная вокруг отверстия, в благоприятном случае может оказаться достаточно тонкой для того, чтобы ее можно было наблюдать в электронном микроскопе на просвет. На фиг. V приведена микрофотография образца, препарированного описанным методом. Однако такой метод при всей своей простоте имеет ряд серьезных недостатков как только в образце образуется отверстие, его края быстро округляются (результат электролитического полирования) и уменьшается и без того малая часть объекта, пригодная для исследования на просвет кроме того, при электрополировании появляется на поверхности образца слой окиси или загрязнений, что может также существенно исказить результаты наблюдений. [c.39]

При косвенном методе в электронном микроскопе исследуется не сам объект, а копия, или отпечаток его поверхности . Методы отпечатков, которых в настоящее время насчитывается около ста, различаются между собой как по технике изготовления отпечатков, так и по применяемым для их получения материалам. Это многообразие методов обусловлено тем, что большинство из них применимо лишь к определенному классу объектов, более или менее широкому, для которого они были разработаны, в результате чего при перемене объекта исследования приходится часто менять и метод его препарирования. [c.41]

Если поверхность излома обладает сравнительно гладким рельефом, то отпечаток может быть получен заливанием пластика либо прижиманием размягченной пластической ленты к исследуемой поверхности. Если поверхность обладает резко выраженным занозистым макрорельефом, то предпочтение следует отдать второму методу, так как полученный с его помощью отпечаток отделить легче, чем заливаемый. При получении пластических отпечатков с поверхностей излома следует иметь в виду, что высыхание пластика в этом случае длится несколько дольше, чем при препарировании, например, шлифа. Необходимо дать возможность пластику высохнуть полностью, так как в противном случае при отделении первичного отпечатка на его контактной стороне могут возникнуть не свойственные исследуемой структуре детали, характерные своими рваными контурами (фиг. XL). [c.148]

Исследование стекол вообще и изломов их в частности не представляет каких-либо трудностей в смысле их препарирования. Для исследования шлифованных и нешлифованных поверхностей стекол применяют обычно одноступенчатые методы. (Получение пленок-подложек на поверхности стекла представляет, по существу, получение отпечатка с этой поверхности [155 156 157]). [c.148]

К особым объектам электронномикроскопических исследований, требующих применения специфических методов их препарирования, следует отнести разного рода волокнистые вещества, такие, как бумага, асбест, шерстяные и хлопчатобумажные волокна, волокна из искусственных синтетических материалов и пр. [c.150]

Препарирование физической сути явлений, лежащих в основе динамических процессов в системах с подвижными границами, позволило А.И. Весницкому для некоторых типов задач разработать новые, более эффективные методы их решения. Им были предложены методы нахождения точных и приближенных решений, а также указан общий класс нелинейных инвариантных преобразований волнового уравнения, позволяющий конструировать точные решения в форме, удобной для аналитического исследования. Позднее выяснилось, что такие же преобразования еще в 1910 году были предложены Н.А. Умовым, развившим идею инвариантности уравнений движения в специальной теории относительности. На основе точных [c.8]

Известен метод приготовления препаратов улавливанием жидких аэрозольных частиц слоем нелетучей маловязкой жидкости, в которой частицы не растворяются [51—53]. Существуют два способа реализации этого метода согласно первому частицы подвешивают в слое жидкости, а при выполнении второго способа частицы осаждают на дно кюветы. Этого достигают, подбирая слои жидкости определенной плотности. Если плотность жидкости равна плотности частицы, то последняя при осаждении по инерции погрузится в слой и окажется взвешенной в нем. При плотности жидкости, несколько меньшей, чем плотность частицы, последняя осядет на дно кюветы. В обоих случаях частицы сохраняют сферическую форму. Метод применяют для препарирования частиц, размер которых более 10 мкм. Для улавливания водяных капель используют смеСи вазелина с керосином или трансформаторным маслом, для масляных капель — водные растворы этилового спирта или других веществ, не реагирующих с частицами. [c.148]

В качестве методов препарирования масел применяют разделение глицеридов растворителем и расщепление их с переэтерифи-кацией жирных кислот спиртами. [c.89]

Косвенным методом препарирования в элек-тронно-микроскопическом исследовании рекомендуется пользоваться в тех случаях, когда достаточно полное представление о структуре изучаемого образца можно составить по одному лишь рельефу его протравленной поверхности. Очевидно, что только косвенным методом можно изучать структуру массивных образцов чистых металлов и однофазных сплавов. Удовлетворительные результаты получаются с помощью слепков и при иссле-дованиидвухфазных сплавов с относительно малодисперсной структурой и заранее известным количественным соотношением фаз, т. е. если имеется возможность непосредственно сравнивать картины, наблюдаемые под электронным и световым микроскопами. С помощью слепков проведен также ряд исследований пластической деформации металлов и сплавов, проявляющейся в изменении рельефа заранее отполированного, иногда и протравленного, шлифа. [c.36]

Методы препарирования тонкодисперсных порошкообразных образцов в известной степени зависят от целей исследования, однако в любом случае задача состоит в нанесении материала на объекто-держатель таким образом, чтобы интересующие нас частицы порошка располагались по возможности отдельно друг от друга для удобства определения формы и размеров. Поэтому основной задачей препарирования порошка является тщательное его диспергирование [29]. [c.30]

Однил из основных недостатков описанного выше метода с растиранием порошка при перемешивании его с раствором коллодия является разрушение первоначальных частиц в процессе растирания, что в некоторых случаях делает этот метод непригодным. Кроме того, этому методу препарирования, естественно, присуши все те недостатки, на которые мы указывали при описании свойств коллодиевых и формваровых пленок подложек. [c.32]

Наиболее сложным в этом методе препарирования порошков является получение хорошо диспергированной суспензии, что особенно трудно при изучении порошков с большим удельным весом. Для облегчения этого процесса можно рекомендовать дающий очень хорошие результаты метод ультразвукового диспергирования либо ультрацентрифугирования [10]. [c.33]

Некоторое улучшение контраста изображения при прямых методах исследования может быть достигнуто помещением объекта непосредственно на сетку без пленки-подложки, которая всегда снил ает контраст, оказывая вуалирующее действие. Для этого к сетке крепят нити из волокнистых материалов (асбеста, окислов металлов), на которые наносят распыленный исследуемый материал. Для удержания материала без пленки-подложки могут быть использованы также стеклянные нити, о чем упоминалось в связи с описанием различных методов препарирования порошков. Однако, естественно, такой метод может иметь лишь весьма ограниченное применение. [c.97]

В настоящее время накоплен большой арсенал различных методов препарирования изображений [86] метод выравнивания гистограмм (метод эквализации) и его обобщение — метод степенной интенсификации, методы адаптивного квантования мод, методы представления изображений в псевдоцветах, методы построения графических препаратов (оконтуривание, построение линий равной яркости и] т. п.), методы, основанные на принципах оптимальной линейной фильтрации и обнаружения сигналов, методы препарирования с принятием решений и т. п. [c.173]

Следует (Лметить, что наиболее сложной операцией в этом методе препарирования порошков является получение хорошо диспергированной суспензии. Стабильные суспензии, в которых отсутствуют агломераты, получают диспергированием средних проб порошка в различных дисперсионных жидкостях [1, с. 268] (с добавлением в них стабилизаторов) при эффективном перемешиванки. Интенсивное перемешивание достига ет-ся с помощью ультразвукового низкочастотного диспер-гатора УЗДН [27, с. 131]. [c.107]

Наиболее часто для приготовления препаратов из жидких аэрозольных частиц применяют методы, основанные на осаждении частиц на твердые (сухие или покрытые различными составами) или ворсистые поверхности под действием силы тяжести, улавливании частиц слоем маловязкой жидкости и инерционном осаждении частиц с получением их отпечатков на подложке. При осуществлении больщинства этих методов частицы определенное время либо движутся с небольшой скоростью (оседание под действием силы тяжести), либо остаются неподвижными по отношению к окружающей среде. Чтобы оценить возможность применения того или иного метода препарированйя частиц данного состава, необходимо иметь представление о возможном изменении их размеров. Для частиц диаметром более 2 мкм, неподвижных по отношению к среде или перемещающихся с небольшой скоростью, изменение размера с достаточной степенью точности можно определить по формуле (46, с. 12] [c.142]

Влияние различных параметров профиля манжеты на величину контактного усилия с использованием парафиновых моделей профиля изучал А. А. Теасте. Он применял метод препарирования, который ранее использовался в исследованиях Ю. А- Носова и С. Б. Ратнера. Установлено, что утолщенная часть губки около пружины имеет решающее значение [87]. [c.69]

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — раздел электроники, в к-ром рассматриваются вопросы формирования изображения, методы препарирования об1>ек-тов и их исследования в электронном микроскопе, а также методы онределення параметров микроскопа (разрешаюш,ая способность, увеличение). Иодробиее см. Э.и ктронный минроскоп. [c.474]

При градиентном методе измерения теплового потока датчиком обычно служит элемент конструкции, препарированный термопа- [c.282]

В дальнейшем часть образцов исследовалась на отрыв от подложки, а часть приготовленных в аналогичных условиях подвергалась термоудару со стороны подложки резким нагреванием с помощью плазменной горелки. В результате покргдтие отделялось от подложки. Анализ изломов отделившихся покрытий проводился с помощью световой и электронной микроскопии. В последнем случае препарирование образцов велось методом двухступенчатых целлулоидно-угольных реплик. [c.128]

К недостаткам метода следует отнести малую скорость утонения, нагрев образца и повреждение образца ионами. Исходную заготовку нужно сделать как можно более тонкой, используя механические или другие подходящие обработки. Малая скорость утонения приводит к низкой производительности препарирования. Если исходная заготовка имеет толщину 30 мкм, то потребуется 10—30 ч, чтобы получить достаточно тонкие образцы [253]. Температура нагрева образца невелика и вряд ли повлияет на тонкую структуру газотермических покрытий. Однако эффект нагрева нужно учитывать при анализе основного металла после упрочняющих обработок. Радиационные повреждения распространяются на малую глубину образца и внещне проявляются в виДе множества светлых и темных точек, которые фиксируются на снимках структур. [c.179]

Ограниченность числа каналов современных токосъемных устройств накладывает существенные ограничения на число однозре-менно опрашиваемых тензорезисторов, снижая оперативность получения нужной информации и удорожая эксперимент. Эти трудности становятся особенно существенными при тензометри-ро вании роторов двух- и трехвальных турбомашин, когда возникает необходимость передачи тензосигналов через один или два промежуточных токосъемника. В этом отношении применктель-но к регистрации колебаний собственно лопаток существенными достоинствами обладает так называемый дискретно-фазовый метод (ДФМ). Он не требует ни препарирования лопаток, ни использования токосъемников. При ДФМ чувствительные элементы (импульсные датчики) располагают на статоре. Они фиксируют моменты прохождения мимо них концов вращающихся и одновременно колеблющихся лопаток. Принцип измерений на основе ДФМ амплитуд, частот и фаз колебаний концов лопаток изложен в работе [23]. Достоинством ДФМ является возможность одновременного измерения колебаний всех лопаток рабочего колеса, что при тензометрировании практически неосуществимо. Относительная простота размещения на статоре неподвижных датчиков и их сравнительно высокая надежность позволяют использовать [c.191]

Метод жидкокристаллической термографии не является универсальным, однако есть области, где только этот метод может дать быструю и достаточнуто информацию о поле температур. Это прежде всего области, где требуется панорамное изображение температур без нарушения исследуемой поверхности, когда исслед> емая область настолько мала, что не представляется возможным препарирование ее термодатчиками, сенсорами и другими приборами. К таким областям можно отнести неразрушакзщий контроль качества различных материалов. Это быстрый и дешевый метод отбраковки изделий электронной техники, выпрямителей, интегральных и печатных плат, транзисторов. ЖКК с холестериками широко используются для визуализации невидимых излучений (контроль ИК - лазеров, визуализация аэродинамического нагрева при изучении перехода от ламинарного течения в турбулентное и др.). [c.154]

Для доказательства присутствия той или иной фазы а сплаве необходима регистрация нескольких характерных отражений. На использовании этих же отражений основано определение природы фаз (качественный фазовый анализ). Для получения по возможности более точных значений межплоскостных расстояний din и интенсивностей соответствующих отражений, а также в связи с тем, что объекты анализа чаще всего мелкокристаллические и поликристаллические вещества — целесообразно использовать метод порошка (камера Дебая, камера Гинье или дифрактометр). В необходимых случаях прибегают к измельчению объекта и отбору оптимальной для анализа фракции порошка. При этом необходимо предупреждать или учитывать возможные при препарировании объекта изменения его фазового состояния, например в результате пластической деформации и нагрева при механическом размельчении и отжиге, а также изменение фазового состава осадков при химическом или электрохимическом высаживании или при последующих операциях препарирования. [c.124]

Существует целый ряд методов сухого препарирования порошков. Наиболее простым из них является стирание порошка с помощью щеточки из верблюжьей шерсти над сеткой, покрытой пленкой-подложкой. Другой способ состоит в том, что весьма малое количество исследуемого порошка (порядка нескольких десятков миллиграмм) вдувается под стеклянный колпак. Это может быть осуществлено, например, на вакуумной установке для напыления, в которой в течение 0,5—1,0 мин форвакуумным насосом откачивается воздух из-под колпака, затем насос выключается, пакетик с порошком подносится к крану для впуска воздуха в установку, и кран открывается. Порошок увлекается струей воздуха под колпак, после чего он постепенно оседает на вмонтированные в объек-тодержатели сетки с пленками-под-ложками, помещенные на дне колокола. Помещая эти сетки под колокол через определенные промежутки времени, можно улавливать различные фракции порошка, что обусловливается разной скоростью оседания частиц различной величины. Однако эти методы, как уже отмечалось, могут применяться лишь в тех немногих случаях, когда частицы порошка не собираются в агломераты. [c.34]

Первую группу составляют методы определения адгезионной прочности, которые не связаны с нарушением взаимодействия пленки с поверхностью. При реализации второй группы методов происходит нарз шение контакта междз- адгезивом и субстратом. Общее всех этих групп методов заключается в том, что сопоставление полученных резз чьтатов может быть проведено лишь при одинаковых З Словиях препарирования образцов и проведения измерений. [c.78]

Эпоксидно-каменноугольная эмаль ЭП-5116 (см. табл. 20) изготовляется на основе низкомолекулярной эпоксидной смолы ЭД-20, препарированной каменноугольной смолы, разбавителя, наполнителя и ПЭПА. Змаль наносят методом пневматического распыления лри подогреве компонентов до 60 °С с помощью двух- [c.154]

Весьма часто для приготовления препаратов в качестве подложки применяют коллодиевые пленки. Использование коллодиевых пленок привлекает не только сравнительная простота приготовления препарата, но и благоприятные оптические свойства этих пленок высокая прозрачность, низкая рассеивающая способность, невидимость структуры пленки, малая толщина пленок К их недостаткам следует отнести небольшую механи ческую прочность. Ниже рассмотрены некоторые спо собы препарирования порошков по этому методу [30] [c.105]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...