ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Следует остановиться на применении всех описанных методик к исследованию кристаллов. Очевидно, что число измерений в этом случае должно быть больше — по крайней мере четыре для одноосных кристаллов, ибо последние характеризуются четырьмя параметрами — «о, Пя, хо, Хи. Видимо, необходимо, или, во всяком случае желательно, чтобы число измерений было больше [72]. С другой стороны, анализ [015] показывает, что проводя для прозрачных кристаллов измерения интенсивности и поляризации отраженного света, можно в принципе определить все параметры по отражению от одного аншлифа (одной отполированной плоскости) как для одно-, так и для двуосного кристалла. Это можно осуществить, в частности, только измерениями состояния поляризации или же их сочетанием с измерениями интенсивностей. [Выходные данные]