Лучи в кристалле

В исландском шпате оптическая ось совпадает по направлению с линией, соединяющей два тупых угла кристалла ( естественная грань исландского шпата имеет вид ромба с углами около 102 и 78°). Спилим эти углы по плоскостям, перпендикулярным оптической оси (рис.3.2). Пропуская через такой кристалл узкие пучки света, легко убедиться, что двойное лучепреломление всегда отсутствует, если луч в кристалле распространяется параллельно его оптической оси. Следовательно, формулируя понятие оптической оси, имеет смысл говорить о некотором направлении, а не о линии. [c.115]

Поляризаторы. Оптическое устройство, которое преобразует проходящий через него естественный свет в поляризованный, называется поляризатором. Превратить естественный свет в поляризованный можно, используя двойное лучепреломление в кристаллах. Поскольку два луча, выходящие из кристалла, ортогонально линейно поляризованы, то для получения луча нужной поляризации достаточно перекрыть один из них. Однако этот прием наталкивается на большие трудности, так как линейное расхождение лучей в кристалле мало. Поэтому необходимо использовать очень узкие световые потоки, что снижает их яркость. [c.36]

Если же два когерентных луча линейно поляризовать во взаимно перпендикулярных плоскостях, то они при встрече не создадут интерференционной картины. Именно этот случай наблюдается при двойном лучепреломлении в кристаллах. Лучи, образованные расщеплением падающего луча в кристаллах, являются, конечно, когерентными, однако эти лучи как в одноосных, так и в двуосных кристаллах поляризованы во взаимно перпендикулярных плоскостях. Это не единственный способ получения когерентных и взаимно перпендикулярно поляризованных колебаний. Достаточно поставить [c.49]

Постоянные вращения плоскости поляризации. При прохождении плоскополяризованного света сквозь оптически активные вещества происходит поворот плоскости поляризации. В кристаллических телах угол поворота пропорционален длине пути луча в кристалле [c.305]

Обыкновенный и необыкновенный лучи в кристалле оказываются поляризованными во взаимно перпендикулярных плоскостях. Обыкновенный луч поляризован в плоскости главного сечения, т. е. колебания вектора Е в нем перпендикулярны к плоскости главного сечения, а необыкновенный луч поляризован в плоскости, перпендикулярной к этому сечению, т. е. в необыкновенном луче вектор Е колеблется в плоскости главного сечения. [c.71]

Теория закономерного расположения атомов в пространстве, определяющая симметрию кристаллов, была предложена еще в конце прошлого века (Е. С. Федоров, 1890). Подтверждение кристаллической структуры было получено в начале XX в. после открытия явления дифракции рентгеновских лучей в кристаллах (Лауэ, 1912). [c.37]

В первых попытках синтеза МИС [49— 52] ставилась цель создать элементы, которые распространили бы явление брэгговской дифракции рентгеновских лучей в кристаллах на более длинноволновый диапазон и тем самым позволили бы развить спектроскопию в мягком рентгеновском диапазоне. [c.117]

Рентгеновская оптика как наука родилась на рубеже двадцатого века, предтечей этому явилось открытие в 1895 г. рентгеновских лучей [1]. Свойства рентгеновских лучей изучались с помощью средств существовавшей тогда техники была обнаружена дифракция рентгеновских лучей в кристаллах [2]. [c.414]

Брэгговская дифракция рентгеновских лучей в кристаллах имеет вид [7] [c.390]

Если двуосный кристалл разрезать перпендикулярно к одной из оптических осей и луч света будет падать на поверхность нормально, то лучи в кристалле будут располагаться вдоль конуса, описанного в конце 1.14, являющегося косым конусом с круглым основанием, одна из образующих которого лежит на продолжении падающего луча. [c.40]

Здесь I — длина пути луча в кристалле, d — расстояние между электродами, V — приложенное напряжение.. [c.83]

Здесь — мощность основного излучения, и Игш показатели преломления среды на соответствующих частотах, С — коэффициент пропорциональности, в общем случае зависящий от формы и модового состава излучения [I, 137-139]. Изменение длины пути луча в кристалле, соответствующее двум последующим максимумам интенсивности, дается соотношением [c.86]

Им примерно соответствуют схема Лауэ и схема Брэгга в задаче дифракции рентгеновских лучей в кристаллах. [c.19]

Эффект двойного лучепреломления обусловлен деформацией волновой поверхности необыкновенной волны в кристалле, в соответствии с чем показатель преломления оказывается зависящим от направления распространения светового луча в кристаллической среде. Поэтому в учебном плане было бы интересно и поучительно иметь возможность непосредственно увидеть и сопоставить ход показателя преломления для лучей разной поляризации в зависимости от направления распространения луча в кристалле в пределах того или иного его сечения. К сожалению, известные поляризационные опыты не позволяют это сделать. Описанный выше интерференционный опыт с запыленной пластинкой исландского шпата и представляет собой одно из решений задачи такого рода. [c.35]

В предыдущем параграфе мы упоминали, что показатели преломления кристаллов для обыкновенного и необыкновенного лучей неодинаковы. Так, для исландского шпата По = 1,658, а п,, может принимать в зависимости от направления луча в кристалле все значения между 1,486 и 1,658. Кристаллы, для которых, как и для исландского шпата, /ig По, называют отрицательными. Кристаллы, для которых Пе По (напримвр, квзрц), НОСЯТ иззвание положительных. [c.384]

Формула Вульфа — Брэгга. Вскоре после открытия М. Лауэ (1912) электромагнитной природы рентгеновских лучей русский ученый Ю. В. Вульф (1912) и независимо от него английские физики отец и сын Г. и Л. Брэгги (1913) дали простое истолкование интерференции рентгеновских лучей в кристаллах, объяснив это явление их отражением (как от зеркала) от атомных плоскостей. Основываясь на этих соображениях, они вывели формулу, описывающую положение интерференционных максимумов. Ниже приводится вывод этой формулы, носящей название формулы Вуль-Рис. 1.36. К выводу формулы фа — Брэгга. [c.38]

Вскоре после открытия дифракции ренгеновских лучей в кристаллах Вульфом и Брэггом был предложен подход к построению теории рассеяния, отличающийся от подхода Лауэ. Вместо суммирования амплитуд рассеяния волн, рассеянных электронами (рассеивающими центрами), в этом подходе предлагалось суммировать амплитуды волн, отраженные атомными плоскостями (см. рис. 4.7). Пусть пучок рентгеновских лучей ( к =Я ) будет падать на отражающие плоскости (для простоты будем их считать параллельными внешним граням) под углом О, причем расстояния между соседними параллельными плоскостями в семей- [c.185]

При освещении кристалла узким пучком лучей в нем возникают два луча, соответствующие двум электромагнитным волнам, распространяющимся в кристалле с различными скоростями и вследствие чего лучи имеют различные показатели преломления (ло = ivi и Пе = /uj) и распространяются внутри кристалла в различных направлениях. Для одного из лучей показатель преломления о не зависит от направления луча в кристалле и таким образом остается постоянным при любом угле падения световой волны на кристалл этот так называемый обыкновенный луч полностью подчиняется обычным законам преломления. Другой луч — необыкновенный он не следует обычным законам преломления и, кроме частных случаев, не остается в плоскости падения. Скорость распространения этого луча в зависимости от направления распространения в кристалле может принимать различные значения в определенном интервале, соответственно с этим и показатель преломления его зависит от направления. В одноосном кристалле имеется только одно направление оптической оси, в котором оба луча имеют одну и ту же скорость распространения. Во всех других направлениях скорости распространения для обыкновенного и необыкновенного лучей различны. [c.71]

Понятие Д. н. естсств. образом возникает при решении волнового ур-ния, описывающего распространенно-рсптг. лучей в кристаллах [см. ур-ние (.5) в ст. Дифракция рентгеновских лучей]. Решения этого ур-ния в пулевом приближении (т. е. без учёта взаимодействия воли в кристалле) показывают, что волновые векторы всех волн равны между собой [c.640]

На опыте наблюдаются конечные пучки звуковых волн, направления распространения к-рых отгределяют-ся лучевыми скоростями. Направления лучей в кристаллах значительно отличаются от направлений соответствующих волновых векторов. Лучевые скорости падающей, отражённых и преломлённых волн лежат в одной плоскости лишь в исключительных случаях, наир, когда плоскость падения является плоскостью симметрии для обеих кристаллич. сред. В общем случае отраженные ж преломлённые лучи занимают разнообразные по- [c.506]

Таким образом, измерение определенной составляющей сводится к получению интерференщюнной картины ("полос Мейкера [140]) и к измерению длины когерентности и интенсивности второй гармоники излучения в максимуме интерференщюнной картины. Для получения интерференщюнной картины необходимо менять длину пути луча в кристалле. [c.88]

Для расчета продольного полуволнового напряжения при произвольном направлении распространения луча в кристалле необходимо знать не только величины электро-оптических коэффициентов, но также и их знаки. Абсолютные величины этих коэффициентов обычно известны из литературы, однако информация об их знаках, как правило, отсутствует. Исключение составляют лишь ниобат лития [47] и танталат лития [48], для которых не только с большой точностью определены величины электроопти-ческих коэффициентов, но и установлены их знаки. [c.124]

Неоднородность представляет собой область пониженной величины Пе, которая распространяется от оси луча и окрунчена небольшой областью с периодическим изменением этого показателя преломления. При помощи интерференции обыкновенного и необыкновенного лучей в кристалле ниобата лития было определено Ап>2 10 . [c.293]

Гирация, или вращение плоскости поляризации света, является еще одним примером оптических эффектов в анизотропных кристаллах. Плоскость колебания поляризованного светового луча по мере распространения его в оптически активном кристалле изменяет свою ориентацию — вращается. Величина угла гирации зависит от длины пути оптического луча в кристалле и от структуры кристалла. Наибольшей оптической активностью обладают жидкие кристаллы. Объясняется гирация асимметрией электронного строения оптически активной среды поляризация светового луча вынужденно следует за винтовым структурным расположением связанных в молекулах электронов — вторичных осцилляторов, возбуждаемых в кристалле проходящим светом. В некоторых кристаллах гирация может возникать или изменяться во внешних (управляющих) полях. [c.28]

Частная промышленность также оценила важность научных исследований, что повело к быстрому развертыванию сети заводских и иных промышленных лабораторий. При этом не только возрос общий объем исследований по механике материалов, но изменился и самый их характер. Новые лаборатории облегчили установление контакта между инженерами-исследователями и физиками в их работе, теснее направив их обш ие усилия на освещение основных проблем о связи структуры и механических свойств твердых тел. После открытия Лауэ в 1912 г. интерференции рентгеновых лучей в кристаллах представилось возможным использовать это явление для исследований структуры металлов. Развилась техника изготовления крупных кристаллов, а изучение отдельных монокристаллов внесло большую ясность в наши представления о характере воздействия внешних условий на механические свойства металлов ). Количество научных работников, интересующихся механическими свойствами материалов, увеличилось безгранично возросло и число научных работ, публикуемых по этому вопросу в различных изданиях. Поэтому в настоящем обзоре мы сможем остановиться только на немногих, самых важных работах этого периода. [c.424]

После прекращения действия возбуждающего света конденсированной искры или рентгеновых лучей в кристаллах Na i и КС1 наблюдается ультрафиолетовая фосфоресценция (115, 119, 123), которую будем называть первичной фосфоресценцией в отличие от фосфоресценции, наблюдающейся после освещения окрашенного кристалла видимым светом. Естественно было предположить, что в отличие от вспышки, обусловленной электронами, забрасываемыми светом в зону проводимости с глубоких f-уровней, фосфоресценция при комнатной температуре должна быть обусловлена электронами, локализованными на более мелких уровнях локализации, для освобождения с которых достаточны тепловые колебания решетки при комнатной температуре. Поэтому следовало ожидать, что вследствие первичной фосфоресценции концентрация f-центров не должна была бы измениться. Однако измерения, коэффициентов поглощения в максимуме F-полосы в начале и в конце затухания первичной фосфоресценции показывают, что в процессе затухания концентрация f-центров уменьшается на 5—9%, Такое уменьшение концентрации /- -центров не могло быть вызвано действием монохроматического света, при помощи которого производилось измерение коэффициента поглощения в максимуме Р-полосы,так как он был весьма слабой интенсивности, а время всего измерения для одной дли- [c.57]

Даже после облучения щелочно-галоидных фосфоров рентгеновыми лучами в кристалле не обнаруживается активаторных центров, ионизованных действием жесткого излучения. После рентгенизации в спектрах поглощения щелочно-галоидных фосфоров, активированных ионами Sn++, Ni++, Pb++, Ag+, u+ и In+, возникают новые полосы поглощения, а в ряде случаев соответственно новые центры свечения. Проведенные нами исследования спектров поглощения и люминесценции, обесцвечивающего действия монохроматического света и других свойств центров поглощения и свечения, возникающих в щелочно-галоидных фосфорах под действием жесткого излучения, показывают, что новые центры возникают вследствие захвата ионами активатора свободных электронов и превращения ионных центров активатора в атомарные центры. [c.241]

Более полувека существует рентгеноструктурный анализ. В 1962 г. физики и кристаллографы всего мира отмечали пятидесятилетие открытия Лауэ, Фридрихом и Книннингом дифракции рентгеновых лучей в кристаллах. [c.353]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...