Брэгга угол

Поскольку межплоскостное расстояние d, длина волны X и угол Вульфа—Брэгга взаимосвязаны, причем d фиксировано, то для наблюдения дифракции необходимо либо фиксировать но варьировать А, либо фиксировать 1, но варьировать Это приводит к следующим основным методам дифракционного эксперимента [29, 40] метод неподвижного кристалла (Лауэ), вращающегося монокристалла, поликристалла (Дебая). Эти методы достаточно подробно описаны, например, в [40]. [c.186]

Через узлы пространственной кристаллической решетки можно провести много плоскостей (рис. 26), и каждая из них будет отражать волну в таком направлении, чтобы угол отражения был равен углу падения, причем это условие не зависит от длины волны волны всевозможных длин отражаются одинаково. Однако в действительности отражение в данном направлении происходит не только от одной плоскости, но и от всех других плоскостей, параллельных данной. Все эти волны, отраженные от различных плоскостей, когерентны между собой, поскольку порождаются одной и той же первичной волной. Другими словами, при отражении волны от семейства параллельных поверхностей происходит деление амплитуды между вторичными отраженными волнами, распространяющимися под углом отражения, равным углу падения. Если разность фаз между вторичными волнами кратна 2тс, то они усилят друг друга и под углом отражения будет действительно распространяться отраженная волна. Если же эта кратность отсутствует, то никакой отраженной волны не будет. Условие, при котором происходит отражение от системы параллельных поверхностей, называется условием Брэгга- Вульфа. Выведем это условие. [c.49]

В изотропной среде угол Брэгга определяется лишь длинами волн света и звука [c.678]

Брэгга) всегда открывается значением 0о = О, когда лучи проходят через кристалл без отклонений. Это так называемое отражение нулевого порядка (л = 0). В опытах Лауэ ему соответствовало интенсивное центральное пятно, которое, как уже отмечалось, интересной информации не содержит. Поэтому в дальнейшем угол 00 = О рассматриваться не будет. [c.76]

Кювета с образцом устанавливается в специальном держателе гониометра. С включением аппарата образец и счетчик начинают поворачиваться с заданными скоростями в горизонтальной плоскости вокруг общей вертикальной оси гониометра угол падения лучей на плоскость образца постепенно возрастает. При повороте образца часть отражающих плоскостей кристаллитов вещества проходит через положение, при котором выполняется условие Вульфа — Брэгга. Интенсивность дифрагированных лучей последовательно под разными, все увеличивающимися углами измеряется детектором излучения (сцинтилляционным счетчиком). [c.52]

Длину волны Я,о и угол падения Фо, связанные условием Брэгга (3.39), ниже будем называть резонансными. [c.91]

Блага — Лангенеккера эффект 250 Больцмана постоянная 52 Брэгга угол 128 Брэгговская дифракция 128 Бьеркнеса силы 52, 266 [c.397]

Угол рассеяния 6 задавался поворотом рентгеновской трубки вокруг вертикальной оси. Для определения длины волны рассеянного излучения использовался кристалл кальцита СаСОз с постоянной решетки d = 3 10 см. Длина волны вычислялась с помощью формулы Вульфа — Брэгга (23.10) по величине угла ф, соответствующего максимуму тока в ионизационной камере. [c.246]

Рассеяние рентгеновских лучей, как известно, имеет место в направлениях 0, удовлетворяющих условию Вульфа — Брэггов (см. 10.2) 2d sin =--тХ, где d — расстояние между атомными плоскостями 0 — угол скольжения падающих лучей ш = 1, 2, 3,. . . . В случае дебаевских волн роль постоянной d решетки играет длина гиперзвуковой волны Л. Кроме того, в отличие от рассеяния рентгеновских лучей на дискретных центрах, акустическая решетка имеет синусоидальное распределение плотности, т. е. в этом случае взаимное усиление лучей в результате интерференции возможно только при т=1 [c.122]

Необходимо отметить существенное различие между дифракцией света, падающего на плоскую дифракционную решетку, и дифракцией рентгеновских лучей в трехмерном кристалле. В первом случае угол падения не равен углу, под которым выходит дифрагированный луч. В оптике устанавливается связь между этими двумя углами, длиной световой волны Х и расстоянием между соседними штрихами дифракционной решетки. Закон Вульфа—Брэгга предполагает, что падающие рентгеновские лучи отражаются зеркально (угол падения равен углу отражения). Поэтому условие наилучшего отражения, по Вульфу— Брэггу, связывает угол падения с длиной волны и расстоянием между соседними параллельными отражающими плоскостями, при этом совершенно не учитывается расположение атомов в отражающей плоскости. [c.55]

Учет преломления рентгеновских лучей. Преломление рентгеновских лучей обусловлено разной скоростью распространения волн в среде и в вакууме. Различие в фазовых скоростях волн приводит к изменению условия Брэгга - Вульфа (6.3). В этом случае (см. рис. 27) надо принять во внимание, что угол падения не равен углу преломления 0j,p. Поэтому вместо (6.1) для оптической разности хода тюлучаем выражение А = = п АВ + ЯС1) - D , где -показатель преломления среды относительно вакуума (если луч падает на поверхность кристалла из вакуума). Эта формула справедлива как при и > 1, так и при и < 1. Заметим, [c.52]

Предельно-допустимые концентрации в производственных помещениях 14 — 291 Углеродистая сталь — см. Сталь углеродистая Углеродистые огнеупоры 4 — 401, 404 Угловая скорость твёрдого тела 1 (2-я) — 7 Угловая сталь — см. Сталь угловая Угловая частота колебаний точки 1 (2-я) — 3 Угловое ускорение твёрдого тела 1 (2-я)—7 Угловые линейки 5 — 208 Угловые ножницы — Упоры 5 — 490 Угловые плитки 5 — 197 Углогибочные машины 5 — 497 Углоправйльные машины 5 — 456 Технические характеристики S—457 Угол Брэггов 3—166 [c.315]

Для исследования дисперсии скорости звука и коэфф. его поглощения на гиперзвуковых частотах используется рассеяние Мандельштама — Бриллюэ-на. Пропуская через среду луч когерентного оптич. излучения и фиксируя угол рассеяния 0, можно из условий Брэгга по величине спектрального сдвига / компонент Мандельштама — Бриллюэна определить скорость звука Сзв на данной частоте /. На основе измерений полуширины б/ компонент Манделыптама — Бриллюэна определяется коэфф. поглощения а на этой частоте а=2я-б//сзв. [c.47]

Здесь Т — толщина голограммы, в — угол Брэгга, п — ср. значегте показателя преломления среды. При большой амплитуде модуляции п отражат. голограммы приобретают свойства диэлектрич. зеркала, что является следствием уменьшения её эффективной толщины. Фильтрующие свойства пропускающей голограммы при неколлимированном освещении описываются выражением [c.505]

Угол между образующей к.-л, конуса, напр. -го, и наиравлепием первичного пучка равен 2v,s угол О/ брэгговский угол) связан Брэгга—Вульфа условием с межплоскостпым расстоянием системы атомных плоскостей, дающих данное отражение. Определяя по дебаеграмме углы iJ , можно вычислить межплоскосгные [c.575]

Особые дифракц. явления возникают при прохождении нейтронов через кристаллы, когда интерференция нейтронных волн, рассеянных на регулярно расположенных рассеивателях, приводит к усилению интенсивности воля в направлениях, соответствующих зеркальному отражению от атомных плоскостей кристалла при выполнении Брэгга — Вульфа условия. IX = 2 соз0, где I — кратность отражения, д —. межплоскостное расстояние, 6 — угол падения нейтронов на отражающую атомную плоскость. [c.273]

Процесс дифракции рентг. волны в искажённом дефектами кристалле рассматривается в разл. приближениях кинематич. и динамич. теорией (см. Дифракция рентгеновских лучей). В обоих случаях влияние искажений атомной структуры на дифракцию описывается параметром локального отклонения положения атомных плоскостей кристалла от брэгговского tg9 б(//(i 69, где 6 — угол Брэгга, первое слагаемое [c.354]

Характеристич. Р. и. рентг. трубки не поляризовано,, тормозное — частично поляризовано, причём вблизи квантовой границы его спектра коэф. поляризации приближается к 1()0%. При дифракции характеристич. Р. и. в кристалле возникает поляризация, зависящая от угла Брэгга 6 и приближающаяся к 100% при д = = 45 , т. е. когда угол между падающим и дифрагированным лучами равен 90°. [c.376]

Чтобы завершить рассмотрение особенностей метода, отметим его основные недостатки. Они обусловлены тем, что значения длин волн электронов, получаемые в современных электронографах с ускоряющим напряжением в несколько десятков киловольт, составляют сотые доли ангстрема, что меньше длин волн, применяемых рентгеновских лучей. Поэтому углы дифракции, определяемые по уравнению Вульфа - Брэгга, очень малы. Например, для межплоскостного расстояния 0,1 нм при длине волны 0,005 нм (ускоряющее напряжение порядка 50 кВ) угол дифракции составляет всего около 1,5 град. Вследствие этого разрешающая способность по этому методу ниже и меньше точность определения меж-плоскостных расстояний, чем при использовании рентгенографии. [c.23]

Интенсивность отраженных лучей прямо пропорциональна числу атомных плоскостей, попадающих в отражающее положение. Увеличению интенсивности дифрагированных лучей соответствует увеличивающаяся амплитуда отклонения пера самописца от фоновой линии. Так как условие Вульфа — Брэгга определено для узких интервалов значений угла 6, то с учетом рассеяния дифракционная картина атомных плоскостей чаще всего имеет вид треугольника дифракционного пика). Центр тяжести такого пика (или положение его вершины) фиксируется как угол 0. Отметка углов на дифрактограмме обычно происходит через каждый градус поворота детектора излучения. Поэтому, чтобы рассчитать значение угла 0, зафиксированные значения угла этого поворота необходимо разделить пополам. [c.52]

Определив угол 0 с точностью до 0,0Г и зная длину волны излучения, можно рассчитать значения межплоскостных расстояний i/для каждого дифракционного пика по формуле (2.1.1) или с помощью универсальных таблиц, которые были составлены путем расчетов для условия Вульфа — Брэгга к наиболее распространенным длинам волн с целью повышения точности и экспрессности расчетов. [c.53]

Тронных ВОЛН в результате отражения электронных волн от плоскостей кристаллической решетки в соответствии с законом Вульфа— Брэггов пХ = 2d sin 0, где d — межплОскостное расстояние 0 — угол падения электронной волны X — длина волны электрона. [c.294]

Таким образом, мы показали следующее во-первьа, рассеянные рентгеновские лучи, дающие в соответствии с уравнениями Лауэ дифракционный максимум, испытывают также и отражение, аналогичное оптическому, причем отражаются они в плоскостях структуры решетки, определяемых величинами h, к, I в уравнениях Лауэ во-вторьк, расстояния между этими плоскостями решетки и угол отражения на них определяются уравнением Брэгга. [c.172]

Рентгрноонтическир свойспия 1<т)и-сталла зависят от его состава и структуры и значительно изменяются в зависимости от длины волны ди(Ьрэ-тируемого излучения, [Напомним, что в кристаллах с последней однозначно связан угол Брэгга (8.1).] Сильное влияние на рентгенооптические свойства оказывает также дефектность кристаллической структуры. [c.306]

I и угла прихода первичной волны ф. Внутренняя структура периода решетки никак не влияет на значение величин ф . Гармоники с номером п = О называются основными волнами, направление распространения одной из них при 2 < —Za совпадает с направлением распространения падающей волны, а в пространстве над решеткой — зеркально отраженной волны. Модуль амплитуды нулевой гармоники прошедшего поля 6д , Во, называется коэффициентом прохождения, аналогично а , j—коэффициентом отражения. В общем случае ( <>(1 sin9)" ) эти коэффициенты не могут полностью определять энергетические характеристики дифрагированного поля, поскольку в спектре присутствуют и другие распространяющиеся гармоники высших типов. Угол между направлениями распространения первичной и —/7-й отраженной плоских волн ф — ф р = 2 определяется из уравнения 2х sin (ф =F а) osa =/ . В частности, при а = О соответствующая гармоника распространяется навстречу падающей волне. Такой режим рассеяния называется автоколлимационным (см. рис. 3), в литературе его иногда связывают с именами Брэгга или Литтрова [52]. При рассеянии [c.19]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...