Левина профилографы

Лабиринты 976, 977 Левина профилографы 451 Легированная сталь — Механическая прочность — Характеристика 336 Легкие сплавы — Коэфициент концентрации напряжений 359, 361 —-Предел текучести 342 Ленточные тормоза 1036 [c.1076]

Левина профилографы 2 — 251, 252 Легирование чугуна 5 — 49 Лежандра функция 1 — 223 Лейбница признак сходимости рядов [c.435]

Фиг. 91. Профилограф Левина модель ИЗП-17.

Профилограф конструкции Левина, мод. ИЗП-5 ИЗП-17 ИЗП-21 [c.151]

Профилографы конструкции Левина ИЗП-5 и ИЗП-17 также относятся к приборам оптико-механического типа. Оптическая схема мод. ИЗП-5 приведена на фиг. 60. В процессе ощупывания деталь перемещается относительно иглы. Техническая характеристика мод. ИЗП-5 [c.154]

Наилучшим из профилографов Б. Левина следует считать прибор ИЗП-5. Несмотря на сложность конструкции, он имел существенные преимущества по сравнению с более поздней упрощенной разработкой — профилографом ИЗП-17. Последний прибор подвергался государственным испытаниям, но, вследствие обнаруженных недостатков, не был утвержден. В настоящее время Б. Левин разработал более совершенный вариант малогабаритного прибора. [c.80]

Профилограф Б. М. Левина ИЗП-5. Прибор служит для оценки чистоты поверхности по профилограмме. Оптическая схема прибора изображена на фиг. 217. [c.157]

Малогабаритный профилограф Б. М. Левина (ИЗП-17) применяется в производственных условиях. [c.159]

Схема профилограф)а Б. М. Левина (модель ИЗП-17) приведена на рис. 20. [c.64]

Рис. 20. Схема профилографа ИЗП-17 конструкции Б. М. Левина

Схема профилографа Б. М. Левина (модель ИЗП-17) приведена на рис. 17. Луч света от лампы 1 падает на зеркала 5 и 7, проходя через линзу 2, щель 3 и оптическую систему 5. Зеркало 8 связано с ощупывающей иглой. Луч света, отраженный от зеркала 7 и затем от зеркала 8, проходит оптическую систему 6 и, попадая на зеркало 4 и далее на цилиндрическую линзу 14, проецирует изображение щели 3 на светочувствительную пленку 13, расположенную на барабане 12, [c.48]

Профилограф Левина (ИЗП-5). Принципиальная схема устройства профилографа ИЗП-5 показана на фиг. 101. [c.451]

Диоды Кенотроны Пентоды Тетроды Триоды Левина профилографы 251, 252 Лекланше элемент 356 Ленца закон 333 Ленца-Джоуля закон 338 Леонарда система — см. Система генератор-двигатель Лермантова объемомер 14 Линзы 233 [c.542]

Профилографы. также основаны на принципе ощупывания поверхности алмазной иглой. Эти приборы являются оптико-механическими. При помощи оптического устройства профиль поверхности записывается на фотографической ленте в увеличенном виде. На профилограмме увеличение в вертикальном направлении (по высоте) больше, чем в горизонтальном (по длине). К числу таких приборов относятся профилографы К. Л. Аммона и Б. М. Левина первый рассчитан на измерение шероховатости поверхности от 4-го до 11-го класса, второй — от 3-го до 12-го класса. [c.90]

К щуповым приборам относятся электромагнитный профилометр Киселева или Аббота, оптико-механические профилографы Левина и Аммона и пьезо-электрический профилограф. [c.287]

Каждый прибор имеет определенную область применения. Так, советский профилограф Аммона может оценивать профиль на длинной трассе (до 125 мм), т. е. прибор пригоден для оценки не только шероховатости, но также волнистости поверхности. Профилограф Левина имеет иглу с радиусом закругления на конце в 1,5 мк, что дает возможность записывать наиболее мелкие неровности. [c.288]

На фиг. 91 изображен профилограф Левина (модель ИЗП-17). Это — миниатюрный оитико-механический профилограф, помещающийся на трубке диаметром 70 мм и длиной 200 мм. Свет от лампочки падает на зеркало, прикрепленное к ощупывающей игле от зеркала через оптическую систему луч света попадает на фотобумагу, на которой вычерчивает профилограмму. Профилограф увеличивает профиль поверхности по вертикали от 250 до 5000 раз, по горизонтали — в 25 и 50 раз. [c.289]

В профилографе Браш и в некоторых конструкциях датчиков профилометра применяется одинарная плоская пружина. Профилограф Аммона имеет сложную ощупывающую головку, в которой вертикально расположенная игла находится под воздействием трех спиральных пружин и се рии рычагов, причем две пружины перемещают иглу в одну сторону, а другие три пружины — в противоположную сторону. Рационален крестообразный пружинный подвес иглы, примененный в профилографе Левина. Четыре крестообразно расположенные плоские 290 [c.290]

При наличии значительного удельного давления алмазной иглы на ощупываемую поверхность профилометр Киселева (и в особенности Аббота) и профилограф Аммона значительно разрущают верхний слой металла при оценке поверхности детали из цветных сплавов и других металлов с низким сопротивлением разрыву. При многократном прохождении иглы профилометра по одному и тому же месту в процессе измерения микронеровностей игла переходит по царапинам, образовавшимся при предыдущих проходах, — показания прибора искажаются. Иглы профилографов Левина и Браш незначительно царапают испытываемую поверхность. Эти профилографы пригодны для оценки микрогеометрии не только металлов, но также слепков микронеровностей (це.ллулоид, пластмассы), лакокрасочных покрытий и т. д. [c.291]

Различные щуповые приборы имеют алмазные иглы с различной величиной радиуса закругления на конце профилограф Левина — 1,5 мк, профилометр Аббота и профилограф Аммона — 12 мк, профилограф Браш—от 2,5 до 15 мк. [c.291]

Диапазон измеряемых неровностей по их высоте для различных щуповых приборов различен. Для оптико-механических профилографов (Левина и Аммона) он зависит от ширины применяемой в приборе фотобумаги или фотопленки и вертикального увеличения прибора. Для профилометра и пьезо-электрического профилографа лимитирующим фактором является частотная характеристика приборов. Оба последних электрических прибора работают с постоянной скоростью перемещения щупа. Частота колебаний иглы при перемещении ее по неровностям определяется расстоянием между 9 291 [c.291]

При сравнении профилограмм, снятых на профилографах Левина и Аммона, с профилем поверхности, полученным двойным микроскопом и методом кошдх шлифов, оказалось, что профилографы Левина и Аммона дают профиль, близкий к истинному. Профилограф Браш значительно искажает профиль поверхности. При очень большой скорости перемещения иглы и записывающего пера профиль, записанный при ходе иглы в одну сторону, не совпадает с профилем, записанным при ходе иглы в другую сторону. [c.292]

М профилографы Левина и Аммона. [c.292]

Для оценки шероховатости поверхности в настоящее время пользуются или механическими ощупывающими приборами (профилометр Аббота, профилограф Аммона и Левина) или [c.121]

Профилограф Левина (лабораторная модель ИЗР-9) 0,3-250,0 Обработка от обдирки до тонкого шлифования До 3.4 Образец размерами не более 35X 5 мм, толщиной до 8 мм закрепляется на столике прибора Профилограмма в виде фотозаписи на широкой плёнке или бумаге Одно измерение 15 мин. (с установкой образца), затем следуют проявление и печатание [c.201]

Примечания 1. В табл.20не включены профилограф Бржезинского (ВНИИМ), еще не освоенный в серийном производстве, а также малогабаритный профилограф Левина (ИЗП-17), предназначенный для работы в производственных условиях. [c.665]

Профилограф по Левину ИЗП-5 t Исследование профиля поверхностей глуГжной от 1 мк и выше 0,35—7 мм Охватывает все классы чистоты ио ГОСТ 0,1-0,2 мк Вертикальное от 500 до 16 ООО Горизонтальное от 25 до 500 Большая модель Обеспечивает фотозапись микрогеометрии [c.251]

Профилограф по Левину ИЗП-17 Исследование профиля поверхности в цеховых условиях 1,5 и 3 мм Охватывает 1 —12-й классы чистоты по ГОСТ 0,1—0,2 мк Вертикальное от >50 до 5000 Горизонтальное от 25 ло 50 405X330X255 Обеспечивает фотозапись микрогеометрии [c.251]

Профилограф по Левину ИЗП-5 Исследование профиля поверхностей глубиной от 1 лл н выше 0,35 —7 мм. Охватывает все классы чистоты по ГОСТу 2789-59 0.1—0,2 мк Вертикальное — от 500 до 16000, горизонтальное — от 25 до 500 Большая модель Обеспечивает фотозапись [c.343]

Профилограф по Левину ИЗП-17 Исследстанне профиля поверхности в цеховых условиях 1,5 и 3 мм. Охватывает 1 —12-й классы чистоты по ГОСТу 2789-59 0.1—0.2 мк Вертикальное — от 250 до 5000, горизонтальное — от 25 до 50 405 X 330 X 255 микрогеометрии [c.343]

Количественный метод оценка основан на измерении микрогеометрии специальными приборами двойным микроскопом и микроинтерферометром В. П. Липника, профилографами К. Л. Аммона и Б. М. Левина, пьезоэлектрическим профилографом МАХИ, индуктивным профплографом-профнлометром Ка-либр-ВЭИ и др. [c.37]

Выступающая часть образцов подвергалась такой механической обработке, которая обеспечивала средне-квадоатичное отклонение неровностей поверхности (Нек) в пределах 12—18 микрон. Указанная высота неровностей поверхности оценивалась оптико-механическим профилографом И. 3. П—21 (конструкция Левина). Механическая обработка (опиловка) заканчивалась тогда, когда торцы образцов совпадали с лицевой сторо- [c.104]

Оптико-механические профилографы за последние годы были значительно усовершенствованы в результате работ К. Аммона и Б. Левина. [c.79]

К щуповым приборам для оценки микрогеометрии относятся также профилографы Левина и Браша. Профилографы Левина (ИЗП-5 и ИЗП-21) оценивают поверхностью высотой 0,2 до 90 мк. Приборы дают профилограмму, весьма близкую к истинному профилю поверхности. [c.427]

Для аналогичных целей применяют и оптикомеханические про ф илографы, относящиеся по принципу действия к щуповым приборам, например профилограф ИЗП-17 Б. М. Левина [12]. Схема этого прибора показана на рис. 58. В профилографе от жестко связанных с иглой 12 зеркал 7 и S, на которые от лампы 2 проектируется узкий пучок света, отраженный свет проходит через систему линз телеобъектива 6 и попадает на зеркало 3. Отразившись от зеркала 3, луч проходит через цилиндрическую [c.105]

Профилографы советских инженеров Левина и Аммона позволяют записывать профнлограммы поверхностей с большим увеличением, достигающим 18 ООО раз. [c.63]

Для контроля волнистости могут использоваться профилографы типа Аммона а Левина, а также координатные методы, базирующиеся на применении универсальных приборов (рычан<но-оптических, рычажно-механических и др.) в сочетании с отсчетными устройствами, связанными с предметным столом. Кроме того, могут применяться универсальные приборы с опорной базой, путем перемещения которых оценивается наибольшее значение высоты волны на исследуемом участке профиля (так называемые волномеры ). [c.164]

У профилографа алмазная игла связана с зеркалом. На зеркало падает тонкий луч света. При колебаниях иглы, перемещаемой по исследуемой поверхности, отраженный луч света через систему зеркал направляется на вращающийся барабан со светочувствительной бумагой, на которой записывается профилограмма, отображающая неровности с увеличением по вертикали в 500—13800 раз и по горизонтали в 25—1000 раз. Профилографы типа Аммона и Левина пригодны для оценки чистоты в пределах 3—10-го классов. Они применяются главным образом в лабораторных исследованиях, так как использование их в производственных условиях затруднительно. Оценку класса чистоты поверхности оптическими методами производят с помощью микроскопа (фиг. 4) и микроинтерферометра акад. В. П. Линника. Первый используется для замера неровностей в пределах 3—8-го классов чистоты, второй — для контроля поверхностей 10—14-го классов. [c.24]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...