Резкость

В зависимости от степени резкости нарушения призматической формы стержня или сплошности материала будет та или иная степень концентрации напряжений, т. е. местного повышения напряжений. [c.265]

Очевидно, что необходимо как-то охарактеризовать форму контура интерференционной полосы. Для этого вводят критерий резкости F, равный отношению расстояния между двумя сосед ними максимумами интерференции к ширине полосы г.. Для нахождения F запишем формулу Эйри, исключив предварительно [c.241]

Для критерия резкости получается соотношение [c.241]

Так же как и функция видимости, резкость F, характеризу ющая форму контура интерференционной полосы, полностью определяется коэффициентом отражения Я При Я — 1 имеем F — 00. Если Я 0,9 (такое значение Я для зеркал часто используют в реальных интерферометрах), то резкость F оказывается немногим меньше 30 (рис. 5.66). Это значит, что расстояние между двумя соседними максимумами примерно в 30 раз больше ширины каждого из них. [c.241]

Чем определяются контрастность и резкость интерференционной картины в идеальном интерферометре Фабри—Перо Что ограничивает возможности повышения этих пара метров в реальном интерферометре [c.458]

Влияние размеров источника на резкость интерференционной картины можно выразить количественно, исходя из общей интерференционной схемы, показанной рис. 4.11, и используя соотношения между шириной источника 2Ь и апертурой интерференции 2(о. [c.81]

Увеличение размеров источника позволяет увеличить общую интенсивность интерференционной картины, сохраняя прежнюю отчетливость и резкость максимумов и минимумов. Конечно, если пластинка РР имеет значительную толщину, то систему колец [c.130]

Резкость интерференционной картины будет тем значительнее, чем больше коэффициент отражения от металлического слоя (рис. 7.6). Значение = 0,04 соответствует поверхности стекла, не покрытой металлом. При современных способах металлического покрытия коэффициент отражения удается довести до / = 0,90 — [c.139]

При очень тщательных исследованиях поверхности следует применять почти нормальные пучки и пользоваться монохроматическим светом, для того чтобы повысить резкость интерференционных картин. [c.147]

Рис. 9.17 наглядно показывает уменьшение ширины главных максимумов (увеличение их резкости) по мере роста N. В хороших решетках N достигает 10 , благодаря чему спектр, изображаемый такой решеткой, состоит из очень резких линий, если источник испускает достаточно монохроматическое излучение. [c.199]

Резкость максимумов, так же как и в решетке, определяется числом интерферирующих световых пучков, т. е. числом ступенек эшелона, которое не превосходит 30. Зато разность хода (порядок интерференции) между двумя соседними лучами весьма велика пренебрегая членом s p ввиду его малости, найдем для h = 1 см и ц = 1,5 [c.211]

Нарушение первого и второго из этих условий ведет к уменьшению резкости изображения, нарушение второго и третьего де< )ор-мирует изображение. [c.302]

Фотообъектив и камера аппарата конструируются так, чтобы можно было получить резкое изображение предметов, находящихся на том или ином расстоянии от объектива, в плоскости светочувствительной пластинки или пленки. Для наводки применяются разные приспособления (перемещение объектива или его отдельных частей, перемещение пластинки). Уменьшение апертурной диафрагмы позволяет улучшить глубину фокусировки, т. е. резко отобразить на плоскость различно удаленные части объекта (см. 87). Изменение апертурной диафрагмы служит в то же время для изменения количества света, поступающего в аппарат (светосила). Обычно в фотоаппарате получается уменьшенное изображение объекта в современных аппаратах стремятся к получению хорошей резкости с тем, чтобы иметь возможность последующего увеличения снимка. [c.324]

Параллельные пучки, выходящие из призмы, имеют для разных длин волн различное направление, составляя несколько градусов между собой в зависимости от материала призм и их числа. Однако даже при значительной дисперсии различие направлений не превышает нескольких градусов. Поэтому объектив камеры может иметь небольшое поле зрения зато в современных аппаратах нередко требуются объективы с большими относительными отверстиями ). Они должны быть исправлены на сферическую аберрацию и кому. Коррекция на хроматическую аберрацию не обязательна, ибо лучи разных длин волн дают изображение в разных точках пластинки. Поэтому резкость изображения для разных длин волн достигается соответствующим наклоном пластинки. Желательно, однако, рассчитать систему так, чтобы получить спектр, лежащий в одной плоскости. В противном случае фотопластинку приходится соот- [c.338]

При измерениях наводят прибор на более или менее отдаленный источник 5 достаточного размера при помощи объектива Ь, позволяющего получить резкое изображение источника на приемнике. Резкость изображения контролируется при помощи окуляра, не показанного на чертеже. При таких условиях энергия, получаемая пирометром, будет пропорциональна яркости источника независимо от расстояния между ними, подобно тому как это имеет место при рассматривании глазом удаленных светящихся источников (см. упражнение 234). Таким образом, показания пиро.метра будут зависеть от яркости, а следовательно, и от температуры наблюдаемого черного тела. Проградуировав предварительно пирометр по черному телу с известной температурой, можно использовать его показания для измерения исследуе.мой температуры. [c.702]

Прежде всего следует по возможности уменьшить влияние астигматизма призмы. Это достигается установкой, во-первых, щели спектрографа в фокусе коллиматорного объектива и, во-вторых, призмы на минимум угла отклонения. С помощью зрительной трубы с ахроматическим объективом, сфокусированной предварительно на очень далекий предмет (установка трубы на бесконечность), рассматривают через коллиматорный объектив щель освещаемую каким-либо источником света. Перемещая щель относительно объектива, добиваются наибольшей резкости ее изображения. Коллиматор при таком способе фокусировки должен быть, предварительно снят со спектрографа. Если это невозможно, то камера спектрографа заменяется зрительной трубой, а щель освещается от источника линейчатого спектра. Рассматривая изображение в спектре и передвигая щель коллиматора, добиваются максимально резкого изображения спектральных линий, расположенных в средней части спектра. По окончании фокусировки коллиматора камера устанавливается на прежнее место. [c.26]

Степень резкости линий можно оценить, рассматривая спектрограмму в измерительный микроскоп МИР-12 и измеряя видимую ширину линий. [c.27]

Фокусировка спектрографа в данной задаче производится только изменением угла поворота кассетной части. При различных углах поворота делают несколько снимков спектра железа. По резкости линий в крайних участках спектрограммы выбирается лучший угол, при котором и ведутся все дальнейшие съемки. Если в задаче используются спектрографы типов ИСП-30, СТЭ-1, фокусировку кассетной части проводить не нужно. [c.35]

Делают несколько пробных снимков спектров алюминия и железа для определения выдержки и фокусировки спектра. По спектрам, снятым при разных положениях кассеты спектрографа, находят положение, соответствующее наилучшей резкости линий на спектрограмме (см. задачу 2). [c.64]

Интерферометр устанавливают в рабочее положение. Щель спектрографа расширяют до 0,2 мм. Передвигая объектив вдоль рельса, добиваются достаточной резкости интерференционных полос в фокальной плоскости камеры спектрографа (интерференционную картину наблюдают в лупу). Наклоном и поворотом столика интерферометра центр колец выводят на верхний или нижний край щели спектрографа. (В данной задаче рекомендуется работать по односторонним порядкам интерференции.) [c.84]

Частотная характеристика полосового фильтра, т. е. зависимость коэффициента передачи от частоты, при отсутствии затухания и Z = Zg имеет вид, изображенный на рис. 8.12. Наличие затухания сглаживает резкость изменения А при переходе через граничные частоты. [c.306]

Резкость интерференционной картины. Резкость интерференционной картины будет зависеть от коэффициента отражения нанесенной на пластины пленки. На рис. 5.22 показана зависимость резкости полос интерференции для разных значений R от углового расстояния относительно центра интерференционной картины. Значение R = 0,04 соответствует поверхности чистого стекла, в то время как R = 0,99 соответствует поверхности с многослойным покрытнбм. Следует обратить внимание па то, что при рассмотрении интерференции многих лучей мы полагали R + Т = I, т. е. пренебрегали поглощением внутри пластинки. Однако при нанесении на поверхность пластины полупрозрачного металлического слоя происходит поглощение, в результате чего интенсивность изменится. Поэтому пользуются выражением R + Т + А I, где А — коэффициент суммарного поглощения света отражающими слоями. [c.115]

При жела1и1и его сфотографировать мы должны, так же как и при обычном фотографнроваиин, выбрать соответствующую диафрагму для обеспечения глубины резкости разглядывая ближние и дальние точки предмета, мы должны будем по-разному аккомодировать глаз, меняя положение головы. [c.206]

Зависимость резкости интерференционной картины от ко-зфнциента отражения [c.242]

В проведенном рассмотрении учитывалось лишь поглощение радиации отражающими слоями и не принималось во внимание поглощение света в среде между зеркалами. Можно показать, что наличие такого поглощения не только уменьшает максимальную интенсивность прошедшего света (/микс), но и приводит к ухудшению резкости интерференпиоимой картины. [c.244]

Несмотря на очень большое расстояние между отражающими слоями, достигающее 10 см, резкость интерферограммы I для линии 6058А изотопа Кг, выбранной в качестве международного стандарта длины, весьма велика. Еще лучше интерферо-11)амма III лазерной линии 6328А, иллюстрирующая перспектив-iio i b использования одномодового излучения лазера в метрологических целях. Однако изучение вопроса о том, сколь постоянна 13 разных опытах длина волны лазерного излучения, еще нельзя считать законченным. [c.249]

Пусть объектом служит однолте )ная дифракционная решетка с постоянной d (рис. 6.7 )). Будем считать ее плоской, что приемлемо, гак как и микроскопе исс.]едуются тошсие препараты, а глубина резкости столь сильного объектива мала. Плоская волна проходит сквозь решетку, распространяясь вдоль оптической оси микроскопа перпендикулярно плоскости решетки. В главной фокальной плоскости объектива получается спектр — [c.342]

При учете конечной вязкости тангенциальный разрыв теряет сг.ою резкость изменение скорости от одного до другого значения происходит в слое конечной толщины. Вопрос об устойчивости такого движения в математическом отношении вполне аналогичен вопросу об устойчивости в ламинарном пограничном слое с перегибом в профиле скоростей ( 41). Экспериментальные данные и численные расчеты показывают, что в данном случае неусто 1чи Вость наступает очень рано, возможно даже, что всегда. [c.155]

Поперечное увеличение важно для характеристики систем, проектирующих изображение на экран или ( ютопластинку (проекционные и (фотографические объективы). Угловое увеличение важно при рассматривании удаленных объектов, когда стремятся увеличить угловые размеры рассматриваемых объектов (телескопические системы, см. 92). Продольное увеличение характеризует резкость изображения пространственного объекта на экран (так называемую глубину оптической системы ). Оно всегда положительно, т. е. Ах и Ах2 совпадают по направлению. [c.300]

Апертурная диафрагма, а следовательно, и выходной и входной зрачки определяют ширину (отверстие) активных пучков, т. е. влияют на резкость изображения и светосилу инструмента. Однако не от всякой точки предмета лучи, прошедшие через входной зрачок, пройдут через оптическую систему и, следовательно, изобразятся ею. Действительно, пучок от точки М (рис, 14.6) целиксм минует переднюю линзу системы, и точка М не будет ею изображена. Пучок отточки N частично пройдет через систему и даст изображение, но освещенность его будет уменьшена, ибо часть пучка задержится оправой линзы 1 виньетирование). От точки же Q через систему пройдет пучок такой же ширины, как и от осевой точки О. [c.322]

Возникает вполне естественный вопрос а нельзя ли каким-либо способом зафиксировать всю информацию о предмете На этот вопрос в 1947 г. ответил Д. Сабор — изобретатель голографии. Он обратил внимание на то, что при фотографировании предмета всегда приходится осуществлять наводку на резкость, иначе изображение будет нечезким, а го и вовсе может отсутствовать. Между тем независимо от наводки на резкость лучи света, образующие изображение на фотопластинке, на участке между объективом и фотопластинкой нику/га не исчезают и к ним не добавляются новые. Разбираясь в этом парадоксе, Габор предположил, что изображение предмепа присутствует в скрытом от наблюдателя виде в любой плоскости между объективом и фотопластинкой. Иначе говоря, изображение в том или ином виде содержится в самой структуре световой волны, распространяющейся от предмета к объективу фотоаппарата. Это утверждение следует из хорошо известного принципа Гюйгенса—Френеля, согласно которому волна, излученная источником или отраженная от предмета, болыие не зависит от них и распространяется в пространстве как бы сама но себе. Так волновая теория света, впервые предложенная X. Гюйгенсом, привела английского, физика Д. Габора к открытию г олографии. [c.5]

Эксперименты полностью подтвердили, что сверхпроводящее состояние есть новая особая фаза вещества. Было найдено, что переход в сверхпроводящее состояние наблюдается у 22 металлических элементов. Температуры, при которых этот переход имеет место, лежат в диапазоне 0,4—11° К. Сверхпроводящее состояние свойственно также большому числу сплавов и соединений. Пожалуй, наиболее идеальным сверхпроводником является белое олово. На фиг. 1 приведены некоторые результаты, полученные при тщательных измерениях перехода в сверхпроводящее состояние на монокристалле чистого олова, выполненных де-Хаазом и Фогдом [66J. Если величина измерительного тока Стремптся к нулю, то ширина (резкость) перехода близка к 0,ООГ" К. [c.612]

Далее проверяют фокусировку спектрографа, наблюдая спектр в лупу. Если фокусировка недостаточно хороша, ее следует исправить. В первом приближении это делается на глаз. Наблюдая спектр на матовом стекле в лупу, поворачивая камеру и передвигая ее объектив, добиваются наилучшей резкости линий. Более точная фокусировка делается фотографически при узкой входной щели, близкой к ее нормальной ширине (0,005—0,01 мм) по спектру железа (см. задачу 1). При съемках спектров железа конденсатор 1 и осветитель не сдвигают с места, а лишь снимают рассеивающий экранчик с осветителя. [c.129]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...