Точка Резкость

Так же как и функция видимости, резкость F, характеризу ющая форму контура интерференционной полосы, полностью определяется коэффициентом отражения Я При Я — 1 имеем F — 00. Если Я 0,9 (такое значение Я для зеркал часто используют в реальных интерферометрах), то резкость F оказывается немногим меньше 30 (рис. 5.66). Это значит, что расстояние между двумя соседними максимумами примерно в 30 раз больше ширины каждого из них. [c.241]

Очевидно, что необходимо как-то охарактеризовать форму контура интерференционной полосы. Для этого вводят критерий резкости F, равный отношению расстояния между двумя сосед ними максимумами интерференции к ширине полосы г.. Для нахождения F запишем формулу Эйри, исключив предварительно [c.241]

Увеличение размеров источника позволяет увеличить общую интенсивность интерференционной картины, сохраняя прежнюю отчетливость и резкость максимумов и минимумов. Конечно, если пластинка РР имеет значительную толщину, то систему колец [c.130]

Фотообъектив и камера аппарата конструируются так, чтобы можно было получить резкое изображение предметов, находящихся на том или ином расстоянии от объектива, в плоскости светочувствительной пластинки или пленки. Для наводки применяются разные приспособления (перемещение объектива или его отдельных частей, перемещение пластинки). Уменьшение апертурной диафрагмы позволяет улучшить глубину фокусировки, т. е. резко отобразить на плоскость различно удаленные части объекта (см. 87). Изменение апертурной диафрагмы служит в то же время для изменения количества света, поступающего в аппарат (светосила). Обычно в фотоаппарате получается уменьшенное изображение объекта в современных аппаратах стремятся к получению хорошей резкости с тем, чтобы иметь возможность последующего увеличения снимка. [c.324]

Параллельные пучки, выходящие из призмы, имеют для разных длин волн различное направление, составляя несколько градусов между собой в зависимости от материала призм и их числа. Однако даже при значительной дисперсии различие направлений не превышает нескольких градусов. Поэтому объектив камеры может иметь небольшое поле зрения зато в современных аппаратах нередко требуются объективы с большими относительными отверстиями ). Они должны быть исправлены на сферическую аберрацию и кому. Коррекция на хроматическую аберрацию не обязательна, ибо лучи разных длин волн дают изображение в разных точках пластинки. Поэтому резкость изображения для разных длин волн достигается соответствующим наклоном пластинки. Желательно, однако, рассчитать систему так, чтобы получить спектр, лежащий в одной плоскости. В противном случае фотопластинку приходится соот- [c.338]

Прежде всего следует по возможности уменьшить влияние астигматизма призмы. Это достигается установкой, во-первых, щели спектрографа в фокусе коллиматорного объектива и, во-вторых, призмы на минимум угла отклонения. С помощью зрительной трубы с ахроматическим объективом, сфокусированной предварительно на очень далекий предмет (установка трубы на бесконечность), рассматривают через коллиматорный объектив щель освещаемую каким-либо источником света. Перемещая щель относительно объектива, добиваются наибольшей резкости ее изображения. Коллиматор при таком способе фокусировки должен быть, предварительно снят со спектрографа. Если это невозможно, то камера спектрографа заменяется зрительной трубой, а щель освещается от источника линейчатого спектра. Рассматривая изображение в спектре и передвигая щель коллиматора, добиваются максимально резкого изображения спектральных линий, расположенных в средней части спектра. По окончании фокусировки коллиматора камера устанавливается на прежнее место. [c.26]

Величина коэффициента концентрации зависит главным образом от степени резкости нарушения призматической формы стержня. Если переход от большего диаметра стержня к меньшему сделан резким, под прямым углом, то мы получаем наибольшее значение если же этот переход смягчен галтелью того или иного радиуса, то величина а значительно снижается и может оказаться даже равной единице (рис. 441, а и б). [c.547]

Точки виртуального пересечения кромок модели также могут быть показаны на поле чертежа. Но прежде чем это сделать, проверьте правильность настройки отображения виртуальных резкостей в текущем документе [c.105]

Нажмите кнопку Настройки панели инструментов Стандартная или выберите в меню Инструменты/Параметры, в открывшемся диалоговом окне перейдите на вкладку Свойства документа, проверьте, чтобы в разделе Виртуальная резкость была нажата кнопка Выносная линия (точки виртуального пересечения будут при этом отображаться как точки пересечения выносных линий) [c.105]

Настройку отображения точек виртуального пересечения объектов - виртуальных резкостей правильнее осуществлять во время создания чертёжного шаблона, чем при создании самого чертежа. [c.105]

Резкость точки j есть мера изменения ускорения точки, равная производной по времени от ускорения этой точки в рассматриваемой системе отсчета. В основной системе отсчета резкость точки М (см. рис 12) [c.28]

Из предыдущего раздела следует, что при исключении воздушного зазора между эмульсией и образцом и утонении слоя эмульсии до 0,1—0,2 мкм можно достичь авторадиографического разрешения, лимитируемого лишь величиной зерна эмульсии условиями экспозиции и фотопроцесса. Разрешение остается высоким даже при наличии тонкой рассеивающей пленки между эмульсией и образцом Полученное разрешение может быть полностью реализовано лишь при увеличениях 1500—2000 и более что соответствует предельному полезному увеличению светового микроскопа. Кроме этого, если эмульсионный слой копирует рельеф образца, глубина резкости светового микроскопа недо- [c.472]

Если с помощью микроскопа можно хорошо ознакомиться с основными чертами строения боксита и определить в нем прозрачные минералы фазовым контрастным методом, то из-за ограниченной разрешающей силы микроскопа форму и взаимосвязь сросшихся отдельных кристаллов можно распознать только в редких случаях. Хороший объектив с апертурой 1,0 имеет, например, разрешающую силу 0,3 мкм и такую же глубину резкости. Если, например, необходимо различить шестиугольную форму псевдо-гексагональных кристалликов гидраргиллита или подобные частицы, то в поперечнике они должны быть не меньше 2 мкм и находиться в узкой зоне резкости, перпендикулярной оптической оси микроскопа. [c.26]

Особенно сильно проявляется влияние жесткости динамометров на кривые т ( ) н т (у) после перехода через предел прочности. При достаточно высокой скорости работы привода, когда отсутствуют колебания напряжения, выход на установившийся режим течения осуществляется медленнее на более жестких динамометрах, так как жесткие динамометры сдерживают разрушение структуры — оно происходит в условиях отсутствия или вообще меньшего повышения скорости деформации при переходе через предел прочности. При низких скоростях с уменьшением жесткости динамометра усиливается резкость снижения во времени напряжения при переходе через предел прочности, который в этих случаях бывает представлен точкой перелома на кривых т (/). Это связано с большим повышением скорости деформации, вследствие чего может натекать значительная деформация, что обусловливает значительную пологость нисходящей ветви кривых т (у). Наконец, если при данном сочетании скорости привода и жесткости динамометра возникают колебания напряжения, то достижение установившегося режима течения становится практически невозможным без изменения скорости привода). [c.80]

В этом выражении независимо от его действительного знака, берётся всегда со знаком плюс поэтому а изменяется от —1 до +1- Если считать, что сжимающим напряжениям приписывается знак минус, то резкость объёмного сжатия тем больше, чем а ближе к минус единице. Чем больше резкость объёмного сжатия, тем больше проявляются пластические свойства, но требуется большая затрата работы на деформацию. Схема главных напряжений экстрюдинг-процесса представляет ещё более резко выраженную схему объёмного сжатия, чем схема главных напряжений при осадке в штампах. Поэтому малопластичные металлы следует штамповать, применяя [c.273]

Если же ее ставить выпуклой стороной к глазу, то резкость на оси будет удовлетворительна, но поле маленькое. Такое положение ее следует применять, если объектив достаточно светосмен, так как иначе значительная сферическая аберрация (см. табл. 5.8) очень заметно испортит изображение. Но при этом велики аберрации наклонных пучков, поэтому полезное поле невелико. Бели однолинзовый окуляр ориентирован плоскостью к глазу, то в соответствии с (1.14), (1.12 ) и (о.(38) легко получить выражение [c.206]

Рост многослойных структур в методе MO VD осуществляется путем изменения газовой атмосферы в реакторе. Скорость, с которой осуществляется такое изменение, зависит от величины потока и геометрии реактора. Метод MO VD позволяет при больщих потоках производить замену газа достаточно быстро и получать при этом резкие гетеропереходы [49]. Так как время, необходимое для замены, определяется величиной потока, то резкость границ оказывается связанной со скоростью роста и зависит от концентрации реагентов в газовом потоке через реактор. Для получения минимальной толщины переходных слоев в эпитаксиальных структурах при MO VD состав газовой фазы вблизи подложки должен меняться максимально быстро. Однако даже идеально резкое изменение газового состава перед реакционной камерой не позволяет получить резкого скачка состава вблизи подложки из-за размытия состава газовой смеси в процессе подхода к поверхности подложки. Это ведет к плавному изменению состава слоистой эпитаксиальной структуры. Для преодоления этой проблемы была создана наиболее оптимальная конструкция реактора (рис. 9.12) и предпринят ряд технологических мер, позволяющих свести к минимуму влияние факторов, размывающих скачок концентрации [51]. [c.350]

Резкость интерференционной картины. Резкость интерференционной картины будет зависеть от коэффициента отражения нанесенной на пластины пленки. На рис. 5.22 показана зависимость резкости полос интерференции для разных значений R от углового расстояния относительно центра интерференционной картины. Значение R = 0,04 соответствует поверхности чистого стекла, в то время как R = 0,99 соответствует поверхности с многослойным покрытнбм. Следует обратить внимание па то, что при рассмотрении интерференции многих лучей мы полагали R + Т = I, т. е. пренебрегали поглощением внутри пластинки. Однако при нанесении на поверхность пластины полупрозрачного металлического слоя происходит поглощение, в результате чего интенсивность изменится. Поэтому пользуются выражением R + Т + А I, где А — коэффициент суммарного поглощения света отражающими слоями. [c.115]

При жела1и1и его сфотографировать мы должны, так же как и при обычном фотографнроваиин, выбрать соответствующую диафрагму для обеспечения глубины резкости разглядывая ближние и дальние точки предмета, мы должны будем по-разному аккомодировать глаз, меняя положение головы. [c.206]

Апертурная диафрагма, а следовательно, и выходной и входной зрачки определяют ширину (отверстие) активных пучков, т. е. влияют на резкость изображения и светосилу инструмента. Однако не от всякой точки предмета лучи, прошедшие через входной зрачок, пройдут через оптическую систему и, следовательно, изобразятся ею. Действительно, пучок от точки М (рис, 14.6) целиксм минует переднюю линзу системы, и точка М не будет ею изображена. Пучок отточки N частично пройдет через систему и даст изображение, но освещенность его будет уменьшена, ибо часть пучка задержится оправой линзы 1 виньетирование). От точки же Q через систему пройдет пучок такой же ширины, как и от осевой точки О. [c.322]

Возникает вполне естественный вопрос а нельзя ли каким-либо способом зафиксировать всю информацию о предмете На этот вопрос в 1947 г. ответил Д. Сабор — изобретатель голографии. Он обратил внимание на то, что при фотографировании предмета всегда приходится осуществлять наводку на резкость, иначе изображение будет нечезким, а го и вовсе может отсутствовать. Между тем независимо от наводки на резкость лучи света, образующие изображение на фотопластинке, на участке между объективом и фотопластинкой нику/га не исчезают и к ним не добавляются новые. Разбираясь в этом парадоксе, Габор предположил, что изображение предмепа присутствует в скрытом от наблюдателя виде в любой плоскости между объективом и фотопластинкой. Иначе говоря, изображение в том или ином виде содержится в самой структуре световой волны, распространяющейся от предмета к объективу фотоаппарата. Это утверждение следует из хорошо известного принципа Гюйгенса—Френеля, согласно которому волна, излученная источником или отраженная от предмета, болыие не зависит от них и распространяется в пространстве как бы сама но себе. Так волновая теория света, впервые предложенная X. Гюйгенсом, привела английского, физика Д. Габора к открытию г олографии. [c.5]

Эксперименты полностью подтвердили, что сверхпроводящее состояние есть новая особая фаза вещества. Было найдено, что переход в сверхпроводящее состояние наблюдается у 22 металлических элементов. Температуры, при которых этот переход имеет место, лежат в диапазоне 0,4—11° К. Сверхпроводящее состояние свойственно также большому числу сплавов и соединений. Пожалуй, наиболее идеальным сверхпроводником является белое олово. На фиг. 1 приведены некоторые результаты, полученные при тщательных измерениях перехода в сверхпроводящее состояние на монокристалле чистого олова, выполненных де-Хаазом и Фогдом [66J. Если величина измерительного тока Стремптся к нулю, то ширина (резкость) перехода близка к 0,ООГ" К. [c.612]

Для исследования влияния рассеянного излучения на резкость изображения дефекта величина размытия определялась просвечипанисм эталонов различной толщины. При этом предполагалось, что если рассеянные лучи принимают участие в образовании изображения дефекта, то вследствие увеличения числа рассеянных квантов на больших толщинах их доля в размытии края изображения дефекта будет расти с увеличением толщины. С этой целью проводились многократные просвечивания того же клинообразного эталона, а величина размытия определялась в различных участках f-снимка. Это соответствовало толщине просвечиваемого металла L = 180, 150 и 120 мм. Экспозиции при просвечивании подбирались таким образом, чтобы одна и та же толщина клина давала снимки с одинаковыми плотностями почернения, то есть почерпоние фона различных снимков во всех случаях было бы примерно одинаковым и лежало в пределах D — 0,9—1,0. Проведение опытов в области плотностей почернения (лежащей ниже оптимальной плотности Д — 1,75 и с максимальной разностью почернения А/>), объясняется трудностью ми-крофотометриропания больших плотностей почернения. [c.343]

Важно отдштить, что точность измерений скорости в пленке все еще является неопределенной по следующим причинам. Перед измерением расстояния между двумя изображениями частицы на фотографии с помощью теории авторов производилась грубая оценка ожидаемых результатов измерений. В опытах наблюдался целый ряд расстояний между двумя изображениями частиц, обусловленный конечным значением глубины резкости изображения (и, возможно, наличием переходного течения при больших значениях толщины). В соответствии с мнением наблюдателя о степени резкости некоторые парные изображения частиц отбрасывались, а для оставшихся изображений прн вычислении скорости производилось осреднение. Поэтому вполне возможно, что если наблюдатель знал величину приблин енной оценки, то это ставило под сомнение надежность такого метода измерения расстояния между двумя положениями нзобран ений частицы па фотографии. Кроме того, измерения проводились для очень небольшого числа парных изображений, а при пересечении верхней границы пленки фотографирование велось для совершенно недостаточного числа фиксированных положений поля зрения объектива. [c.196]

Глубина резкого изображения М., характеризующая возможные пределы продольного пере.мещения бесконечно тонкого объекта без заметного ухудшения резкости, складывается из волновой глубины Т = п%12А (л — показатель преломления объекта), обусловленной дифракц, размытием точки вдоль оптич. оси, и геом. глубины = 1000/7ЛГ , связанной с конечной остротой зрения наблюдателя ( 2 ). Напр., если п — 1,5, А = 1,0, X = 0,55 мкм, Гм = 1000, то Гд = 0,41 мкм, Гр = 0,14 мкм и глубина резкого изображения М. Т = 0,55 мкм. [c.143]

В тех случаях, когда исследователь интересуется исключительно конодами, а не зависимостью периода решетки от состава, для различных фаз иногда можно без потери точности значительно сэкономить время, необходимое для исследования, применяя различные варианты следующих методов. Предположим, что на рис. 237 указана такая же система, как на рис. 234, и что фазовые границы ху и zw определены точно. Рассмотрим сплав Р, лежащий вне гомогенной а-области. Ясно, что при любом направлении коноды, проходящей через Р, ее пересечение с линией ху не будет далеко удалено от точки Р. Мы можем приготовить серию спл1авов 1, 2, 3, 4, расположенных, хотя и близко к границе zw, но в то же В ремя достаточно удаленных от нее, чтобы дать диффракционные линии а-фазы, имеющие резкость, достаточную для точного измерения. Затем [c.370]

Аналогично нельзя точно получить компоненты резкости точки j = а только п тем дифференцирования си1 налов датчиков ускорения Из уравиени (93) и (95) видно, что относительную погрешность у измерения компонентов скорости точки, обусловленную интегрированием сигнала датчика ускорения, совершающего угловые колебания, можно оценить по формуле [c.170]

Если необходимо сфотографировать микроструктуру, то призма 7 сдвигается в сторону, и луч после пластинки 2 попадает в фотоокуляр 9, проходит через диафрагму и затвор 10, отражается в зеркале //и направляется на матовое стекло 12. Наводку на резкость и выбор объекта фотографирования проводят по матовому стеклу. Затем вместо стекла ставят кассету с пластинкой и начинают съемку структуры. Процесс фотографирования обычный. [c.80]

Точность метода муара повышается при увеличении числа линий, приходящихся на 1 мм. При очень большом их числе проявляется эффект дифракции света, охраничивающий возможность то шых измерений. Наиболее эффективным способом предупреждения искажений муаровых картин является отггическое фильтрование. В простейшем случае муаровую картину наблюдают с помощью двух одинаковых линз, расположенных на расстоянии двух фокусных расстояний. В фокальной плоскости устанавливают диафрагму, пропускающую лучи, прошедшие через дифракционную решетку (эталонная и рабочие сетки) под строго определенными углами и фокусирующимися в фокальной плоскости. Пропуская лучи через определенные точки, можно из изображения муаровой картины исключить все линии сетки и оставить только изображения полос, увеличить число полос, улучшить резкость и качество изображения и др. [c.269]

Кривизна растра. Точки изображения плоского объекта попадают на искривленную плоскость, характеризующегося симметрией вращения относительно оптической оси. Вследствие этого при наводке на резкость середины изображения нерез-кость в направлении к краю изображения увеличивается. [c.176]

Так как по резкости спада напряжения после перехода через предел прочности нельзя определить, является ли изменение структуры обратимым, то правильнее таким образом оценивать не тик-сотропию, а суммарный эффект изменения структуры материала, что выше было характеризовано термином структурной релаксации, т. е. снижением напряжения под влиянием изменений структуры в материале. [c.82]

Таким образом, резкость также служит показателем того, насколько резко мы можем разделять частоты в пределах полной спектральной ширины Avren. Например, если выбрать Дуген = = 1,5 ГГц и f = 150, то Avm= Ю МГц. Если длина электромагнитной волны равна > = 0,5 мкм (зеленый свет), то Avm/ /v 1,7-10 . Это очень высокая разрешающая способность по [c.178]

Если данное условие выполнить нельзя вследствие, скажем, ограничений на практически достижимые значения резкости, то применение только одного эталона Фабри — Перо не позволяет осуществить одномодовую генерацию. Таким образом, необходимо использовать еще один эталон или большее число эталонов. Для рассмотрения этого случая предположим, что первый эталон имеет толщину Li = L/2rirF и наклонен под углом 0i таким образом, что пик пропускания совпадает с модой резонатора в центре линии. При этом удовлетворяется условие (5.51) и происходит дискриминация между соседними модами резонатора. Чтобы осуществить дискриминацию между соседними модами первого эталона (т. е. подавить пики пропускания 1 и V на рис. 5.10), в резонатор вставляется еще один эталон толщиной Li под углом 03 таким образом, что пик пропускания этого [c.261]

Улучшение качества изображений в центре н на краю поля. При больших увеличениях в биноклях довольно сильно сказывается влияние вторичного спектра, поэтому его исправление желательно. Б. Л. Нефедовым [2) предложена конструкция бинокля 15 X с апохроматическим объективом из флюорита и крона К14 с углом поля зрения 5°. С другой стороны, как правило, качество изображений, даваемых биноклями, хорошо только в центре поля зрения иа краю вследствие астигматизма и других аберраций оно становится настолько низким, что наименьший разрешаемый угол в пространстве предметов больше, чем у невооруженного улаза. С этим наблюдатель мирится лишь потому, что изображение интересующего его объекта он движением рук приводит к центру поля. Однако, если бинокль обладает большим увеличением н прикреплен к штативу, что необходимо для достижения максимальной резкости, то подвижность его ограничена и наблюдатель должен иметь возможность сразу обозревать большое резкое поле. Описанные в этой главе широкоугольные окуляры обладают хорошим качеством изображения на большом протяжении поля и вполне пригодны для этой цели. Однако они сложны и в настоящее время не могут быть запущены в серийное производство. Следует про-, должать работы по упроп енню этого типа окуляра. [c.202]

Волокна переносят световую энергию, проходящую через их передние торцы, на задние торцы. Чем меньше диаметр торцов и чем резче переносимая картина, тем больше подробностей будет в изображеинн, создаваемом на конце волоконного элемента. Из этого следует, что всякая аберрация картины-объекта на первой поверхности волоконного узла, превышан щая в поперечном иаправлеиин диаметр волокон, недопустима. Недопустимы сферическая аберрация, кома, астигматизм, хроматические аберрации положения и увеличения, если они превышают указанный предел. Однако кривизна изображения и дисторсня, не влияющие на резкость и требующие лишь смещения (продольного или поперечного) положения точки-изображення, допустимы и с помощью волоконных элементов поддаются исправлению. Этот вопрос хорошо освещен в литературе. [c.573]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...