Постоянная дифракционной решетки

Система параллельных щелей равной ширины, разделенных одинаковыми непрозрачными промежутками, называется дифракционной решеткой. Сумму ширины прозрачной [Ь] и непрозрачной а) полос принято называть постоянной решетки (d) [c.144]

В этом опыте проявляется также следующая характерная зависимость чем меньше d (постоянная решетки), тем больше угловое расстояние между главными максимумами. Способность дифракционной решетки развести излучение двух определенных длин волн на некоторый угол также служит ее важной характеристикой (дисперсией), которую тоже следует ввести при количественном описании (см. 6.6). [c.295]

Легко получить в явном виде зависимость разрешающей ( илы от длины рабочей области дифракционной решетки L, исключив параметр т из уравнения (6.86). Поскольку I Nd, где d — постоянная решетки, то, используя условие возникновения максимумов (6.50), имеем [c.321]

Совокупность N периодически расположенных щелей на непрозрачной плоскости называется одномерной дифракционной решеткой. Расстояние между одноименными краями соседних щелей а называется постоянной, или периодом дифракционной решетки. [c.247]

Были также предложены дифракционные решетки типа эшелетт в качестве фильтров с пропусканием в широкой инфракрасной области между 2 и 15 мкм. Будучи использованы в качестве зеркал, они ослабляют путем дифракции коротковолновые излучения, если угол падения и постоянная решетки выбраны правильно [Л. 149]. [c.78]

РИС. 11.24. а — разделение пучка в диэлектрическом волноводе с постоянным периодом решетки Л б — разделение пучка и демультиплексирование в диэлектрическом волноводе с дифракционной решеткой с переменным периодом Л (г). [c.508]

В [13] описана модификация этого метода для записи только фазы волнового фронта, когда высоту прямоугольной полоски можно оставлять постоянной и равной Ai]. В этой работе также указано на сходство такой голограммы с дифракционными решетками. [c.84]

Рассмотрим в качестве предмета двумерную дифракционную решетку, характеризуемую постоянной решетки а. Углы падения i и дифракции i связаны уравнением решетки [выражение (1) гл. 1]. [c.149]

В качестве амплитудных ослабителей пригодны прозрачные (или отражательные) дифракционные решетки. Достижимая степень ослабления определяется постоянной решетки и спектральным порядком, в котором ведутся наблюдения. Если решетка грубая, ослабление может быть значительным. Эффективность ее зависит от того, параллелен или перпендикулярен электрический вектор плоскополяризованного света штрихам решетки. Можно показать, что для Шмелевой решетки отношение освеш.енности в т-ш порядке к освеш,енности в нулевом порядке равно [c.26]

Прозрачная дифракционная решетка (рис. 19) представляет совокупность строго параллельных щелей, разделенных непрозрачными промежутками а — ширина щели (штриха), Ь — расстояние между щелями d = а 6 — называется постоянной или периодом решетки. [c.41]

Это выражение напоминает формулу Брэгга для дифракционной решетки с постоянной 2/г. В данном случае 6 дает направление т-го порядка, под которым звуковые волны от цепочки точечных источников дают максимум интерференционной картины 2h — расстояние между источниками при толщине слоя h. Сами же источники можно вообразить как вторичные, возни- [c.324]

Поэтому дифракционные решетки обычно работают в I—II порядках, где спектры перекрываются не так сильно. Для увеличения дисперсии и разрешения желательно работать с решетками, у которых больше число штрихов, приходящихся на 1 мм. Однако в ИК-области спектра используются решетки с малым числом штрихов на 1 мм (50—300), так как длина волны изучаемого спектра становится сравнимой с постоянной решетки с1. [c.126]

Инвариантность системы означает, что форма ее отклика на элементарный сигнал остается постоянной при изменении аргумента сигнала. Для спектрометров,, построенных по классической схеме, инвариантность по времени обеспечивается стационарностью всех оптических и регистрирующих частей системы Вместе с тем, инвариантность по частоте для них, строго говоря, не соблюдается. Изменение частоты падающего излучения, как правило, сопровождается изменением ширины и формы аппаратного контура. Тем не менее, ввиду того что изменение это происходит достаточно медленно, особенно в приборах с дифракционными решетками, в довольно широких участках спектра классические спектрометры можно приближенно считать инвариантными. [c.8]

Примером... горизонтального распила физической действительности, когда задачи из различных областей группируются вокруг одного теоретического подхода, являются исследования Л. И. Мандельштама, относящиеся к использованию разложения Фурье в теории линейных систем. Временная постоянная колебательного контура и разрешающая сила дифракционной решетки, боковые полосы при модуляции и комбинационное рассеяние, физическая реальность разложения Фурье и ложные структуры, видимые в микроскопе, и, наконец, быстрота телеграфирования и селективность в радиотехнике и принцип неопределенности в квантовой механике все эти, казалось, весьма запутанные и ничем друг с другом не связанные понятия и вопросы выстроились здесь у Мандельштама в стройную единую систему [4. [c.152]

При низшем порядке спектра дифракционной решетки практически можно считать линейную дисперсию величиной постоянной для всех длин волн, так как для малых углов ф из (9) следует [c.44]

В низшем порядке спектра дифракционной решетки работать удобно еще и потому, что здесь мы можем считать линейную дисперсию с большой степенью точности величиной постоянной, так как для малых углов ф [c.89]

Спектры с постоянной дисперсией, лежащие вблизи нормали к решетке, называют нормальными спектрами. В этом отношении призматический спектр, где дисперсия меняется обратно пропорционально >1, , менее удобен. На рис. 65 дано сравнение шкал призменного спектрографа (а) и спектрографа с дифракционной решеткой (б). [c.90]

В приборе с дифракционной решеткой при работе в спектре т-го порядка вид аппаратного контура (при бесконечно узкой входной щели) определяется распределением интенсивности монохроматического дифрагировавшего света в окрестности главного максимума порядка т. При большом числе штрихов Л 1 максимумы очень узкие и поэтому в формуле (6.37) плавный сомножитель /i(0), описывающий распределение интенсивности в дифракционной картине от одного штриха, в пределах инструментального контура можно считать постоянным. Будем и здесь отсчитывать [c.317]

На рис. 3.4.7 показаны две идентичные прозрачные дифракционные решетки и р2, имеющие одинаковые постоянные й и расположенные параллельно друг другу на расстоянии t. Параллельный пучок излучения длины волны Я, падает на первую решетку под углом т] относительно нормали к решетке. В этом случае первая решетка дает т дифракционных порядков, наблюдаемых под углами, определяемыми из уравнения решетки (3.4.25) [c.143]

Наряду с плоскими дифракционными решетками изготовляются и вогнутые дифракционные решетки, объединяющие в себе два оптических элемента — сферическое зеркало и решетку, нарезанную на вогнутой поверхности. Такие решетки обладают свойствами фокусировать дифрагированные лучи. Постоянная й измеряется по хорде, так как штрихи решетки образуются в результате пересечения вогнутой поверхности с равноотстоящими и параллельными друг другу плоскостями. [c.349]

Пусть объектом служит однолте )ная дифракционная решетка с постоянной d (рис. 6.7 )). Будем считать ее плоской, что приемлемо, гак как и микроскопе исс.]едуются тошсие препараты, а глубина резкости столь сильного объектива мала. Плоская волна проходит сквозь решетку, распространяясь вдоль оптической оси микроскопа перпендикулярно плоскости решетки. В главной фокальной плоскости объектива получается спектр — [c.342]

Как показано выше, принцип взаимности при исследовании рассеяния волн на периодических структурах позволяет получить ряд важных резуль-тов еще до решения соответствующей краевой задачи. Аналогичная ситуация имеет место и в дифракционной электронике [5] при анализе характеристик излучения волн плоским монохроматическим потоком электронов, движущихся с постоянной скоростью V вблизи дифракционной решетки. В [100] показано, что суммарная энергия однородных плоских волн, которая обычно называется в электронике полными потерями монохроматического потока на излучение, не зависит от замены направления движения электронов на обратное даже для несимметричных решеток. От направления движения электронов зависит только перераспределение энергии между распространяющимися волнами, если их несколько. Фазовые скорости собственных волн решетки (в том числе и leaky waves) одинаковы для волн, бегущих влево или вправо от нормали, даже если сама решетка не симметрична относительно нее. [c.32]

Интерес к совместному анализу фазовых и энергетических характеристик комплексных амплитуд пространственных гармоник дифракционного спектра периодических решеток нашел отражение в работах [107, 283], появившихся в последнее время и посвященных ОР с селективными зеркалами. Целью этих работ является поиск путей создания существенно одномодовых резонансных систем. Известно, что в ОР, в котором одно из зеркал выполнено в виде дифракционной решетки, существует возможность управлять добротностью, изменяя величину модуля комплексной амплитуды той гармоники дифракционного спектра решетки, на которой работает резонатор, при этом фаза данной амплитуды должна быть постоянной (сохраняется рабочая длина волны, рис. 136, а). Не меньший интерес вызывает режим, когда модуль амплитуды гармоники поддерживается на уровне, близком к единице, а фаза существенно изменяется, что позволяет управлять резонансной частотой ОР (рис. 136, б). [c.196]

Недавно было показано, что пара призм может создавать отрицательную дисперсию при отражении [53]. Тем не менее требуемое расстояние между призмами обычно на два порядка больше, чем между решетками, из-за относительно малого значения дисперсии в кварцевом стекле. Это расстояние можно уменьшить, используя такие материалы, как стекло из тяжелого флинта [54] или кристалл TeOj [55]. Для призм из кристалла ТеО, расстояние между ними становится сравнимым с расстоянием между дифракционными решетками. В эксперименте [55] 800-фемтосекундные импульсы были сжаты до 120 фс при этом использовалась пара призм на расстоянии 25 см друг от jnyra. Поскольку потери энергии в паре призм можно сократить до 2% и менее, их использование, вероятно, станет общепринятым. В качестве альтернативы паре решеток в работе [56] было предложено использовать фазовую решетку, индуцированную в кристалле ультразвуковой волной со свипированной частотой. Если световод обладает фоторефракцией, то, пользуясь стандартными методами голографии, внутри его сердцевины можно создать постоянную [c.152]

Рис. 25. К причинам сохранения конфигурации восстаиоаленного изображения при п.зменении свойств фотоматериала, иа котором записана голограмма. Восстановленное голограммой изображение О формируется из лучей Lb претерпевших дифракцию первого порядка на решетчатой структуре голограммы. Форма волнового фронта излучения, дифрагировавшего на решетке, определяется только разностью хода лучей, принадлежаш их раз дичным штрихам, т. е. зависит только от шага штрихов и формы их образующей. Свойства фотоматериала определяют только структуру самого штриха, от которой зависит лишь распределение интенсивности света между порядками дифракции. Наиболее наглядно этот процесс можно представить на примере дифракционной решетки с постоянным шагом d (рнс. 6). Углы дифракции излучения на такой решетке определяются только шагом и длиной волны излучения, а распределение интенсивности между порядками 1, h, l-i — профилем штриха

G точки зрения повышения дисперсии прибора выгодно работать в высшем порядке спектра. Так как интенсивность спектральных линий быстро падает с увеличением порядка спектра, то обычно не пользуются порядком выше четвертого. Исключение представляют ступенчатые отражательные решетки Эшелле, у которых А доходит до 100 для инфракрасной области спектра. Поэтому, чтобы иметь прибор с хорошей дисперсией и разрешающей способностью в спектрах низкого порядка, применяют дифракционную решетку с малым значением ее постоянной d и с достаточно общим числом штрихов. Решетки отличаются друг от друга частотой штрихов, размерами нарезанной площади, формой поверхности и другими характеристиками. В табл. 6 даны приближенная классификация решеток и спектральная область их применения. [c.44]

Сферическая дифракционная решетка с переменным расстоянием между штрихами. Другой путь устранения астигматизма вогнутой дпфракцнопной решетки состоит в том, что расстояние между штрихами решеткп делают не постоянным, а изменяющимся по некоторому закону. Подобную решетку можно рассматривать как совокупность дифракционной решетки, сферического зеркала и зонной пластинки Френеля [1.2]. Разность хода между соседними штрпхами у нее становится величиной переменной, зависящей от закона изменения расстояния между штрихами d вдоль оси г/, т.е. d — d (у). Этот закон может быть выбран так, чтобы происходила компенсация астигматизма. Теория показывает [1.11], что [c.293]

В монохроматоре Вилесова [173] соединены два полуметровых монохроматора Сейа — Намиока для уменьшения астигматизма употребляются тороидальные дифракционные решетки (/ т=500,1 мм, / = 335,7 мм), решетки имеют 1200 штрих/мм, угол падения а = 35°. Свет проходит через обе половины монохроматора ири условии л= (2й /т)соз а-з1п 6,где — постоянная решетки, т — порядок спектра, а — угол падения б=(а-ЬР)/2, где 3 — угол дифракции. [c.176]

Рис. 100. Комбинация дифракционной решетки с плоским зеркалом как система с постоянным угло- 1 отклонения.

Вогнутые дифракционные решетки применяются в спектрографах также по-разному. Их применение отличается способом фокусировки спектров па фотопластинке. Наибольшее распространение получили схемы с неподвижной входной щелью. Здесь прежде всего следует указать на оригинальную установку самого изобретателя вогнутых дифракционных решеток Роуланда (рис. 121, а). Особенность его установки состоит в том, что кассета и решетка укреплены на концах жесткого стержня АВ, которые люгут перемещаться на шарнирах по направляющим ОХ и 0Y во взаимноперпендикулярных направлениях. Щель Sp прп этом находится в вершине прямоугольного треугольника ABO. Такил образом, фотографируемая часть снектра находится все время в области нормали к решетке, что обеспечивает получение спектров с почти постоянной днсперсией. [c.150]

Смотреть страницы где упоминается термин Постоянная дифракционной решетки : [c.296] [c.450] [c.527] [c.35] [c.458] [c.163] [c.195] [c.317] [c.321] [c.55] [c.245] [c.245] [c.429] [c.434] [c.450] [c.214] [c.426] [c.44] [c.441] [c.54] [c.298]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...