Угловая ширина пучка

Пусть узкий МР-пучок распространяется вдоль вогнутой поверхности под углом скольжения 0 = 6с/2 (Понятно, что для пучков с меньшими углами скольжения требования к гладкости поверхности будут менее жесткими.) Если радиус корреляции высот шероховатостей достаточно велик, то при одном отражении угловая ширина пучка увеличивается в силу (2.55) на малую ве- [c.143]

Апертура светофильтра представляет собой угловую ширину Пучка лучей, при которой для данной полосы пропускания сохра- [c.68]

Если ЯТ 1, то бф = 0. Реально при условии компенсации в резонаторах газовых лазеров (РТ эфф может быть очень близок к единице и тогда теоретически бф = 0. Угловая ширина пучка определится лишь дифракцией на входном окне резонатора. [c.211]

Угловая ширина пучка 73 [c.346]

Угловая ширина пучка бегущих волн [c.423]

Так как на оси пучка величина возмущения больше, то центральные точки уходят вперед, а периферийные отстают, и пучок расходится сильнее. Однако на достаточно больших расстояниях амплитуда волны уменьшается, нелинейность уже не играет существенной роли, и это приводит к стабилизации угловой ширины пучка. [c.249]

Действительно, как можно увидеть из уравнения (2.54), в случае предельно малых значений 0о (т. е. р С 1) максимум рассеянного излучения сдвигается относительно зеркально отраженного пучка от поверхности. Одновременно пик рассеяния становится асимметричным, а его угловая ширина [c.66]

Обозначим угловое отклонение пучка, определяемое отношением ширины к длине одиночного канала, X. Тогда разрешающую способность прибора можно записать как [c.49]

В системе оптической голографической памяти опорный пучок удобнее располагать в одной плоскости (как это показано на рис. 4—7). Угловая ширина (полная ширина по углу на уровне половины мощности) для опорного пучка, измеренная вне регистрирующей среды, записывается в виде [c.443]

Здесь N.A.— числовая апертура проектирующей оптики, А9 — угловая ширина брэгговского максимума, 69 — допустимый диапазон изменения угла падения считывающего пучка. Для типичных величин N. А., 69 л 0.1 и 2/г sin 9 1 информационная емкость объемной среды может достигать 10 пиксел/см . [c.239]

В выбранном поперечном сечении пучка света от протяженного источника степень пространственной когерентности уц убывает с увеличением расстояния й между точками 51 и 59. В частном случае, когда источник представляет собой равномерно светящуюся полоску с угловой шириной 0, зависимость У12 от й имеет вид (см. задачу 1) [c.243]

Это угловое уширение пучка обусловлено волновой природой света и его в принципе нельзя устранить при заданной ширине сечения пучка. Строго параллельных световых пучков не существует. На пути длиной / пучок претерпевает дифракционное уширение порядка lAQ=Kl/a. Этим уширением можно пренебрегать лишь тогда, когда оно мало по сравнению с исходной шириной пучка, т. е. при W< a . В таких условиях пучок приближенно можно считать параллельным и использовать для его описания геометрическую оптику. [c.288]

Такая угловая ширина- падающего пучка изменяет картину сферы Эвальда в обратном пространстве, как показано на фиг. 5.10. Так как направления падающих лучей изображаются векторами кд, направленными к началу координат обратной решетки О, исходные точки Р распределены по диску, имеющему форм у источ- [c.120]

Усовершенствование метода в указанных работах, связанное с увеличением угла сходимости падающего пучка за пределы угловой ширины дифракционных пучков, делает их интерпретацию ненадежной, поскольку многоволновая теория основана на приближении плоской падающей волны. — Прим. ред. [c.201]

Явления дифракции в дальней зоне, или дифракцию Фраунгофера, мол<но наблюдать и в зоне Френеля [128 получается некоторая путаница в терминологии скольку часто бывает желательным измерить картины дальнего поля, не находясь в области дальнего поля, полезно познакомиться с этим весьма ценным методом. В основном он состоит в том, что устанавливают собирающую линзу с фокусным расстоянием f так, чтобы она принимала все лазерное излучение, и наблюдают изображение в фокальной плоскости линзы. Например, если в фокальной плоскости диаметр контура пятна по, полуинтенсивности равен rf, в области дальней зоны угловая ширина пучка в радианах дается формулой 0 = rf/f. Очевидно, что для лазеров, излучение которых заключено в дифракционных пределах, требуются линзы с большим фокусным расстоянием для того, чтобы получить в фокальной плоскости изображение удовлетворительных размеров. Это требование легко удовлетворяется, поскольку при измерении картин дальнего поля излучения лучших одномодовых газовых лазеров можно пользоваться очень простыми линзами. [c.133]

Реально величина Ш и потери в резонаторах газовых лазеров скомпенсированы и (/ Оафф Ь поэтому бф 0. Угловая ширина пучка определяется лишь дифракцией на выходном окне резонатора. Величина бЯ из (17.12) также очень мала, так как Ш велико и близко к единице, — излучение будет весьма монохроматичным. [c.130]

Угловая ширина пучка 0 может быть определена как отиоиаение wJz при г оо, что ведет к выражению [c.73]

Рассуждая так же, как и при рассмотрении квазиплоской волны, можно определить угловую ширину пучка [c.247]

Лазерное излучение позволяет в принципе реализовать все эти богатейшие возможности, обеспечить человечество надежной связью. Важное преимущество лазерной связи — направленность в передаче информации. Это позволяет резко, на несколько порядков уменьшить мощности передатчика, что особенно важно при осуществлении космической связи. Как показывают расчеты, при мощности лазера всего 0,1 Вт и угловой ширине пучка порядка 3 мин лазерный сигнал может быть зарегистрирован на расстоянии нескольких тысяч километров. Для передачи иР1формации на Марс пригоден передатчик мощностью порядка 10 Вт. Для связи применяются чаще всего гелий-неоновые лазеры, иногда полупроводниковые. [c.90]

Обратимся теперь к экспериментам по исследованию рассеяния мягкого рентгеновского излучения реальными поверхностями и оценим основные выводы теории рассеяния ка основе приближения Кирхгофа. Изучение зависимостй отражательной способности жесткого рентгеновского излучения от состояния поверхности впервые было предпринято Эревбергом [42). Несколько позже Эллиот [43] изучал связь качества полировки поверхности рентгеновского зеркала о рассчитанными им индикатрисами на основе модели поверхности в виде конических пиков. В работе [68], по-видимому, впервые было проведено исследование рассеяния мягкого рентгеновского излучения шероховатой поверхностью отражателя. Измерения проводились на Яа-линиях алюминия и углерода, угловая ширина падающего на исследуемый образец пучка составляла 8". [c.31]

Отсюда, в частности, следует очевидный факт микрогеометрия поверхности может быть определена тем точнее, чем меньше длина волны зондирующего излучения к. Минимальные поперечные размеры поверхностных неоднородностей, которые еще могут быть зарегистрированы, составляют величину порядка а л 1/vmax = = к/4тс. Снизу значения v ограничены конечной угловой шириной 60 падающего излучения, так как в интервале углов скольжения 0 от 00 — 60/2 до 00 4- 60/2 рассеянное излучение практически невозможно отделить от зеркально отраженного пучка. Отсюда находим Vmm = k sin 0об,0/2 и а ах л l/Vm = k n X X sin 0о60). [c.61]

В действительности степень поляризации отраженного пучка всегда меньше единицы из-за того, что падающая волна, строго говоря, никогда не будет находиться в точном резонансе со структурой. Это может быть связано, например, с ошибкой в периоде МИС или с конечной угловой шириной падающего хучка. [c.112]

В самой перетяжке а,, = О (фронт является плоским) и присутствует только дифракщюнная компонента расходимости, целиком определяемая шириной пучка. Поэтому для пучка с произвольными w, р угловой параметр гауссова распределения в дальней зоне для дифракционной компоненты составляет Х/(ян ) очевидно, у геометрической компоненты аналогичный параметр равен w/ р . [c.53]

Угловая дисперсия призмы равна = ( /W) (dnldX), где W — ширина пучка [40]. Отсюда [c.429]

Из последнего соотношения следует, что угловое увеличение связано с изменением ширины нараллельшлх пучков п]И1 прохождении через диспергирующую систему, что действительно имеет место как для призмы, так и для дифракционной ]50шетки (рпс. 1.8. а. и). При симметричном ходе параллельных пучков через диспергирующую систему, когда ширина пучков не изменяется (/ = Оо)- угловое увеличение равно единице. [c.25]

Вернемся к соотношению (1-8). Как уже отмечалось, при разложении излучения в спектр параллельные пучки различных длин волн выходят из диспергирующей системы под различными углами и. следовательно, они имеют различную ширину, т. е. ширина пучка является функцией длины волны. А поскольку ширина параллельного пучка спектрально неразложеиного излучения постоянна для всех длин волн, то из (1.8) следует, что угловое увеличение такл о зависит от длитты волны, т. е. Г Г (/. . Это и приводит к зависимости ширины изображения 5-2 от длины волны. Если же фокальная плоскость не перпендикулярна к оптической оси объектива камеры (е < 90°. см. рис. 1.5). то. как пока-зрлвает (1.3). на ширину изображения А влияет зависимость от длины волны как Г. так и /,. [c.25]

Итак, в результате дифракции па входной апертурной диафрагме (входной грани диспергирующей системы) в диспергирующую систему входит не параллельный, а расходящийся пучок с дифракционным распределением (1.27). Соответственно и при выходе из диспергирующей системы пучок также имеет дифракционное распределение, но величины всех углов его изменены в результате углового увеличенпя системы. В частности, угловая ширина главного дифракционного максимума будет определяться не (1.33), а соотношением [c.34]

В общем случае вместо (Ррй) в (2.7) стоит = р йуйг. Видно, что максимум излучения направлен вдоль оси первичного пучка, а характерная угловая ширина диаграммы равна [c.132]

В экспериментах с дифракцией рентгеновских лучей конечный размер источника излучения приводит к тому, что угол сходимости (угловая ширина) падающего пучка в любой точке образца составляет величину порядка 10 —10" рад. Интенсивность при этом не обязательно однородна в указанном интервале углов. При дифракции нейтронов угловая ширина часто задается значениями, которые больше указанных величин, поскольку интенсивность источника низкая В случае дифракции электронов угловую ширину можно значительно уменьшить, хотя она и достигает 10 . рад, когда образец помещен в магнитное поле объектива электронного микроскопа при использовании микродифракции (см. гл. 13). [c.120]

С другой стороны, падающий электронный пучок можно сколлимировать так, что он будет иметь угловую расходимость 10 рад и меньше, но для рентгеновских лучей расходимость излучения от каждой точки источника дает изменение угла падения на облучаемый участок образца (шириной около 20 мкм) порядка 10" рад. Таким образом, для электронов приближение плоской волны является хорошим, а для рентгеновских лучей уже необходимо рассматривать когерентную сферическую волну от каждой точки источника с изменением угла падения, значительно большим чем угловая ширина брэгговского отражения. Тогда на картине дисперсионной поверхности нельзя рассматривать только одно направление падения, определяющее две точки связки на двух ветвях поверхности, как это сделано на фиг. 8.3. Вместо этого следует учесть, что вокруг Ьо одновременно и когерентно возбуждена целая область дисперсионной поверхности. Эту ситуацию реализовали Като и Ланг [249], и Като [251] показал, как провести интегрирование по фронту сферической волны и получить выражения, дающие правдоподобную оценку особенностей секционных топограмм. Затем интенсивность толщинных полос, полученных на проекционных топограммах, вычисляют путем интегрирования секционной топограммы вдоль линий равной толщины. [c.209]

Пучок электронов с энергией 50 кэБ падает на плоскую поверхность совершенного монокристалла MgO при скользящем угле падения в несколько градусов. Предположив, что средний внутренний потенциал (ро=13,5 В, найти выражение для изменения угла падающего пучка, когда он входит в кристал51. Когда поверхность параллельна плоскости 220, найти ориентацию падающего и дифрагированного пучков снаружи кристалла при точных условиях Брэгга для отражений 220 и 440. Положив сраао =5,0 В и 44о = .6 В, найти угловую ширину кривой этих отражений в двухволновом приближении. [c.213]

Мы видели уже, что при дифракции рентгеновских лучей на совершенных монокристаллах угловая ширина отражения равна 10" рад. Для кристаллов простой структуры угловое расстояние между отражениями порядка рад. Случай более чем одного отражения одновременно является весьма специальным, и в эксперименте его следует искать с особой тш,ательностью. Когда имеют место трехволновые или многоволновые эффекты, они приводят к некоторым поразительным изменениям интенсивностей, как это видно в исследованиях эффекта Боррмана, сделанных в СХОДЯЩ.ИХСЯ пучках с широким углом схождения (см., например, [42]). Теоретическое изучение трехволнового случая провели Эвальд и Хено [128], см. также [192] . [c.214]

Кинематический метод объяснения контраста линии Косселя (фиг. 14.3, а) применяется в некоторых случаях, но для электронов направления дифракционных пучков не определяются с такой точностью и размеры кристаллов намного меньше. Таким образом, черно-белый контраст К-линии виден, если картина, очень близко расположенная к кристаллу, сильно увеличена с помощью электронного микроскопа, как это сделали в своих наблюдениях Дюпуа и Бовийен [122]. Однако если картина наблюдается на большом расстоянии от кристалла (от 20 до 50 см), углового расхождения дифрагированных пучков вследствие их естественной полуширины достаточно для того, чтобы смазать черно-белую структуру. Тогда контраст будет обусловлен чисто интерференционными динамическими эффектами, которые дают тонкую структуру, имеющую большую угловую ширину. [c.325]

Угловая ширина дифрагированного в толстом кристалле рентгеновского пучка пропорциональна структурной амплитуде и, как правило, порядка нескольких угловых секунд или 10 рад. Следовательно, очень небольшие отклонения в ориентации плоскостей решетки могут вызвать большие изменения интенсивности. Уже много лет известно, что слабые деформации в толстом кристалле, возникающие, например, при наличии температурного градиента, вызванного тем, что вблизи кристалла держали палец, будут изменять дифракционную интенсивность на несколько порядков величины. Методы рентгеновской топографии, развитые Лангом [278], применяются для регистрации полей деформаций, обязанных от-дельньш дислокациям или агрегатам примесей в почти совершенных кристаллах. Схема используемой аппаратуры изображена на [c.333]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...