Анализ спектра отклика

Анализ спектра удара и анализ спектра отклика являются методами, используемыми для оценки максимального динамического отклика конструкции. Чаще всего они применяются к анализу сложных, зависящих от времени нагрузок или ускорений, которые возбуждают базу или основание конструкции например, колебания основания здания при землетрясении или воздействие взрыва на небольшой участок корабля. Анализ спектра отклика также может выполняться в качестве анализа, предшествующего анализу случайного нагружения. Различие между спектрами удара и отклика состоит в том, что в первом случае замеряется максимальное перемещение в определенных точках неподвижной конструкции, а во втором - относительно движения базы конструкции. [c.52]

Анализ спектра отклика [c.435]

Анализ спектра отклика при ударном воздействии [c.456]

Анализ спектра отклика используется для оценки максимума динамического отклика конструкции. Процедура анализа включает в себя два этапа. На первом выполняется анализ переходного процесса с учетом приложенной нагрузки или возбуждения основания конструкции. На втором этапе результат анализа переходного процесса преобразуется в спектральную таблицу, содержащую пиковые значения откликов набора осцилляторов (рис. 12.17). Каждый осциллятор является скалярной колебательной системой с одной степенью свободы, для которой заданна собственная частота колебаний и коэффициент демпфирования. Этот набор помещается в узлы конечно-элементной модели, заданные пользователем перед выполнением анализа. Массы осцилляторов малы по сравнению с массой конструкции и поэтому не влияют на ее динамическую реакцию. Откликами, которые раскладываются в спектр, могут быть перемещения, скорости и ускорения узлов по поступательным и вращательным степеням свободы в общей системе координат модели. Спектр откликов вычисляется либо для абсолютного движения, либо для движения узлов относительно основания конструкции. Для набора осцилляторов должен быть задан один или более коэффициентов демпфирования. Для [c.456]

Рис. 12.20. Заполнение диалогового окна параметров динамического анализа при прямом методе анализа спектра отклика

Шаг 4. Выполнение анализа спектра отклика [c.460]

После выполнения анализа в базе данных модели появляются наборы результатов анализа переходного процесса и функциональные зависимости перемещений, скоростей и ускорений от частоты, характеризующие спектр отклика системы [c.460]

Нагрузка в вибрационном анализе задается в виде спектра, т.е. зависимости значений параметра нагрузки от частоты, что дает полное представление об изменении интенсивности и частоты нагрузки со временем. Самым простым способом введения нагружающих воздействий является спектр отклика, который представляет собой частотную зависимость отклика системы с одной степенью свободы на возмущающую нагрузку (смещение, скорость, ускорение или силу), изменяющуюся со временем. Спектры отклика конструкции в отдельных узлах могут быть однообразными или различными. Анализ произвольных вибраций требует введения более сложных статистических спектров. [c.41]

Гидродинамические характеристики квазистационарного потока использовались при численном анализе корреляционных зависимостей в качестве независимых переменных (факторов). Откликами (зависимыми переменными) являлись обобщенные характеристики спектральной модели масштабы L, Я, т) и параметры М Ш ), и и, полученные при исследовании спектра энергии гидроупругих колебаний потока во входных патрубках насосов [3]. [c.78]

При проектировании и анализе линейных электрических цепей один из методов состоял в исследовании выходного сигнала, полученного способом, описанным выше, для случая формирования оптического изображения, т.е. путем свертки входного сигнала (представленного последовательностью импульсов с изменяющейся амплитудой) с единичным импульсным откликом системы. Однако интегрирование, необходимое для исследования влияния различных фильтров, при этом становилось очень сложным. Еще более трудным было обращение свертки, применяемое при проектировании фильтров с условием создания определенных выходных сигналов по заданным входным. Именно применение теоремы свертки обеспечило во многих случаях столь необходимые упрощения. Из этой теоремы следует, что спектр временных частот на выходе линейной электрической системы является просто произведением входного частотного спектра и частотного спектра единичного импульсного отклика системы (ее передаточной функции). Интегрирование во временной области заменяется более простой операцией перемножения в частотной области. Более того, полная частотная характеристика нескольких последовательно включенных фильтров является просто произведением их собственных передаточных функций. Поэтому неудивительны замечания о том, что если бы теория цепей была ограничена временным подходом, то она никогда не получила бы такого развития. [c.87]

Вывод формулы дифракционной решетки импульсным методом. До сих пор мы использовали только одну из возможностей анализа, которые предоставляет нам теория линейных систем. Мы предполагали, что на вход спектрометра падает монохроматическое излучение (со спектром б(v—Уо)) и находили отклик прибора на него — аппаратную функцию. Но в некоторых случаях легче решить задачу об отклике прибора на более сложное воздействие и уже затем переходить к монохроматическому излучению. Удобнее всего в качестве такого пробного воздействия использовать импульс Ь(t). Найдем спектр функции Ь0—1о) [c.34]

При анализе состава и качества вещества проводятся фактически две основные операции разделение анализируемой смеси или вещества на компоненты и определение их качественного и количественного состава. Первая операция выполняется либо непосредственным физическим разделением в аналитической части прибора (хроматография, масс-спектрометрия), либо косвенным методом, т. е. разделение проводится по характеру отклика на какое-либо, воздействие, регистрируемое детектором (ЯМР-спектроскопия и др.). После этой операции сигнал прибора представляет собой суперпозицию элементарных сигналов от каждого компонента анализируемого вещества, различающихся значениями некоторого параметра, называемого существенным. Этот параметр характеризует положение компонента на оси развертки спектра. Вторая операция осуществляется путем соответствующей обработки полезного сигнала. Исходными данными в этом случае являются интенсивности составляющих сигнала при некоторых определенных значениях существенного параметра. [c.6]

Процесс получения результатов при проведении таких анализов можно разбить на три явно выраженных этапа 1) собственно анализ (воздействие на вещество и получение отклика — выходного сигнала детектора аналитического прибора, который поступает в дальнейшую обработку) 2) первичная обработка выходной информации анализатора — вычисление определяющих параметров формализованного спектра (площадей, высот пиков, положения экстремальных точек сигнала и т. п.) 3) вторичная обработка — идентификация веществ, получение результатов количественного анализа. [c.6]

Характерные осциллограммы динамических напряжений в шахте в режиме, близком к номинальному, нри работе шести циркуляционных петель представлены на рис. 6. Осциллограмма 1 зарегистрирована кольцевым тензорезистором, осциллограмма 2 — продольным. На рис. 7 приведены результаты статистической обработки осциллограмм. Построены графики корреляционной функции К (т) и спектральной плотности S (/). Можно сопоставить график спектральной плотности с результатом расчета собственных частот колебаний шахты реактора, приведенным на рис. 2. Основные формы колебаний шахты (т = 1, п = 2, 3, 4) имеют частоту около 5 гц. Этому соответствует основной максимум спектральной плотности напряжений, зафиксированных продольным и кольцевым тензоре-зисторами. Из рис. 2 видно, что форма колебаний шахты, имеющая шесть волн в окружном направлении, соответствует частоте 20 гц. При шести работающих циркуляционных петлях эта форма проявляется в показаниях кольцевого тензорезистора. Это видно на графике спектральной плотности. Как и следовало ожидать, продольный тензорезистор не отметил этой частоты. Кольцевые напряжения в шахте и экране реактора, как правило, больше продольных. Этот факт говорит о том, что основной вклад в динамические напряжения в шахте и экране вносят оболоченные формы колебаний. Кривая 5 на рис. 7 соответствует спектральной плотности напряжений, зарегистрированных тем же кольцевым тензорезистором при работе пяти циркуляционных петель. В этом режиме форма, соответствующая и = 6, уже не является легко возбудимой. Это видно и из графика спектральной плотности, где отсутствует всплеск на частоте 20 гц. Приведенные данные еще раз подтверждают возможность анализа спектра собственных частот внутрикорпусных устройств с использованием изложенной выше методики. Для сравнения отклика обработана характерная осциллограмма показаний кольцевого тензорезистора на шахте, полученная при измерениях на реакторе другой конструкции. На рнс. 8 приведены результаты статистической обработки полученных осциллограмм, показывающие, что в этом случае преобладающей является частота 25 гц. [c.158]

Последние четыре вида анализа относятся к анализу вынужденных колебаний конструкции. При анализе переходного процесса мы исследуем сравнительно короткий промежуток времени, когда движение не является установившимся. В линейном гармоническом анализе мы изучаем изменение отклика установившегося движения в зависимости от частоты приложенного гармонического воздействия. В спектратьном отклике к конструкции прикладывается ударное воздействие и исследуется спектр неустановившегося отклика по перемещениям в заданных точках конструкции. При нелинейном поведении конструкции численный анализ собственных форм, гармонический и спектральный анализ теряют смысл, поскольку суперпозиция становится невозможной. В этом случае выполняется нелинейный динамический анализ переходных процессов. [c.436]

Спектральные методы исследования стабильности параметров излучения квазинепрерывных лазеров. Эффективный метод исследования флуктуаций параметров импульсов в непрерывном цуге излучения лазеров с синхронизованными модами разработан фон-дер-Линде [101]. В основу экспериментальной методики положен анализ спектральной плотности мощности излучения. Цуг импульсов квазине-прерывного лазера направляется на фотодиод с временем отклика в десятки пикосекунд, а сигнал с выхода фотодиода поступает на спектроанализатор. Ключевой проблемой здесь является расшифровка полученных спектров, т. е. идентификация вкладов, вносимых флуктуациями энергии, длительности и периода следования импульсов. Как показано в [101], это вполне разрешимая задача. [c.286]

В приведенном выше анализе предполагалось, что регистрирующая среда способна разрешить весь представляюш,ий интерес спектр пространственных частот, за исключением, пожалуй, лишь частоты отсечки, обусловленной конечными размерами голограммы или линзы, используемой в процессе записи. Разумеется, в любом практическом случае регистрируюш,ая среда (например, фотопластинка) обладает конечной разрешаюш,ей способностью и ЧКХ ре- гистрирующей среды оказывается полезной мерой диапазона пространственных частот, в пределах которого можно получить заметный отклик. Для голограммы Фурье влияние ограниченной ЧКХ регистрируюш,ей среды на восстановленное изображение выражается не в ухудшении разрешения в изображении, а в ограничении поля зрения около опорной точки. Изучением таких эффектов в обш,ем виде занимался ван Лигтен [11]. [c.191]

При сканировании спектра выходное отверстие (5) и приемник излучения (6) осуществляют анализ распрёделения освещенности в изображении входною отверстия. Обозначим распределение пропускания выходного отверстия Я2(х). По своему. смь1слу Яг — это отклик системы регистрации излучения на точечный объект, находящийся в выходной фокальной плоскости щрибора. [c.16]

Данный нами анализ оптических свойств с самого начала базировался на приближении самосогласованного поля. Мы заметили, однако, что прямое использование формулы Кубо — Гринвуда с моделью невзаимодействующих электронов ведет к ошибке (даже если включить статическое экранирование псевдопотеициала).Если вычислять вместо этого отклик системы в присутствии трех возмущений (света, неэкранированного псевдопотеициала и электрон-электронного взаимодействия), то мы придем к замене статической диэлектрической проницаемости диэлектрической проницаемостью, зависящей от частоты. Если говорить на языке процессов, происходящих во время поглощения (или на языке теории возмущений), то более точные вычисления соответствуют учету вкладов от процессов, в которых, например, электрон поглощает фотон, сталкивается со вторым электроном, рассеивается решеткой и снова сталкивается со вторым электроном. Обескураживает, что этот более сложный процесс, который соответствует высшему порядку теории возмущений, ведет тем не менее к поправкам псевдопотеициала того же порядка, что и для невзаимодействующих электронов. Б этом случае э< х])ект оказывается малым, но нельзя быть уверенным, что дело будет обстоять так же и для всех других возможных процессов. Эта проблема была недавно частично решена, по крайней мере для мягких рентгеновских спектров, работами Нозьера и др. 133, 34). Хотя они основаны на технике теории многих тел, которую мы здесь не обсуждаем, центральные результаты можно понять и иа основе развитых в этой книге представлений. Более обширная дискуссия с точки зрения, подобной нащей, была дана Фриделем [36]. [c.388]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...