Спектроскопические методы исследования частиц в матрицах

Спектроскопические методы исследования частиц в матрицах 89—92 инфракрасная спектроскопия 96-104 [c.170]

В методе матричной изоляции используются достижения различных областей техники, тесно связанных между собой. Основной фактор - низкая температура для получения жестких матриц - достигается применением криогенной техники, что приводит в свою очередь к использованию высоковакуумной аппаратуры, без которой поддержание низких температур неэкономично. Природа матрицы, низкие температуры и необходимость исследования образца в вакууме - все эти факторы указывают на то, что изучение матрично-изолированных частиц возможно только при помощи спектроскопических методов. [c.11]

Расположение материала в данной книге отражает сказанное выше. Свойства матричных веществ изложены в гл. 2. Низкотемпературная и высоковакуумная техника, а также конструирование нагревателей для термической диссоциации веществ - в гл. 3. Способы получения матрично-изолированных активных частиц рассмотрены в гл. 4. Спектроскопические методы изучения молекул в матрицах, а также влияние матрицы на получаемые спектральные характеристики обсуждены соответственно в гл. 5 и 6. В двух последующих главах приведены примеры изученных систем для иллюстрации широкой применимости рассматриваемого метода, а в последней, гл. 9 предпринята попытка кратко суммировать современные достижения исследований по матричной изоляции и наметить перспективы их развития. [c.13]

Исследование матрично-изолированных молекул возможно только при условии сохранения их матричного окружения, следовательно, в этом случае могут быть применены лишь "неразрушающие", спектроскопические методы. Дополнительные ограничения накладываются свойствами самой матрицы, спектр которой не должен перекрывать спектры изучаемых частиц. [c.89]

Большинство перечисленных спектроскопических методов трудно использовать для изучения матрично-изолированных частиц. Поскольку в матрицах молекулы, как правило, не могут свободно вращаться, вращательная спектроскопия практически не применяется для их исследования, Ядерный магнитный резонанс дает лишь широкие сигналы низкой интенсивности вследствие большого времени релаксации в твердых образцах. Сигналы в спектрах ЯКР также очень слабые, и даже в случае массивных образцов их нелегко обнаружить. Таким образом, эти методики также не могут быть успешно применены для матрично-изолированных частиц. [c.91]

Обнаружение и исследование частиц в матрицах осуществляется спектроскопическими методами, описанными в предыдущей главе. Следует напомнить, однако, что изучаемые таким путем молекулы не являются в действительности изолированными, как в газовой фазе. Поэтому под влиянием матричного окружения их спектральные характеристики могут изменяться. В настоящ главе мы проанализируем некоторые направления этого влияния, что позволит персти к рассмотрению конкретных спектров и сделать выводы о природе частиц, замороженных в матрицах. [c.107]

Прежде всего это свойства кристаллов инертных газов, образующих матрицы (гл. 2), техника работы с жидкими гелием и водородом, основные типы криостатов (в том числе с микрокриогенными системами), конструкции высокотемпературных испарителей и пиро-лизеров (гл. 3). В книге дан также краткий обзор основных способов получения нестабильных молекул в газовой фазе и в матрице (гл. 4), описаны принципы и особенности использования различных спектроскопических методов для изучения молекул в матрицах (гл. 5 и 6) и приведены примеры конкретных исследований матрично-изолирован-ных частиц (гл. 7 и 8). [c.6]

Общим недостатком применения нерезонансных методов является относительно низкая интенсивность сигнала вследствие трудностей при осаждзЕгш большого количества матрично-изолированных частиц и их небольшой концентрации в матрице. Только в последнее время благодаря использованию мощных лазерных источников возбуждения получены спектры КР матрично-изолированных частиц,и данные этого метода удачно дополняют ИК-спектроскопические исследования. [c.92]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...