Компонента диффузного рассеяния

Компонента диффузного рассеяния [c.258]

ФОНОВОЕ КОСМИЧЕСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ —эл,-магн, излучение Вселенной, не искажённое ближайшими источниками (атмосферой Земли, излучением Галактики и т. п.). Именно Ф, к, и, должны были бы воспринимать приборы с широким полем зрения, вынесенные в пространство между галактиками, К сожалению, такой эксперимент невозможен. Астрономы изучают Ф, к. и используя наземные и внеатмосферные приборы. В связи с этим отделение фонового компонента от диффузного (рассеянного) излучения локальной и галактич. природы является трудной задачей. [c.335]

Как видно из формулы (1.50), в отраженной волне можно выделить две компоненты зеркально отраженную при 0 = ф = 0 (первый член в правой части) и диффузно рассеянную в соответствующем направлении (второй член в правой части). [c.29]

Рассмотрим теперь влияние шероховатости поверхности на качество изображения. Для простоты ограничимся элементарными соотношениями, вытекающими из теории рассеяния (подробнее см. гл. 2). При не очень малых углах скольжения интегральная интенсивность диффузной рассеянной компоненты определяется соотношением [c.219]

Поток нейтральных частиц (газа) всегда сопутствует эмиттируемым источниками пучкам ионов или плазменных сгустков. Газовые молекулы, образующие после истечения из эмиссионного отверстия расходящиеся молекулярные пучки, в результате диффузного рассеяния стенками вакуумного канала формируют молекулярный поток. Поэтому молекулярная концентрация по тракту пучка складывается из двух компонентов так называемой пролетной концентрации молекулярного пучка и концентрации диффузного молекулярного потока. Последний составляет для откачных средств распределенную газовую нагрузку. [c.139]

Еще одной распространенной идеализацией является взаимодействие света с совершенно гладкой поверхностью, на которой отсутствует шероховатость. В этом случае в отраженном пучке нет диффузной (рассеянной) компоненты, присутствует только зеркальная составляющая. Полированные поверхности кристаллов и стекол обычно являются хорошим приближением к модели гладкой поверхности, при этом различия между поведением реальной поверхности и ее идеализированной модели уменьшаются с ростом длины волны. [c.24]

Можно было бы разложить статические смещения на фурье-компоненты плоской волны и провести дальнейшее рассмотрение так,, как это было сделано в последнем разделе. Однако мы используем другой метод приближения к задачам диффузного рассеяния, который одновременно послужит введением к рассмотрению диффузного рассеяния при наличии ближнего порядка в гл. 17. [c.262]

Диффузное рассеяние и строение твердых растворов. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей может быть связано также с различием в рассеивающей способности компонент в твердом растворе и со статистич. атомными смещениями. На основе изучения подобных нарушений были созданы теории дисперсионного твердения сплавов и различных дефектов решетки, возникающих нри образовании твердых растворов. [c.433]

Модель поверхности, построенная на основании данных эллипсометрии, является лишь усредненным оптическим эквивалентом реальной неоднородной поверхностной фазы. В действительности, в отраженном свете с интенсивностью /, помимо зеркальной компоненты всегда присутствует диффузная компонента 1 , связанная с рассеянием света на макроскопических неоднородностях (о > X)-, т.е. / = /, + 1 I = 5 при о = 0. Для теоретических оценок и Is используются скалярная теория рассеяния частиц на неоднородностях и формулы Френеля, соответственно. Из сравнения этих расчетов с экспериментальными данными по спектральной зависимости 1(Х) удается оценить эффективное значение о, характеризующее шероховатость — спектроскопия диффузного рассеяния. [c.131]

Проведенные исследования [98] показали, что в процессе ИПД кручением в образцах Си формируется слабая аксиальная текстура. Таким образом, результаты РСА показывают, что при ИПД кручением чистой Си происходят существенные изменения вида рентгенограмм, получившие отражение в увеличении доли лорен-цевой компоненты в форме профилей рентгеновских пиков, их уширении и смещении, а также увеличении интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей. Это [c.39]

Рассеянное решеткой излучение содержится в диффузной компоненте и духах . Решетки с переменным шагом штрихов и голографические решетки свободны от духов, поскольку у них отсутствуют периодические биения в расположении штрихов. Диффузная компонента рассеивания связана со случайными неоднородностями в форме линий штрихов и шероховатостью их отражающих, граней. У решеток, нарезанных на делительных [c.271]

Схема эксперимента, выявляющего влияние пространственной когерентности источника излучения на записанную с его помощью голограмму, приведена на рис. 29 (24). Волна излучения источника W характеризуется некоторой картиной распределения пространственной когерентности. Эта картина условно обозначена стрелкой О. Излучение, соответствующее волне W, расщепляется полупрозрачным зеркалом Z на две компоненты объектную и референтную. Линза L, стоящая перед полупрозрачным зеркалом Z, проецирует распределение поля О на диффузно-рассеивающий экран D в виде изображения О и на голограмму Я в виде О". Рассмотрим условия записи голограммы на некотором участке ее площади dHi, соответствующем острию изображения стрелки О". На участок йН попадает излучение, рассеянное всеми точками экрана. Однако если пространственная когерентность записывающего излучения ограничена, то интерференционную картину образует излучение, рассеянное только определенными областями экрана. Например, излучение точек экрана, соответствующих острию стрелки изображения О, будет обязательно интерферировать с референтным излучением, образующим на участке dHi изображение этого же острия, поскольку поле в данной точке когерентно по отношению к самому себе при любой ширине цуга. С референтным лучом будет интерферировать также излучение всех точек экрана, находящихся в зоне С, радиус которой R равен ширине цуга h. Точки поля, находящиеся за пределами зоны j, не будут когерентны по отношению к точке поля, соответствующей острию стрелки, и поэтому их излучение интерферировать с референтной волной на участке dHi -не будет. [c.82]

Влияние условий измерений интенсивности на природу функции поглощения, вероятно, наиболее существенно в электронной микроскопии кристаллов, где апертура объективной линзы приводит к сочетанию прямого пучка с неупруго и упруго рассеянными пучками как в брэгговских отражениях, так и в диффузном фоне. При этом на указанные компоненты изображения аберрации линзы влияют различным образом. Этот случай будет рассмотрен в следующей главе. Здесь же мы ограничимся лишь рассмотрением наиболее общего случая функций поглощения, относящихся к резким брэгговским отражениям, получающимся в результате упругого рассеяния в кристалле. [c.280]

Рассмотрим теперь диффузную (некогерентную) компоненту. Удобнее всего ее выразить через сечение рассеяния единичной площадки шероховатой поверхности. Отметим очевидную анало- [c.217]

Интегральные связи этих коэффициентов даны в работе [166], а также [167]. Очень часто различают зеркальную компоненту и диффузную — суммарную остальную энергию, рассеянную в верхнее полупространство. [c.289]

Ясно, что компонента диффузно рассеянного светового поля, не принимающая участия в образовании регулярней интерферограммы, распределена в фурье-плоскости достаточно однородно, т.е. присутствует не только в максимумах, но и в минимумах (темные полосы) спекл-интерферограм-мы, соответствующей поперечному смещению. [c.131]

Ближний порядок в истинном смысле (или жидкоподобный, статистический [10, 29, 44]) проявляется в модуляции интенсивности фона диффузного рассеяния (рис. 5.21), который меняется в зависимости от типа ближнего порядка. Этот порядок может быть типа расслоения (сегрегации) при положительном знаке энергии смещения и преимущественных соседствах одноименных атомов и типа упорядочения при отрицательном знаке энергии смещения и преимущественных соседствах разноименных атомов. Характер и степень отклонения относительного расположения атомов компонентов твердого раствора от равномерно-статистического определяется знаком и величиной параметра ближнего порядка = 1— —Пав 1Св 1 (28). [c.128]

Здесь пав 1 — число атомов В на 1-той координационной сфере Св — концентрация компонента В в сплаве 2 — координационное число. Анализ диффузного рассеяния при наличии ближнего порядка осложняется наложе- [c.128]

В случае, когда опорный пучок не подвергается диффузному рассеянию, суперпозиция излучения каждой поперечной моды с полем, рассеянным объектом, имеет место в двух различных ограниченных областях этого-поля. Поскольку спектры мод не перекрываются, излучение каждой моды выбирает из общего поля только совпадающую с ней по спектру компоненту и интерферирует с ней, а та часть рассеянного поля, которая относится к другой моде, образует в области зтой интерферощионной картины однородный фон. Таким образом, в плоскости регистрации возникают две неперекрывающиеся интер< ренционные картины (решетки) с несколько отличающимися периодами пространственных несущих. При восстановлении зти две области формируют изображения различных участков объекта, между которыми образуется разрыв, соответствующий геометрически про-межутку между модами в соответствующем сечении опорного пучка, не занятому интерференционными полосами. Этот разрыв, имеющий вид темной полосы, сильно искажает реконструированное изображение. [c.52]

Статические искажения в твердых растворах, которые связаны с различием в размерах отдельных атомов, мошно оценить по величине диффузного рассеяния рентгеновских лучей [4, 99, 114], а также из квазитемпературного уменьшения интенсивности брэгговских отражений [12, 13, 43, 47]. В первом случае интенсивность диффузного рентгеновского излучения, рассеянного твердым раствором, определяется коэффициентами завися-ш ими от характера локального расположения атомов, и коэффициентами Рг, которые отражают различия в размерах атомов компонентов. Согласно теории, [c.175]

Для условий дифракции, при которых динамическое рассеяние дает существенный вклад в интенсивности резких брэгговских отражений, оно будет влиять и на интенсивность диффузного рассеяния. Прежде всего следует принимать во внимание, что падающий пучок не является единственным сильным пучком в данном кристалле. Каждый дифрагированный пучок будет в свою очередь служить источником диффузного рассеяния. Далее, диффузно рассеянное излучение при прохождении через кристалл будет испытывать дифракцию. Пучки, рассеянные диффузно в двух направлениях, угол между которыми равен удвоенному брэгговскому углу, могут взаимодействовать динамически, что, помимо всего прочего, приведет к образованию линий Косселя и Кикучи (гл. 14). Наконец, диффузно рассеянное излучение может повторно рассеиваться диффузно один или несколько раз, так что для толстого кристалла наблюдаемая интенсивность диффузного рассеяния может оказаться суммой многих многократно рассеянных компонентов, которые все модифицированы динамическим взаимодействием брэгговских отражений. [c.274]

НОГО рассеяния в каждой точке, возникающего из-за наличия фононов с одинаковыми компонентами ц,перпендикулярными пучку,заметно уменьшает зависимость интенсивности диффузного рассеяния от протяженности корреляции фононов, так что все предположения относительно длины корреляции фононов имеют тенденцию приводить к одному и тому же результату, если используется некогерентное сложение интенсивностей в соответствии с формулой (12.36). В данном случае характерная для брэгговских пучков осцилляция интенсивности с толщиной почти исключается. Это соответствует экспериментальным наблюдениям, состоящим в том, что темнопольные изображения клинообразных кристаллов, полученные с помощью псевдоупругого диффузного рассеяния (по большей части теплового) дают широкие полосы с очень слабым контрастом [49, 106, 392]. [c.278]

Функция Gi(7) приближенно пропорциональна (Т1Т ) , а GziT) почти постоянна, так как от Т она зависит слабо. Из уравнения (17.19) видно, что величина а(к) прямо пропорциональна компоненте интенсивности диффузного рассеяния, связанной с ближним порядком, и таким образом является наблюдаемой величиной. [c.383]

При случайном характере шероховатости интегральный поток рентг. излучения 1ц, рассеянный поверхностью однородной среды, и угл, ширина диффузной компоненты ЛФ при определ. условиях связаны с мик-рогеометрией поверхности соотношевиямп [c.346]

Видимый о1апаэон (3 10 Гц<у< 10 Гц 3000 А<Х< < мкм). Для выделения видимого Ф. к. и. из наблюдаемого диффузного излучения необходимо вычесть излучение относительно близких источников эмиссию атмосферы, зодиакальный свет (свет Солнца, рассеянный на межпланетной пыли), интегральный свет звёзд Галактики. Эмиссия атмосферы. становится несущественной при наблюдениях за пределами земной атмосферы. При наземных наблюдениях для её исключения вводят поправку, основанную на исследованиях пропускания атмосферы под разными углами к зениту. Вклад зодиакального света можно в принципе учесть, запуская космич. аппараты перпендикулярно плоскости эклиптики на расстояние 1 а. е., т. е. в область, где практически нет межпланетной пыли. Другой, более доступный ныне путь состоит в использовании моделей свечения зодиакальной пыли, а также в наблюдениях видимого Ф. к. и. во фраунгоферовых линиях, где слабо излучение Солнца и поэтому ослаблен зодиакальный свет. Проводятся интенсивные исследования свойств зодиакального света с ракет и спутников с целью выделения видимого Ф. к. и. Третий фактор можно оценить по ф-ции светимости и пространств, распределению звёзд в Гклактике. Этот фактор вносит гл. неопределенность при исследовании внегалактич, компонента оптич. свечения неба. [c.337]

Одна из компонент /о направляется в виде скользящего пучка вдоль диффузного экрана D, вторая- /, используется в качестве референтного луча и с помощью зеркала направляется на участок голограммы dHu На голограмму попадает излучение, рассеянное всеми точками диффузного экрана D, однако образуют интерференционную картину и записываются в виде голограммы только точки в интервале ef, для которых разность хода объемного и референтного лучей не превышает длины когерентности записывающего излучения, В результате при реконструкции наблюдатель увидит светящуюся траекторию луча e f, длина которой находится в соот-ретствии с длиной когерентности источника а излучения [c.79]

БС-преобразователи могут быть включены в дефектоскоп как по раздельной (излучатель-приемник) электрической схеме, так и параллельно. Электрическое параллельное включение ПЭП в БС-системе позволяет одновременно наблюдать на экране сигналы обратной (диффузной) Лобр и зеркальной (когерентной) Лз компонент рассеянного поля (эхо-зеркальный метод). [c.84]

Рис. 6.14. Зависимость отношения диффузной (обратной) Лобр и зеркальной Аз компонент рассеянного на дефекте поля 2 — 07 среднего наклона неровностей б — от величины параметра Рэлея Рд

Выполненный автором анализ профиля реальных трещин и их отражательных характеристик показал [48], что диапазон изменения параметра Рн составляет 0,1—9. При этом все поперечные трещины и значительное число продольных горячих имеют оценку дисперсии неровностей 5 2 0,04 мм2 и Рл<С1. Это предопределяет наличие слабой диффузной компоненты рассеянного поля Лобр, что значительно ухудшает выявляемость таких дефектов одним ПЭП. Следовательно, при вероятности наличия трещин такого типа или непроваров (несплавлений) с гладкой отражающей поверхностью предпочтительно выбирать способ прозвучивания и параметры контроля с учетом необходимости регистрации зеркальной компоненты эхо-сигнала Аз, например использование ПЭП типа дуэт для контроля сварных швов труб малого диаметра, эхо-зеркального метода для швов значительной толщины. [c.213]

В первой главе изложена теория обратных задач светорассея ния полидисперсными системами частиц. Как известно, атмосфер ные аэрозоли играют существенную роль в физических и химиче ских процессах, происходящих в атмосфере, а также в значительной степени обусловливают пространственно-временную изменчивость ее оптических характеристик. Помимо этого, явление аэрозольного светорассеяния широко используется в дифференциальных методиках зондирования газовых компонент атмосферы на основе эффектов молекулярного поглощения. Здесь аэрозоли играют роль диффузно-распределенного трассера. Решение обратных задач молекулярного рассеяния не вызывает особых затруднений, чего уже нельзя сказать о рассеянии на аэрозолях. Сложный характер взаимодействия оптического излучения с аэрозольными системами делает задачу интерпретации соответствующих оптических данных весьма затруднительной. Обратные задачи оптики дисперсных рассеивающих сред следует рассматривать как особый класс обратных задач оптики атмосферы. Соответствующую теорию вычислительных методов удобно строить на основе так называемых оптических операторов теории светорассеяния полидисперсными системами частиц. Оптические операторы осуществляют взаимные преобразования одних оптических характеристик светорассеяния локальными объемами дисперсных сред в другие. Так, с помощью соответствующего оператора, зная спектральный ход аэрозольного коэффициента ослабления, можно-прогнозировать спектральный ход коэффициента рассеяния, либО обратного рассеяния и т. п. Для построения указанного оператора требуется знание показателя преломления аэрозольного вещества и морфологии частиц. Ниже в основном будет использоваться предположение о сферичности частиц рассеивающей среды. Операторный подход весьма просто распространяется на молекулярное рассеяние, что позволяет в рамках единого методологического подхода построить теорию оптического зондирования рассеивающей компоненты атмосферы. [c.8]

В области экспериментальной нелинейной оптики наиболее интересные исследования за время, прошедшее после написания книги Бломбергена, выполнены в области параметрического усиления и генерации света и вынужденного рассеяния. Особый интерес здесь представляют работы, имеющие целью создание плавно перестраиваемых параметрических генераторов непрерывного действия, использующих в качестве генераторов накачки газовые лазеры [51]. Широкий круг исследований по вынужденному комбинационному рассеяниювыполненных в разных странах, показал, что, хотя многие важные черты наблюдаемых здесь явлений согласуются с теорией типа теории, развитой в гл. 4 настоящей книги, имеются и явления, не укладывающиеся в эту теоретическую схему. К последним относятся существенные отличия в диаграмме направленности антистоксового излучения (иногда оно становится диффузным), аномально большие коэффициенты усиления стоксовых компонент, в несколько раз превосходящие теоретические, резкое уширение линий и т. п. Эти явления обсуждались на состоявшихся летом 1965 г. конференциях по [c.26]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...