Фабри —Перо решетка

В качестве примера найдем дисперсию дифракционной решетки, призмы п интерферометра Фабри — Перо. [c.192]

Формула (50.4) показывает, что разрешающая способность спектрального аппарата равна произведению порядка спектра т на число световых пучков, интерферирующих в приборе. Число это для дифракционной решетки равно числу штрихов для пластинки Люм-мера—Герке или Фабри—Перо можно условно считать число N равным числу отраженных световых пучков значительной интенсивности (число эффективных лучей), которое тем больше, чем больше коэффициент отражения Я (см. 30). Для интерферометра Майкельсона Л/ = 2 для эшелона Майкельсона N равно числу пластин и т. д. [c.216]

Небольшая спектральная ширина насыщенной области линии обусловливает применение спектральной аппаратуры с большой разрешающей способностью, например спектрографов с дифракционной решеткой. Весьма перспективным представляется применение эталона Фабри — Перо. Подобрав соответствующим образом параметры эталона , можно получить от данной спектральной линии достаточно большое центральное пятно интерференционной картины. Круглая диафрагма позволяет вырезать из этого пятна центральную область, соответствующую насыщенному излучению центра линии. Интенсивность выделенного таким образом насыщенного излучения линии измеряется с помощью какого-либо фотоэлектрического фотометра. [c.419]

Рис. 6.34. Схема экспериментальной установки для измерения временного поведения фазы пикосекундных импульсов методом динамической интерферометрии 1 — волоконный световод, 2 — дифракционная решетка, 3 — призма решеточного компрессора, 4 — линия регулируемой оптической задержки, 5 — интерферометр Маха — Цандера, 6 — эталон Фабри — Перо, 7 — коррелятор для измерения кросс-корреляционной функции динамической интерферограммы и сжатого импульса [М]

МОД импульсного рубинового лазера при помощи 12-метрового спектрографа с высоким разрешением Массачусетского технологического института [34]. Этот прибор снабжен 25-сантиметровой решеткой, его инструментальная ширина для излучения с длиной волны 6943 А порядка 2 см К На спектрограмме излучения лазера, работавшего вблизи порога самовозбуждения, зарегистрирована группа из 10 линий с одинаковыми спектральными интервалами между ними, равными 8 10" см К Ширина каждой линии (2 10"2 см ) в пределах точности измерения соответствует предельному разрешению прибора. Структура спектра согласуется с распределением осевых мод в резонаторе Фабри— Перо, длина которого равна длине рубина. [c.330]

Только самые большие спектрографы с вогнутой решеткой обеспечивают разрешение, позволяющее разделить длины волн осевых мод твердотельных лазеров. Поскольку в лазерной спектроскопии высокой разрешающей силы спектрографы с вогнутой решеткой почти совершенно вытеснены сканирующими интерферометрами Фабри—Перо, мы не будем останавливаться на преимуществах и недостатках многих систем с решетками. По данному вопросу имеется обширная литература [46 [c.341]

Производительность измерений 16 Радиационная термометрия 12, 13, 199 Разность хода пучков 26 Разнотолщинность 29 Разрешающая способность 103 Резонансы Фабри-Перо 26, 37, 132 Решетка дифракционная 93 Свободные носители заряда 13, 81, 84, 165 [c.221]

Разрешающая способность. Для дифракционной решетки она определяется так же, как и в случае интерферометра Фабри — Перо (см. 28), однако в качестве условия разрешения линий принимается условие Рэлея линии считаются разрешенным-и, если максимум интенсивности одной попадает на минимум интенсивности другой. [c.226]

Для решения задач, связанных с изучением спектров, требуется применение спектральных приборов с высоким пределом разрешения. К числу таких приборов относятся большие дифракционные решетки, эшелон Майкельсона, интерферометр Фабри — Перо и др. [c.46]

Большое число когерентных световых пучков может возникнуть в результате дифракции при прохождении плоской волны через экран с одинаковыми регулярно расположенными отверстиями (метод деления волнового фронта). Распределение интенсивности в такой многолучевой интерференционной картине будет рассмотрено в 6.5 на примере дифракционной решетки. Здесь мы изучим интерференцию при многократных отражениях света от двух параллельных поверхностей (метод деления амплитуды). На этом принципе действует интерферометр Фабри—Перо, широко используемый в спектроскопии высокого разрешения и в метрологии. Он может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластины, на обе поверхности которой нанесены отражающие слои, либо в виде двух пластин, у которых покрытые отражающими слоями плоскости установлены строго параллельно друг другу и разделены воздушным промежутком. [c.256]

Рис. 3.8. Резонатор лазера на красителе 1 — излучение накачки 2 — кювета с раствором красителя 3 — телескоп 4 — эталон Фабри-Перо 5 — дифракционная решетка 6 — отражаюш ее зеркало

К числу приборов, использующих принцип многолучевой интерференции, можно отнести интерференционные светофильтры, интерферометр Фабри—Перо, резонаторы лазеров, дифракционные решетки и др. [c.135]

Интерферометр Фабри—Перо Я расположен после выходной щели дифракционного монохроматора и для получения максимальной светосилы работает в параллельных лучах. Монохроматор, построенный на основе плоской дифракционной решетки О, имеющей 1200 штр/мм и работающей во втором порядке, служит для выделения нужного участка спектра. [c.503]

Ф. А. Королевым и В. И. Гридневым был предложен оригинальный вариант интерферометра Фабри—Перо с отражателями, представляющими собой дифракционные решетки. Такие интерферометры применяются для длинноволновой инфракрасной области спектра и для миллиметрового диапазона длин волн. Дело в том, что в этих областях спектра практически отсутствуют подходящие материалы для изготовления полупрозрачных покрытий. В качестве таких отражателей можно использовать дифракционные зеркала . Они представляют собой тонкие металлические пленки серебра (толщиной 20—30 нм), нанесенные испарением в вакууме на кварцевые или другие подложки. В этих металлических слоях с помощью резца наносятся прозрачные штрихи. Прозрачные штрихи обеспечивают необходимое пропускание, а отражение от непрозрачных частей решетки оказывается вполне достаточным для обеспечения нужных характеристик интерферометра. [c.131]

На рис. 22.7 представлена схема двухканального интерференционного спектрометра. Интерферометр Фабри—Перо расположен после выходной щели дифракционного монохроматора и для получения максимальной светосилы работает в параллельных лучах. Монохроматор, построенный на основе плоской дифракционной решетки О, имеющей 1200 штрих/мм и работающей во втором порядке, служит для выделения нужного участка спектра. [c.178]

ЛО совместное применение спектрометра с дифракционной решеткой и интерферометра Фабри — Перо такое комбинированное устройство мы рассмотрим в конце следующей главы. [c.450]

Другим способом управления частотой является введение внутрь резонатора диспергирующего элемента [50] в виде сочетания призмы и эталона (рис. 7.40) или замена одного из зеркал резонатора дифракционной решеткой или стопой эталонов высокой резкости, образующей так называемый резонансный отражатель. Широко используется также метод ввода в резонатор эталона Фабри — Перо (см. следующий раздел), развернутого на небольшой угол. Отражательная способность составного зеркала из наклонного эталона и примыкающего к нему глухого зеркала соответствует кривой пропускания простого резонатора Фабри — Перо с большой областью дисперсии. Максимум отражения составного зеркала достигается изменением угла наклона эталона. Генерация в резонаторе будет происходить на частоте, соответствующей минимуму пропускания эталона. [c.556]

Фабри — Перо зависит от нескольких факторов. Однако при любых обстоятельствах она является идеально симметричной в противоположность асимметричной форме аппаратной функции спектрометров с дифракционной решеткой. Благодаря этой симметричности интерферометры Фабри — Перо удобно использовать для проведения точных измерений асимметрии линий, излучаемых астрономическими объектами, откуда можно получить данные о гидродинамических условиях на поверхности этих объектов. [c.569]

Обычно применяются интерферометры Фабри — Перо с фиксированным расстоянием I = 0,3—200 мм между пластинами (с фотографической регистрацией) и с переменной длиной около й = 500 мм, которая перестраивается часто при помощи пьезоэлектрического эффекта. Таким образом, в рабочем режиме разрешающая способность имеет порядок 10 . При заданной разрешающей способности с помощью интерферометра Фабри — Перо достигаются большие мощности на приемнике, чем в случае спектрометров с решеткой и со сравнимой величиной диспергирующего элемента. Кроме интерферометров Фабри —Перо с плоскими зеркалами, в лазерной спектроскопии и в НЛО применяются также интерферометры Фабри —Перо со сферическими зеркалами при надлежащем выборе конфигураций может быть до- [c.51]

Цендера—Маха, Фабри—Перо и др. легко перестраивается в интерферометр теневой прибор. В интерферометрах используются как прозрачные, так и отражательные решетки с шагом 6 = [c.167]

В настоящей главе рассмотрено действие некоторых спектральных аппаратов (дифракционная решетка, эшелон Майкельсона), позволяющих определять с очень большой точностью длины волн или разницу в длинах волн двух близких спектральных линий. Аналогичную задачу можно решить и при помощи интерференционных спе.ктроскопов (пластинка Лю.ммера—Герке, интерферометр Майкельсона, интерферометр или эталон Фабри—Перо), описанных в гл. VII. [c.211]

Для перестройки и сужения спектра генерации в лазерах на красителях используются дисперсионные светофильтры и призмы, интерферометры Фабри — Перо, дифракционные решетки, а также селективные элементы, работающие на принципе распределенной обратной связи. В РОС-лазерах обратная связь осуществляется за счет брэгговского отражения излучения от периодической структуры, возникающей в акгизной среде в результате модуляции ее показателя преломления. Введение одного селектирующего элемента сужает спектр генерации примерно до 1 нм без существенного снижения выходной мощности. Получение более узких линий достигается за счет комбинации нескольких селекторов и сопряжено со значительными потерями выходной мощности. [c.957]

Имеется много других интересных вопросов в рентгеновской физике МИС, которые не были расмотрены в этой статье. Это термическая стабильность МИС, многослойные дифакционные решетки, изогнутые подложки для многослойных решеток, многослойные эталоны Фабри—Перо, МИС с периодом, изменяющимся по глубине, МИС с периодом, изменяющимся в поперечном направлении, полупропускающие МИС и т. п. Свойства их существенно зависят от факторов, рассмотренных в данной работе. Кроме того, большой интерес представляют исследования МИС, направленные на получение информации о них самих и о тонких пленках, нанесенных на их поверхность. Очевидно, что эта область физики находится лишь на начальной стадии развития и нам предстоит еще получить много новых и интересных результатов. [c.451]

За последние 10—15 лет значительно расширилась область Приложений многолучевой интерференционной спектроскопии. Развитие фотоэлектрического метода регистрации интерференционной картины, разработка многослойных диэлектрических слоев с высоким коэ( ициентом пропускания и малой величиной поглощения, применение электронно-оптических преобразователей, создание широкой номенклатуры узкополосных интерференционных фильтров для видимой, ультрафиолетовой и инфракрасной областей спектра, разработка способов сканирования интерференционной картины и устройств для их реализации, теоретическое обоснование и экспериментальное осуществление муль-типлекс-эталона существенно расширили экспериментальные возможности спектрометра Фабри-Перо во всех областях оптического спектра. Следует заметить при этом, что важной причиной успешного применения эталона Фабри-Перо является его высокая свето--сила, превосходящая светосилу обычных спектральных приборов с призмой или решеткой, имеющих одинаковую тэлором Фаори-Перо величину разрешающей сйлы, [c.5]

Можно сделать неправильный вывод, что интерферометр Фабри—Перо — самый лучший прибор для лазерной спектроскопии, хотя бы потому, что в спектроскопии высокого разрешения, т. е. в спектроскопии газовых лазеров, он — единственный прибор, обеспечивающий необходимое разрешение. Но при быстрых спектральных наблюдениях лучше всего пользоваться призменным спектрометром. А для точных измерений длин волн больше всего подходит метровый монохроматор Черни—Тернера с плоской дифракционной решеткой. Он особенно выгоден тогда, когда требуется разрешить вранхательные линии в излучении инфракрасных молекулярных лазеров. [c.334]

Обработка фотографий, полученных при помош,и эталона Фабри — Перо, — дело довольно утомительное. Если фотографий много, то лучше всего воспользоваться счетной машиной. Длину волны определяют, измеряя диаметры колец в интерферограм-ме. По этим данным можно вычислить е — дробную часть номера порядка при угле 0 = О (т. е. в месте, соответствуюш,ем центру интерференционной картины). Величину г обычно находят с точностью 10 . Целую часть номера порядка определяют по данным менее точных измерений неизвестной длины волны. Это можно сделать при помош,и либо дифракционной решетки, либо эталона Фабри — Перо с меньшим расстоянием между зеркалами. Целую часть номера порядка р добавляют к измеренной дробной части, получая правильный номер порядка /7 + 8 с точностью (величина р 10 известна с ну- [c.356]

Дисперсиош1ая область. Для дифракционной решетки она определяется так же, как в-случае интерферометра Фабри Перо (см. 28), и находится ш формуле (28.34). У дифракционной решетки обычно наблюдаются спектры низких порядков (т = , 2, 3,. ..), поэтому дисперсионная область оказывается очень большей (ДХ =Х, АХ = X/Z АХ = Х/3). В частносп в первом порядке дисперсионная область решетки совпадает со всем видимым спектром. [c.226]

Высокая разрешающая способность достигается как в интерферометрах Фабри—Перо и Майкельсона (порядка 10 ), так и в дифракционных решетках (порядка 10 ) й в других интерферометрах. Однако такая высокая разрешающая способность в них достигается за счет различных факторор. В интерферометре Фабри—Перо и Майкельсона она достигается за счет высоких порядков интерференции (порядка 10 ) при сравнительно небольшом числе интерферирующих лучей (несколько десятков в интерферометре Фабри—Перо и два луча в интерферометре Майкельсона), а в дифракционной решетке — за счет большого числа интерферирующих лучей (порядка 10 ) при малом порядке интерференции (несколько единиц). Благодаря этому дисперсионная область очень мала у интерферометра Фабри —Перо (порядка 10" нм) и интерферометра Майкельсона (порядка 10 нм) и очень велика у дифракционной решетки (порядка 10 нм). Поэтому если исследуемое излучение имеет большую дисперсионную область, а его необходимо исследовать с помощью приборов высокого разрешения с малой дисперсионной областью, то приходится комбинировать Между qoбoй различные спектральные аппараты. При этом пб лучаются одновременно и широкая дисперсионная область и большое разрешение. [c.231]

Спектральные аппарать должны обеспечивать возможность работы со слабыми интенсивностями исследуемого излучения. В этом отношении интерферометр Фабри—Перо существенно превосходит дифракционную решетку, особенно если пользоваться фотоэлектрической регистрацией в схеме сканирующего интерферометра Фабри—Перо. Разрешающая способность в Фурье-спектроскопии определяется максимальной разностью хода, которая может быть обеспечена механизмом подвижного зеркал , и достигает больших значений. [c.231]

Обратить внимание на различие спектральных приборов по параметру — это сделать лишь первый шаг. увеличение светосилы на два порядка при переходе от классического монохроматора с дифракционной решеткой к сисаму, говорят обычно, связано с использованием в сисаме интерференции. Эти же слова относятся и к интерферометру Фабри—Перо, и к фурье-снектрометру. Объясняют ли они причины увеличения геометрического фактора И да, и нет нет, если обращать внимание только на переход к использованию интерферометров в качестве диспергирующего устройства да, если более внимательно разобраться в тех процессах, которые наблюдаются в интерферометрах. [c.118]

Создан макетный образец инфракрасного лазерного спектрометра ИКЛС на основе полупроводниковых диодных лазеров (ПДЛ) с перестраиваемой длиной волны [6]. Оптическая схема ИКЛС показана на рис. 13. Прибор построен на базе многоцелевого спектрометра ИСМ-1 и имеет в своем комплекте дополнительные блоки приставки отражения (пропускания) с переменными углами падения и многоходовую газовую кювету. Монохроматор осуществляет разделение мод ПДЛ, а также измерение длин волн с погрешностью 0,05 % от номинала. При этом точное измерение длин волн с погрешностью, близкой к разрешающей способности спектрометра (определяемой ПДЛ), осуществляется с помощью эталонов Фабри—Перо и спектров известных объектов. В одномодовом режиме ПДЛ можно исключить монохроматор из схемы прибора, заменив дифракционную решетку плоским зеркалом или состыковав блок осветителя непосредственно с блоком приемной камеры. [c.215]

Интерферометр Фабри — Перо проще в обращении и обеспечивает более высокую разрешающую силу, чем приборы с большими дифракционными решетками. Основной его недостаток — малая величина свободной области дисперсии. Система из двух последовательных интерферометров, толщины которых находятся в простом кратном отношении (мультиплекс), имеет область дисперсии, ха- [c.326]

Па рис. 3.8 изображена конкретная схема, часто применяемая с теми или иными вариациями. Па ее примере можно уяснить роль дис-персиоппых элементов в резонаторе. Изображенное на схеме устройство состоит из зеркала 1, кюветы 2 с раствором красителя, накачиваемого через стенку кюветы, согласующего телескопа 5, эталона Фабри-Перо 4, дифракционной решетки 5, работающей в автоколли-мационном режиме. Иногда используют пе поперечную, как показано на схеме, а продольную накачку, когда излучение накачки вводится в активную среду примерно вдоль рабочего пучка это, в принципе, несущественно для исследования резонатора. [c.184]

Таким образом, эталон Фабри-Перо позволяет выделить одну продольную моду. Роль решетки или призмы нри этом сводится к тому, чтобы воспрепятствовать возникновению генерации на других максимумах пропускания эталона. Требования к дисперсиоппым свойствам решетки и призмы в этом случае снижаются, необходимо лишь выполнение условия [c.187]

Имеется импульсный лазер на красителе, в котором для настройки используется дифракционная решетка. Рассчитайте параметры твердотельного эталона Фабри — Перо, который сужает линию лазера до 100 МГц. Ширина полосы генерации без эталона равна 2 ГГц. Вычислите угол, на который следует повернуть эталон, чтобы просканировать интервал 2 ГГц. [c.573]

СДВИГОВ уровней энергии атомов, изучение вакуумных эффектов, исследование тонкой структуры линий рэлеевского рассеяния и др. К спектроскопам высокой разрешающей силы относятся ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) отражательный эшелон, пластина с боковым входом луча (пластина Люммера—Герке) интерферометр (пластина) Фабри —Перо и сложный интерферометр-мультиплекс (на основе последнего прибора). [c.448]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...