Аппаратная функция форма

Аппаратурные искажения спектрометра учитываются с помощью аппаратной функции А (V), которая задает некоторое распределение интенсивности в спектре, если на вход спектрометра падает идеально монохроматическое излучение. Если же в спектрометр попадает излучение с некоторым распределением интенсивности по спектру ф(м), то наблюдаемая форма контура спектральной линии такого излучения будет определяться интегралом (сверткой) вида [c.122]

Для нахождения истинного контура линии комбинационного рассеяния фк(v) необходимо решить написанные выше интегральные уравнения. Анализ показывает, что для поставленной задачи не обязательно знать трудно определяемые истинные контуры аппаратной функции и возбуждающей линии. Достаточно измерить наблюдаемые контуры комбинационной и возбуждающей линий, чтобы по ним определить истинный контур линии комбинационного рассеяния. Например, в частном случае, если наблюдаемые контуры комбинационной и возбуждающей линий имеют дисперсионную форму [c.123]

Рис. 65. Аппаратные функции 1 — треугольная, /а — дифракционная, /з —гауссова. Формы полос поглощения >1 — дисперсионная, Да —гауссова

Форма аппаратной функции реального спектрального прибора определяется рядом факторов, действующих одновременно конечной шириной щели, аберрациями, дифракцией, различного рода дефектами оптических деталей, фотослоем (при фотографической регистрации). Но спектральные приборы часто используются [c.45]

Попытка оценки спектра с помощью решения уравнения (4) — это решение задачи в лоб . При таком подходе используется только одна часть имеющейся в нашем распоряжении информации—ферма аппаратной функции прибора. В рассмотренных выше задачах количество априорной информации было значительно больше. В критерии Рэлея мы использовали I) форму аппаратной функции 2) дискретность спектра 3) равенство спектральной плотности яркости линий источника. Вопрос сводился, таким образом, к оценке единственного параметра-— расстояния между максимумами. Во втором примере (см. рис. 4, а) необходимо было оценить уже два параметра — расстояние и соотношение яркостей. [c.12]

С разных позиций подходя к вопросу об увеличении точности анализа спектра, мы приходим к выводу, что помимо традиционных требований об уменьшении ширины аппаратной функции и уменьшении ошибки измерения интенсивности, имеется еще один важный параметр спектрометра — величина побочных, максимумов аппаратной функции. Необходимо каким-то образом воздействовать на ее форму с тем, чтобы спад от центрального пика происходил либо монотонно, либо чтобы вторичные-максимумы были как можно меньше. Задача эта имеет значение не только в спектроскопии, но также и во всех случаях,, когда возникает проблема выделения слабого компонента изображения или какого-либо сигнала на фоне сильного. [c.14]

Попытаемся применить изученные нами методы воздействия на Рис. 28. форму аппаратной функции к [c.42]

Аппаратная функция кг (а) (см. (62)) требует аподизации. Мы видели, что й] является фурье-образом весовой функции интерферограммы. Следовательно, видоизменяя весовую функцию В(х), мы можем изменять и форму аппаратной функции. В качестве Н(х) может быть взята, наприме р, любая из функций, приведенных в табл. 1. Небольшая потеря в разрешающей способности окупается уменьшением величины побочных максимумов. [c.100]

Отметим, что при работе с фурье-спектрометром у нас появляется достаточно много возможностей для произвольной модификации формы И1(х). В самом деле, интерферограмма при измерениях может быть получена без аподизации и зафиксирована в памяти ЭВМ. Умножение ее яа весовую функцию мэж-но произвести на следующем этапе — перед выполнением фурье-преобразования. Можно поступить и иначе, найдя спектр без аподизации, затем осуществить свертку его с подходящей по форме аппаратной функцией. [c.100]

ВЛИЯНИЕ СИСТЕМАТИЧЕСКИХ ОШИБОК НА ФОРМУ АППАРАТНОЙ ФУНКЦИИ [c.106]

Идеальная интерферограмма предполагается бесконечно протяжённой, при этом разрешающая сила Ф.-с. была бы бесконечно велика. Целый ряд факторов, однако, ограничивает достижимое разрешение конечные пределы ме-ханич. перемещения зеркала Л/г, возможности цифровой регистрации и обработки интерферограммы, неидеаль-ность оптич. системы и др. Как правило, форма и ширина аппаратной функции Ф.-с. определяются пределом измеие- [c.389]

Отметим, что прп ширинах щелей, близких к нормальной ( 1 %о), аппаратная функция имеет форму, промежуточную между дифракционной и щелевой, п ее трудно аппрокспмпровать простым аналитическим выражением. [c.47]

Распределение освещенности в спектральной линпи зависит от формы аппаратной функции. Рассмотрим сначала случай широкой входной щели (sj s ) п безаберрацпоиной фокусирующей оптики, т. е. случай чисто щелевой аппаратной функции (1.48) с шириной = S. Будем также считать, что яркость постоянна по ширине п высоте входной щелп. Поскольку в нашем случае (см. рпс. 1.29) на щель отображается источник при условии иолного заполнения коллиматора, то это соответствует некогерентному освещению щели. [c.55]

Но если истинный коитур имеет гауссовскую форму, а аппаратная функция — дисперсионную форму (или наоборот), то интеграл [c.101]

Из рис. 1.52 видно, что для большинства приведенных комбинаций форм истинных контуров и аппаратных функций (за исклю-чеппем дисперсионная — дисперспон)1ая, кривая 7, и экспоненциальная — дисперсионная, кривая 8) при а у < 0,2 аппаратурные искажения невелики (З/7 > 0,9 и / (0)/со (0) > 0,9. [c.101]

Рассмотрим практически важный случай систематических искажений спектральных линий при работе с широкой щелью, ширина которой миого больше нормальной ширины (5 > о)- т. е. случаи чпсто щелевой аппаратной функции. Щелевая аппаратная функция. как уже отмечалось, имеет форму прямоугольника (см. рис. 1.24.а) с шириной основания 5о и описывается уравнениями (1.48). Входящий во второе из них коэффициент А находится пз ус.ловия нормировкп (1.103) [c.101]

Поскольку расчет . с аппаратной функцией в форме к])ивой Гаусса проще, чем с тругольной. то на практике часто за аппаратную функцию монохроматора принимают функцию Гаусса с указанными выше параметрами. [c.110]

Д и Ту в ряде случаев хмогут оказаться соизмеримыми. При этом регистрируемая кривая содержит значительные инерционные искажения, а ее форма описывается уравнением свертки (1.118). которое прп аппаратной функции (1.119) имеет вид [c.112]

Определим теперь разрешающую способность прибора с линейным растром Жирара. Поскольку соотношение (24) не совпадает по форме с аппаратной функцией дифракционно-ограничен-ного спектрО метра, необходимо найти какую-то замену критерию Рэлея. Можно поставить условие существования провала до 20% в суммарном контуре, образующемся при действии на входе растрового монохроматора двух линий равной интенсивности. Такой метод использован, в- 1астности, в книге К. И. Тарасова [1]. Однако значительно проще с математической точки зрения считать линии разрешенными, если положение главного максимума одной из них совпадает с первым нулем второй. Различие в результатах, вычисленных этими двумя способами, составляет около 30% и не играет существенной роли в рамках тех приближенных методов, которыми мы пользуемся. [c.41]

До сих пOip, говоря о виде аппаратной функции растрового спектрометра, мы не принимали во внимание постоянную составляющую в формуле (22), обусловленную тем, что среднее дро-пускание растра отлично от нуля. В результате воздействия этой составляющей аппаратный контур состоит из двух частей. Помимо контура Ао имеется еще один, форма которого совпадает с формой аппаратной функции монохроматора со щелью, ширина которой равна ширине растра. Складываясь, эти контуры дают аппаратную флшкцию, приближенно показанную на рис. 33. Основной интерес для нас представляет узкая часть контура. Длинные крылья, превосходящие по величине, как это видно из формулы (22), узкий компонент, хотелось бы подавить. Сделать [c.47]

Получается картина, аналогичная образованию полос муара, но меняется здесь не амплитуда прошедшей волны, а состояние ее поляризации. Дешифровка образовавшейся в выходной фокальной плоскости интерференционной картины осуществляется путем вращения выходного поляризатора. При бх = 0 модулируется весь световой поток. Увеличение бх приводит к тому, что в пределах растра появляются зоны с эллиптической поляризацией излучения, а также противофазной поляризацией. В итоге средняя глубина модуляции уменьшается. Поскольку соотношение (31) вполне аналогично формуле (23), становится очевидным, что при прямоугольной форме кодирующих поляризационных пластин мы получим аппаратную функцию, аналогичную растровому спектрометру. Для круглых пластин аппаратная функция будет несколько шире, но побочные максимумы будут спадать быстрее, т. е. контур будет аподизи-рован. [c.54]

Из изложенного выше видно, что аппаратная функция сисама имеет следующую форму [c.66]

Смотреть страницы где упоминается термин Аппаратная функция форма : [c.164] [c.165] [c.166] [c.607] [c.611] [c.42] [c.42] [c.45] [c.46] [c.47] [c.58] [c.70] [c.97] [c.98] [c.109] [c.109] [c.169] [c.256] [c.389] [c.390] [c.431] [c.120] [c.13] [c.14] [c.26] [c.31] [c.49] [c.69] [c.69]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...