Фабри —Перо дифракционная решетка

В качестве примера найдем дисперсию дифракционной решетки, призмы п интерферометра Фабри — Перо. [c.192]

Формула (50.4) показывает, что разрешающая способность спектрального аппарата равна произведению порядка спектра т на число световых пучков, интерферирующих в приборе. Число это для дифракционной решетки равно числу штрихов для пластинки Люм-мера—Герке или Фабри—Перо можно условно считать число N равным числу отраженных световых пучков значительной интенсивности (число эффективных лучей), которое тем больше, чем больше коэффициент отражения Я (см. 30). Для интерферометра Майкельсона Л/ = 2 для эшелона Майкельсона N равно числу пластин и т. д. [c.216]

Небольшая спектральная ширина насыщенной области линии обусловливает применение спектральной аппаратуры с большой разрешающей способностью, например спектрографов с дифракционной решеткой. Весьма перспективным представляется применение эталона Фабри — Перо. Подобрав соответствующим образом параметры эталона , можно получить от данной спектральной линии достаточно большое центральное пятно интерференционной картины. Круглая диафрагма позволяет вырезать из этого пятна центральную область, соответствующую насыщенному излучению центра линии. Интенсивность выделенного таким образом насыщенного излучения линии измеряется с помощью какого-либо фотоэлектрического фотометра. [c.419]

Рис. 6.34. Схема экспериментальной установки для измерения временного поведения фазы пикосекундных импульсов методом динамической интерферометрии 1 — волоконный световод, 2 — дифракционная решетка, 3 — призма решеточного компрессора, 4 — линия регулируемой оптической задержки, 5 — интерферометр Маха — Цандера, 6 — эталон Фабри — Перо, 7 — коррелятор для измерения кросс-корреляционной функции динамической интерферограммы и сжатого импульса [М]

Производительность измерений 16 Радиационная термометрия 12, 13, 199 Разность хода пучков 26 Разнотолщинность 29 Разрешающая способность 103 Резонансы Фабри-Перо 26, 37, 132 Решетка дифракционная 93 Свободные носители заряда 13, 81, 84, 165 [c.221]

Разрешающая способность. Для дифракционной решетки она определяется так же, как и в случае интерферометра Фабри — Перо (см. 28), однако в качестве условия разрешения линий принимается условие Рэлея линии считаются разрешенным-и, если максимум интенсивности одной попадает на минимум интенсивности другой. [c.226]

Для решения задач, связанных с изучением спектров, требуется применение спектральных приборов с высоким пределом разрешения. К числу таких приборов относятся большие дифракционные решетки, эшелон Майкельсона, интерферометр Фабри — Перо и др. [c.46]

Большое число когерентных световых пучков может возникнуть в результате дифракции при прохождении плоской волны через экран с одинаковыми регулярно расположенными отверстиями (метод деления волнового фронта). Распределение интенсивности в такой многолучевой интерференционной картине будет рассмотрено в 6.5 на примере дифракционной решетки. Здесь мы изучим интерференцию при многократных отражениях света от двух параллельных поверхностей (метод деления амплитуды). На этом принципе действует интерферометр Фабри—Перо, широко используемый в спектроскопии высокого разрешения и в метрологии. Он может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластины, на обе поверхности которой нанесены отражающие слои, либо в виде двух пластин, у которых покрытые отражающими слоями плоскости установлены строго параллельно друг другу и разделены воздушным промежутком. [c.256]

Рис. 3.8. Резонатор лазера на красителе 1 — излучение накачки 2 — кювета с раствором красителя 3 — телескоп 4 — эталон Фабри-Перо 5 — дифракционная решетка 6 — отражаюш ее зеркало

К числу приборов, использующих принцип многолучевой интерференции, можно отнести интерференционные светофильтры, интерферометр Фабри—Перо, резонаторы лазеров, дифракционные решетки и др. [c.135]

Интерферометр Фабри—Перо Я расположен после выходной щели дифракционного монохроматора и для получения максимальной светосилы работает в параллельных лучах. Монохроматор, построенный на основе плоской дифракционной решетки О, имеющей 1200 штр/мм и работающей во втором порядке, служит для выделения нужного участка спектра. [c.503]

Ф. А. Королевым и В. И. Гридневым был предложен оригинальный вариант интерферометра Фабри—Перо с отражателями, представляющими собой дифракционные решетки. Такие интерферометры применяются для длинноволновой инфракрасной области спектра и для миллиметрового диапазона длин волн. Дело в том, что в этих областях спектра практически отсутствуют подходящие материалы для изготовления полупрозрачных покрытий. В качестве таких отражателей можно использовать дифракционные зеркала . Они представляют собой тонкие металлические пленки серебра (толщиной 20—30 нм), нанесенные испарением в вакууме на кварцевые или другие подложки. В этих металлических слоях с помощью резца наносятся прозрачные штрихи. Прозрачные штрихи обеспечивают необходимое пропускание, а отражение от непрозрачных частей решетки оказывается вполне достаточным для обеспечения нужных характеристик интерферометра. [c.131]

На рис. 22.7 представлена схема двухканального интерференционного спектрометра. Интерферометр Фабри—Перо расположен после выходной щели дифракционного монохроматора и для получения максимальной светосилы работает в параллельных лучах. Монохроматор, построенный на основе плоской дифракционной решетки О, имеющей 1200 штрих/мм и работающей во втором порядке, служит для выделения нужного участка спектра. [c.178]

ЛО совместное применение спектрометра с дифракционной решеткой и интерферометра Фабри — Перо такое комбинированное устройство мы рассмотрим в конце следующей главы. [c.450]

Другим способом управления частотой является введение внутрь резонатора диспергирующего элемента [50] в виде сочетания призмы и эталона (рис. 7.40) или замена одного из зеркал резонатора дифракционной решеткой или стопой эталонов высокой резкости, образующей так называемый резонансный отражатель. Широко используется также метод ввода в резонатор эталона Фабри — Перо (см. следующий раздел), развернутого на небольшой угол. Отражательная способность составного зеркала из наклонного эталона и примыкающего к нему глухого зеркала соответствует кривой пропускания простого резонатора Фабри — Перо с большой областью дисперсии. Максимум отражения составного зеркала достигается изменением угла наклона эталона. Генерация в резонаторе будет происходить на частоте, соответствующей минимуму пропускания эталона. [c.556]

Фабри — Перо зависит от нескольких факторов. Однако при любых обстоятельствах она является идеально симметричной в противоположность асимметричной форме аппаратной функции спектрометров с дифракционной решеткой. Благодаря этой симметричности интерферометры Фабри — Перо удобно использовать для проведения точных измерений асимметрии линий, излучаемых астрономическими объектами, откуда можно получить данные о гидродинамических условиях на поверхности этих объектов. [c.569]

Резонаторы с дисперсионными элементами. Весьма эффективный способ сужения спектра лазерной генерации основан на использовании в лазерном резонаторе элементов, коэффициенты пропускания которых характеризуются резко выраженными зависимостями от частоты световых колебаний. Чаще всего в роли таких элементов используются дифракционные решетки и наклонные интерферометры Фабри-Перо. Па рис. 2.2.11, Изображен лазер, резонатор которого содержит такие элементы. Дифракционная решетка в нем одновременно выполняет функции резонаторного зеркала. Наличие в резонаторе наклонного интерферометра позволяет дополнительно сузить спектральный интервал, выделяемый дифракционной решеткой. Достоинством приведенной схемы является возможность простым вращением решетки перестраивать частоту генерации лазера. [c.82]

Опыт. Полосы Фабри — Перо в оконном стекле. Для этого опыта необходим широкий, почти монохроматичный источник света. Наиболее дешевым и простым в обращении источником такого типа является стандартная неоновая лам- Па 120 или 220 в, ввинчивающаяся в обычный патрон. Лампы такого типа используют электромонтеры для проверки напряжения в сети. При работе лампы возникает круглый диск светящегося неона диаметром около 2,5 см. Включите лампу и посмотрите на нее через дифракционную решетку, расположенную близко к глазу. В спектре первого порядка, который виден под углом 15—20° относительно центрального оранжевого изображения источника, вы сможете увидеть по крайней мере три ярких изображения источника зеленое, оранжевое и красное. (В действительности каждое из этих изображений состоит из большого числа ярких линий.) Наблюдаемые виртуальные источники четки и не размазаны, что указывает на Монохроматичность каждого отдельного изображения (в пределах, конечно, [c.237]

В тех случаях, когда требуется высокое спектральное разрешение, выбор обычно делается между интерферометром Фабри—Перо и монохроматором на дифракционных решетках [26]. Из них эталон Фабри — Перо обычно оказывается менее дорогостоящим и обладает более высокой разрешающей и пропускной способностью. Действительно, интерферометр Фабри — Перо был бы идеальным прибором во многих случаях, если бы не его основной недостаток — множество перекрывающихся по- [c.250]

Для перестройки и сужения спектра генерации в лазерах на красителях используются дисперсионные светофильтры и призмы, интерферометры Фабри — Перо, дифракционные решетки, а также селективные элементы, работающие на принципе распределенной обратной связи. В РОС-лазерах обратная связь осуществляется за счет брэгговского отражения излучения от периодической структуры, возникающей в акгизной среде в результате модуляции ее показателя преломления. Введение одного селектирующего элемента сужает спектр генерации примерно до 1 нм без существенного снижения выходной мощности. Получение более узких линий достигается за счет комбинации нескольких селекторов и сопряжено со значительными потерями выходной мощности. [c.957]

В настоящей главе рассмотрено действие некоторых спектральных аппаратов (дифракционная решетка, эшелон Майкельсона), позволяющих определять с очень большой точностью длины волн или разницу в длинах волн двух близких спектральных линий. Аналогичную задачу можно решить и при помощи интерференционных спе.ктроскопов (пластинка Лю.ммера—Герке, интерферометр Майкельсона, интерферометр или эталон Фабри—Перо), описанных в гл. VII. [c.211]

Можно сделать неправильный вывод, что интерферометр Фабри—Перо — самый лучший прибор для лазерной спектроскопии, хотя бы потому, что в спектроскопии высокого разрешения, т. е. в спектроскопии газовых лазеров, он — единственный прибор, обеспечивающий необходимое разрешение. Но при быстрых спектральных наблюдениях лучше всего пользоваться призменным спектрометром. А для точных измерений длин волн больше всего подходит метровый монохроматор Черни—Тернера с плоской дифракционной решеткой. Он особенно выгоден тогда, когда требуется разрешить вранхательные линии в излучении инфракрасных молекулярных лазеров. [c.334]

Обработка фотографий, полученных при помош,и эталона Фабри — Перо, — дело довольно утомительное. Если фотографий много, то лучше всего воспользоваться счетной машиной. Длину волны определяют, измеряя диаметры колец в интерферограм-ме. По этим данным можно вычислить е — дробную часть номера порядка при угле 0 = О (т. е. в месте, соответствуюш,ем центру интерференционной картины). Величину г обычно находят с точностью 10 . Целую часть номера порядка определяют по данным менее точных измерений неизвестной длины волны. Это можно сделать при помош,и либо дифракционной решетки, либо эталона Фабри — Перо с меньшим расстоянием между зеркалами. Целую часть номера порядка р добавляют к измеренной дробной части, получая правильный номер порядка /7 + 8 с точностью (величина р 10 известна с ну- [c.356]

Дисперсиош1ая область. Для дифракционной решетки она определяется так же, как в-случае интерферометра Фабри Перо (см. 28), и находится ш формуле (28.34). У дифракционной решетки обычно наблюдаются спектры низких порядков (т = , 2, 3,. ..), поэтому дисперсионная область оказывается очень большей (ДХ =Х, АХ = X/Z АХ = Х/3). В частносп в первом порядке дисперсионная область решетки совпадает со всем видимым спектром. [c.226]

Высокая разрешающая способность достигается как в интерферометрах Фабри—Перо и Майкельсона (порядка 10 ), так и в дифракционных решетках (порядка 10 ) й в других интерферометрах. Однако такая высокая разрешающая способность в них достигается за счет различных факторор. В интерферометре Фабри—Перо и Майкельсона она достигается за счет высоких порядков интерференции (порядка 10 ) при сравнительно небольшом числе интерферирующих лучей (несколько десятков в интерферометре Фабри—Перо и два луча в интерферометре Майкельсона), а в дифракционной решетке — за счет большого числа интерферирующих лучей (порядка 10 ) при малом порядке интерференции (несколько единиц). Благодаря этому дисперсионная область очень мала у интерферометра Фабри —Перо (порядка 10" нм) и интерферометра Майкельсона (порядка 10 нм) и очень велика у дифракционной решетки (порядка 10 нм). Поэтому если исследуемое излучение имеет большую дисперсионную область, а его необходимо исследовать с помощью приборов высокого разрешения с малой дисперсионной областью, то приходится комбинировать Между qoбoй различные спектральные аппараты. При этом пб лучаются одновременно и широкая дисперсионная область и большое разрешение. [c.231]

Спектральные аппарать должны обеспечивать возможность работы со слабыми интенсивностями исследуемого излучения. В этом отношении интерферометр Фабри—Перо существенно превосходит дифракционную решетку, особенно если пользоваться фотоэлектрической регистрацией в схеме сканирующего интерферометра Фабри—Перо. Разрешающая способность в Фурье-спектроскопии определяется максимальной разностью хода, которая может быть обеспечена механизмом подвижного зеркал , и достигает больших значений. [c.231]

Обратить внимание на различие спектральных приборов по параметру — это сделать лишь первый шаг. увеличение светосилы на два порядка при переходе от классического монохроматора с дифракционной решеткой к сисаму, говорят обычно, связано с использованием в сисаме интерференции. Эти же слова относятся и к интерферометру Фабри—Перо, и к фурье-снектрометру. Объясняют ли они причины увеличения геометрического фактора И да, и нет нет, если обращать внимание только на переход к использованию интерферометров в качестве диспергирующего устройства да, если более внимательно разобраться в тех процессах, которые наблюдаются в интерферометрах. [c.118]

Эталонного спектроинтерферометра, состоящего из спектрометра со сменными дифракционными решетками, обеспечивающими измерение длин световых волн в пределах 3000—200 нм, интерферометра Фабри и Перо и фотоэлектрического регистрирующего устройства. [c.49]

Создан макетный образец инфракрасного лазерного спектрометра ИКЛС на основе полупроводниковых диодных лазеров (ПДЛ) с перестраиваемой длиной волны [6]. Оптическая схема ИКЛС показана на рис. 13. Прибор построен на базе многоцелевого спектрометра ИСМ-1 и имеет в своем комплекте дополнительные блоки приставки отражения (пропускания) с переменными углами падения и многоходовую газовую кювету. Монохроматор осуществляет разделение мод ПДЛ, а также измерение длин волн с погрешностью 0,05 % от номинала. При этом точное измерение длин волн с погрешностью, близкой к разрешающей способности спектрометра (определяемой ПДЛ), осуществляется с помощью эталонов Фабри—Перо и спектров известных объектов. В одномодовом режиме ПДЛ можно исключить монохроматор из схемы прибора, заменив дифракционную решетку плоским зеркалом или состыковав блок осветителя непосредственно с блоком приемной камеры. [c.215]

Интерферометр Фабри — Перо проще в обращении и обеспечивает более высокую разрешающую силу, чем приборы с большими дифракционными решетками. Основной его недостаток — малая величина свободной области дисперсии. Система из двух последовательных интерферометров, толщины которых находятся в простом кратном отношении (мультиплекс), имеет область дисперсии, ха- [c.326]

Па рис. 3.8 изображена конкретная схема, часто применяемая с теми или иными вариациями. Па ее примере можно уяснить роль дис-персиоппых элементов в резонаторе. Изображенное на схеме устройство состоит из зеркала 1, кюветы 2 с раствором красителя, накачиваемого через стенку кюветы, согласующего телескопа 5, эталона Фабри-Перо 4, дифракционной решетки 5, работающей в автоколли-мационном режиме. Иногда используют пе поперечную, как показано на схеме, а продольную накачку, когда излучение накачки вводится в активную среду примерно вдоль рабочего пучка это, в принципе, несущественно для исследования резонатора. [c.184]

Имеется импульсный лазер на красителе, в котором для настройки используется дифракционная решетка. Рассчитайте параметры твердотельного эталона Фабри — Перо, который сужает линию лазера до 100 МГц. Ширина полосы генерации без эталона равна 2 ГГц. Вычислите угол, на который следует повернуть эталон, чтобы просканировать интервал 2 ГГц. [c.573]

Диспергирующими элементами служат спектральные призмы, действие к-рых основано на явлении дисперсии света, а также интерференционные приборы дифракционные решетки, Люм.мера — Герке пластинки, Майкельсона эшелон, Интерферо,нетр Фабри — Перо), действие к-рых основано на интерференции когерентных лучей, образующихся в этих приборах (см. также Интерферометр, Интерференционные спектроскопы). В зависимости от типа применяемого диснергирующего элемента различают призменные, дифракционные и интерференционные С. п. [c.9]

Селективный резонатор — это резонатор, внутри кото-poro наряду с активной средой находится спектрально-селективный элемент. В качестве таких элементов используют спектральные светофильтры, интерферометры Фабри—Перо, дисперсионные призмы, дифракционные решетки. [c.39]

И Стойчевым [244] использована установка с дифракционной решеткой. Вогнутая дифракционная решетка имела фокусное расстояние 10,67 м (35 футов) и устанавливалась по схеме Игла [238, 244]. Линейная дисперсия составляла 0,22 К мм (3,5 см мм в области 2500 А), а разрешаюш ая сила около 300 ООО. Более проста и совершенна установка с интерферометром Фабри — Перо, в которой в качестве источника света используется лазер. [c.186]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...