Интерференция в пластинках

Явления интерференции в пластинках используются в различных схемах интерферометра. Примеры интерференционных схем даны на рис. 8 [36] [c.25]

Интерференция в сходящихся пучках — коноскопические картины. Для анализа анизотропных свойств объектов необходимо кроме наблюдения интерференционных явлений в параллельных пучках использовать коноскопические картины, т. е. результаты интерференции в сходящихся пучках. Кроме того,, для расчета многих поляризационных устройств необходимо знать зависимость результата интерференций от угла падения луча на анизотропную пластинку. В частности, вид коноскопической картины определяет форму и размер источника света в поляризационных интерферометрах, например, в интерференционно-поляризационном фильтре. Рассмотрим формирование коноскопической картины при интерференции в пластинке одноосного кристалла, вырезанной произвольным образом по [c.279]

Действие интерференционных светофильтров основано на явлении интерференции в пластинках или тонких пленках. [c.263]

Рис. 14.31. к теории интерференции в пластинках поглощающих двухосных кристаллов. [c.659]

Метод Линника. Перед точечным источником 5 (рис. 4.15) расположен полупрозрачный экран с небольшим отверстием в центре экрана. Полупрозрачная пластинка пропускает фронт падающей на нее волны, несколько ослабляя ее, без искажения. Отверстие 5 , согласно принципу Гюйгенса, играет роль вторичного излучения с центром в нем. Оба фронта волны от источников S и 5i, встречаясь, дают картину интерференции. В отличие от всех предыдущих случаев в последней схеме, предложенной в 1935 г. советским ученым В. П, Линником, когерентные источники не лежат на пря- [c.84]

Случай 1. Положим, что в интерферометр Майкельсона направляется свет от точечного источника (из точки S на рис. 4.20), излучающего монохроматический свет длиной волны X. При незначительном наклоне зеркала 3 относительно 3i наблюдаются полосы равной толщины от слоя воздуха переменной толщины, заключенного между зеркалом 3i и изображением зеркала За в пластинке П. Очевидно, что интенсивность, обусловленная интерференцией лучей, исходящих от некоторой толщины / воздушного слоя, равна [c.90]

Лучи 1 W 2 после отражении от зеркал 3i и 3.2 выходят из пластинки Пу и направляются в зрительную трубу 7. Как видно из рис. 5.19, луч 1 проходит через пластинку III один раз, в то время как луч 2 проходит через нее три раза. С целью создания идентичных условий для обоих лучей на пути луча / помещают пластинку Яа, имеющую такую же толщину, как и пластинка Я]. От воздушной прослойки, образованной зеркалом 3i и изображением 3i зеркала З. , в пластинке Я наблюдается интерференционная картина. В зависимости от относительного положения 3i и З.2 будет наблюдаться интерференция полос равного наклона или равной толщины. Если 3 строго перпендикулярно 3i, то 3 и З-2 будут строго параллельны. В этом случае будут наблюдаться [c.112]

Наибольший интерес представляют собой случаи локализации интерференционных полос на поверхности какой-либо пластинки, используемой для создания разности хода (полосы равной толщины), и локализация их в бесконечности (полосы равного наклона). Удобно начать изучение этих явлений с исследования интерференции в тонких пластинах при освещении протяженными источниками света, которую часто называют цветами тонких пластин. Все наблюдали чрезвычайно красивые цвета тонких пленок (например, пленок нефти на поверхности воды) при освещении их солнечным светом. Рассмотрим физику этих явлений, так как она окажется очень полезной для понимания более сложных процессов, происходящих в интерферометрах, интерференционных фильтрах и других оптических устройствах. [c.210]

Изложенное относительно способа наблюдения интерференции в тонкой пластинке при помощи линзы верно и при наблюдении при помощи другой оптической системы, например трубы, или просто невооруженным глазом. Следует только иметь в виду, что при наблюдении глазом мы используем обычно гораздо более узкие пучки, чем при проектировании линзой (диаметр человеческого зрачка — около 3—5 мм). Это означает, что работает небольшой участок источ- [c.124]

Интерференция в плоскопараллельных пластинках. [c.128]

Наблюдаемая интерференционная картина будет, очевидно, соответствовать интерференции в воздушном слое, образованном зеркалом 8 и мнимым изображением зеркала 5х в пластинке Р . Если Ах и Аа расположены так, что упомянутый воздушный слой плоскопараллелен, то получающаяся интерференционная картина представится полосами равного наклона (круговыми кольцами), локализованными в бесконечности, и следовательно, наблюдение [c.134]

Полосы разного порядка в пластинке Люммера — Герке располагаются по обе стороны пластинки. 1) Где лежат полосы высших порядков 2) Как зависит ширина полосы от порядка интерференции, от длины волны, от толщины пластинки [c.872]

В выражение разности хода световых пучков в плоскопараллельной пластинке входят три параметра, а именно п, г и rf. В зависимости от изменения этих параметров применяют явление интерференции в метрологии. Изменение показателя преломления п важно для исследования оптических свойств среды, изменение же / и с важно для линейных измерений. [c.24]

При рассмотрении интерференции в плоских пластинах до сих пор были приняты во внимание только два луча либо луч, отраженный от первой поверхности, и луч, отраженный от второй поверхности, либо луч, прошедший через пластинку без отражения, и луч, отраженный от второй поверхности, затем от первой и прошедший через пластинку. В действительности в пластинке лучи могут отражаться дважды, трижды, четырежды и т. д. — много раз, особенно, если пластинка достаточно велика и падение луча близко к нормальному. В обычной стеклянной пластинке уже после второго отражения поток энергии настолько слаб, что практически влиянием многократных отражений пренебрегают. Иная картина получается, если поверхности, ограничивающие плоскопараллельную пластинку, обладают высоким коэффициентом отражения. Тогда влияние многократных отражений делается заметным как в проходящем через пластинку свете, так и в отраженном. Причем следует подчеркнуть, что расстояние между полосами и разность хода между соседней парой лучей остаются прежними и только сильно меняется распределение энергии (интенсивность) в интерференционной картине. Если для двухлучевой интерференции это распределение соответствовало обычному закону при суперпозиции дву < волн, т. е. [c.29]

Явление интерференции в плоских воздушных пластинках , как уже упоминалось, лежит в основе и двухлучевого интерферометра Майкельсона, принципиальная схема которого изображена на рис. 20. Параллельный пучок света от источника 1, выйдя из линзы коллиматора 2, попадает на плоскопараллельную стеклянную пластинку 3, передняя поверхность которой покрыта полупрозрачным светоделительным слоем, где световой пучок разделяется [c.34]

При рассмотрении явлений интерференции в плоскопараллельных пластинах без специальных отражающих покрытий предполагается, что обычно между собой интерферируют лишь два луча, отраженные от первой и второй поверхностей. В действительности каждый Луч расщепляется в пластинке не на два. а на большее число когерентных лучей, образующихся в результате многократных отражений от поверхностей пластинки. [c.13]

Т. е. для относительной ширины интерференционной полосы клинообразного многолучевого интерферометра справедливо выражение (24) для плоскопараллельного интерферометра. Другие параметры — эффективное число интерферирующих лучей Ne, коэффициент пропускания 0 и контрастность К — выражаются так же, как и для случая плоскопараллельного интерферометра соответственно формулами (25), (30) и (32) Таким образом, для клинообразного многолучевого интерферометра можно использовать основные расчетные зависимости многолучевой интерференции в плоскопараллельных пластинках. [c.33]

Сущность явления интерференции в диффузном свете поясняется схемой, представленной на рис. 39. Плоскопараллельная пластинка L освещается пучком параллельных лучей, т. е. точечным источником света, расположенным на бесконечности. На рис. 39 показан только один из падающих лучей — луч SI и для простоты взят случай нормального падения. Поверхность ЛВ пластинки —диффузно отражающая, а ее задняя поверхность — зеркальная. Рассмотрим ход лучей по двум разным оптическим путям. [c.44]

Интерферометр Люммера — Герке представляет собой тонкую пластинку толщиной Ь. Обычно это кварцевая пластинка толщиной 3 мм. Входное ребро пластинки срезано и отполировано под таким углом, чтобы световой пучок, вошедший в пластинку, мог испытывать многократное отражение. Некоторая часть света теряется при каждом отражении и выходит под углом 0 к нормали к поверхности пластинки. Интерференция таких пучков дает две серии взаимно дополняющих друг друга колец, локализованных на бесконечности. Поскольку порядок интерференции весьма велик, то и разрешение интерферометра Люммера — Герке весьма велико. Можно показать, что порядок интерференции определяется выражением [c.344]

Рис. 8. Интерференция в плоскопараллельной пластинке

Рис. 2.13. Зависимости а) преломления материала Дтах ( ) при наличии интерференции и Д (2) в отсутствие интерференции света, б) Тт п ( ) при на личии интерференции и Т (2) в отсутствие интерференции света в пластинке от показателя преломления материала

Рис. 2.20. Зависимость контраста интерференции в отраженном свете от угла падения света а) X = 633 нм -поляризации на стеклянную пластинку толщиной 2 мм. Диаметр пучка, мм 1 (1), 2 (2) и 4 (3) б) X = 1,15 мкм -поляризации на монокристалл кремния толщиной 0,5 мм. Диаметр пучка, мм 0,1 (1), 0,3 (2) и 1 (3)

Клиновидность пластин. Клиновидность (непараллельность поверхностей) означает изменение толщины пластинки вдоль произвольного направления и характеризуется углом (р между поверхностями. При малых углах 10 рад) можно принять tg с1к/с1х. Изменение толщины может иметь монотонный (неслучайный) и немонотонный (случайный) характер. В первом случае вся пластина является клиновидной, во втором для описания формы пластины необходимо измерять локальную клиновидность по всей поверхности (или в нескольких точках) и находить среднеквадратичное значение. Величина йк/йх, характеризующая случайную клиновидность пластин (с двумя полированными поверхностями) монокристаллического кремния и других полупроводников, весьма мала и лежит в диапазоне 10 -ь10 . Тем не менее, при использовании некоторых методов ЛТ это отклонение от параллельности представляет серьезную проблему. Распределение локального угла между поверхностями по площади пластины является характеристикой, позволяющей оценить как эффекты усреднения интерференции в сечении пучка, так и геометрическую расходимость пучков разных порядков после прохождения сквозь пластину. [c.59]

Основными причинами для снижения контраста интерференции в пластинке при комнатной температуре являются непараллельность поверхностей пластинки и шероховатость поверхности. Непараллельность dh/dx серийно выпусрсаемых полупроводниковых кристаллов (Si, aAs, СаР и т.д.) характеризуется углами, лежащими в диапазоне 10 -ЬЗ 10 " рад. Для большинства полупроводниковых монокристаллов, серийно выпускаемых для микротехнологии интегральных микросхем, типична шероховатость тыльной поверхности (т.е. противоположной той, на которой создаются элементы схем). [c.147]

При изучении свойств этого прибора для большей наглядности принято вводить в рассмотрение плоскость К, которая является мнимым изображением зеркала 2 в яластпнке М (рис. 141, а). Эту плоскость назвали относительной или референтной плоскостью. Удобство такого рассмотрения связано с тем, что образующаяся в интерферометре картина получается такой, какой она была бы при интерференции в пластинке, ограниченной плоскостями 2, и И. Придавая небольшие наклоны зеркалам 2, и 2 , можно получить клиновидную пластинку любого угла с ребром клина, ори- [c.181]

Интерференционные светофильтры. Де -ствие 1штерференционных светофильтров основано на явлении интерференции в пластинках или тонких пленках. [c.286]

В заключение еще раз отметим, что при пользовании точечными источниками (метод деления фронта) интерференционная картина не локализована, она наблюдается всюду в местах перекрывания интерферирующих лучей. В отличие от этого при пользоваинп протяженными источниками (метод деления амплитуды), как это мы делали при интерференции в тонких пластинках, интерференционная картина является локализованной. Место локализации интерференционной картины будет там, где разность хода между интерфе-рн1)ующимн лучами минимально будет зависеть от угла падения на пластинку. С помощью несложных вычислени11 можно показать, что это условие для пластинки переменной толщины удовлетворяется на ее поверхности, а для плоскопараллельной пластинки — в бесконечности, что находится в полном согласии с соответствующими экспериментами. [c.90]

Это неравенство показывает, что чем меньше апертура интерференции, тем больше допустимые размеры источника. Такое количественное соотношение находится в полном согласии с результатами описанных ранее опытов (отражение света от тонкой слюдяной пластинки, зеркало Ллойда), в которых уда-юсь наблюдать четкую интерференционную картину при больших размерах источника света. Как уже указывалось, апертура интерференции в этих опытах была очень мала. Становится также понятной роль дополнительной щели в опыте Юнга. Ведь произведение 2dtgo), определенное неравенством (5.31), связано с угловыми размерами источника света, ограничение которых и позволило Юнгу наблюдать интерференцию света от двух щелей (см. 6.5). [c.201]

Особый исторический интерес представляет случай интерференции в тонком воздушном слое, известный под именем когец Ньютона. Эта картина наблюдается, когда выпуклая поверхность линзы малой кривизны соприкасается в некоторой точке с плоской поверхностью хорошо отполированной пластинки, так что остающаяся между ними воздушная прослойка постепенно утолщается от точки соприкосновения к краям. Если на систему (приблизительно нормально к поверхности пластинки) падает пучок монохроматического света, то световые волны, отраженные от верхней и нижней границ воздушной прослойки, будут интерферировать между собой. При этом получается следующая картина в точке соприкосновения наблюдается черное пятно, окруженное рядом концентрических светлых и черных колец убывающей ширины ). [c.125]

ЯВЛЕНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ В ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ И КЛИНОВИДНЫХ ПЛАСТИНКАХ, ЭТАЛОН ФАБРИ И ПЕРО, ИНТЕРФЕРОМЕТР МАИКЕЛЬСОНА [c.23]

В г1ластинках с зеркальными слоями в проходящем свете образуются Лучи со сравнительно равномерным распределением интенсивности, при этом для больших р степень неравномерности меньше. Поэтому интерференция в посеребренной пластинке будет существенно отличаться от интерференции в обычной непосереб-ренной пластинке. В результате взаимодействия множества интерферирующих лучей изменяется характер распределения интенсивности многолучевых интерференционных, полос по сравнению с двухлучевыми в проходящем свете интерференционная картина [c.14]

Впервые интерференцию в диффузном свете наблюдал Ньютон [177] в своих опытах с вогнутым зеркалом. Ньютон наблюдал кольца, центр которых совпадал с центром кривизны зеркала. Он объяснил возникновение колец явлением интерференции и описал их в четвертой части своей второй книги Оптика под заголовком Наблюдения, касающиеся отражений и цветов толстых прозрачных полированных пластинок . Ньютон ввел понятие length of fit ), которое соответствует понятию длины волны света, вывел формулу для отношения диаметров соседних колец, указал порядок чередования цветов, а также выразил диаметр колец через радиус кривизны отражающей поверхности и толщину стекла. [c.43]

В области Л 0,96 мкм интерференция света в пластинке толщиной 0,5 мм практически не влияет на коэффициенты отражения и пропускания из-за сильного поглощения (при этом Дщах R min Ri, Ттах Tmin 0). Небольшое изменение отражения в этой области обусловлено спектральной зависимостью показателя преломления. При Л > 0,96 мкм поглощение уменьшается, и наблюдается влияние второй поверхности пластинки на коэффициенты отражения и пропускания света быстро растет амплитуда резонансов Фабри-Перо при наличии интерференции, а в ее отсутствие увеличивается коэффициент отражения R (рис. 2.6) из-за того, что свет отражается от двух поверхностей. При Л 1,2 мкм амплитуда резонансов принимает постоянные значения, поскольку в этой области кремний практически не поглощает свет. [c.28]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...