Интерференция в пленках и пластинках

Интерференция в пленках и пластинках [c.228]

ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ В ПЛЕНКАХ И ПЛАСТИНКАХ 229 [c.229]

Наибольший интерес представляют собой случаи локализации интерференционных полос на поверхности какой-либо пластинки, используемой для создания разности хода (полосы равной толщины), и локализация их в бесконечности (полосы равного наклона). Удобно начать изучение этих явлений с исследования интерференции в тонких пластинах при освещении протяженными источниками света, которую часто называют цветами тонких пластин. Все наблюдали чрезвычайно красивые цвета тонких пленок (например, пленок нефти на поверхности воды) при освещении их солнечным светом. Рассмотрим физику этих явлений, так как она окажется очень полезной для понимания более сложных процессов, происходящих в интерферометрах, интерференционных фильтрах и других оптических устройствах. [c.210]

Если температура пластинки изменяется во времени, то при облучении ее пучком монохроматического света наблюдается последовательность резонансов Фабри-Перо, т. е. периодические осцилляции интенсивности проходящего и отраженного света. Пластинку зондируют обычно по нормали к поверхности. Иногда применяют небольшие углы падения (54-20°) с целью избежать паразитных сигналов от интерференции пучка между поверхностями оптического окна установки, расположенного между лазером и исследуемой пластинкой [6.11, 6.12]. В технологических установках (для нанесения тонких пленок и т. д.) иногда проводят зондирование при больших углах падения (р 70° [c.132]

Если обе поверхности пленки плоские, то интерференционные полосы прямолинейны и параллельны линии пересечения соответствующих плоскостей. Такие полосы наблюдаются, например, в клине, т. е. тонкой воздушной прослойке между плоскопараллельными стеклянными пластинками, когда с одного края между ними проложен, например, тонкий лист бумаги. Но если поверхности сложенных стеклянных пластинок неровные, то полосы равной толщины принимают неправильную, причудливую форму. На этом основан чувствительный интерференционный метод контроля поверхности на плоскопараллельность. В этом методе испытуемая поверхность прижимается к плоской и наблюдаются полосы интерференции в образовавшейся прослойке. Метод применяется и для контроля сферических или параболических поверхностей при шлифовке оптических зеркал и линз. [c.231]

При освещении пластинки монохроматическим светом отдельные ее участки кажутся светлыми и темными, а при освещении белым светом — цветными. Такое явление объясняется тем, что длина пути в пластинках не одинакова для различных длин волн. Цветная интерференция хорошо видна на поверхности воды, покрытой тонким слоем нефти, на мыльных пузырях, на пленках окислов и т. д. [c.37]

Интерференционные фильтры основаны на явлении интерференции излучения в пластинках и тонких пленках. Эти фильтры обладают очень узкой полосой пропускания — единицы нанометра. Такую полосу пропускания можно получить двумя путями интерференцией двух [c.209]

Цинк. Имеется определенная вероятность того, что утолщение пленки на цинковой пластинке, частично погруженной в раствор хлористого калия или натрия, происходит перед началом развития процесса активной коррозии. Плотно прилипающее белое вещество (вызывающее интерференцию света, когда образец держится на свету под нужным углом) находится на нижней части образца, вокруг точек, которые последовательно подвергаются сильной коррозии. Существует некоторая неопределенность в том, является ли эЪ плотно прилегающее вещество, приводящее к утолщению пленки, результатом анодной реакции или возникновение твердых продуктов обусловлено растворимыми анодными и катодными продуктами (соль цинка и щелочь), образующимися в смежных точках и взаимодействующими в такой непосредственной близости к металлу, что возможно образование плотно прилегающего окисла или гидроокиси. Когда впервые было сообщено об этом явлении, то предпочтение отдавали второму механизму [41 ]. [c.111]

Эти исследования показывают, что среди образующихся на катоде в результате адсорбции покровных пленок надо различать две формы. Одна пленка имеет сеткообразную рыхлую форму и ее существование це выявляется электронографически. Обычно адсорбционные пленки этой формы не приводят к известным слоистым структурам покрытия, так как включение посторонних веществ происходит предпочтительно на границах пучка волокон, отдельных волокнах кристалла и пластинках кристаллизующегося металла. На рис. 37 показана электронограмма поверхности медного покрытия, которое осаждено из слабоккслого сернокислого электролита с присутствием лимоннокислых солей и содержит около 4% посторонних веществ. Несмотря на такое высокое включение посторонних веществ, катодная покровная пленка не наблюдается. Напротив, видна только интерференция кристаллизованной меди. [c.66]

Если наблюдение ведется в монохроматическом свете, то интерференционная картина п[1едстаБЛяет собой чередование светлых и темных полос. При наблюдении в белом свете илеика оказывается окрашенной в разные цвета. Подобная окрашенность пленок, обусловленная интерференцией отраженных от поверхностей лучей, носит название цветов тонких пленок. Следует заметить, что при наблюдении в белом свете отклонение от параллельности поверхности пластинки должно быть незначительным. Заметное отклонение от параллельности приводит к значительному сближению полос [c.89]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...