ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Приведенные выражения используются на практике при решении вопросов, связанных с рациональным конструированием и испытанием про-филометров и профилографов. Для определения искажений, имеющих место в каждом конкретном случае измерения технической поверхности, при пользовании формулами требуется некоторая дополнительная информация о поверхности, получить которую не всегда представляется возможным. В этих случаях приобретают особое значение эмпирические способы определения ошибок. Одним из возможных способов нахождения значения действительной высоты микропрофиля поверхности, базирующимся на опытных данных, является способ пространственной диаграммы. Характер зависимости =f {г,Р) для данного объекта измерений можно представить графически в виде пространственной диаграммы, по осям которой отложены значения г, Р м Н . Производя изгмерения шупом, имеющим радиус кривизны r? при измерительных усилиях Pi, Р>, P s , .мы получим, как это представлено на фиг, 43, ряд точек нь а,, а.) и т, д, но [Выходные данные]