Многоэлементные решетки

Частотная область поляризационной чувствительности состоит из длинноволновой и резонансной частей. Выше упоминалось, что в точках скольжения частотные зависимости амплитуд гармоник дифракционного спектра могут иметь резкие или плавные изменения хода кривой, что связано с перераспределением энергии между распространяющимися волнами. Характер размещения лент на периоде многоэлементной решетки приводит к ослаблению роли одних гармоник и увеличению роли других. Это, в свою очередь, сказывается на поведении коэффициента прохождения (отражения) в соответствующих точках скольжения и, таким образом, на изменении дифракционных свойств решетки в области, которую естественно называть резонансной. [c.54]

Многоэлементная решетка из вертикальных лент [c.116]

Проволочные тензорезисторы общего назначения с многоэлементной петлевой решеткой на бумажной и пленочной основе [c.409]

Для увеличения мощности полупроводниковые ОКГ могут быть собраны в линейку или решетку, состоящую из большого числа многоэлементных лазеров. Такого рода решетки при Т — = 300 к могут иметь мощность излучения от 10 Вт до 1 кВт с частотой следования импульсов до 1 кГц и их длительностью 10—200 НС. При 7 = 77 К количество диодов в решетке может быть значительно увеличено. Например, в [128] сообщается о создании решетки из 1000 лазеров с общей мощностью в непрерывном режиме 30—40 Вт или пиковой мощностью 1,5—2 кВт при к. п. д., равном примерно 20% размер всей решетки 88,9 мм, излучение происходит на длине волны Я = 8850 А, рабочее напряжение 140 В, ток 4 А. [c.62]

Усложнение внутренней структуры периода решетки может изменять лишь комплексные амплитуды дифракционных спектров. В одноволновой области на некотором удалении от плоскости решетки полное дифрагированное поле мало отличается от поля нулевой гармоники спектра, в связи с чем изменение любых параметров решетки сказывается только на величине комплексного коэффициента прохождения или отражения. Поскольку, изменяя параметры одноэлементной решетки (ее периода и коэффициента заполнения), можно в достаточно широких пределах управлять амплитудой и фазой основной волны, то в одноволновой области дифракционные свойства многоэлементных решеток качественно мало отличаются от свойств одноэлементных. [c.53]

Более существенные различия наблюдаются в многоволновой частотной области. Изменение конфигурации решетки на периоде приводит к перераспределению энергии между распространяющимися дифракционными гармониками, поэтому при к > (1 sin ф) дифракционные свойства многоэлементных решеток оказываются более содержательными [25, 63, 211—213). [c.53]

Одно из важнейших свойств решеток со сложной структурой периода, в частности многоэлементных решеток,— расширение области поляризационной чувствительности при наличии на периоде решетки элементов (лент или щелей) малой ширины. В рэлеевском приближении влияние малых лент и щелей удается исследовать аналитически и для многоэлементных решеток [25, 211—214]. [c.53]

С увеличением частоты длина волны становится соизмеримой с более мелкими деталями на периоде решетки, поэтому у многоэлементных решеток резонансная область шире, чем у одноэлементных, причем размер ее (по х) зависит от количества различных по ширине лент и щелей. [c.54]

Из многообразия типов многоэлементных решеток следует особо отметить несимметричные решетки, поскольку дифрагированное на них поле плоской волны обладает характерной спецификой. [c.55]

Другой возможный путь — телевидение в СВЧ-диапазоне [66]. В качестве СВЧ-голограммы можно использовать многоэлементные антенные решетки. Количество информации, содержащейся в голограмме, которая получена в миллиметровом диапазоне, не слишком велико i может быть передано обычными средствами. Наблюдение на приемном конце телеканала предполагается осуществить путем облучения лазером уменьшенной голограммы. Однако такие голограммы очень малы и не дают заметного параллакса. Если склеить набор таких голограмм, предмет [c.334]

Активной фазированной антенной решеткой (АФАР) называют такую многоэлементную сканирующую антенну, в тракт каждого излучателя которой (или группы Излучателей) включен активный элемент усилитель, синхронизируемый автогенератор или преобразователь частоты на активном приборе [1]. Активные элементы усиливают или преобразуют сигналы, подаваемые на их вход, а согласованные излучатели (излучатели с согласующими цепями) обеспечивают высокоэффективное излучение (или высокоэффективный прием) энергии в заданных секторе пространства и полосе частот. [c.9]

Вместо того чтобы от частного случая применения формулы Кирхгофа—Гельмгольца, или метода ОКЕ, с их расчетными проблемами перейти к более общему случаю, Тротт поступил иначе. Он поменял ролями излучатель и гидрофон и представил сканирующий преобразователь как точечный источник, который при интегрировании за некоторый период времени должен создавать плоскую волну согласно принципу Гюйгенса. Если бы плоская сканируемая площадь была достаточно большой, то проинтегрированное звуковое давление, воздействующее на градуируемый преобразователь, невозможно было бы отличить от звукового давления в плоской бегущей волне. Следовательно, вопрос надо поставить так насколько велики должны быть размеры плоской сканирующей площади, чтобы они удовлетворяли данному условию При решении этого вопроса Тротт решил обойтись без сканирования и расчетного интегрирования, задумав создать большую многоэлементную решетку, составленную из малых источников звука. Каждый элемент этой решетки, являющийся точечным источником звука, должен создавать элементарные волны Гюйгенса. Элементы решетки должны быть достаточно малы и в то же время достаточно удалены друг [c.226]

Решетки тензорезисторов изготовляют либо фототравлением из тонкой фольги (толщиной 3...5 мкм), либо намоткой из проволоки (диаметром 15...25 мкм). Фольговый тензорезистор предпочтительнее использовать при коротких базах, при решетках сложной формы и в многоэлементных тензорезисторах (в виде розеток, цепочек и др.). Проволочгеый тензорезистор технически равноценен фольговому, экономически выгоден при длинных решетках (20 мм), а технически - при использовании в области высоких температур. Базы тензорезисторов 0,3... 150 мм. Обычно оптимальной считается решетка с базой 5... 10 мм при сопротивлении тензорезистора 50...800 Ом, наиболее часто 100...400 Ом. [c.273]

Влияние работы [89] на последующее развитие электродинамической теории решеток трудно переоценить. Во-первых, она позволила перейти от получения эпизодических, иллюстративных данных к глобальному исследованию физики явлений, сопровождающих дифракцию волн на решетках. В полном объеме изучены дифракционные характеристики классической периодической структуры — плоской ленточной решетки. Метол полуобращения, базирующийся на решении задачи сопряжения теории аналитических функций, обобщен, развит и эффективно используется применительно к анализу дифракционных свойств многоэлементных и многослойных решеток, решеток из незамкнутых цилиндрических экранов, спиральных волноводов и т. п. Соответствующие результаты отражены в большом количестве оригинальных работ, послуживших основой для написания монографий [25, 63, 91]. [c.8]

Исследуем дифракционные свойства многослойных решеток, образую-ш,ихся из простых или многоэлементных путем размеш,ения их в параллельных плоскостях. Остановимся только на дифракционных свойствах двухслойных равнопериодных равнощелевых решеток (см. рис. 9, в), поскольку в этом случае проявляются все основные особенности поведения характеристик электромагнитного поля, имеюш,ие место при дифракции на решетках с различными структурами периода в слоях. Основные результаты теории многослойных решеток получены в работах [25, 63, 106, 215, 216]. [c.57]

Измерения толщины бетона иногда возможны с помощью совмещенного мозаичного короткоимпульсного преобразователя (или таких же раздельных излучателя и приемника) и основных блоков обычного эхо-импульс-ного толщиномера или дефектоскопа (генератора зондирующих импульсов, усилителя, измерителя временных интервалов, индикатора) на частотах порядка 100 кГц. Однако на практике для толщинометрии и тем более дефектоскопии используют многоэлементные матричные антенные решетки (АР), набранные из короткоимпульсных преобразователей с малыми волновыми размерами рабочих поверхностей, а для управления процессом зондирования, обработки принятых сигналов и индикации результатов используют микропроцессоры или персональные ЭВМ. [c.281]

В силу очень высоких требований к устранению вибраций в радиоголографии особенно перспективна методика голографии сфокусированных изображений с использованием приемных антенн в виде многоэлементной дискретной решетки или в виде системы с непосредственным преобразованием СВЧ-энер-гии в видимое изображение [50—53]. [c.15]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...