ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы В сканирующей электронной микроскопии исследуемую поверхность сканируют фокусированным пучком электронов, а контролируют интенсивность потока вторичных электронов. Сигнал детектора вторичных электронов моделирует растр электроннолучевой трубки, луч которой развертывается синхронно с фокусированным пучком электронов. Каждая точка растра (т. е. поверх-ностл, формирующей изображение) электронно-лучевой трубки (фактически телевизионной трубки) соответствует некоторой точке на поверхности образца. [Выходные данные]