Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

[<< Стр.]    [Стр. >>]

В сканирующей электронной микроскопии исследуемую поверхность сканируют фокусированным пучком электронов, а контролируют интенсивность потока вторичных электронов. Сигнал детектора вторичных электронов моделирует растр электроннолучевой трубки, луч которой развертывается синхронно с фокусированным пучком электронов. Каждая точка растра (т. е. поверх-ностл, формирующей изображение) электронно-лучевой трубки (фактически телевизионной трубки) соответствует некоторой точке на поверхности образца.

[<< Стр.]    [Стр. >>]

ПОИСК



В сканирующей электронной микроскопии исследуемую поверхность сканируют фокусированным пучком электронов, а контролируют интенсивность потока вторичных электронов. Сигнал детектора вторичных электронов моделирует растр электроннолучевой трубки, луч которой развертывается синхронно с фокусированным пучком электронов. Каждая точка растра (т. е. поверх-ностл, формирующей изображение) электронно-лучевой трубки (фактически телевизионной трубки) соответствует некоторой точке на поверхности образца.

[Выходные данные]

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте