Сканирующий

В оптико-механических ЧА для регистрации изображения используется модулированный по яркости световой луч, сканирующий по светочувствительной бумаге. Из-за сложности обработки носителя, его высокой стои- [c.49]

Для анализа характера изломов и природы разрушения применяют сканирующие электронные микроскопы. [c.479]

Модели постоянных ГО могут быть получены с помощью I и III способов. Способом 1 ГО вводятся в компьютер со сканирующих устройств ввода, планшетных [c.403]

Схема контроля изображена на рис. 4.16 и 4.17. В катушке I (рис. 4Л6) пропускается ток переменной силы, возбуждающий переменное магнитное поле. Поле (указанное пунктиром) возбуждает токи в поверхностных слоях объекта 2. Датчик 3 сканирует по поверхности объекта (рис. 4.17). В дефектных зонах изменяется электропроводность, что и регистрируют приборы 4 и 5. [c.216]

В этих системах видимое изображение преобразуется в электрический сигнал, как правило, с помощью телевизионных камер, сканирующих оптических устройств или дискретных матриц из фотоприемников. Используются так е варианты ввода в ЭВМ изображения, записанного на внешних носителях (ленты, диски). [c.226]

Для определения фрактальной размерности требуется использование оптической микроскопии в широком интервале изменения увеличения и разрешения. Это достигается при комбинировании световой, сканирующей электронной и трансмиссионной электронной микроскопии (в отдельных случаях также используют ионную туннельную электронную микроскопию). [c.92]

Специальное сканирующее приспособление позволяет перемещать уголковый отражатель Т2 с постоянной скоростью v на расстояние = 3 см. Весь механизм установлен на отдельном столе, который можно удалить от интерферометра на расстояние до 15 м. [c.234]

Устройство сканирующего приспособления позволило изменять скорость и в довольно широких пределах. Соответствующие разностные частоты изменялись в пределах 40 — 120 кГц, и их без труда можно было измерить различными способами (например, сравнением картины биений с синусоидой, получаемой от генератора стандартных сигналов). На рис. 5.51 представлена фотография экспериментальной кривой на экране осциллографа при разностной частоте f 50 кГц. В этом опыте была измерена соответствующая данной частоте скорость движения зеркала интерферометра и = 1,5 см/с. [c.396]

Острая направленность излучения (лазеры излучают в очень малых телесных углах) обеспечивает эффективность сканирующих систем контроля удаленных объектов. [c.52]

Постоянная времени приборов этого типа для оптико-механических сканирующих систем составляет 10 — 10" с, для электронных устройств 10-4—10-6 с. [c.59]

В системах бегущего луча в качестве источника света используют специальный проекционный кинескоп с высокой яркостью свечения. Отраженный от объекта сигнал воспринимается фотоумножителем, усиливается и подается на видеоконтрольное устройство. Иногда вместо проекционной трубки применяют лазер, луч которого сканирует объект с помощью оптикомеханической или электрооптической развертки. [c.82]

М-450 (16-180) 1,6—13,2 32 Снабжен сканирующим столбиком с дискретностью 0,05 мм в пределах 100 мм для контроля фотошаблонов [c.83]

Некоторые устройства, которые предназначены для исследования объектов с целью обнаружения возможных дефектов при помощи сканирующего пучка излучения оптического диапазона, основаны на поглощении материалами объекта излучения ИК-диапазона оптического спектра. Лучистый поток от источника ИК-излуче-ний, например СОг-лазера, зеркальной сканирующей системой направляется на исследуемый объект. Зеркальная система содержит два зеркала, сканирующих в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Часть излучения, падающего на объект, поглощается и соответствующим образом увеличивает его температуру. При увеличении температуры объект излучает энергию в соответствии с законом Стефана— Больцмана. Если поверхность образца -не имеет дефектов, то все его участки за один промежуток времени излучают одинаковое количество энергии. При наличии дефекта различные уча- стки объекта излучают различное количество энергии. Для контроля и измерения излучательной способности [c.94]

Интересен дефектоскоп для контроля поверхности при дрессировке тонких листов, который измеряет шероховатость листов, движущихся с большой скоростью. Сканирующий луч создает в плоскости детектора изображение, состоящее из основного светового пятна и дифракционных полос, форма которых зависит от структуры исследуемой поверхности. Для того чтобы выделить световые сигналы, соответствующие дефектам поверхности, перед детектором помещают компенсационный фильтр. Благодаря непрозрачным участкам, которые по форме совпадают с дифракционным изображением поверхности нормального качества, не имеющей дефектов, фильтр задерживает сигналы, отраженные основной частью поверхности, и пропускает только сигналы от участка поверхности с дефектами. [c.95]

Сказанное подтверждается электроннофрактографическими исследованиями реплик (рис. 23,а, в) или непосредственно с поверхности (рис. 23,6, г). Первое проводят на одном электронном микроскопе, а второе на сканирующем (растровом) электронном микроскопе. [c.41]

Автоматические устройства ввода ГИ используют следящий или раз1верты вающий (сканирующий) метод преобразования. В первом случае рабочий орган отслеживает границу заданной кривой, перемещаясь с постоянной скоростью по оси абсцисс (преобразуемая кривая представляется в виде числовых значений отклонений рабочего органа по оси ординат). Во втором случае осуществляется сканирование изображения рабочим органом с некоторым шагом по оси абсцисс. При этом фиксируются ординаты точек пересечения сканирующим лучом заданной кривой. Автоматические устройства ввода ГИ применимы только для кодирования несложных рисунков, например графиков однозначных функций одного аргумента, поскольку в случае сложных изобра- [c.52]

На рис. 5.9 представлена структурная схема вычислительного томографа. Полол<ение источника излучения — коллиматора, формирующего излучение, и детекторов соглусопано между собой и относительно координат исследуемого сече- ния. Указанные блоки сканируют по [c.122]

Рис. 14.1. Микрофотография поверхности фосфатированиой мягкой стали марки 1010 (получена с помощью сканирующего электронного микроскопа). Покрытие получено из кислого раствора фосфата цинка с добавкой нитрата натрия в качестве ускорителя при выдержке в течение 1 мин при 65 °С [11а]

Предлагались и другие гипотезы для объяснения межкристаллитной коррозии, однако механизм, связанный с обеднением хромом, более всего отвечает экспериментальньпл данным, и, по-видимому, соответствует истине. Например, в карбидах, выделившихся на границах зерен после сенсибилизации нержавеющих сталей, как и ожидалось, обнаружено Повышенное содержание хрома. В продуктах коррозии на границе зерна, полученных в условиях, когда исключалось разрушение карбидов, содержание хрома оказалось ниже, чем в целом в сплаве. Так, Шафмейстер[17] подвергал воздействию холодных концентрированных растворов серной кислоты нержавеющую сенсибилизированную сталь, содержащую 18 % Сг, 8,8 % Ni, 0,22 % С. После 10-дневных испытаний в продуктах коррозии сплава на границе зерен он обнаружил только 8,7 % Сг. Содержание N1 и Fe в продуктах коррозии составляло, соответственно, 8,4 и 83,0 %. А это означает, что по границам зерен не происходит обеднения сплава никелем, но увеличивается содержание железа. Исследования сенсибилизированных нержавеющих сталей с помощью сканирующего микроскопа показали обеднение границ зерен хромом и [c.306]

Установленные стандартами ЕСКД объем и содержание данных и технических показателей, включаемых в конструкторские документы, служат основанием для разработки систем и программ механизированной их обработки на сканирующих устройствах, например [c.4]

Изучение выявленных несплошностей основного металла конструкции с сопутствующим анализом газонаполненности (отражающей способности) проводят с помощью ультразвуковых компьютеризированных сканирующих систем с целью [c.165]

В монохроматоре (или спектрометре) нужная длина волны определяется положением выходной щели относительно диспергирован,ного спектра. В спектрографе на месте выходной щели ставится фотографическая пластинка с широким интервалом чувствительности, на которой интенсивность света на каждой длине волны регистрируется в виде серии более или менее непрозрачных полос или линий. Полученная таким образом спектрограмма сканируется световым пятном,, и детектор регистрирует плотность полос на спектрограмме в зависимости от длины волны. Прибор, работающий по такому принципу, называется микрофотометром. [c.167]

Свойства зрения. При работе с приборами визуального контроля (микроскопы, проекторы, эндоскопы, телескопы, телевизионные системы и др.) важно правильно использовать свойства зрения оператора. Зрение (виде-иие) является сложным динамическим нелинейным лроцессом, включающим сканирующие, канвергенционные (фо-кусировочные) и адаптационные (измелен не диаметра зрачка) движения глаз и обработку зрительной информации в центральной. нервной системе человека. [c.51]

MB 9700 То же 1 2-1000 0,5—10 (600) /о. Пр/5менена цр.етная ТВ система, сканирующий столик для прецизионного перемещения объекта [c.81]

ЛСМ ФРГ, Оптоп (1) 200—8000 0,1 — 4 1000 Лазерный сканирующий ТВ проектор с цифровой системой запоминания изоб--рамчений, время формирования кадра 1 — 4 с. Использован гелий-кадмиевый ла. зер для люминесцентной дефектоскопии [c.81]

ЛП-11 СССР, нииин н ИТК АН БССР 0,1 10-100 50—100 (4000) ТВ сканирующий лазерный проектор с управлением от 9ВМ и записью нзоб-рам ений на фото-хромном носителе. Размер экрана 1х X 1 м. Использован аргоновый лазер Максимальный размер объектов до 200 мм. Измерения элементов структур масок БИС производятся фотоэлектрическим микроскопом [c.81]

Страна, тип прибора, изготовитель Контролируемые изделия, тип дефекта Макси- мальная скорость контроля, м/мин Размер линии сканиро- вания, мм Число каналов кон- троля Мини- мальный размер дефекта, мм Тип источника света Тип фото-преобразователя Индика- ция Классифицируемые признаки дефектов [c.91]

Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0,1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности ма 1ериала, двигающегося со скоростью свы1не 15 м/с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. Схема с системой сканирующих зеркал отличается большим быстродействием (до 50 кад/с при 200—400 строках разложения телевизионного изображения), однако наличие полевых аберраций оптической системы приводит в этом случае к снижению пространственного разрешения. [c.96]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...