Угол наклона интерференционных полос

Это дает возможность определить угол наклона интерференционных полос [c.81]

Из формулы (92) следует, что, изменяя угол клина а, можно изменять ширину наблюдаемых интерференционных полос, которые при рассмотренном способе возникновения называют полосами равной толщины. Другой способ получения интерференционных полос, называемых полосами равного наклона, заключается в том, что параллельные световые пучки, падающие на плоскость под разными углами р , разделяют линзой и собирают в разных местах фокальной плоскости, причем каждой отдельной полосе соответствует определенная, зависящая от наклона разность хода А, а именно для воздушного промежутка [c.89]

Таким образом, при фильтрации светового поля в плоскости восстановленного изображения объекта пространственный период интерференционных полос характеризует поступательное смещение объекта, тогда как скорость смещения полос при сканировании фильтрующим отверстием определяет угол и направление наклона объекта. [c.143]

В данном случае интерференционные полосы представляют собой эквидистантные плоскости, перпендикулярные плоскости xz. Угол наклона этих плоскостей определяется выражением [c.31]

Вдоль полосы разность хода остается постоянной, т. е. rfA = О а угол наклона касательной к интерференционной полосе равен [c.22]

Если пластины интерферометра наклонены так, что угол будет создан в горизонтальной плоскости, что показано на рис. 3.5.3, то интерференционные полосы будут вертикальны, а порядок интерференции не может быть равен нулю. В этом случае интерференционные полосы могут наблюдаться только в монохроматическом свете. Если при настройке интерферометра пластины наклонить в вертикальной плоскости, то интерференционные полосы будут горизонтальными. Возможно наблюдение полос в белом свете, так как можно достичь нулевой разности хода. [c.147]

ПОЛОС необходимо, чтобы dA = 0. В этом случае угол наклона касательной к интерференционной полосе равен [c.146]

Пусть M l — изображение поверхности зеркала Mi в отражающей плоскости разделительной пластинки Pi. Тогда интерференция будет происходить так же, как и в воздушном слое между двумя отражающими плоскостями М2 и AiJ. Разность хода между отраженными лучами А = 2d os ф, где d — толщина слоя, а ср — угол падения. Если слой плоскопараллелен, то будут получаться интерференционные полосы равного наклона, локализованные в бесконечности. Их можно наблюдать глазом, аккомодированным на бесконечность, или в трубу, установленную также на бесконечность. Получатся интерференционные кольца с центром в точке схождения лучей, нормально отраженных от поверхностей и Ail. Этому направлению соответствует максимальная разность Хода Д = 2d. Поэтому максимальный порядок интерференции будет Наблюдаться в центре картины. Отсюда следует, что при увеличении толщины d воздушного зазора полосы интерференции будут [c.243]

При исследовании малых и неоднородных волновых аберраций преимущество имеет метод получения интерферограмм на фоне полос конечной ширины, которые образуются при наклоне на некоторый угол е плоскости фронта опорного пучка относительно плоскости фронта измерительного. Схема интерферирующих полей при сведении пучков под углом е показана на рис. 4.2,0. Здесь (как и на рис. 4.1, а) плоские волновые фронты представлены расположенными на расстоянии Х прямыми линиями, соответствующими определенной фазе колебаний пересечения фронтов соответствуют максимумам интерференционной картины. Поскольку оба пучка распространяются с одинаковой скоростью вдоль направлений АИ и АО, система полос будет двигаться вправо вдоль биссектрисы угла ОАИ. В пло- [c.176]

В следующих испытаниях промежутки между стеклянными брусками были увеличены за счет применения пластмассовых брусков вдвое большей ширины. Последовательность фотоупру-гих интерференционных картин (рис. 41) показывает высокую концентрацию напряжений у конца распространяющейся трещины. Одной из важных характеристик, наблюдаемых на этих интерференционных картинах, является угол наклона петель, образованных полосами вблизи конца трещины. Здесь наблюдается угол наклона более 90", что заметно отличается от известных результатов для однородных материалов. Герберих[28] наблюдал углы 45 и 60° для медленно растущих внутренних и краевых трещин соответственно. Уэллс и Пост [67] приводят значения угла, достигающие 80° для бегущих трещин. Как показал Ирвин [38], угол наклона изохроматической петли 0ш, максимальный модуль радиуса-вектора этой петли Гт и порядок полосы (или, что эквивалентно, максимальное касательное напряжение Тщ) связаны с коэффициентом интенсивности напряжений К или силой растяжения трещины Т. Было установлено, что сила ST очень чувствительна к изменениям угла наклона, Наблюдаемое в данном опыте значение этого угла указывает на большое различие в величине силы ST между моделью композита и однородным материалом. [c.546]

На рис. 91 представлен фотоснимок распределения интенсивности восстановленного поля в задней фокальной плоскости линзы при освещении двухэкспозиционной фурье-голограммы неразведенным лазерным пучком перпендикулярно поверхности голограммы. Между экспозициями объект квадратной формы наклонялся относительно вертикальной оси на угол 15". Поле в центре модулировано спекл-интерферограммой, тогда как боковые сопряженные изображения - голографической интерферограм-мой. Отчетливо видно, что количество интерференционных полос в автокорреляционном гало вдвое больше, чем на голографических изображениях. Следовательно, порог чувствительности к наклону спекл-интерферо-метрии в два раза ниже, чем голографической интерферометрии, а точность измерений - выше, поскольку прямые измерения можно проводить по большему числу полос. Отметим, что сравнение пороговой чувствительности целесообразно проводить при условии, что точность измерения вариаций освещенности на обеих интерферограммах одинакова. Это условие на практике вьшолняется при работе со снимками интерфёрограмм. [c.170]

При зкспериментальной реализации рассмотренного метода в качестве объекта исследования использовался кусочек мела, на котором между зкспознциями меха ески нарушался микрорельеф (процарапывался символ F). Кроме того, между экспозициями изменялся угол наклона опорного пучка приблизительно на 3 10" рад, что соответствует периоду интерференционных полос в плоскости голограммы в 20 мм. Пространственная фильтрация осуществлялась путем освещения голограммы нераэ веденным лазерным лучом, что обеспечило значительный энергетический выигрыш. На рис. 101, а приведен фотоснимок восстановленного изображения объекта, полученный при фильтрации в темной интерференционной полосе, т.е. 1фи выполнении соотношения (7.122). Совершенно отчетливо выделяется область нарушения микрорельефа на фоне темного изображения поверхности объекта, не Претерпевшей изменений между экспозициями. Сравнение с изображением объекта, восстановленным с той же двухэкспозиционной голограммы без фильтрации (рис. 101 б) 186 [c.186]

Характерная картина ветвления трещины приводится на рис. 5.5. При больших нагрузках наблюдается вторичное ветвление, т. е. образовавшаяся ветвь после прохождения определенного расстояния, ветвится вновь. Наблюдения за картинами интерференционных полос в вершинах ветвей показывают, что порядок изохром в вершине первичной ветви неуклонно увеличивается вплоть до наступления следующего ветвления. Угол наклона новых трещин к магистральной треищне как при первичном, так и при вторичном ветвлении равен примерно 20°. [c.128]

Вертикальное увеличение должно быть наибольшим из возможных профилограмма не должна выходить за пределы рабочей зоны ленты записывающего прибора профилографа изображение профиля в оптических приборах не должно выходить за пределы поля изображения. Вертикальное увеличение микроинтерферометра и растрового мик роскопа, определяемое через ширину полосы (интерференционную, муаровую), выбирается, исходя, из оптимального числа полос в поле изображения прибора. Горизонтальное увеличение при измерении параметра / щах и Яг существенного значения не имеет. При измерении интегральных параметров горизонтальное увеличение профилографа должно быть таким, чтобы коэффициент сжатия не превышал 20 или угол наклона боковых сторон неровностей на профилограмме ве превышал 80°. [c.654]

В варианте ОКУ18 [53] двух лучевой интерферометр настраивается таким образом, что рекомбинирующие пучки наклонены друг относительно друга на некоторый малый угол ф. В результате в поперечном сечении области интерференции образуется система полос, расстояние между которыми б = Х,/51п (р. При работе со светом, отраженным от движущейся поверхности, смещение полос на величину (1 соответствует одному интерференционному биению, то есть, как и ранее, изменению скорости поверхности на величину к/2 Ai. Эволюция системы интерференционных полос в процессе измерений регистрируется электроннооптическим фотохронографом, работающим в режиме щелевой фоторазвертки. Из-за худших метрологических характеристик камер с ЭОП, их применение несколько увеличивает погрешность амплитудных измерений. [c.70]

Линейные импульсные датчики используют в качестве измерительной шкалы растровые стеклянные или металлические линейки, работающие 1 проходящем или отраженном потоке света. Типовой датчик (рис. Х-34) состоит из растровой линейки, неподвижно закрепленной на станине, и шторки (или индексной линейки), закрепленной на рабочем столе. Пучок света от источника падает на линейку и через шторку с нанесенными на ней иггрихами попадает на фотоприемник. Шторка закреплена так, что ее штрихи наклонены на небольшой угол относительно штрихов неподвижной растровой линейки. При относительном перемещении линеек в результате взаимодействия штрихов образуются поперечные интерференционные полосы в виде муаровой сетки, которая используется для съема фотоэлектрического сигнала. Направление перемещений поперечных полос зависит от направления относительного движения растровой линейки и шторки. Перемещение шторки [c.309]

Допустим теперь, что пластинка толстая и строго плоскопараллельная. Пусть она освещается параллельным 3 пучком света. Формально это соответствует случаю точечного бесконечно удаленного источника 5 (рис. 133а и 1336). Отраженные лучи будут также параллельными, т. е. точка наблюдения Р удалится в бесконечность. При постоянной толщине пластинки й оптическая разность хода между отраженными лучами 2йпсо г] + К12 зависит только от угла наклона падающих лучей. Угол г ) может принимать всевозможные значения, если источник света протяженный и имеет конечные угловые размеры. Практически это можно осуществить, поместив протяженный источник света в фокальной плоскости линзы, которая как бы удаляет источник света в бесконечность. Интерференционную картину следует наблюдать на бесконечно (т. е. достаточно) удаленном экране или в фокальной плоскости линзы, поставленной на пути отраженных лучей. Каждая интерференционная полоса на бесконечно удаленном экране характеризуется постоянством косинуса угла я1). Поэтому интерференционные полосы при описанном способе наблюдения называют полосами или линиями равного наклона ). Они локализованы в бесконечности. [c.232]

Принципиальная схема многолучевого интерферометра для исследования неровностей поверхности приведена на рис. 132 [281. Основной частью интерференционной схемы являются пластина 4, Покрытая с нижней стороны полупрозрачным отражающим слоем, и испытуемая поверхность 5. Коэффициенты отражения пластины и испытуемой поверхности обычно подбирают близкими по значению. Между зеркальной пластиной и образцом возникает интерференция многократно отраженных лучей. Интерференционная картина, локализованная на поверхности пластины, рассматривается через микроскоп 1, 2, 3 с увеличением 100><. С помощью принципиальной схемы, изображенной на рис. 132, можно наблюдать интерференцию как в клинообразной, так и плоскоггараллельиой пластине в первом случае эго будут полосы равной толщины. Наряду с полосами равной толщины используются полосы равного наклона, которые позволяют исследовать не только форму плоской поверхности, но и контролировать плоскопараллельность, определяя при этом не только угол клина, но и знак изменения толщины. [c.221]

Для наблюдения полос равной толщины одно из зеркал (исследуемое) наклоняют на небольшой угол к оптической оси. На рис. 145а приведены фотографии интерференционных картин, которые иллюстрируют различное качество исследуемых поверх-ностер . На рис. 1456 показан общий вид микроинтерферометра типа МИИ-4 с фотоаппаратом Киев . [c.184]

Для измерения показателей преломления и дисперсии плоскопараллельных слоев жидкостей и пластинок довольно часто используются интерференционные явления в пластинках, рассмотренные в гл. 3. Эта задача решается двумя способами. Один из ннх состоит в последовательном наблюдении полос равной толщины и равного наклона,чтопозволяет вычислить толщину пластинки и ее показатель преломления. Другой способ состоит в наблюдении полос равного хроматического порядка, образующихся при многократном отражении света в исследуемом слое. Наконец, известны случаи, когда из исследуемого вещества изготовляют клин с небольшим преломляющим углом и наблюдаются полосы равной толщины, что нозволяет определить преломляющий угол этого клина и показатель преломления вещества. [c.476]

В этом приборе при подъеме измерительного стержня с зеркалом 6 (фиг. 31) вдоль шкалы перемещается система интерфэренционпых полос, средняя из которых (черная полоса) служит указателем. Ход лучей в приборе подобен ходу лучей в интерференционном компараторе (см. фиг. 29). Наклоном зеркала 7 изменяется угол клина между ним и мнимым изображением зеркала 6, а тем самым и расстояние между полосами, определяющее цену деления, изменяемую от 0,02 до 1 мк. Погрешность прибора определяется по формуле [c.411]

Полосы суперпозиции можно использовать, как предложили Фабри и Бю-иссон [93], для определения разности оптических толщин двух эталонов Фабри — Перо, отношение оптических толщин которых очень близко к целому числу а. Для этой цели один эталон укрепляют неподвижно, а другой наклоняют по отношению к первому до тех пор, пока центральная белая полога его интерференционной картины не пройдет через точку О, т. е. фокус линзы для света, прошедшего нормально через неподвижный эталон (см. рис. 7.80). При фиксированном первом эталоне 61= 6 О и б, а, где а — угол между эталонами. Для малого а по закону преломления имеем 02 па п, где п — показатель преломления воздуха, окружагои1,его эталоны соз О, 1 — 02 /2 1 — и из (147), принимая Ь = 1, получим с точностью до второй степени а [c.336]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...