Интерференционные полосы полуширина

Сравнения на рисунке приведена также функция Эри. Из рисунка видно, что несмотря на сглаживающее влияние аппаратного контура, в интерференционной картине наблюдаются осцилляции на крыльях интерференционных максимумов. Конечная длина светового цуга, как и следовало ожидать, приводит также к значительному увеличению полуширины интерференционной полосы. По мере увеличения длительности светового импульса амплитуда осцилляций на крыльях главных интерференционных максимумов уменьшается, число их увеличивается, и затем наблюдаемый контур приближается к функции Эри, что является подтверждением правильности проведенных выше расчетов. [c.92]

Полуширину профиля интерференционной полосы Vo(> )> выраженную в долях интерференционного порядка, во всех рассмотренных нами случаях с точностью 4% можно рассчитать по приближенной формуле [c.95]

Рассмотрим первый случай. Чем меньше расстояние между зеркалами, тем больше монохроматическая полуширина интерференционного контура, следовательно, в нашем случае производная интенсивности по фазе в окрестностях максимума интер( )ерен-ции для первого интерферометра будет существенно меньше, чем для второго. Таким образом, можно считать, что распределение интенсивности в интерференционных полосах двух интерферометров будет определяться распределением интенсивности второго [59] [c.36]

Определим размер кольцевой диафрагмы, ширина которой равна полуширине интерференционной полосы ИФП бЯд = бЯ/ . Пусть использована кольцевая диафрагма с внутренним радиусом гх и внешним Тогда площадь этой диафрагмы [c.462]

Таким образом, видно, что точность измерения оптической тол-ш,ины слоя зависит от относительной полуширины интерференционной полосы и точности регистрации смеш,ения полосы. [c.151]

Допустим теперь, что сдвиг равен-полуширине интерференционной полосы. Соответствующее распределение интенсивности показано на рис. 142. Кривые изображают контуры спектральных линий, как они были бы видны в спектральном приборе в отдельности. В центре картины, где контуры пересекаются, интенсивность спектральных линий составляет / акс- При сложении интенсивностей интенсивность в центре получится равной / акс- В точке А интенсивность первой линии равна 7 ,акс. а второй как это [c.247]

Отрицательные линзы 10 и 18 расширяют пучки, благодаря чему облучается вся площадка катода ФЭУ и тем самым исключается влияние зонной чувствительности катода. Монохроматические (интерференционные) фильтры 11 и 19 имеют следующие характеристики максимум пропускания — при А, = 0,635 мк, максимальный коэффициент пропускания — 38%, полуширина полосы пропускания — 10 мк. Использование таких фильтров дает возможность работать в незатемненном помещении, так как часть излучения из спектра дневного света или ламп накаливания, которая может попасть на катод ФЭУ, ничтожна по сравнению с полезным потоком и не сказывается на результатах измерений. [c.33]

На рис. 271 приведены спектральные характеристики некоторых интерференционных светофильтров для видимой области спектра. Сравнение их с характеристиками абсорбционных светофильтров показывает, что в данном случае можно сравнительно легко получать светофильтры с малыми полуширинами полос пропускания, порядка 10—50 А. В случае необходимости удается получать светофильтры и с еще меньшими полуширинами, порядка 1 А. [c.341]

Задание. 1. Изучить устройство и теорию работы простого и сложного интерференционно-поляризационного светофильтра и его основные характеристики — коэффициент пропускания Т в максимуме полосы пропускания, полуширину полосы пропускания бЛ, свободный спектральный интервал АХ. 2. Ознакомиться с работой и отъюстировать экспериментальную установку по схеме на рис. П.П. При установке в пучок света интер- [c.517]

Микроскоп должен разрешать линейный интервал, соответствующий полуширине интерференционного максимума. Расстояние между полосами соответствует изменению толщины клина на, поэтому принятое условие определяет точность измерений [c.171]

В 1935 г. Чалмерс ( halmers [1935, 1]) снова использовал интерференционную технику Грюнайзена i) с целью получения точных данных для удлинений при малых деформациях в свинце и олове. Грюнайзен на тридцать лет раньше использовал две интерференционные системы, по одной с каждой стороны образца. Чалмерс ограничил свои измерения одной стороной. Полученная Чалмерсом разрешающая способность для деформаций была ограничена значением 7-10 , чтобы исключить влияние упругого и термического последействий, которые, как установил Грюнайзен, были пренебрежимо малы в этой области деформаций в рассматривавшихся им материалах. Оба исследователя могли измерять смещения с точностью до 1/100 полуширины интерференционной полосы зеленой линии ртутной дуги, т. е. с точностью до 2,73-10 мм. Поскольку Грюнайзен использовал образцы длиной 16,5 см, в то время как Чалмерс — образцы длиной 3 см различие в общей точности эксперимента было на один порядок. Поэтому обнаружение нелинейности в области деформаций порядка 10 , которые изучались Чалмерсом, было затруднительно. Упругое последействие, обнаруженное на сто лет раньше Вильгельмом Вебером (Weber [1835, 1], [1841, 1]) для шелка, было названо Чалмерсом обратимой ползучестью . На основании результатов Грюнайзена и Дж. О. Томпсона (Thompson [1891, 1]), разумеется, следовало ожидать также наличия термического последействия в области деформаций порядка 10 . [c.199]

Таким образом, если мы определим по экспериментально найденным полуширине интерференционных полос и контрастности интерференционной картины с помощью диаграммы Е. Баллика (рис. 33) значения параметров Db и Lb, то они будут связаны с истинными значениями D и L (при наличии клина между зеркалами ИФП и круглой выходной диафрагмы) формулами [c.109]

Среди методов интерферометрии, используемых для изучения пленок, преобладающее место занимают многолучевые методы, что связано с их высокой чувствительностью измерений и высокой разрешающей способностью. Точность методов в льшой степени определяется точностью оценки смещения полосы. При малых расстояниях между зеркалами (при низких порядках интерференции), когда интер ренционные полосы имеют малую относительную ширину (отношение полуширины полосы к расстоянию между максимумами), точность методов достаточно высока. Однако при Сравнительно больших расстояниях ( 40—50 мм) для обеспечения высокой точности измерений необходимо применять объ-ективнь(е методы регистрации положения интерференционной полосы (например, с помощью фотоэлектрических компараторов). В этом случае весьма удо о применять фотометрическую обработку интерферограмм, позволяющую достаточно просто и с высокой степенью точности получать линии равных толщин прозрачных пленок. [c.231]

Резкость интерференционных полос характеризуется их полг/-шириной. Для полос в проходящем свете полушириной называется расстояние между точками, лежащими по обе стороны максимума, в которых интенсивность составляет половину максимальной величины / акс- в окрестности максимума т-го порядка Ф представим в виде Ф = отл + ф. Тогда в формуле (36.1) Ф можно заменить [c.246]

Ф. А. Королев и А. Ю. Клементьева разработали метод получения диэлектрическнх слоев испарением сульфида цинка и криолита в высоком вакууме с оптическим контролем толщины пленок. Фильтры, полученные таким методом, обладают в видимой области пропусканием до 70% при полуширине полосы пропускания I нм и угловой апертуре —15° [56, 68]. Т. Н. Крыловой [72, 1151 разработан метод химического нанесения диэлектрических слоев двуокиси титана и двуокиси кремния, полученных из спиртовых растворов легко гидролизующихся этиловых эфиров ортотига-новой и ортокремниевой кислот с последующей термической обработкой. Для видимой части спектра такие фильтры имеют следующие характеристики пропускание в максимуме 50 —70% при полуширине полосы пропускания 8—12 нм. Часто вводится дополнительный фильтр из цветного стекла для обрезания вторичных максимумов. Из двух типов интерференционных фильтров более узкой полосой обладают светофильтры, полученные испарением сульфида цинка и криолита. [c.69]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...