Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Интерференционные полосы равного равной толщины

Полосы наложения применяются также для сравнения толщины эталона Фабри—Перо с концевой мерой большой длины Ь. В этом случае последовательно располагается эталон Фабри — Перо (зеркала Р и Р2) и интерферометр Майкельсона (зеркала М., Мь М3) (рис. 3.8.3). Эталон Фабри — Перо и интерферометр Майкельсона освещаются параллельным пучком лучей. Лучи, многократно отразившиеся от зеркал Р и Р2 эталона, попадают на делительное зеркало М, проходят ветви интерферометра Майкельсона и зеркалом М направляются в коллиматор О2. В этой системе могут наблюдаться интерференционные полосы наложения равной толщины. Если расстояние между плоскостью Р и зеркалом М2 в т раз больше длины / эталона Фабри—Перо, то разность хода между лучами, т раз отразившимися между зеркалами эталона Фабри— Перо и затем разделенными зеркалом М, будет мала и интерференционная картина может наблюдаться в белом свете.  [c.215]


Линии равной толщины. Характерный и важный пример локализованных интерференционных полос—линии равной толщины, которые видны на прозрачных клиньях, пластинках или жидких пленках, освещенных протяженным источником (см, рис, 13).  [c.484]

Поскольку толщина слоя переменная, то получится совокупность интерференционных полос, параллельных ребру двугранного угла между зеркалом 3i и изображением зеркала 3 в пластинке П. Легко убедиться, что в рассмотренном нами случае идеального точечного источника, излучающего монохроматический свет, интерференционная картина независимо от толщины воздушного клина будет четкой. В действительности, если исходить из выражения интенсивности, видно, что она равна нулю каждый раз, когда толщина  [c.91]

Наибольший интерес представляют собой случаи локализации интерференционных полос на поверхности какой-либо пластинки, используемой для создания разности хода (полосы равной толщины), и локализация их в бесконечности (полосы равного наклона). Удобно начать изучение этих явлений с исследования интерференции в тонких пластинах при освещении протяженными источниками света, которую часто называют цветами тонких пластин. Все наблюдали чрезвычайно красивые цвета тонких пленок (например, пленок нефти на поверхности воды) при освещении их солнечным светом. Рассмотрим физику этих явлений, так как она окажется очень полезной для понимания более сложных процессов, происходящих в интерферометрах, интерференционных фильтрах и других оптических устройствах.  [c.210]

С чем связана локализация интерференционных полос Каковы должны быть условия их наблюдения в двух предельных случаях (полосы равной толщины и равного наклона)  [c.457]

Поэтому интерференционные полосы на поверхности пленки (клина) имеют равную освещенность на всех точках поверхности, соответствующих одинаковым толщинам пленки. В случае клина конфигурация интерференционных полос особенно проста. Очевидно, интерференционные полосы параллельны ребру клина, и картина будет периодической (см. рис. 6.3). В общем случае конфигурация интерференционных полос на поверхности пленки будет соответствовать геометрическим местам пленки, в которых она имеет одинаковую толщину.  [c.124]

Из формулы (89) следует, что если А равна нулю или четному числу полуволн, то / = 4/1, т. е. имеет место усиление суммарной интенсивности пучков по сравнению с суммой их интенсивностей а если она равна нечетному числу полуволн, то / = О, т. е. суммарная интенсивность будет нулевой. Это соответствует принципу сохранения энергии. При параллельности рассматриваемых пластин поверхность верхней пластины будет равномерно освещённой Если пластины расположить под углом а друг к другу, т. е. создать между их внутренними поверхностями воздушный клин, то на поверхности верхней пластины будут видны чередующиеся светлые и темные интерференционные полосы, параллельные ребру клина, каждая из которых является геометрическим местом точек одинаковой толщины промежутка 1 между внутренними поверхностями пластин, причем этот промежуток равен  [c.89]


Из формулы (92) следует, что, изменяя угол клина а, можно изменять ширину наблюдаемых интерференционных полос, которые при рассмотренном способе возникновения называют полосами равной толщины. Другой способ получения интерференционных полос, называемых полосами равного наклона, заключается в том, что параллельные световые пучки, падающие на плоскость под разными углами р , разделяют линзой и собирают в разных местах фокальной плоскости, причем каждой отдельной полосе соответствует определенная, зависящая от наклона разность хода А, а именно для воздушного промежутка  [c.89]

Технический метод интерференции основан на оптическом явлении — интерференции света. Если на хорошо обработанную металлическую плоскость детали I наложить плоскую стеклянную пластинку 2 (рис. 70, а) таким образом, чтобы между плоскостью пластинки и контролируемой поверхностью образовался небольшой воздушный клин, то на контролируемой поверхности появятся цветные радужные полосы, называемые интерференционными. Интерференционные полосы располагаются на равных друг от друга расстояниях. Расстояние между полосами одного и того же цвета принято называть шириной полосы. Интерференционные полосы располагаются только в тех местах, в которых толщина воздушного клина равна вполне определенной величине. Эта величина зависит от источника света, при котором наблюдают интерференционную картину. Если наблюдение интерференционных  [c.161]

Рис. 110. Интерференционные полосы равной толщины в кристалле кремния (ad < 1,2) Рис. 110. <a href="/info/368681">Интерференционные полосы равной толщины</a> в кристалле кремния (ad < 1,2)
Установка Национальной физической лаборатории (Англия) основана на применении интерферометра Физо, схема которого приведена на рис. 234 [61]. При установке на станине прибора угловой меры в поле зрения прибора (изображено на рисунке слева внизу) наблюдаются две системы интерференционных полос равной толщины в клиньях, образованных плоскостью оптической пластины с верхней поверхностью меры и с поверхностью пластины, к которой притерта мера.  [c.313]

При прохождении лучей около поверхности тела возникает дифракция и на экране на интерференционные полосы накладываются полосы от дифракции. Вследствие этого интерференционные методы применимы тогда, когда толщина пограничного слоя исследуемого потока во много раз больше ширины дифракционной зоны. По оценкам, приведенным в [49], координата первого максимума полосы дифракции равна 0,45 мм.  [c.389]

Полосы равной толщины наблюдаются в клинообразных пластинках. А = 0 соответствует месту пересечения обеих поверхностей, ограничивающих клинообразную пластинку, — ребру клина. В таких клинообразных пластинках интерференционные полосы располагаются параллельно ребру клина в местах одинаковой толщины. Переход от одной полосы к другой соответствует изменению оптической толщины пластины на . Если угол клина обозначить через а, то расстояние между двумя соседними светлыми или темными полосами будет определяться величиной, равной  [c.26]

Дробную часть порядка интерференции в каждом отдельном случае можно найти экспериментально — либо по диаметрам колец при интерференции равного наклона, либо по смещениям полос при интерференции равной толщины. Сложнее определить целый порядок. Его можно получить, сосчитав число интерференционных полос при изменении разности хода в интерферометре путем передвижения одного из его зеркал. Передвигать зеркало при изменении разности хода следует так, чтобы оно оставалось строго параллельным своему первоначальному положению — в противном случае может нарушиться юстировка прибора. А это приведет к появлению дополнительной разности хода и, следовательно, к ухудшению видимости интерференционной картины. Избежать нарушения параллельности можно, если весьма точно изготовить механические детали прибора. Однако трудности получения направляющих с высокой степенью прямолинейности для больших раздвижений интерферометра заставляют, даже при наличии фотоэлектронных счетчиков интерференционных полос, отказаться от этого метода при большом числе полос. Метод непосредственного определения числа полос применим лишь для малых разностей хода. Вот почему Майкельсон, пользуясь этим методом при сравнениях с длиной волны красной линии кадмия, мог использовать только длину самого маленького — 0,39 мм — из специально изготовленных им эталонов. К большим же разностям хода Майкельсон переходил, сравнивая длину этого эталона с эталоном удвоенной длины и используя при этом явление интерференции в белом свете. Постепенно удваивая длину эталона, экспериментатор доходил до 10-сантиметрового эталона, длину которого уже сравнивал с длиной прототипа метра.  [c.50]


Примерно в то же время, когда мы проводили наши исследования по голографии, в СССР Денисюк [11—13] сообщил о новом большом успехе, достигнутом благодаря объединению голографического процесса с одним из процессов цветной фотографии, изобретенным в 1891 г. французским физиком Липпманом. Голограмма Денисюка может давать как монохроматическое, так и цветное изображение, когда ее наблюдают в белом свете, испускаемом точечным источником. Такой эффект получается при условии, что объектный и опорный пучки распространяются в противоположных направлениях, что приводит к тонким интерференционным полосам, образующим поверхности, расположенные друг от друга на расстоянии, равном половине длины световой волны, и идущие почти параллельно поверхности фотопленки. При этом в обычной эмульсии толщиной 15 нм будет около 30 полос. Поэтому голограммы Денисюка называют также объемными, поскольку они требуют, чтобы изображение в  [c.21]

Когда толщина эмульсии превышает V5 расстояния между соседними интерференционными полосами, голограмма начинает проявлять свойства объемной записи [3, стр. 261]. Голограмма, у которой пространственный период интерференционной картины в 10 или более раз превышает толщину слоя эмульсии, проявляет себя все еще как тонкая голограмма, в то время как голограмма с пространственным периодом, равным толщине эмульсионного слоя, становится уже объемной. Объемные голограммы обладают несколькими свойствами, которые отличаются от свойств тонких голограмм  [c.245]

При освещении зеркальных пластин 5 телецентрическим пучком монохроматического света от точечного источника I образуется полоса равной толщины, имеющая бесконечную ширину, т. е. поле интерференции будет представлять собой равномерно освещенную поверхность, причем уровень освещенности ее (отношение интенсивности в интерференционной полосе к максимальной интенсивности) в общем случае будет различным в зависимости от разности фаз интерферирующих лучей (при данных параметрах интерферометра).  [c.22]

В зависимости от формы пластинки меняется и форма интерференционных полос. Нели пластинка имеет вид клина, то иитерфе-ренцио1П1ые полосы равной толщины имеют вид прямых, параллельных ребру клина.  [c.89]

Отсюда происходит название, приписываемое интерференцион-ны.м полосам подобных картин. Их называют интерференционными полосами равной толщины или, короче, полосами равной толщины. Нетрудно наблюдать подобную картину, если осуществить тонкую пластинку в виде мыльной пленки, натянутой на вертикально расположенный каркас под действием силы тяжести пленка принимает вид клина, и полосы равной толщины вырисовываются на поверхности пленки в виде горизонтальных прямых, слегка искаженных местными дефектами пленки.  [c.124]

Для придания зеркалам правильного полбжения они снабжены установочными винтами. Нередко зеркала устанавливают таким образом, что эквивалентный воздушный слой имеет вид клина. В таком случае наблюдаются интерференционные полосы равной толщины, располагающиеся параллельно ребру воздушного клина ).  [c.135]

Для решения дифференциального уравнения Лапласа (81) может быть также применен экспериментальный метод электрической аналогии. В электрической модели с напряжениями, создаваемыми на контуре, распределение потенциалов внутри поля удовлетворяет уравнению Лапласа. Чаще всего плоскую электрическую модель изготавливают из электропроводной бумаги и исследуют на установках типа ЭГДА [16]. Этот метод позволяет определять величины сумм главных напряжений + Ог внутри контура модели, что в сочетании с данными поляризационно-оптического метода Oj — 02 дает возможность получать раздельно главные напряжения и (Ja-Линии равных сумм главных напряжений Oj + (jg (изопахики) могут быть определены и при помощи оптического прибора — интерферометра как линии равных приращений толщины модели. Интерферометр ИТ [17] позволяет определять Oj + на материалах с малой оптической чувствительностью (типа органического стекла). В результате наложения интерференционных картин в модели до и после ее загружепия образуются муаровые полосы, являющиеся изопахиками. При работе с оптически чувствительными материалами типа эпоксидных смол этот интерферометр с введенным в его схему анализатором позволяет определять абсолютную разность хода лучей, поляризованных в плоскостях, соответствующих напряжениям и Ог. Главные напряжения определяют в этом случае по отдельности через абсолютные разности хода  [c.69]

ПОЛОСЫ РАВНОГО НАКЛбНА — чередующиеся тёмные и светлые полосы (интерференционные полосы), возникающие при падении света на плоскопараллельную пластину в результате интерференции лучей, отражённых от верхней и нижней её поверхностей и выходящих параллельно друг другу. Монохроматич. свет с длиной водны к от точечного источника 5 (рис.), находящегося в среде с показателем преломления п, падает на пластину толщиной кис показателем преломления л при отражении луча от верхней и нижней граней образуются параллельные лучи А Г) и СЕ. Оптич. разность хода между такими лучами ДL = л (А ВЦ-- - ВС) — nAN — 2п ксов , а соответствующая разность фаз б = (Ал,к/к)п созд. С учётом сдвига фаз на  [c.30]

То, что изображающие свойства не зависят от амплитуды света, приводит к двум следствиям, имеющим практическое значение. Во-первых, имеется возможность рассчитывать геометрию формирования изображения с помощью ГОЭ без учета явлений, связанных с физическим процессом записи. Во-вторых, это позволяет сдвинуть максимум эффективности ГОЭ, изготовленного, например, для длины волны света 0,488 мкм, в область другой длины волны, скажем 0,546 мкм для этого нужно лишь изменить на соответствующую величину толщину регистрирующего материала. Это иллюстрируется на рис. 1, б и е, откуда мы видим, что увеличение толщины слоя приводит к изменению наклона интерференционных полос и происходит согласование решетки с большей длиной волны. Такой цветовой сдвиг находит применение на практике, хотя при этом возникают довольно специфические условия формирования изображения, и такой прием полезен только для толстых голограмм. Голографические элементы, работающие на отражение, имеют коэффициент раси ирения, равный отношению длин волн восстанавливающего и записывающего лучей, или 1,119 для приведенного выше примера.  [c.638]


Полосы равной толщины в монохроматическом свете. Если осветить интерферометр таким образом, чтобы обеспечить постоянство угла падения <р, то разность хода будет изменяться за счет зименений оптической толщины пластинки nh. Интерференционные полосы, образованные таким образом, будут представлять собой геометрическое место точек, имеющих одинаковую для каждой полосы разность хода вследствие одинакового угла падения света на интерферометр.  [c.19]

Регистрация интерференционной картины, представляющей собой совокупность прямых интерференционных полос равной толщины, параллельных ребру двугранного угла ф, осуществляется на регистрирующем пр-иемнике 7 с помощью оптической системы 6.  [c.30]

В окрестностях максимумов интерференции при их совпадении для рассматриваемого интерферометра так же, как для интерферометра с равными расстояниями между зеркалами, относительная ширина интерференционной полосы определяется выражением (86), коэффициент пропускания интерферометра определяется произведением коэ4)фициснтов пропускания обоих интерферометров [см. выражение (68)1. Спект зальная величина области дисперсии определяется параметрами интерферометра с меньшей толщиной 1см. выражение (65)1, контрастность интерферометра различна в зависимости от характера наблюдаемой картины. В окрестностях совпадения максимумов обоих интерферометров контрастность интерференционной картины определяется параметрами второго интерферометра 1см. выражение (70)] вдали от мест совпадения максимумов, контрастность определяется произведением контрастностей интерферометров [см. выражение (71)].  [c.40]

Второй метод основан на наблюдении полос равной оптической толщины. Предварительно точечный источник света, установленный в фокальной плоскости объектива коллиматора, наблюдается в приемной части интерферометра. Регулировкой пластин интерферометра добиваются совпадения многократных изображений точечного источника. Интерференционная картина, наблюдаемая в фокальной плоскости объектива приемной части, будет в общем случае представлять собой поле, покрытое равноотстоящими друг от друга прямолинейными полосами. При приближении зеркал интерферометра к взаимно параллельному положению ширина полос будет увеличиваться, а при строго параллельном расположении зеркал интерферен[Шонное поле будет иметь вид равномерно освещенной поверхности.  [c.95]

Среди методов интерферометрии, используемых для изучения пленок, преобладающее место занимают многолучевые методы, что связано с их высокой чувствительностью измерений и высокой разрешающей способностью. Точность методов в льшой степени определяется точностью оценки смещения полосы. При малых расстояниях между зеркалами (при низких порядках интерференции), когда интер ренционные полосы имеют малую относительную ширину (отношение полуширины полосы к расстоянию между максимумами), точность методов достаточно высока. Однако при Сравнительно больших расстояниях ( 40—50 мм) для обеспечения высокой точности измерений необходимо применять объ-ективнь(е методы регистрации положения интерференционной полосы (например, с помощью фотоэлектрических компараторов). В этом случае весьма удо о применять фотометрическую обработку интерферограмм, позволяющую достаточно просто и с высокой степенью точности получать линии равных толщин прозрачных пленок.  [c.231]

Полосы равной толщины — интерференционные полосы, образующиеся вдоль линий равных оптических толщин слоя (при угле падения i = onst), в котором происходит интерференция (рис. 8, в). Из формулы (7) при постоянных t и п следует, что  [c.26]

Линии равной толщины. Если толщина пластинь переменна, то от различных участков ее поверхности парь лучей с одинаковой разностью фаз распространяются в разных направлениях и, следовательно, картина интерференции лучей равного наклона не возникает. Однако появляется другая интерференционная картина, локализованная на поверхности ги шстины.- Образующие ее интерференционные полосы называются линиями равной толщины ввиду того, что интенсивность полос одинакова в тех областях, в которых одинакова толщина пластины.  [c.183]


Смотреть страницы где упоминается термин Интерференционные полосы равного равной толщины : [c.105]    [c.113]    [c.214]    [c.214]    [c.216]    [c.302]    [c.83]    [c.96]    [c.185]    [c.315]    [c.163]    [c.163]    [c.171]    [c.178]    [c.178]    [c.225]    [c.226]    [c.59]    [c.65]    [c.142]   
Оптика (1977) -- [ c.88 , c.89 ]



ПОИСК



Интерференционные полосы

Интерференционные полосы равного

Интерференционные полосы равной толщины

Интерференционные полосы равной толщины

Полосы равной толщины

Толщина полосы

Ход лучей при наблюдении интерференционных полос равной толщин



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте