Ход лучей при наблюдении интерференционных полос равной толщин

До сих пор мы рассматривали поляризационные элементы, создающие одну определенную форму поляризации. В практике поляризационных измерений часто применяются или исследуются анизотропные элементы, дающие одновременно различные формы поляризации. Например, для клиновидного анизотропного образца форма поляризации зависит от пространственных координат, для образца в виде плоскопараллельной пластинки, работающей в сходящихся пучках, от угла наблюдения, а в параллельных пучках — от длины волны. Если создать условия, при которых наблюдается интерференция поляризованных лучей, то так же, как и при рассмотрении интерференции неполяризованных лучей, можно различать полосы равной толщины (изохромы), равного наклона (коноскопические фигуры) и равного хроматического порядка. Кроме того, при определенных условиях в интерференционной картине поляризованных лучей можно наблюдать специфические изолинии с одинаковой ориентацией главных направлений анизотропного элемента (изоклины). [c.271]

На рис. 3.5.6 представлена принципиальная схема интерференционного узла интерферометра Цендера-Маха в рабочем положении. При освещении интерферометра телецентрическим пучком лучей при наклоне зеркал Ру и Рз (например, Рз) возникают условия для наблюдения полос равной толщины, так [c.150]

Для наблюдения таких полос удобно воспользоваться собирательной линзой, с помощью которой можно получить изображение пластинки на экране. Так как линза не вносит дополнительной разности хода, то при этом на экране получается изображение и интерференционных полос. Линза как бы переносит место локализации интерференционной картины с поверхности пластинки на экран. При визуальном наблюдении полос равной толщины глаз надо аккомодировать на пластинку. Роль линзы выполняет хрусталик, а экрана — сетчатая оболочка глаза. Оптический прибор или глаз выполняет также и другую полезную функцию. Диафрагма прибора или зрачок глаза вырезают из отраженных лучей узкие пучки, в пределах которых угол г 5 меняется незначительно. Тем самым создаются условия, благоприятные для получения полос равной толщины. [c.231]

Из (4.37) вытекает, что диаметр наблюдательного прибора не должен быть больше и, чтобы при данном со еще наблюдать полосы равного наклона наоборот, при увеличении В разрешающая способность наблюдательного прибора увеличивается, т. е. и малое угловое расхождение интерферирующих лучей будет заметно снижать контраст интерференционной картины полос равного наклона. Сопоставляя выражения (4.29) для ширины полос равной толщины и (4.37), можно определить допустимый диаметр объектива прибора для наблюдения полос равного наклона в зависимости от ширины полос равной толщины. В случае, если ==1,226, интерференционная картина полос эавного наклона смажется и возникнут условия для наблюдения полос равной толщины. Считается, что контраст полос равного наклона будет удовлетворительным, если диаметр Опр < 0,256. Таким образом, если диаметр объектива составляет четверть ширины полосы равной толщины, то будет наблюдаться контрастная картина полос равного наклона. Напротив, увеличивая диаметр О, можно добиться появления полос равной толщины. Разумеется, плоскость локализации этих полос будет другой, в общем случае не совпадающей с плоскостью локализации полос равного наклона. [c.48]

Можно обратиться и к обратному явлению. А именно, рассмотреть возможность наблюдения полос равного наклона в схеме для наблюдения полос равной толщины. Для этого в какую-либо точку интерференционного поля можно поместить наблюдательный прибор, ограничив размеры его входного зрачка в соответствии с (4.37). В этом случае вблизи фокальной плоскости объектива будет наблюдаться интерференционная картина линий равного наклона, так как произойдет изменение разности хода для лучей, идущих от различных точек источника в пределвыделенного углового размера. Это [c.48]

Наблюдение полос равной толщины. При широком входном зрачке пучки лучей, приходящие в какую-либо точку поля интер-4№ренции, охватывают на пластине довольно большую площадь, вследствие чего дефекты оптики могут снизить контраст интерференционной картины. Целесообразно, чтобы интерференционная картина наблюдалась вблизи поверхности пластинки или, еще лучше, на ее поверхности. [c.151]

Допустим теперь, что пластинка толстая и строго плоскопараллельная. Пусть она освещается параллельным 3 пучком света. Формально это соответствует случаю точечного бесконечно удаленного источника 5 (рис. 133а и 1336). Отраженные лучи будут также параллельными, т. е. точка наблюдения Р удалится в бесконечность. При постоянной толщине пластинки й оптическая разность хода между отраженными лучами 2йпсо г] + К12 зависит только от угла наклона падающих лучей. Угол г ) может принимать всевозможные значения, если источник света протяженный и имеет конечные угловые размеры. Практически это можно осуществить, поместив протяженный источник света в фокальной плоскости линзы, которая как бы удаляет источник света в бесконечность. Интерференционную картину следует наблюдать на бесконечно (т. е. достаточно) удаленном экране или в фокальной плоскости линзы, поставленной на пути отраженных лучей. Каждая интерференционная полоса на бесконечно удаленном экране характеризуется постоянством косинуса угла я1). Поэтому интерференционные полосы при описанном способе наблюдения называют полосами или линиями равного наклона ). Они локализованы в бесконечности. [c.232]

Интерференционные П. При прохождении поляризованного света через кристаллич. анизотропную плас-Тинку и анализатор наблюдаются интерференционные явления (см. Поляризация света), характер которых меняется при вращении анализатора или пластинки. В монохроматич. свете при этом происходят изменения яркости при освещении белым светом наблюдается также резкое изменение окраски (хроматич. поляризация). В случае отсутствия поляризации интерференции не происходит. Если. кристаллич. пластинка имеет форму клина, то в поле зрения видны чередующиеся темные и светлые полосы (см. Компенсаторы) , интерференционные кривые разнообразных форм наблюдаются в сходящемся свете (см. Поляризация света). Т. о. комбинация любой двойной, преломляющей кристаллич. пластинки и любого анализатора образует интерференционный П., который будет тем чувствительнее, чем резче интерференционные полосы и чем заметнее их исчезновение-и появление. Особенно удобна для полярископич. наблюдений комбинация двух кристаллич. пластинок равной толщины сложенных вместе в скрещенном положении (т. е. с плоскостями оптич. осей, образующими угол в 90°). При освещении белымг светом интерференционные кривые заметньж только при очень тонких кристаллич. пластинках. При указанном соединении двух пластинок полосы видны в белом свете при любых толщинах и при очень небольшом схождении лучей, кроме того чем толще пластинка, тем резче полосы и тем большее-количество их помещается в поле зрения. Для скрещенных пластинок одноосного кристалла, оси к-рых образуют угол гр с нормалью к пластинкам, оптич. разность хода. [c.165]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...