Оптическая ось осветительная

Осветительная система микроскопа состоит из лампы 1, которая может центрироваться относительно оптической оси (на схеме оптическая ось микроскопа показана сплошной черной линией), коллекторной линзы 2, проектирующей источник света на плоскость апертурной диафрагмы 5, и набора светофильтров 4. [c.8]

Оптическая схема микроскопа МИС-11. Объектив 8 осветительного тубуса (рис. 159) совместно с ахроматическими линзами 2 и 7 передает изображение щели 6 освещаемой лампой 4 через конденсор 5 на плоскость объекта 9. Ось осветительного тубуса наклонена к исследуемой плоскости под углом 45°. [c.165]

После отражения от диагонального зеркала 6 свет попадает на зеркало 7 объектива осветительной части прибора. В состав объектива входит также мениск 8. Зеркало и мениск образуют внеосевую систему, т. е. систему, оптическая ось которой не совпадает с геометрической. В данном случае оптическая ось объектива параллельна геометрической оси и лежит на самом краю светового пучка. Объектив приемной части 9—10 аналогичен объективу 7—8. Световой диаметр пучка в плоскости неоднородности Я равен 230 мм, фокусное расстояние объективов 1917,6 мм. Менисковые детали применены для уменьшения аберрации сферических зеркал. [c.181]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Выбор одной из приведенных схем зависит, как обычно, от характера источника света. Для источников с широкой, равномерно излучающей поверхностью рациональнее использовать схему а. В случае, если источник света имеет малую излучающую поверхность или поверхность неравномерно излучающую (со структурой), следует применить схему 6. Переход от одной схемы к другой, как легко видеть из рис. 307, не требует какой-либо существенной перестройки оптических систем сочлененных приборов. К оптической системе схемы а следует дополнительно подобрать осветительную линзу О (см. схему б) с параметрами, которые [c.398]

На фиг. 17 показана измерительная машина с пределами измерений О—1000 мм. Вдоль станины I может перемещаться задняя бабка 2, несущая неподвижный измерительный наконечник и жестко связанная с осветительной системой 3. На передней бабке 4 помещаются отсчетный микроскоп 5 и оптиметрическая трубка 6, несущая чувствительный измерительный наконечник. На станине укреплена стеклянная шкала с делениями через 0,1 мм на длине 100 мм. На одной оси со шкалой помещено десять стеклянных пластинок с двойными штрихами. Штриховые пластинки занумерованы справа налево от О до 9. Расстояние от оси симметрии штрихов первой пластины до нулевого штриха шкалы равно 100 мм. Расстояния между штрихами соседних пластинок также равны 100 мм. Проверяемое изделие укладывается на люнеты (на фигуре не показаны) или на стол, устроенный по типу стола горизонтального оптиметра. Ось измерения располагается не на одной оси со шкалой машины однако оптическая схема машины рассчитана таким образом, что перекосы проверяемого изделия относительно оси шкалы вызывают лишь ошибки второго порядка. [c.16]

В общем виде проверка совпадения оптических осей осветительной системы и микроскоЦа с о кулярной сеткой (или шкалой), рабо- [c.158]

Опыт. Зависимость замедления, создаваемого пластинкой, от цвета. Пластинка Я соответствует своему названию только для определенной длины волны. В вашем оптическом наборе пластинка Я предназначена для Я=5600А. Возьмите яркий источник белого света (например, 150-ваттную осветительную лампу с прозрачным баллоном и нитью в виде спирали около 2,5 см длиной и диаметром около I мм). Смотрите на лампу через дифракционную решетку. Ориентируйте решетку так, чтобы цветные полосы были перпендикулярны нити лампы. Этим вы улучшите разрешение. Теперь возьмите два параллельных поляроида. Поместите между ними пластинку 1/2 Я., оптическая ось которой составляет угол 45° с параллельными осями поляроидов. Теперь тот цвет, для которого пластинка Я поворачивает плоскость поляризации на 90°, будет поглощен вторым поляроидом. Смотрите через собранную вами стопку на дифракционную решетку (держите все устройство близко к глазу). Замечаете ли вы черную полосу в том месте, где должен быть зеленый цвет а часть спектра соответствует Я—5600 A (Замечание. Чтобы настроиться на максимум черноты в полосе поглощения, слегка поверните последний поляроид.) [c.395]

Деятельность Э. Аббе на предприятии Цейса была исключительно плодотворна — разработанную им дифракционную теорию отражения несамосветящихся объектов, позволившую создать прекрасные микроскопы (в сочетании с компенсационным окуляром и осветительным устройством его же конструкции), он использовал и во многих других приборах. Ему принадлежат интересные оптико-механические конструкции апертометра, рефлектометра, рефрактометра, спектрометра, фотометра, дальномера и оптического компаратора. Сотрудничество с О. Шоттом позволило создать новые сорта стекол (с добавками лития, фосфора и бора), сконструировать и подготовить объективы-апохроматы, дающие прекрасное неокрашенное изображение во всем поле зрения. В 1894 г. Аббе сконструировал призменные бинокли, производство которых на предприятии впоследствии достигло миллионов экземпляров [84, с. 228]. [c.394]

В комплект микроскопа МБИ-3 входит апланатиче-ский конденсор прямого и косого освещения ОИ-14. Он представляет собой оптическую систему из двух линз плосковыпуклой и параболической, заключенных в оправу, которая крепится в гильзе подвижного кронштейна конденсора. С нижней частью гильзы соединяется апертурная ирисовая диафрагма и откидная оправа светофильтра. Конденсор может перемещаться в вертикальной плоскости совместно с кронштейном с помощью реечного механизма. Косое освещение объектов достигается плавным перемещением апертурной диафрагмы в горизонтальной плоскости на расстояние 10 мм. В комплект конденсора входит также дополнительная осветительная линза в оправе. Заменяя ею оправу с плос-ковьшуклой линзой, можно получить конденсор с апертурой 0,4. Использование того или другого конденсора зависит от применяемого объектива. Т1ри работе с объективами от 20Х и выше следует пользоваться конденсором "С апертурой Ь4, при работе с объективами от 20 X и ниже — конденсором с апертурой 0,4. Конструкция конденсора ОИ-14 позволяет также работать без его линз, используя только апертурную диафрагму. Это может быть полезным при очень малых увеличениях микроскопа. Следует помнить, что получение правильного освещения возможно только при хорошо сфокусированном конденсоре. Фокусировка производится перемещением конденсора по вертикали, что изменяет угол схождения лучей, падающих на препарат. Числовая апертура конденсора по характеру аналогична числовой апертуре объектива. Для полного использования числовой апертуры конденсора нужно, чтобы она соответствовала числовой апертуре объектива. Числовая апертура конденсора уменьшается при опускании его и при сужении апертурной диафрагмы. [c.44]

Второй способ освещения микрообъектов связан с образованием оптических полей зрения путем применепия осветительной (коллекторной) лиизы О в качестве вторичного излучателя (рис. 34, б) ). [c.59]

Переход от схемы а с естественным световым нолем к схеме б с оптическим световым полем , как легко видеть из рис.. 79, заключается в применении дополнительно осветительной линзы О. Однако из обеих схем хорошо видно, что во многих случаях возможно, если источнпк света не очень мал, установить его и плоскость проекционной лпнзы К. Дальнейший ход лучей ири этом не изменится. В этих условиях источник света также будет играть роль зрачка входа, а входная щель как люк входа будет равномерно освещена. Из всего сказанного следует одно важное замечагше. Как ни был бы сложен или прост осветитель, оп всегда должен быть сочленен коллимационной (щелевой) линзой О со спектрографом. К сожалению, об этом простом правиле часто забывают. [c.114]

Начинают юстировку прибора без осветительной спстемы, приблизив ртутную лампу как можно ближе к входной щели. Иногда, чтобы получить хорошие условия юстировки прибора, щель закрывают рассеивающим экраном (матовое стекло, папиросная бумага и т. п.). В последнем случае можно пользоваться и источником со сравнительно малой светящейся поверхностью, не заботясь при юстировке спектрального прибора о занолнении светом входного коллиматора и правильно ориентиров е источника относ -тельной оптической оси прибора. [c.156]

На рис. 281 приведена схема фотометра с бнприз1гон Френеля с оптическими полями зрения. Осветитель имеет здесь тоже один источник света, как и фотометр Пульфриха. Однако здесь источник света играет роль зрачка входа, а осветительные линзы (96, и 06 играют роль люков входа и проектируются коллимационной линзой К в плоскость лпнзы о, соединенной с бипризмой Р. Изображения входных отверстий п 1. как апертурные диафрагл1ы проектируются линзой О с бипризмой в зрачки выхода прибора й, и где и устанавливается зрачок глаза. На рис. 282 дан ход лучей зрения через такой фотометр. [c.351]

Четвертый способ. Микронрепарат устанавливается в естественном световом ноле, а входная щель спектрографа в оптическом световом поле. На схеме рис. 308 для этого источник света устанавливают на место осветительной линзы О. [c.400]

Все другие снособьг сочленения микроскопа со спектральным прибором, в частности с монохроматором, ничего принципиально нового не дают. Действительно, применение монохроматора позволяет, вообще говоря, сочленить его с микроскопом в обратном порядке, так что вначале после источника идет оптическая система монохроматора, а после нее — оптическая система микро- скопа. Однако от такой перестановки ход лучей через оптические системы сочлененных приборов, по закону обратимости лучей, не должен измениться. Согласование апертурной и полевой диафрагм остается тем же. Поэтому, обращаясь к рис. 307, можно теперь щель 8р спектрального прибора рассматривать как выходную щель монохроматора (полевая диафрагма), которая играет роль источника монохроматического излучения. Б плоскости же люка Л теперь должен быть расположен не источник света или осветительная линза О, а приемник света (например, фото- или термоэлемент). [c.400]

Типичным представителем описываемого класса рефрактометров является рефрактометр Пульфриха типа ИРФ-23, широко используемый в аналитической практике. Оптическая схема прибора изображена на рис. 352. Свет от источника б , который дает лине11чатый спектр, с помощью осветительной системы О направляется вдоль горизонтальной грани измерительной призмы Р. На поверхности этой призмы установлена цилиндрическая кювета, наполненная исследуемо жидкостью. Исследуемая жидкость выполняет роль среды I, а измерительная призма — роль среды II (рис. 351). Гран ца светотени рассматривается через зрительную [c.465]

На рис. 404 приведена обычная схема полутеневой установки. Здесь с помощью осветительной лпнзы О, и системы образуется полутень, которая затем проектируется с помощью лиизы 0 на входную щель спектрального аппарата так, что граница полутени разделяет щель, а следовательно, и спектр на две части. Вначале при отсутствии оптически активного тела анализатор устанавливают так, чтобы оба спектра были одной и той же интенсивности по всей своей длине. Затем вводится между поляризаторами оптически активное тело и производится ряд съемок спектрограмм при различном положении анализатора. В дальнейшем в спектрограмдгах, соответствующих двум световым полям полутепевого поляриметра, отыскиваются места равного почернения. Связывая эти места с поворотом анализатора от начального (юстировочного) положения, определяют вращательную способность для данной длины волны. [c.525]

Если оптическая система имеет малое поле в пространстве предметов, то в такой системе качество изображения определяется в первую очередь состоянием коррекции сферической аберрации. К числу таких систем следует отнести объ ектив с небольшим угловым полем, конденсор осветительной системы и ряд других. При аберрационном расчете исходного варианта указаН ных систем, состояш их из положительных линз, в первоначальной стадии расчета делается допущение о том, что все линзы системы бесконечно тонкие. Как в объективе, так и в конденсоре возможны следующие варианты решений система состоит из линз одинаковой оптической силы и каждая из них рассчитана на минимум сферической аберрации в системе используются апланатические мениски и одна линза, рассчитанная на минимум сферической аберрации. [c.362]

В настоящее время разработано несколько оптических конструкций кардиоидконденсоров. В качестве примера может служить конденсор ОИ-13 с числовой апертурой 1,2, приведенный на рис. VIII. 16. Зеркальный конденсор требует очень точной центрировки относительно оптической оси микроскопа, так как затененная зона между внешней границей апертуры объектива и внутренней границей апертуры конденсора обычно составляет небольшую величину. Если апертура осветительного конуса находится в пределах 1,2—1,33, то для того, чтобы прямой свет не мог попасть в объектив, его числовая апертура должна быть не более 1,05. Объективы с более высокой апертурой следует диафрагмировать. Заметим, что освещение по методу темного поля можно получить с помощью линзового конденсора, если центральную часть осветительного пучка задержать специальной диафрагмой В (см. рис. VIII.7). Такие конденсоры обладают значительными рефлексами и поэтому применяются редко. [c.364]

Одной из основных задач при проектировании унифицированных моделей микроскопов является выявление основных их признаков и конструктивных особенностей, а также классификация приборов в отношении назначения. При разработке оптических систем такими определяющими признаками в микроскопах могут служить 1) методы наблюдения и освещения методы исследования объектов в проходящем свете, в отраженном свете, при смешанном освещении, в поляризованном свете и т. д. 2) длина визуального тубуса микроскопа (160 мм, 190 мм и оо) и применение в этом тубусе дополнительных оптических приспособлений 3) наличие в микроскопе фотографического, проекционного тубусов, а также других ветвей приемников световой энергии (ЭОПов, ФЭУ и т. д.) 4) осветительное устройство — встроенное или невстроен-ное, источник излучения, методы освещения (упрощенный, по Кёлеру и т. д.) 5) степень коррекции оптических систем применение ахроматических коллекторов, конденсоров, объективов-ахрома-тов, апохроматов, планобъективов и других оптических узлов. [c.370]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...