Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Интенсивность при интерференции

Рис. 7.8. график распределения интенсивности при интерференции многих лучей для пластинки Люммера — Герке.  [c.142]

Рис. 4. Распределение интенсивности при интерференции плоской и цилиндрической волн, а — кривая профиля интенсивности б — фотография интерференционной картины. Рис. 4. <a href="/info/174637">Распределение интенсивности</a> при интерференции плоской и <a href="/info/18519">цилиндрической волн</a>, а — кривая профиля интенсивности б — фотография интерференционной картины.

Условие максимума интенсивности при интерференции (с >0) 6 = 2пт (АИ = О, 1, 2, 3...) (26.16)  [c.152]

Это выражение отличается от формулы (5.8) для интенсивности при интерференции монохроматических волн наличием множителя у(т) в интерференционном члене и добавочным слагаемым й(т) в аргументе косинуса. Зависящий от положения точки наблюдения Р множитель os (feA + 6) в интерференционном члене описывает быстрые осцилляции интенсивности в пространстве при переходе от одной полосы к другой. Изменение плавной функции у(т) при переходе от одной полосы к соседней незначительно, т. е. она имеет приблизительно одно и то же значение для целой области интерференционного поля, содержащей много полос.  [c.229]

Следовательно, при интерференции N пучков, имеющих одинаковую амплитуду, возникает ряд главных максимумов равной интенсивности. Между соседними главными максимумами образуется (N— 2) вторичных максимума и (N—1) минимумов. На рис. 5.2.7 приведены распределения интенсивности при интерференции, получаемой при N = 2, 3, 4, 5.  [c.347]

Распределение интенсивности при интерференции четырех лучей  [c.64]

Распределение интенсивности при интерференции от N пучков  [c.288]

Поскольку электроны ведут себя как частицы, можно было бы предположить, что каждый проходит через одно из отверстий и в случае двух открытых отверстий вероятность попадания в точку X была бы суммой вероятностей Роб = Р + Р2 (см. рис. 7, б). По опыт дает другую картинку—рис. 7, в. Па самом деле Р х) совпадает с распределением интенсивности при интерференции волн. Поэтому (по аналогии с интерференцией света) можно предположить, что существует амплитуда вероят-  [c.97]

Случай 1. Положим, что в интерферометр Майкельсона направляется свет от точечного источника (из точки S на рис. 4.20), излучающего монохроматический свет длиной волны X. При незначительном наклоне зеркала 3 относительно 3i наблюдаются полосы равной толщины от слоя воздуха переменной толщины, заключенного между зеркалом 3i и изображением зеркала За в пластинке П. Очевидно, что интенсивность, обусловленная интерференцией лучей, исходящих от некоторой толщины / воздушного слоя, равна  [c.90]

Если волны El и Ег создаются двумя совершенно независимыми источниками, то степень когерентности равна нулю и интенсивность в точке Р равна сумме интенсивностей. В другом предельном случае — при интерференции двух монохроматических волн — степень когерентности порождающих их гармонических колебаний равна единице.  [c.180]

При интерференции двух когерентных источников S l и S"j, расположенных на расстоянии 2/ один от другого, получаем следующее распределение интенсивности на экране в зависимости от высоты h (расстояния от оси симметрии)  [c.198]


При интерференции волн напряжений происходит наложение полей напряжений (полей деформаций) друг на друга. В результате образуется новое поле напряжений (поле деформаций), интенсивность которого существенно отличается от интенсивностей исходных полей. Интенсивность суммарного поля напряжений может превышать предел прочности материала, что приводит к разрушению (образование трещин, появление отколов).  [c.77]

В практике обычно имеем дело с лучами, которые представляют собой сумму колебаний, не всегда гармонических, обрывающихся, имеющих различную фазу, поляризацию и т. д. В результате суммирования весьма большого количества волн с самыми различными характеристиками приборы регистрируют некоторую среднюю интегральную интенсивность. При суммировании средних интенсивностей двух разных лучей можно сделать вывод, что средняя энергия (интенсивность) результирующего колебания равна сумме средних энергий исходных колебаний. Такие колебания будут некогерентными. При сложении всегда наблюдается простое суммирование их интенсивностей, а интерференция не может иметь места.  [c.73]

Голограмма движущегося объекта. На Г. люжно записать волновые ноля излучения, рассеянного движущимися объектами (в т. ч. и движущимися нестационарно [3]). Отображающими свойствами обладают но только стоячие, но и бегущие волны интенсивности, возникающие при интерференции волновых полей, различных частот. Такие волны интенсивности возникают, напр., при регистрации Г. движущегося объекта О, к-рый рассеивает излучение неподвижного когерентного источника S (рис. 2). Рассеянное излучение, сдвинутое по частоте вследствие эффекта Доплера относительно падающего, складывается с ним, образуя систему бегущих волн интенсивности. Вся эта система перемещает-  [c.503]

Фрагменты возникают при развитой пластической деформации металла в холодном состоянии блоки — при кристаллизации и при деформации полигоны — как результат перестройки дислокаций при нагреве после холодной пластической деформации или во время пластической деформации в определенном интервале повышенных температур. Области когерентного рассеяния введены для объяснения пониженной интенсивности рентгеновских интерференций.  [c.43]

Складывая выражения (1) и (2) и умножая результат на сопряженную величину, получаем распределение интенсивности стоячей волны, которая возникает в объеме голограммы при интерференции волн и г 5о  [c.695]

Рис. 10. К рассмотрению явления направленной передачи энергии между волнами R и S, интерферирующими в динамической голограмме, записанной в объеме V кристалла ниобата лития. С — оптическая ось кристалла I х) — интенсивность стоячей волны, образовавшейся при интерференции волн R и S Zi, 23 и гз — максимумы гармоники показателя преломления, возникающей в кристалле под действием стоячей волны / (t) — зависимость интенсивности выходящих из кристалла волн от времени экспозиции динамической голограммы. Рис. 10. К рассмотрению явления направленной <a href="/info/30704">передачи энергии</a> между волнами R и S, интерферирующими в <a href="/info/478289">динамической голограмме</a>, записанной в объеме V кристалла <a href="/info/177021">ниобата лития</a>. С — оптическая ось кристалла I х) — интенсивность <a href="/info/10062">стоячей волны</a>, образовавшейся при <a href="/info/12547">интерференции волн</a> R и S Zi, 23 и гз — максимумы гармоники <a href="/info/5501">показателя преломления</a>, возникающей в кристалле под действием <a href="/info/10062">стоячей волны</a> / (t) — зависимость интенсивности выходящих из кристалла волн от времени экспозиции динамической голограммы.
Основа реконструкции заключается в следующем интерференционная картина, образующаяся при интерференции волн с известной и неизвестной формой волнового фронта, представляет собой поверхность, на которой выполняются граничные условия для обеих волн. Если эту картину зарегистрировать на светочувствительной фотопластинке и затем позитив картины поместить на прежнее место, то будут реально воспроизведены граничные условия для обеих волн. Если полученную интерференционную запись осветить световой волной с известным фронтом, то за пластинкой должна распространяться не только эта волна, но и вторая волна, участвовавшая в интерференции, хотя с меньшей интенсивностью, поскольку граничные условия в плоскости голограммы соответствуют также и этой волне.  [c.15]


Линии равного наклона. Если на пластинку падает пучок непараллельных лучей, то в отраженном пучке будут присутствовать лучи различных направлений распространения с соответствующими различными углами преломления. Те из них, для которых удовлетворяется условие (29.5), дают при интерференции максимум интенсивности. Следовательно, если с помощью линзы в ее фокальной плоскости образовать интерференционную картину, то интерференционная линия определенной интенсивности соответствует определенному углу 0пр в (29.4) или, что то же самое, определенному углу падения или отражения. Другими словами, эта линия соответствует определенному углу наклона образующих ее лучей к поверхности пластины. Поэтому такие интерференционные линии называются линиями равного наклона. Они локализованы на бесконечности.  [c.181]

Указанное изменение интенсивности при перемещении оси излучателя перпендикулярно отражателю объясняется интерференцией прямых и отраженных лучей. Экспериментальные исследования, /, а проведенные В. П. Куркиным (рис. 30, а) [27], дали возможность вывести формулы для вычисления расстояний от оси сопло — резонатор до сферической отражающей поверхности для получения максимального излучения на оси  [c.47]

Этот метод измерения двойного лучепреломления является очень чувствительным и позволяет по изменению интенсивности света, получаемому при интерференции, измерять незначительную анизотропию, созданную в точках модели под действием нагрузки.  [c.161]

Плоскости равных интенсивностей и освещенность экрана при интерференции плоских волн  [c.203]

В пучке света от точечного источника колебания в 51 и 5г полностью когерентны, поэтому у12=1 и видность полос при интерференции волн из 51 и 5г максимальна. В пучке света от протяженного источника степень пространственной когерентности уц зависит от расстояния d между точками 51 и 5г и от угловых размеров источника 0 = О / . При Q d k степень когерентности обращается в нуль колебания в 51 и 5г некогерентны и при наложении волн из 5.1 и 5г наблюдается просто сложение интенсивностей, т. е. интерференция отсутствует.  [c.241]

Здесь мы вновь, как и в 5.7, наблюдаем интерференцию многих пучков света многолучевую интерферометрию). В данном случае распределение интенсивности в интерференционной картине оказывается совершенно другим, чем при интерференции двух волн, при которой для освеще1Шости характерна зависимость вида соз й. На рис. 6.35 приведен 1 рафик функции (siniV6/sin6) в пределах трех главных максимумов т —1,0, I 1) для == 2 и для N 8. Конечно, вертикальные масштабы  [c.294]

В соответствии с определением предыдущего параграфа мы говорим об интерференции волн, когда при их совместном действии не происходит суммирования интенсивностей. Условием интерференции волн одной и той же чяетоты яв.ляется их когерентность, т е. сохранение неизменной разности фаз за время, достаточное для наб (У0Деа.ИЯ,3 частности, монохроматические волны, т. е. вол ньГ, пор6ж даемые гармоническими колебаниями, когерентны и могут интерферировать (если, конечно, они имеют одинаковый период). Способность когерентных волн к интерференции означает, что в любой точке, которой достигнут эти волны, имеют место когерентные колебания, которые будут интерферировать. Мы будем для простоты предполагать, что обе волны одинаково линейно поляризованы. Результат интерференции определяется разностью фаз интерферирующих волн в месте наблюдения, а эта последняя зависит от начальной разности фаз волн, а также от разности расстояний, отделяющих точку наблюдения от источников каждой из волн.  [c.65]

Таким образом, в главных максимумах амплитуда в N раз, а интенсивность в раз больше, чем дает в соответствующем направлении одна щель. Если бы интерферировали волны, прошедшие через N некогерентно освещенных щелей, то интенсивность возросла бы только в N раз, т. е. была бы в N раз меньше, чем при интерференции когерентных пучков, обусловленных решеткой. Кроме того, в случае решетки отдельные яркие главные максимумы разделены темными областями, а при N некогерентно освещенных щелях мы имели бы Л -кратное наложение сравнительно широкрй дифракционной картины от одной щели (ср. с пунктирной кривой рис. 9.11, где N = 2). Формула (46.1) показывает, что в выражение  [c.200]

Предположим, что образованная при интерференции плоских волн гармоника интенсивности записана на голограмме, в результате чего мы получили структуру, диэлектрическая проницаемость которой также изменяется по гармоническому закону. Как известно, в соответствии с условием Брэгга такая пространственная решетка отражает только те плоские волны, угол падения которых 9 и длина волны К удовлетворяют соотношению, совпадающему Б точности с выражением (26). Остальные плоские волны проходят черег эту структуру беспрепятственно.  [c.701]

Рис. 15. К рассмотрению свойств волны, обращенной с помощью доплеровской голограммы. S — источник излучения О — движущийся объект di, dg, — поверхности пучностей бегущей волны интенсивности, образовавшейся при интерференции падающего на объект и рассеянного им излучения li, Ij, I3 — лучи волны, с помощью которой осуществляется обращение доплеровской голограммы Р — одна из точек объекта Р — эта же точка в псевдоскопическом изображении, образуемом обращенной волной. Рис. 15. К рассмотрению свойств волны, обращенной с помощью доплеровской голограммы. S — <a href="/info/127375">источник излучения</a> О — движущийся объект di, dg, — поверхности пучностей бегущей <a href="/info/18505">волны интенсивности</a>, образовавшейся при интерференции падающего на объект и рассеянного им излучения li, Ij, I3 — лучи волны, с помощью которой осуществляется обращение доплеровской голограммы Р — одна из <a href="/info/112029">точек объекта</a> Р — эта же точка в псевдоскопическом изображении, образуемом обращенной волной.
В г1ластинках с зеркальными слоями в проходящем свете образуются Лучи со сравнительно равномерным распределением интенсивности, при этом для больших р степень неравномерности меньше. Поэтому интерференция в посеребренной пластинке будет существенно отличаться от интерференции в обычной непосереб-ренной пластинке. В результате взаимодействия множества интерферирующих лучей изменяется характер распределения интенсивности многолучевых интерференционных, полос по сравнению с двухлучевыми в проходящем свете интерференционная картина  [c.14]


Таким образом, сравнение чувствительности к обнаружению малых разностей фаз для многолучевого и двухлучевого интерферометров показывает, что при интерференции многих лучей можно зарегистрировать величину фазового сдвига, вносимого прозрачным объектом, в Р раз меньшую, чем при двухлучевой интерференции (при одинаковой точности регистрации измеиення интенсивности и прочих идентичных условиях).  [c.114]

При измерении интенсивности интерференционного поля, близкой к половинной интенсивности, весьма малые вариации разности фаз световой волны приводят к значительному изменению интенсивности в интерференционных полосах — фазовый метод. Именно этот метод рассматривался до сих пор. Если же интерферометр отъюстировать таким образом, чтобы интенсивность поля интерференции имела максимальное значение, то Чувствительность интерферометра к обнаружению малых разностей фаз будет минимальной. В то же время езначигельные амплитудные изменения будут вызывать существенное изменение интенсивности — амплитудный метод.  [c.196]

От точечного источника, расположенного на оси 05о, лучи аксиально-симметрично расходятся под всевозможными углами 0. Разность хода зависит только от этого угла (все остальные параметры фиксированы). Следовательно, картина аксиально-симметрична Лучи, идущие под углами, соответствующими условиям (26.17), образуют при интерференции окруж-. ность. максимальной интен4 ив1юсти Таким образом, интерференционная картина состоит из чередующихся между собой окружностей изменяющейся интенсивности (интерференционных колец, рис. 100), Целое число т в (26.17) называется порядком интерференции. Подставив в (26.17) выражение для А из  [c.152]


Смотреть страницы где упоминается термин Интенсивность при интерференции : [c.193]    [c.168]    [c.147]    [c.67]    [c.9]    [c.157]    [c.660]    [c.171]    [c.272]    [c.105]    [c.555]    [c.701]    [c.302]    [c.145]    [c.426]    [c.173]    [c.205]    [c.306]   
Основы оптики Изд.2 (1973) -- [ c.244 ]



ПОИСК



Интерференция

Интерференция поляризованных лучей. Интенсивность пучка лучей, пропущенного анализатором

Интерферометр Фабри—Перо. Распределение интенсивности в интерференционной картине. Интерференционные кольца. Разрешающая способность. Факторы, ограничивающие разрешающую способность Дисперсионная область. Сканирующий интерферометр Фабри—Перо Интерференционные фильтры. Пластинка Люммера—Герке. Эшелон Майкельсона Интерференция в тонких пленках



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте