Метод двойного измерения

При применении высокоточных оптических угломерных приборов с круговыми шкалами с целью исключения систематических погрешностей вследствие эксцентриситета применяют метод двойного измерения. [c.58]

Испытания средств измере- Метод двойного измерения 8.2п [c.101]

Для исключения влияния угла < на результаты нивелирования в работе [16] предложен створный метод двойного нивелирования (рис.41, д). Для его выполнения нивелир устанавливают в створе точек при прямом ходе на станции / и обратном на станции II на одинаковом расстоянии (I от начальных точек нивелирования. Этот способ позволяет компенсировать ошибку за невыполнение главного условия нивелира, так как ошибки в превышениях между соседними точками постоянны и не зависят от порядкового номера точки, то есть тц = та - Чр, где I - расстояние между соседними точками. Таким образом, остаточное влияние ошибок /и, при выводе средних значений превышений между точками ряда будет равно нулю. Метод створного нивелирования точек можно с успехом применять, когда их не менее трех. При этом не требуется, чтобы расстояние между ними было одинаковым. Не обязательно определение угла г или сведение его к минимуму, измерение длин плеч и введение каких-либо поправок. Двойное нивелирование створных [c.90]

Можно нанести на изделие выравнивающее е покрытие. Эффективен метод двойного сканирования, т. е. последовательное измерение мощности излучения нагреваемого ОК двумя радиометрами, расположенными на расстоянии друг от друга. При этом отношение их сигналов не зависит от е ОК. - [c.120]

Помимо ЭТИХ опытов проводились отдельные серии экспериментов по истечению с большой скоростью (до M =sl) воздуха и перегретого водяного пара из сопла диаметром 8—9 мм, а также измерения профилей и Г в начальном участке струи продуктов сгорания. В основных опытах измерялись поля и температуры (методом двойной термопары" [Л. 19]). [c.90]

Рис. 7.39. Схема для измерения вязкости агрессивных веществ по методу двойного крутильного маятника

Определение удельного электрического сопротивления прово/юки производится по ГС)СТ 7229-76 методом, двойного моста, обеспечивающим измерение сопротивления с погрешностью не более 1 %. [c.395]

Окулярные микрометры двойного изображения. Метод двойного изображения повышает точность измерения и дает возможность быстрого и точного наведения на центр симметрии контура фигуры, отверстия. [c.599]

Параллельно измеряли плотность сплава методом двойного гидростатического взвешивания, а также длину образцов, в том числе после стабилизирующего старения при 120 °С. Результаты измерения плотности [c.152]

Влияния векторных ошибок на погрешность метода можно избежать при помощи способа двойного измерения Ч Сущность способа заключается в том, что после обычного цикла измерений изделие поворачивают на 180°, производят второй цикл измерений и вычисляют результат измерения как средние арифметические значения показаний прибора для двух циклов измерения. Последовательное измерение окружных шагов производится на универсальном приборе вышеописанной конструкции (см. фиг. 589). Теоретически возможны два метода 1) относительный метод и 2) абсолютный метод. Практически находит применение только относительный метод. [c.440]

Измерение небольших тепловых эффектов длительных процессов. В этих случаях метод двойного калориметра часто оказывается единственно возможным. [c.212]

Методом, с помощью которого можно было получить в этих сложных условиях надежные результаты, явился метод компенсационных измерений с использованием двойного калориметра (I, стр. 209—212). [c.105]

Методом двойной экспозиции можно исследовать и изменения, происходящие в прозрачных (фазовых) объектах (рис. 7.40). На пути просвечивающего объект пучка ставят прозрачный рассеивающий экран (матовое стекло), чтобы свет от каждой точки объекта попадал на всю поверхность голограммы. Так как этот экран и объект неподвижны и экспонируются дважды, их оптические неоднородности, сколь сложными бы они ни были, никак не влияют на расположение интерференционных полос, наблюдаемых на восстановленном изображении. Эти полосы характеризуют локальные изменения оптической толщины объекта между двумя экспозициями. В противоположность этому в традиционной интерферометрии для выполнения аналогичных измерений [c.388]

Измерение сопротивлений металлических образцов в пределах 1—10 ом чаще всего проводят методом амперметра-вольтметра или методом простого моста (мост Уитстона), а измерение малых сопротивлений — методом двойного моста (мост Томсона) и потенциометрическим методом. [c.173]

Измерениями по методу двойного моста можно обнаружить весьма незначительные изменения удельного электросопротивления, происходящие, например, в самых начальных стадиях превращений в сплавах, в частности во время процессов распада пересыщенных твердых растворов. [c.176]

Особенность метода двойного моста заключается в том, что дополнительные сопротивления соединительных проводов и на контактах, при помощи которых испытуемый металлический образец вводится в схему, не влияют заметно на результаты измерения. Это объясняется тем, что нуль-гальванометр включен в цепь образца через промежуточные сопротивления значительно большей величины (обычно более 100 ом), чем переходные сопротивления поэтому величиной последних можно пренебречь. 176 [c.176]

Принципиальная схема моста показана на рис. 5-54. Каждый элемент схемы имеет внутренний экран. Кроме того, вся схема имеет внешний экран. Питание схемы и индикатор могут быть такими же, как и для предыдушей схемы. Для увеличения точности измерений можно применять метод двойного уравновешивания. [c.270]

Метод двойного уравновешивания дает возможность измерения индуктивности и сопротивления с погрешностью, не превышающей 0,2%- [c.271]

Мост типа МЛЕ. Лабораторный мост этого типа позволяет производить измерения двумя способами непосредственным методом (прямым) и методом двойного уравновешивания (замещения). [c.31]

Измерение малых сопротивлений по методу двойного моста [c.930]

Метод двойного моста служит для измерения сопротивлений меньше 1 ом (проволока, спайки и сростки). Измерение этим методом состоит в том, что через сопротивления (эталонное, малой величины) и (измеряемое) пропускают ток 1 порядка 2—3 а (фиг. 8) [c.930]

Измерение по методу двойного моста. [c.946]

Фиг. 48. Измерение плотности тока, сходящего с оболочки кабеля, по методу двойного моста

Двойной микроскоп ПСС-2 и МИС-11 предназначен для измерения шероховатости поверхностей Яг — 0,8 80 мкм. В этом приборе микронеровности освещают световым лучом, направленным под некоторым углом к контролируемой поверхности. Микронеровности измеряют с помощью окулярного микрометра или фотографируют. Сменными объективами достигают увеличения в 517 раз. На приборе определяют шероховатость поверхности по показателю Яг. Недостаток метода — необходимость измерений и подсчетов результатов измерений. Микроскоп ПСС-2 применяют при лабораторных исследованиях и выборочном контроле. Профилограммы, снятые двойным микроскопом и на профилографе, приведены соответственно на рис. 50, а и б. [c.132]

Измерение сопротивлений второй группы чаще всего производят методом амперметра—вольтметра или методом простого моста (мост Уитстона), а измерение малых сопротивлений (третья группа)—методом двойного моста. [c.144]

Фиг. 94,а. Схема включения образца при измерении по методу двойного моста. [c.149]

В приборе использован метод двойного интегрирования, позволяющий обеспечить независимость результата измерения от постоянной времени интегрирующей цепи. На рис. 52,а, б показаны блок-схема и диаграмма, поясняющие принцип работы прибора. [c.50]

Для определения сопротивления есть два точных метода — измерение двойным мостом Кельвина и методом падения потенциала. В методе двойного моста образец составляет одно плечо специальной цепи Витстона и сопротивление измеряется в условиях баланса. Это, повидимому, самый точный метод измерения малых сопротивлений при комнатных температурах, но при более высоких температурах он не так удобен, так как для получения достаточной точности необходим большой ток [c.299]

Для измерения высоты микронеровностей и отнесения обработанной поверхности к тому или иному классу чистоты применяются специальные приборы двойной, микроскоп Линника, микропрофилометры, микроинтерферометры и др.), а также эталоны шероховатости (для оценки поверхности методом сравнения). Измерение шероховатости поверхности должно производиться в направле- [c.71]

Емкостные мосты содержат только активные и емкостные элементы. Прямые измерения мостом имеют ограниченную точность, поэтому применяют метод двойного уравновешивания, Мостовая цепь (рис. 29,31, а) имеет в плечах одинаковые безреактивные резисторы Ri и R2, сменные конденсаторы Сз й С4, постоянный ре- [c.377]

Отметим, что попытка разделить рентгеновские эффекты, обусловленные разными факторами, предпринятая Гордоном и Авербахом [89], оказалась неудачной. Авторы [89] предложили гауссов закон распределения интенсивности для всех рассмотренных здесь факторе . При этом квадрат полуширины, измеренный методом двойного кристалла кривой качания, равен сумме квадратов полуширин, обусловленных следующими причинами естественным уширением отра-жепня от образца и анализирующих кристаллов уширением, вызванным наклоном и равномерным изгибом решетки уширением, связанным с локальными деформациями и размерами блоков когерентного рассеяния. Результаты работы [89] нельзя использовать, как в [90], для разделения различных факторов, влияющих па распределение интенсивности рассеянных рентгеновских лучей кристаллами, содержащими различные дислокационные структуры [45], [c.234]

Основным конструктивным узлом спектрометров ЭПР является резонансная система (колебательный контур или резонатор), в пучность магнитного поля которой помещается исследуемый образец. Резонансная система является нагрузкой генератора работающего в ВЧ или СВЧ-диапазоне. Большинство стандартных ЭПР-спектрометров работает на длине волны 3 см, напряженность магнитного поля при этом достигает величин 3000 Э. В широкодиапазонных спектрометрах (диапазон от 8 мм до 100 см) напряженность поля изменяется в пределах от 12 ООО до 100 Э. Чувствительность спектрометров может быть увеличена за счет метода двойной магнитной модуляции (например, в модели ЭПР-2, выпускаемой СКБ АП АН СССР), когда на медленно меняющееся магнитное поле (магнитная развертка) накладывается высокочастотное синусоидальное магнитное поле с амплитудой, меньшей полуширины линии. В измерительном блоке определяется амплитуда высокочастотного поля. На результаты измерений влияют изменения свойств системы в зависимости от времени и температуры. В современных спектрометрах предусмотрены меры, позволяющие вести непрерывную работу на приборе в течение многих часов, причем температуру растворов можно варьировать от субгелиевых до 500 °С. [c.293]

Помимо четырехплечных мостов в измерительной технике получили распространение уравновешивающиеся Т-образные мосты. При некоторой частоте и определенных характеристиках элементов схемы напряжение U2 на вторичных зажимах равняется нулю. По сравнению с обычными мостами Т-образные имеют то преимущество, что их входная и выходная цепи имеют общий зажим. Этот зажим, так же как и один из выводов испытуемого образца, может быть заземлен. Одна из схем для испытаний при радиочастотах представляет сдвоенный Т-образный мост (рис. 4-3). Измерения емкости и сопротивления конденсатора лучше всего производить методом двойного уравновешивания. Не присоединяя к зажимам С испытуемый образец, уравновешивают мост изменением емкости С и 2 пусть их значения при этом составляли [c.81]

Второй метод — двойного отражения — состоит в измерении отношения интенсивностей Л когда поляризатор и анализатор намагничены параллельно и когда они намапшче1гы антипараллельно. В последнем случае должна существовать очень небольшая (— 1 жж) область пространства, где ]шправление спинов меняется на противоположное относительно направления магнитного поля (неадиабатич. переворот спина). Это достигается либо созданием магнитного поля спец. конфигурации, либо пропусканием сильного тока через тонкую алюминиевую фольгу, расположенную в пучке нейтронов, либо с помощью резонансной катушки. Степень поляризации находится [c.147]

Основная особенность метода двойного моста заключается в том, что дополнительные сопротивления соединительных проводов и на контактах, при помощи которых испытуемый металлический образец вводится в схему, не влияют заметно на результаты измерения. Это объясняется тем, что нуль-гальванометр включен в цепь образца через промежуточные сопротивления значительно большей величины (О быч-по более 100 ом), чем переходные сопротивления поэтому величиной последних можно пренебречь. Таким образом, если на измеряемой длине О бразца (фиг. 94,а) ток I распределен равномерно по сечению на длине I, электросопротивление может быть измерено с большой степенью точности. [c.149]

Для получения дополнительных доводов, говорящих в пользу или против этого предположения, были проделаны релаксационные измерения. Затухание побочных линий хризоберилла оказалось неэкспоненциальным. Выделяемый монохроматором участок спектра являлся наложением двух свечений, имеющих разную природу свечения собственно побочной линии и свечения фона. Поэтому для исследования кинетических характеристик свечения побочных линий был применен метод двойного импульсного тауметра. Двойной тауметр позволяет изучать двухэкспоненциальные процессы, развивающиеся по закону [c.200]

Метод двойной экстраполяции, предложенный Зиммом [16, 10 20 ], в большей степени свободный от ограничений и недостатков, при сущих методу асимметрии, требует более сложной аппаратуры и дае возможность определять лишь средние размеры макромолекул, не по зволяя судить о форме частиц. К тому же, этот метод предусматривае измерение ряда концентраций раствора полимера, что исключает воз можность отслеживания динамики одного конкретного образца, либ образца с высокой концентрацией ДНК (близкой к нативной), чт представляет несомненный интерес. [c.126]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...