Условие максимумов интенсивности

Согласно (228.3) на длине L укладывается целое число полуволн, т. е. равенство (228.3) совпадает с условием максимума интенсивности в интерференционной картине, создаваемой в интерферометре Фабри-Перо. Такое совпадение неудивительно, поскольку условие цикличности для фазы означает синфазность волн, прошедших любое число циклов, а это же условие определяет и максимумы интерференционной картины (см. 30). [c.797]

Условие максимума интенсивности при интерференции (с >0) 6 = 2пт (АИ = О, 1, 2, 3...) (26.16) [c.152]

Использование больших расстояний й также связано с некоторыми практическими трудностями. Из (28.5) следует, что условие максимума интенсивности может быть представлено в виде [c.176]

Ломакина 597 Усиление фототоков 363 Условие максимумов интенсивности [c.818]

Условие возникновения максимума интенсивности для исследуемого случая имеет вид [c.222]

Описанное распределение интенсивностей представляет собой интерференционную картину, соответствующую интерференции двух когерентных волн с начальной разностью фаз, равной нулю. Если бы начальная разность фаз отличалась от нуля, то мы имели бы такую же картину, в которой, однако, темные и светлые полосы принимают некое промежуточное положение, зависящее от ср. Действительно, в этом общем случае условие, например, максимума интенсивности в интерференционной картине имеет вид [c.67]

Пусть на объектив трубы или (фотоаппарата падает плоская волна от бесконечно удаленного источника света, например от звезды. Ди(фракция на краях круглой оправы, ограничивающей отверстие трубы, приведет к тому, что в (фокальной плоскости объектива получится не просто стигматическое изображение точки, а более сложное распределение освещенности центральный максимум, интенсивность которого быстро спадает, переходя в темное кольцо второй, более слабый кольцевой максимум и т. д. (см. 42, рис. 9.7, б). Радиус первого темного кольца стягивает угол ф (с вершиной в центре объектива). Величина этого угла определяется из условия [c.346]

Если параллельный пучок рентгеновского излучения падает на кристалл, то на каждой атомной плоскости будет происходить дифракция. Максимум интенсивности дифрагировавших рентгеновских волн соответствует направлению, определяемому законами правильного отражения. Условие же взаимного усиления волн, отраженных от разных плоскостей, запишется, очевидно, в виде [c.409]

Примечательно, что условие максимума С приводит к трансформации эллиптической трещины в круглую при возрастании о. Тогда для практической реализации коэффициент интенсивности напряжений описывается выражением [c.26]

Из выражений (174) и (175) нетрудно получить условие максимумов и минимумов, а также период изменения результирующей интенсивности Р. Максимумы имеют место, если [c.239]

Условие максимальной интенсивности армирования композита. Исходя из выражения для р в форме (1.17) легко показать, что максимум интенсивности армирования V, т. е. композита в целом, достигается при условии равенства интенсивностей армирования р всех исходных структурных элементов или, что то же, всех 7 , заполняющих его представительный объем. Действительно, с учетом условия нормировки статистических весов в (1.11) выражение (1.17) преобразуется к виду [c.24]

Сперва выведем условие стационарности интенсивности моды, частота которой приходится на максимум спектральной зависимости усиления, а распределение поля вдоль оси условно изображено на рис. 3.12д. Очевидно, стационарность имеет место тогда, когда уход фотонов из резонатора по тем или иным каналам в точности компенсируется пополнением за счет процессов вынужденного испускания [c.178]

Рис, 5.11. Взаимодействие двух синфазных солитонов на плоскости т изображены траектории максимумов интенсивности при нача.чьных условиях (16) [36]. Два солитона, максимумы которых первоначально разнесены во времени, сближаются, сливаются, затем распространяются как единый волновой пакет и вновь разделяются. Варьируемый параметр — временной интервал 2Тц между исходными импульсами [c.213]

Первое слагаемое в (40.4) и (40.6) обусловливает резкие максимумы интенсивности рассеянных нейтронов, определяемые условиями [c.386]

Эта графики строятся с помощью формулы (28.12), Пунктирной кривой изображена суммарная интенсивность от интерференционных картин двух длин волн. Значения 5] и 62 в (28.13) определяются из условия, что они соответствуют максимумам интенсивности соответствующих интерференционных колец [c.174]

Линии равного наклона. Если на пластинку падает пучок непараллельных лучей, то в отраженном пучке будут присутствовать лучи различных направлений распространения с соответствующими различными углами преломления. Те из них, для которых удовлетворяется условие (29.5), дают при интерференции максимум интенсивности. Следовательно, если с помощью линзы в ее фокальной плоскости образовать интерференционную картину, то интерференционная линия определенной интенсивности соответствует определенному углу 0пр в (29.4) или, что то же самое, определенному углу падения или отражения. Другими словами, эта линия соответствует определенному углу наклона образующих ее лучей к поверхности пластины. Поэтому такие интерференционные линии называются линиями равного наклона. Они локализованы на бесконечности. [c.181]

Разрешающая способность. Для дифракционной решетки она определяется так же, как и в случае интерферометра Фабри — Перо (см. 28), однако в качестве условия разрешения линий принимается условие Рэлея линии считаются разрешенным-и, если максимум интенсивности одной попадает на минимум интенсивности другой. [c.226]

Образование связанных отложений на мазутных котлах при прочих равных условиях протекает интенсивнее, если в золе соотношение между натрием и ванадием находится в интервале 3,7<На/У<9,5, определяющем адгезионный максимум. [c.132]

В соответствии с формулой (5.11) светлые полосы расположены в местах, для которых 2иЛ os 6 Я.о/2 = тЯ,о, где т — целое число, называемое порядком интерференции. Полоса, соответствующая данному порядку интерференции, обусловлена светом, падающим на пластинку под вполне определенным углом 6. Поэтому такие полосы называют интерференционными полосами равного наклона. Если ось объектива расположена перпендикулярно пластинке, полосы имеют вид концентрических колец с центром в фокусе. В центре картины порядок интерференции максимален. Исходя из (5.11) легко показать, что угловой масштаб наблюдаемой картины пропорционален 1//й (чем тоньше пластинка, тем шире полосы), а радиусы последовательных светлых полос пропорциональны квадратному корню из целых чисел (при условии, что в центре максимум интенсивности). [c.213]

В точке Р (и, следовательно, в Р ) будет находиться максимум интенсивности, если разность фаз (5.12) кратна 2п, или, что эквивалентно, при выполнении условия [c.216]

Условию (3.4.26) должна удовлетворять функция v = = sin фД, чтобы в направлении ф возник дополнительный максимум. Интенсивность этих максимумов весьма мала, так как можно показать, что при выполнении (3.4.26) значение /ф будет пропорционально /ф ( os o + sin о) . В силу очень высокого значения № (большое число, например 10 °) интенсивность /ф будет незначительной. Этим и объясняется условное изображение вторичных максимумов и лежащих между ними минимумов в виде мелкой гребенки на рис. 3.4.6. В целом будем наблюдать ряд главных максимумов, которые соответствуют интерференционным порядкам т. [c.142]

Подсчитаем порядок интерференции, в котором работает система, имеющая, например, расстояние d = 5 мм. В соответствии с условием максимумов получим, что в этом случае для X = 500 нм и ф = 0 fe = 20 000. Свободный спектральный интервал АХ в этом частном случае равен 0,025 нм. Эта величина определяет требования к степени монохроматичности исследуемого излучения в пределах малого интервала АХ можно исследовать сверхтонкую структуру излучения или изучить собственную ширину спектральной линии в излучении разряда. На рис. 3.7.16 изображено распределение интенсивности в интерференционной картине и системе интерференционных колец. [c.205]

Р, а по условиям построения лучей т]) — а = —фЧ-а, откуда 2а= ф-Ьф, или а=( ф-Ьф)/2. Главный максимум интенсивности излучения, дифрагированного на одном отдельном элементе, располагается в направлении р — направлении зеркального отражения от отдельного элемента решетки. При заданном угле падения т]), изменяя угол профиля а, можем изменять направле- [c.349]

В п. 3.312 было показано, что ультракороткие импульсы могут развиваться из статистических распределений интенсивности в многомодовом лазере, причем фазы отдельных мод могут иметь вначале случайное распределение. В специальной резонаторной схеме (см. фиг. 75, а) могут генерироваться пикосекундные импульсы в процессе усиления света и нелинейного поглощения. Процесс генерации можно разделить на несколько стадий. В самом начале интенсивность еще настолько низка, что усиление и поглощение могут считаться линейными. Правда, в общем непериодический ход интенсивности (см. фиг. 67) уже дополняется в некоторой области периодическими структурами с длиной периода 21/с (Ь есть оптическая длина пути в резонаторе) вдоль прямого и обратного хода. С возрастанием интенсивности становится заметным нелинейное поведение насыщаемого поглотителя поглощение этого однофотонного поглотителя убывает с возрастанием интенсивности /, так как убывает разность населенностей верхнего и нижнего уровней вследствие перекачки. Поэтому в процессе усиления главную роль играют максимумы интенсивности, тогда как малые значения интенсивностей являются несущественными. Из сильного максимума интенсивности поглотитель после своего насыщения уже ничего не заглатывает (см. характеристику прозрачности на фиг. 75,6). Таким образом, при возрастающем усилении импульс встречает нормальные лазерные условия, благодаря чему на дальнейшей стадии в конце концов наступает про- [c.476]

Интенсивность должна быть макси.мальной (интерференционный максимум), если hi = H, h =K, hi=L Н, К, L — целые числа, т. е. условие максимума интенсивности [c.115]

Пример 3.10. Простейшая решетка (3.235) с одной ступенькой может быть пс-пользована только при размерах зон близких к длине волны. Приведем пример расчета более сложной бинарной линзы с большими зонами и большим интервалом изменения размеров зон. Линза с непрерывным рельефом (3.236) при следующих параметрах апертура линзы й ЗОЛо, координаты точки фокусировки (хо ) = (О,—130Ао), в = 10°, е = 2,25, имеет 10 полных зон с размером от 5Ло, в начале апертуры, до 2Ао на краю апертуры. Для расчета бинарной линзы требуется рассчитать решетку из условия максимума интенсивности в 1-м порядке для интервала периодов [2Ло,5Ло]. Градиентным методом для ТМ-поляризации была рассчитана [c.187]

Интерференционная картина в интерферометре Жамена, Условие возникновения максимума интенсивности имеет вид [c.110]

Оценим дисперсию интерферометра Фабри—Перо, так как он чаще всего используется для разложения сложной спектральной линии на ее компоненты. Для вычисления dip/й/. (т. е. ) воспользуемся полученным в tj 5.7 основным условием возникновения максимума интенсивности в проходящем свете (5.62) 2/ os(p = Ы. Дифференцируя его, получаем — 2/81пфс1ф = mdl и [c.317]

Здесь V — объём элементарной ячейки, Н — вектор обратной решётки, задаваемой с помощью индексов кристаллографических h, к, I). Дельта — ф-ция в (2) показывает, что рассеяние нейтронов будет наблюдаться в виде узких дифракц. максимумов интенсивности (рефлексов) при к = 2лН, т. е. при выполнении Брагга — Вульфа условия. Множество векторов H h, к, I) задано трансляц. симметрией кристалла, поэтому по совокупности векторов Н, для к-рых наблюдаются дифракц. максимумы, можно определить размеры и симметрию элементарной ячейки. [c.285]

Его выполнение обеспечивает взаим- нее усиление лучей, -прошедших через все щели решетки. -Это легко видеть, так как разница хода, например, между лучами 1 и 3 равна 2d sin ф и также удовлетворяет уравнению. Поэтому в направлениях, характеризуемых хорошими значениями углов ф (т. е. когда выполняется условие 81пф = п 1,), максимум интенсивности должен быть очень заметным. И тем заметнее, чем больше число щ,елей. Это прекрасно подтверждают фотографии дифракционной картины, полученные при разном числе ш,елей (рис. 21). Уже при 20 щелях картина становится очень контрастной. Либо яркая линия, либо чернота. И никаких полутонов. Как это можно объяснить [c.63]

В соответствии с (6.23) максимум интенсивности полос падает с ростом порядка интерференции и скорость падения определяется функцией sin , которая описывает огибающую кривую. Амплитуду колебания, соответствующую первому минимуму огибающей, можно принять за максимальную измеряемую амплитуду при данных условиях (длительности ампульса и его фазовой задержки). [c.167]

Наблюдение через боковые грани кристалла за ходом пучков позволило установить, что пульсации возникают, когда за счет полного внутреннего отражения пучков светоиндуцированного рассеяния на гранях кристалла они опять попадают в область пучка накачки (рис. 7.19а), что приводит к генерации на двух областях взаимодействия. Съемка зволюции хода лучей за время 0,5 с, малое по сравнению с периодом пульсаций в данных условиях (15 с), показала, что с увеличением интенсивности обращенного пучка возникает и усиливается левая петля накачки, в максимуме интенсивности в генерации участвуют уже левая и правая петли накачки. Затем интенсивности выходного и внутренних пучков быстро спадают до нуля и все начинается сначала. [c.252]

Как правило, при резании стадия приработки заканчивается после завершения процессов приспосабливаемости геометрических форм передней и задней поверхностей к условиям процесса резания (режиму резания, СОЖ и т. п.) с образованием на контактных поверхностях особого распределения режимов трения и изнашивания. Решающим здесь является и.менно образование особого распределения режимов трения и изнашивания с появлением зон (адгезионного происхоладения или застойных) со значительно уменьшенной относительной скоростью скольжения и, как следствие, с меньшей интенсивностью изнашивания, что приводит к уменьшению общей интенсивности изнашивания задней поверхности и к уменьшению максимума интенсивности изнашивания на передней поверхности (рис. 61, а также см. рис. 53 и 60). [c.144]

Функции Бесселя хорошо изучены. График функции 2У1(р)/р приведш на рис. 167. В центре дифракционной картлны имеется светлое круглое пятно, окруженное темными и светлыми дифракционными кольцами. Пр этом максимумы интенсивности в светлых кольцах быстро убывают (рис. 168> Радиус п первого темного кольпд находится из условия [c.223]

Кроме того, в реальной конечной стопке возможна торцевая антерференцияу>, когда зона формировония при больших 7 становится сравнимой с длиной всей стопки М(а -Ь), При этом выполняются условия (3.24) для всего интервала эффективных углов излучения, т. е. вся стопка излучает как одна эквивалентная пластина, границы которой совпадают с торцами стопки. Торцевая интерференция приводит к тому, что в спектре излучения появляются новые, дополнительные максимумы интенсивности которых монотонно растут с увеличением 7. [c.94]

Измерения высокой точности стали возможными благодаря разработке рентгеновских интерферометров Бонзе и Хартом [25,26]. Был создан ряд модификаций этих приборов, в которых использованы как прохождение рентгеновских лучей через почти совершенные кристаллы кремния и германия, так и их отражение. Наиболее простая схема показана на фиг. 15.1. Три почти совершенных толстых кристалла расположены точно параллельно. Прошедаиий и дифрагированный пучки от первого кристалла вновь дифрагируют на втором кристалле, давая пучки, которые вместе идут к третьему кристаллу. Интерфгренция между этими пучками создает волновое поле, модулированное с периодичностью плоскостей решетки. Если решетка третьего кристалла представляет собой точное продолжение решетки первых двух, то максимумы интенсивности волнового поля будут совпадать с промежутками между атомными плоскостями и будет наблюдаться максимум прохождения. Поперечный сдвиг либо третьего кристалла, либо модуляций волнового поля на половину межплоскостного расстояния даст условие для максимума поглощения в третьем кристалле и, следовательно, для минимума прохождения. Следовательно, интенсивность прошедшего через это [c.334]

Интенсивность пучка волн разрежения, а следовательно, его граничная с -характеристика ас, положение точки Н на ней и замыкаюгцая с+-характеристика НЬ определяются необходимыми условиями максимума К, которые имеют вид [1, 2 [c.515]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...