Увеличение поперечное прибора

Известно, что в сильные морозы оголовки индивидуальных дымоходов резко охлаждаются. Стенки оголовка общего дымохода охлаждаются меньше, так как через, него проходят продукты сгорания от многих приборов. Поэтому конденсация водяных паров на оголовке дымохода менее вероятна, чем иа обособленном. В связи с увеличенным поперечным сечением общего дымохода образование ледяных пробок на его оголовке практически невозможно. Общие дымоходы особенно желательны для газовых отопительных печей непрерывного действия.. Индивидуальные каналы для такого рода печей получаются по расчетам малого диаметра (0 50—75 мм), возведение их неэкономично, и, главное,, при недостаточном их утеплении в. зимнее время на внутренней поверхности оголовков труб наблюдается непрекращающаяся конденсация водяных паров. [c.110]

При сравнении показаний в соответствующем масштабе ошибка не превышала 0,5. .. I деления шкалы. Масштаб увеличения поперечного хода и отношение скорости лентопротяжного механизма самопишущего прибора и устройства правки различны, поэтому профиль копира записывается несколько искаженным, но полностью сохраняется характер взаимного положения его поверхностей. [c.267]

Проверяемое отверстие служит измерительным соплом пневматического приспособления. Таким методом производится контроль малых отверстий в случаях, когда требуется измерить не собственно диаметр отверстия, а площадь его поперечного сечения (контроль отверстий карбюраторных жиклеров, мундштуков газовых горелок, отверстий входных и выходных сопел). Этим методом определяется пропускная способность отверстия с учетом таких факторов как чистота его поверхности, величина фасок, длина отверстия и т. д., но он не может быть рекомендован для измерения точных сопрягаемых отверстий. Чувствительность пневматических приборов уменьшается с увеличением диаметра контролируемых отверстий. Так, с помощью пневматических приборов с водяным манометром при рабочем давлении Н = 500 мм вод. ст. можно определять отклонения диаметров отверстий в 0,003 мм при номинальных диаметрах до 0,25 мм, разницу в 0,01 мм при номинальных диаметрах от 0,25 до 0,5 мм и разницу в 0,03 мм при диаметрах от 0,5 до I мм [71. При этом контролируемый жиклер устанавливается непосредственно на выходе из камеры. [c.230]

Ввиду применения оптики от обычного микроскопа качество изображения на матированном экране размером 250 X 300 мм недостаточно высокое. В настоящее время оптической промышленностью изготовляется специальный проектор ПЧК для контроля часовых камней и деталей приборов. Проектор имеет сменное увеличение 50 , 100 и 200 для проходящего света применяется лампа 12 в, мощностью 100 вт. Стеклянный слегка наклоненный к горизонту экран имеет размер 350 X 380 мм. Предметный стол без микровинтов имеет поперечное перемещение на 100 им и продольное ка 30 мм. [c.381]

Тарировать микроманометр можно либо абсолютным методом, либо по образцовому прибору (эталону). Абсолютная тарировка производится следующим образом. Пользуясь уровнем, устанавливают основание прибора строго горизонтально. Затем в сосуд прибора выливают точно взвешенные порции жидкости О и отсчитывают вызванные этим перемещения мениска в трубке А/. Если площадь поперечного сечения сосуда обозначить Р (диаметр его должен быть предварительно точно замерен), то увеличение высоты жидкости в сосуде составит [c.332]

Прибор ММИ имеет диапазон измерения 75 мм в продольном направлении и 25 мм в поперечном. Величина отсчета по микропаре 0,01 мм. При размере свыше 25 мм используют концевые меры длины. Прибор БМИ имеет диапазон измерения до 150 мм в продольном направлении и 50 мм в поперечном. Величина отсчета на микропаре 0,005 мм, что достигается в основном увеличением диаметра барабана микропары. Появились микроскопы, у которых микропара снабжается импульсными устройствами с цифровым отсчетом. [c.411]

Ради увеличения контактных поверхностей в паре червяк - колесо и снижения за счет этого контактных давлений зубья колеса выполняют охватывающими червяк в его поперечном сечении (рис. 2.26) с центральным углом дуги охвата 2Х = 90. .. 110°. Для несиловых передач, например, в приводах приборов, червячное колесо может быть выполнено также с цилиндрическим ободом (верхняя часть рис. 2.26). [c.49]

Сужение поперечного сечения теплофикационных сетей вследствие образующихся при коррозии бугров или наростов окислов железа приводит к увеличению гидравлического сопротивления и снижению пропускной способности сетей. При работе тепловых сетей немалые неприятности причиняет обогащение воды продуктами коррозии, что может вызвать скопление их в застойных местах или на участках с малыми скоростями движения. Забивание коррозионными отложениями местных систем отопления целиком выводит из работы отдельные приборы и стояки. [c.140]

Если отвлечься от потерь при отражениях от многочисленных преломляющих поверхностей оптической системы спектрального прибора и от некоторых потерь вследствие поглощения света этой системой, то освещенность изображения щели Е на фотопластинке будет зависеть от величины поперечного увеличения оптической к 8 [c.102]

При испытаниях трубчатых образцов наиболее трудная задача — измерение окружных (поперечных) деформаций. Для получения достоверных данных по окружной деформации, особенно в упругой области, необходимы приборы, имеющие достаточно большой и стабильный коэффициент увеличения. Таковыми являются экстензометры, выполненные по принципу прибора Аистова, модернизированный вариант которого описан в работе [508]. [c.252]

Точность поперечных установок зависит от остроты глаза и увеличения прибора. Для зрительной трубы эта точность определяется выражением [c.59]

Вес поплавка, площадь его поперечного сечения и площадь боковой поверхности являются конструктивными элементами прибора, т. е. величинами постоянными. Практически постоянной является сила трения воздушного потока о поплавок, которая зависит от среднего значения скорости потока воздуха в кольцевом зазоре, образованном конической трубкой и поплавком. Постоянство скорости потока объясняется тем, что с увеличением расхода поплавок подымается по трубке, благодаря чему увеличивается площадь [c.113]

Контроль макроструктуры проволоки производят по излому образцы длиной 200 мм надпиливают или надрезают, а затем ломают. ГОСТ 5663-51 предусматривает также контроль макроструктуры на протравленных поперечных шлифах проволоки без применения увеличительного прибора. В сомнительных случаях разрешается применять лупу пятикратного увеличения. [c.294]

На рис. 20.7 показан прибор, предназначенный для размерной наладки режущего инструмента. В приборе используют окулярный микроскоп с 30 увеличением. Проверку положения режущих инструментов по вертикали осуществляют индикатором /, установленным на стойке. Продольное перемещение каретки с микроскопом равно 300 мм, поперечное — 200 мм. Точность установки инструмента по каждой координате 0,005 мм. [c.233]

Результаты такого опыта, проведенного на специальном приборе [61], показывающие распространение пластических зон в стержне квадратного поперечного сечения, представлены на рис. 66, 67 и 68. Они соответствуют трем величинам давлений на резиновую мембрану, которые относятся как 6 7 10. Темные части, отвечающие упругим зонам, с увеличением давления постепенно уменьшаются. [c.144]

ДЛЯ материала модели, тем больше может быть измеряемая величина и тем меньше чувствительность, требуемая от прибора. Один из способов увеличения поперечной деформации основан на использовании вязкоупругих свойств пластмасс [5]. Изменения толщины порядка 2,5 10 лл измерялись с достаточной точностью компаратором Лейтца с чувствительностью 10" мм и диапазоном измерения 125-10" . нм. То, что модель при этом не была нагружена, создавало дополнительные удобства при измерениях. [c.220]

Для устранения влияния излучения лазера, не претерпевшего дифракции, на работу прибора и обеспечения возможности привязки процесса измерения к одному и тому же дифракционному порядку в широком диапазоне измерений размера в приборе используется ограничивающий экран, установленный на сканирующем зеркале. Такое конструктивное расположение экрана позволяет также максимально приблизить его к входной щели ФЭУ, устранить влияние паразитной дифракции на его краях и уменьшить влияние фоновых засветок на работу ФЭУ. Уменьшению фоновой засЕетки способствует и светофильтр 9, расположенный перед щелью ФЭУ. Телескопическая система служит для увеличения поперечного сечения пучка лазера и этим способствует увеличению допустимого поперечного смещения изделия. [c.265]

По-видимому, смысл, который автор книги предполагал передать данной фразой, изложен не совсем удачно. Действительно, использование длинных образцов в XIX веке преследовало цель повысить разрешающую способность при определении продольных деформаций при заданном уровне разрешающей способности измерения удлинений. Длина базы прибора для измерения изменения поперечных размеров образца здесь ни при чем, если не указывать на увеличение поперечных размеров, пропорциональное увеличению длины образца. Для отыскания же коэффициента Пуассона с достаточной точностью непосредственно как абсолютного значения отношения поперечной и продольной деформации, при условии малости базы прибора для измерения изменения поперечного размера образца, требовало повышения разрешающей способности прибора, выполняющего именно это измерение, с целью повышения разрешающей способности при определении поперечной деформации. Этого и добнлся Баушингер, введя в практику эксперимента свой рычажный зеркальный экстеизометр. К стр. 380.) [c.576]

Отношение ширины изображения щели к ее ширине можно назвать продольным увеличением прибора, а отношение соответствующих высот — поперечным увеличением. Для большинства спектральных приборов как продольное, таки поперечное увеличения близки к единице. Однако для приборов с вогнутыми решетками это, вообще говоря, не так. Величина поперечного увеличения таких приборов определяется астигматизмом решетки и может быть рассчитана с помощью графиков, приведенных на рис. 3.2. Продольное увеличенпе зависит от конструкции прибора и особенно велико для спектрографов скользящего паде- [c.148]

Линейная связь между кривыми увеличения анодного тока Аг и деформационного упрочнения Ат обусловлена тем, что Аф < Ь и М Аф , а в свою очередь Аф Аф° Афлок (26) Ат, причем Аф /Ь = kn AtlaR T, т. е. Аф = k Аф ок, где k < 1 вследствие микроэлектрохимической гетерогенности. На стадии легкого скольжения и заключительной стадии III четко видна тенденция к уменьшению механохимического эффекта. Кроме того, на кривой Аф (е) (см. рис. 14) имеется еще одна площадка (уменьшение эффекта), а на кривой i (е) ее нет. Это, возможно, связано со сменой механизмов деформационного упрочнения при переходе от линейного упрочнения к параболическому в начале поперечного скольжения в первую очередь разряжаются скопления из тончайшего подповерхностного слоя, а так как при измерении Аф потребление тока прибором на несколько порядков ниже, чем при измерении Ai, то этот слой не успевает растворяться раньше, чем удастся зафиксировать его вклад в измеряемую величину Аф. [c.72]

Один из вариантов двухлучевого микрофотометра разработан Р. С. Ильиным и др. в МВТУ им. Баумана [44 I. Особенностью этого микрофотометра является значительная автоматизация измерений, возможность визуального считывания результатов измерений и записи их на регистрирующем потенциометре, а также получение цифровых значений оптической плотности почернений на печатающем устройстве. Микрофотометр имеет увеличение 6. 12 и 20 , размер фотометрируемого участка от 0,0075 x 0,0075 до 0,25Х Х0,25 мм, размер фотометрируемой пластинкн 9X18 см. В приборе предусмотрено автоматическое движение стола в продольном и поперечном направлениях. [c.147]

При использовании объектива (ЮОх) проведено изучение локальной температуры в действующем полупроводниковом приборе (МОП-структуре) [7.10]. При КР-термометрии на длинах волн 514 и 457,9 нм достигнуто субмикронное пространственное разрешение. Методом КР проведено также измерение температуры полупроводникового (InGaAsP) лазера во время его работы и действующего полевого транзистора при расстоянии между стоком и истоком 5 мкм (транзистор изготовлен из полупроводниковых твердых растворов А3В5 на подложке GaAs) [7.16]. Температура лазера, излучающего на длине волны 1,48 нм, увеличивается пропорционально току накачки, и при токе 400 мА и излучаемой мощности 140 мВт температура излучающей области выше температуры окружающей среды на 35 °С. При работе полевого транзистора (ток 40 мА) наибольшее увеличение температуры, измеренной с пространственным разрешением 0,4 мкм, происходит вблизи стока [Ав 60-Ь80 °С), тогда как вблизи истока нагрев меньше [Ав 35-Ь45 °С). Погрешность термометрии оценивается авторами величиной 5 °С. Температуру активного слоя в светоизлучающем диоде на основе Si измерили по сдвигу частоты поперечного оптического фонона [7.17]. Показано, что при плотности тока накачки 200 А/см температура достигает 350 °С. [c.186]

Тарировка микроманометра Крелля производится следующим образом. Измеряют диаметр (/ широкого цилиндрического сосуда (этот сосуд должен быть выточен очень точно). Затем, пользуясь уровнем, тщательно выравнивают прибор, после чего начинают подливать в широкий сосуд взвешенные порции жидкости и каждый раз отсчитывают по шкале положение жидкости в узкой трубке. Каждая порция жидкости, налитая в широкий сосуд, нагружает первоначальный уровень и приводит к увеличению давления на величину, равную весу порции, деленной на плошадь поперечного сечения широкого сосуда При этом равновесие первоначальной системы жидкости 4 [c.32]

Прибор позволяет записывать диаграммы неровностей поперечного сечения детали в полярных координатах (круглограммы) с шириной поля 30 мм и увеличениями от 125 до 10 000>< (13 ступеней). Отклонение действительного увеличения от номинального значения находится в пределах 4 о при коротком щупе и 8% при среднем и длинном ш,упах (рис. II.151, б). Радиусы закругления составяют 0,5 и 1,5 лл/, что исключает нанесение на круглограмму неровностей с малыми шагами, т. е. шероховатости поверхности наибольшее число неровностей на длине окружности, регистрируемое прибором, равно 240. [c.485]

К Прибору поставляется вычислительная приставка, позволяющая нанести на диаграммный диск базовую окружность или эллипс, вычисленные по методу наименьших квадратов. Имеется также ряд других дополнительных устройств, расширяющих область применения прибора. К этим устройствам относятся механизм подъема шпинделя, механизирующий вертикальный подъем шпинделя на длине 100 мм, облегчающий проверку оси контролируемого изделия относительно направления вертикального перемещения шпинделя и позволяющий фиксировать осевые координаты проверяемых поперечных сечений с погрешностью не более 1,25 мкм (по заказу поставляется переключатель, позволяющий записывать некруглость в прямоугольных координатах с помощью самописца профилографа-профилометра Талисерф ) регулируемый предварительный усилитель для изменения радиального увеличения от 0,5 до 2 , что расширяет диапазон увеличений до значений от 25 до 20 ОООХ. [c.487]

Степень шероховатости осадка оценивали визуальным осмотром при увеличении в 80 раз и с помощью профилограф-профилометра. Микроструктуру золотых осадков изучали на поперечных шлифах с помощью металлографического микроскопа МИМ-7. Структуру тонких золотых осадков, снятых с образцов из нержавеющей стали, изучали после электролитического травления на приборе Е]1 роУ1 з1 в электролите следующего состава, г/л 3—4 серебра металлического, 20 цианистого калия, 20 углекислого калия. [c.94]

Отечественной промышленностью выпускается проектор (фиг. 154,а) типа ЧП, предназначенный специально для контроля часовых деталей, резьб, шаблонов и др. Проектор может работать в проходящем и отраженном свете. Оптическая схема прибора приводится на фиг. 154,6. Прибор работаете увеличениями 10 ,20 ,50 ,100 Линейное поле зрения соответственно от 56X48 до 5,6 X 4,8 мм. Размер экрана 560X460 мм размер рабочего стола 140X160 мм. Пределы измерения прибора в продольном направлении до 40 мм, в поперечном до 25 и в вертикальной плоскости до 85 мм. Резкое изображение на экране обеспечивается на площади диаметром до 300 мм. Цена деления барабана микровинта 0,01 мм погрешности микропары 0,003 мм. Стол может поворачиваться на 360°. Цена деления угловой шкалы стола 3. [c.305]

Для малых углов падения os0 l и SK= / 2h). Спектральный интервал, занимаемый исследуемым излучением, не должен превышать этой величины, чтобы максимумы соседних порядков от отдельных монохроматических компонент излучения не перекрывались. По этой причине интервал АЯ. называют свободной областью дисперсии или постоянной интерферометра. В 6.6 показано, что с увеличением расстояния h между пластинами возрастает разрешающая сила прибора, характеризующая способность разделять две близкие по длине волны монохроматические спектральные линии. Однако из (5.81) видно, что увеличение h сопровождается уменьшением области дисперсии SK = l / 2h). При типичных значениях (ft = 5 мм Я. = 0,5 мкм) ДЯ. составляет менее 0,03 нм. Это значит, что при работе с интерферометром Фабри—Перо требуется (за очень редким исключением) дополнительный более грубый спектральный прибор для выделения в излучении источника спектрального интервала, не превосходящего дисперсионной области интерферометра. В простейшем случае может быть применен фильтр, но чаще интерферометр скрещивают с призменным или дифракционным (см. 6.6) спектральным прибором. Можно, например, спроецировать интерференционные кольца на плоскость щели спектрографа так, чтобы центр картины совпал с серединой щели. Когда исследуемый спектр состоит из отдельных линий, изображения щели в свете этих линий, получающиеся в соответствующих местах фокальной плоскости спектрографа, оказываются пересеченными поперечными дугами, представляющими участки колец (рис. 5.31). Таким образом можно изучать структуру спектральных линий, состоящих из нескольких близко расположенных компонент, так как каждая из компонент образует свою систему интерференционных колец. Измеряя на спектрограмме, какую долю от расстояния ДЯ. между дугами колец соседних порядков составляет расстояние между дугами расщепившихся колец, можно определить спектральные интервалы между компонентами линии, структура которой не разрешается спектрографом. Измерения обычно производят на втором или третьем от центра кольце, где дисперсия еще достаточно велика, но изменяется не столь быстро, как в центре интерференционной картины. [c.263]

Регистрация параметров движения производилась электрическими датчиками и усилительной аппаратурой с записью на пленку с помощью осциллографа МПО-2. Начальное смещение отклонение от положения равновесия г и сила трения Р фиксировались проволочными датчиками, наклеенными на упругое кольцо 4 динамометра. Скорость стола г регистрировалась датчиком 7 индукционного типа, включенным между концом ходового винта и столом. Вертикальные перемещения стола записывались с помощью индуктивных датчиков 8, установленных по углам стола. В качестве базы, относительно которой измерялись вертикальные перемещения, использовались тонкие стальные ленты 9, натянутые наподобие струны вдоль направляющих и допускающие регулировку в вертикальном и в поперечном направлениях. Абсолютная скорость привода V отмечалась контактом 10, скользящим по виткам ходового винта. Прибор П104 завода Вибратор использовался в качестве отметчика времени. Расшифровка осциллограмм производилась на проекторе при увеличении X 10 с использованием данных предварительной тарировки аппаратуры. [c.56]

Машина обеспечивает ббльшую производительность (в несколько раз) контроля, чем универсальный микроскоп. Это достигается за счет большей быстроты перемещения кареток, осуществляемого посредством реечных передач (рис. 2.24). Для продольного грубого перемещения служит маховичок 1, а для поперечного —10. Точное перемещение осуществляется ручками 2 и 9. На продольных салазках закреплен плоский стол 3, на который может устанавливаться круглый оптический или механический стол с лимбом, имеющим цену деления Г, и нониусом с величиной отсчета 10". На салазках поперечного перемещения установлен тубус отсчетного микроскопа 7. Центральный микроскоп имеет два сменных объектива для получения увеличения 50+ и 30+. При увеличении 30+ в окуляре 5 применяют сетку с перекрестием и 25 концентрическим окружностями с интервалом через 0,1 мм. На продольной и поперечной каретках вмонтированы стеклянные шкалы длиной 100 мм. Отсчет перемещений кареток по этим шкалам производится посредством отсчетного микроскопа с увеличением 50+. Оптическая система прибора позволяет производить измерения перемещений в продольном и поперечном направлении. Это обеспечивается переменным освещением шкал и наличием специальной системы призм. [c.128]

При контроле нрименяют аттестованные коллиматоры, миры, уровни и т. п., естественные эталоны— напр, длину волпы света, изменяют положенпе прибора, напр, поворачивают его вокруг неподвп ж-ной оси на 180°. Различают два вида Ю. о. с. н е -зависимую, когда каждая погрешность устраняется отдельно от других, и зависимую, когда взаимосвязанные погрепшости устраняются одновременно путем последовательных приближений. При Ю. о. с. производится 1) фокусировка изображения, устранение параллакса, регулировка масштаба изображения и увеличения оитич. систем продольными смещениями их элементов 2) установка оптических и визирных осей линзовых систем, плоскостей зеркал, главных сечений призм и т. д. относительно осей вращения, опорных плоскостей и др. баз поперечными сдвигами и наклонами оптич. элементов 3) ориентирование шкал, щелей, решеток и т. п., а также изображений предметов, их траекторий в поле зрения — разворотами онтич. элементов вокруг оси системы [c.540]

Магнитный электроразрядный маио(метр, так же как ионизационный, реагирует на изменение эффективного поперечного сечения ионизации. Как течеискатель он обладает чувствительностью, примерно той же, что, и манометр ЛМ-2, Поскольку относительные чувствительности их к газам совпадают. Возможность повышения чувствительности за счет увеличения (на порядок) токовой чувствительности электроразрядного манометра лишь кажущаяся (без применения специальных компенсационных схем), ибо одновременное повышение отсчета от фонового давления заставляет работать на более грубых шкалах измерительного прибора. [c.142]

Нельзя дать в общем виде каких-нибудь определенных соотношений, связывающих фокусные расстояния, отверстия компонентов системы, расстояния между компонентами и требования к характеристикам (увеличение, апертура, поле зрения, качество изображения), которым должна удовлетворять оптическая система. Для большинства оптических систем очень недалекого прошлого едва ли приходилось даже ставить этот вопрос у всех систем были прообразы, из которых оии получались путем постепенных изменений и улучшений. Эго подгверждает история развития астрономических и геодезических труб, призменных биноклей. С появлением ряда новых оптических приборов, главным образом военного назначения, произошли значительные сдвиги в рассматриваемом направлении к этим приборам предъявляются жесткие требования в отношении размеров, как поперечных, так и продольных, и оптических характеристик, которым эти приборы должны удовлетворять, давая при этом изображение хорошего качества. [c.300]

Второе условие может быть выполнено, если поперечный размер дифракционной пластинки будет порядка Д/а, где а максимальный диаметр детали, контраст которой надо повысить. Пусть этот размер соответствует разрешающей способности прибора, т. е. а = 400 А (40 нм). Для электронного микроскопа, снабженного объективом с фокусным расстоянием / = 3 мм (X = 0,04 А) (0,004 нм), величина Д/а =0,3 мкм. В этом случае значение максимального углового диаметра 2оСс, который должен быть стянут из точки в объекте к источнику, чтобы не перекрыть изображения дифракционной пластинки, мало. При больших увеличениях освещение изображения может оказаться недостаточным. Чтобы облегчить выполнение указанного условия, вместо апертуры конденсора применяют щелевые источники и линейные дифракционные пластинки. [c.18]

Коррозия электрического оборудования и научных приборов. Эффек-ривность электрического прибора, недостаточно хорошо защищенного от коррозии, может изменяться за счет коррозии несколькими путями. Коррозия проволочных витков счетчика будет проводить к уменьшению поперечного сечения проволоки и соответственному увеличению электрического сопротивления. В результате отсчеты будут неточными. Даже еще более катастрофическое действие могут оказывать продукты коррозии на контакты, поскольку при малой наложенной разности потенциалов переходное сопротивление может оказаться настолько большим, что протекание тока прекратится. [c.459]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...