Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Оптические Лучи апертурные

Конденсор представляет собой систему линз или других оптических деталей, собирающую лучи от источника света на предметы, рассматриваемые или проектируемые с помощью оптических приборов. Апертурная диафрагма — непрозрачная преграда, наиболее сильно ограничивающая световой пучок, падающий на оптическую систему.  [c.91]

Необходимый компонент оптической системы — апертурная диафрагма, которая ограничивает телесный угол пучка лучей, образующих изображение предметного источника. Все элементы системы формируют изображения апертурной диафрагмы. Те нз них, которые находятся в пространстве предмета и изображения, называют входным и выходным зрачками системы [45]. Изображение апертурной диафрагмы, формируемое г—1-й поверхностью, назовем входным зрачком для i-ro элемента, а следующее ее изображение, формируемое t-м элементом — его выходным зрачком (одновременно это входной зрачок для г+ 1-го элемента). Координаты точки в плоскости входного зрачка обозначим II,, в плоскости выходного — Ч - Они связаны линейным увеличением в зрачках Y/ S = уД , Пг==У,- Чг Расстояния от вершины поверхности до входного и выходного зрачков обозначим и (правило знаков то же, что и для s. y Для t l выполняются соотношения, полностью аналогичные (2.12),  [c.54]


Оптическая схема типичной модели двухлучевого микроинтерферометра МИИ-4 показана на рис. 22, а. От лампы 1 через конденсор 2, апертурную диафрагму 3, полевую диафрагму 4 и объектив 5 пучок лучей падает на пластину 8 с полупрозрачным слоем и разделяется на два пучка когерентных лучей примерно одинаковой интенсивности.  [c.91]

Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Для изучения микроструктуры металлов используют металлографические микроскопы (рис. 1.4). Подготовленный соответствующим образом шлиф 1 помещают перпендикулярно оптической оси микроскопа в плоскости, совпадающей с передней главной фокальной плоскостью объектива 2. Шлиф освещается проходящим через объектив почти параллельным оптической оси пучком света, который формируется посредством осветительной системы, состоящей из источника (лампы) 3, коллекторной линзы 4, апертурной 5 и полевой 7 диафрагм, вспомогательных линз 6, 8 и полупрозрачной пластинки 9. Световые лучи, отражающиеся от участков поверхности шлифа, приблизительно нормальных оптической оси микроскопа, попадают в объектив. а те лучи, которые отражаются от неровностей поверхности, не попадают в его поле. На конечном, изображении поверхности  [c.22]

Метод косого освещения. При этом методе в создании изображения участвуют преимущественно косые лучи, не параллельные оптической оси системы. Повышение контраста при косом освещении связано, во-первых, с увеличением роли дифрагированных на разных элементах структуры объекта лучей в формировании изображения и, во-вторых, с образованием теней от рельефа поверхности объекта. Поэтому косое освещение целесообразно применять при достаточно резком рельефе поверхности шлифа, так как только при этом условии выступающие участки будут отбрасывать тень на остальную поверхность, которая дает меньшее отражение луней. Косое освещение достигается обычно включением между объективом и полупрозрачной пластинкой призмы косого освещения или смещением, по отношению к оптической оси системы апертурной диафрагмы, вращением которой изменяется плоскость падения света на объект.  [c.26]

В гл. 2 на частном примере было показано, что результат дифракции от периодических объектов в форме оптической решетки определяется структурой решетки, характеризуемой ее апертурной функцией. То же самое оказывается верным и для результатов по дифракции рентгеновских лучей, полученных из исследования расположения атомов, образующих периодическую структуру кристалла, подобную решетке. Мы отмечали также, что оптическая дифракция является промежуточным шагом в формировании изображений с помощью линзы. При этом линза выполняет задачу сведения дифрагированного света в плоскости изображения. При работе с рентгеновскими лучами линза непригодна, и для формирования изображения структурного расположения атомов в кристалле при воздействии рентгеновских лучей должны использоваться другие, нежели дифракция, способы построения изображения.  [c.49]


Пусть S (рис. VI.9)—изображение апертурной диафрагмы первой половинкой объектива. Примем, что апертурная диафрагма имеет вид круга радиусом р с центром на оптической оси системы. Пусть Зц — контур входного зрачка, изображаемого лучами.  [c.434]

Оптическая схема микроскопа представлена на фиг. 37. При работе в светлом поле источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 проектируется в плоскость препарата 4. В ходе лучей стоит полупрозрачная  [c.82]

Оптическая схема микроскопа показана на фиг. 53. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 — в плоскость объекта 4. После поляризатора (поляризационной призмы) 6 лучи попадают на полупрозрачную отражательную пластинку 7, направляющую свет в объектив 5, который работает и как часть осветительной системы, и как объектив, дающий изображение объекта. Отражательная пластинка 7 может быть заменена призмой 8, которая несколько увеличивает освещенность объекта и создает эффект косого освещения, выявляющего рельеф поверхности образца. Отраженные от объекта лучи после объектива идут в анализатор 9 (поляризационный фильтр) и изображение объекта наблюдается через окуляр 10.  [c.107]

Формирование широких и однородных сходящихся пучков для процесса копирования является достаточно сложным, так как требует применения оптических элементов больших размеров (линз, зеркал). Поэтому на практике на этапах записи и восстановления голограммы-оригинала и копирования неглубоких монохромных объектов используются расходящиеся пучки. Для минимизации возникающих при этом искажений необходимо строить оптические схемы таким образом, чтобы апертурные углы пучков были минимальными и можно было считать лучи параллельными.  [c.31]

Величины 6go и ст можно рассматривать как величины предмета и входного апертурного угла для оптической системы, работающей в обратном ходе лучей.  [c.176]

Составляя отношение обратных величин отрезков для реального апертурного луча к обратным величинам отрезков для нулевого луча — отношение оптических сил, — получим величину относительной сферохроматической аберрации.  [c.195]

Суш,ность этого приема заключается в том, что в перестраиваемой оптической системе ее радиусы изменяются таким образом, что углы излома апертурных лучей на всех поверхностях системы сохраняются такими же, какими они были в исходной симметричной системе. Кратко этот прием может быть назван методом сохранения углов излома апертурных лучей.  [c.295]

При такого рода перестройке оптической системы удобно сохранить высоту h апертурного луча в плоскости материальной диафрагмы неизменной. Поэтому, получив новые значения углов а, переходим к определению высот h, пользуясь формулами  [c.297]

Лучи, проходящие через центр апертурной диафрагмы, называются главными лучами. Все лучи, прошедшие через входной зрачок, пройдут через выходной зрачок. Всякий луч, идущий вне светового отверстия оптического изображения материальной диафрагмы, будет задержан оправой самой вещественной диафрагмы, расположенной или внутри системы, или в выходном зрачке (фиг. 53). Во всех трех случаях апертурная диафрагма является выходным зрачком, так как ее отверстие служит основанием всех конусов лучей, направляющихся к отдельным точкам изображения.  [c.111]

Микроинтерферометры по своей оптической схеме представляют сочетание интерферометра Майкельсона с микроскопом. В схеме микроинтерферометра МИИ-4 (рис. 3.32) от лампы 1 через конденсор 2 апертурную диафрагму 3, полевую диафрагму 4 и объектив 5 пучок лучей падает на пластину 8 с полупрозрачным слоем и разделяется на два пучка когерентных лучей примерно одинаковой интенсивности. Нить лампы 1 проецируется конденсором 2 в плоскость апертурной диафрагмы 3. Объектив 5 и пластина 8 проецируют изображение апертурной диафрагмы в плоскости зрачков входа одинаковых микрообъективов 6 и 10, а изображение полевой диафрагмы — в бесконечность. Даваемые объективами 6 VI 10 вторичные изображения полевой диафрагмы проецируются на испытываемую поверхность 7 и зеркало 11. Компенсационная пластина 9 уравнивает длины хода в стекле двух пучков лучей. Отразившись от испытуемой поверхности и зеркала, пучки  [c.119]


Так как сигнал фотоумножителя в конечном счете управляет электронным лучом в кинескопе 8, то на экране кинескопа воспроизводится изображение объекта. Катод фотоумножителя располагается в выходном зрачке оптической системы, которым здесь является апертурная диафрагма конденсора. Это делается для того, чтобы при движении луча по препарату световое пятно в зрачке оставалось все время неподвижным, а менялась лишь его интенсивность. Таким образом, исключается влияние неравномерной по площади чувствительности фотокатода.  [c.77]

Апертурная диафрагма, а следовательно, и выходной и входной зрачки определяют ширину (отверстие) активных пучков, т. е. влияют на резкость изображения и светосилу инструмента. Однако не от всякой точки предмета лучи, прошедшие через входной зрачок, пройдут через оптическую систему и, следовательно, изобразятся ею. Действительно, пучок от точки М (рис, 14.6) целиксм минует переднюю линзу системы, и точка М не будет ею изображена. Пучок отточки N частично пройдет через систему и даст изображение, но освещенность его будет уменьшена, ибо часть пучка задержится оправой линзы 1 виньетирование). От точки же Q через систему пройдет пучок такой же ширины, как и от осевой точки О.  [c.322]

Указание. Идеальную оптическую систему представить в виде двух подсистем, между которыми от каждой точки предмета идет параллельный пучок лучей (рис. 33). Располагая апертурную диафрагму в параллельных пучках, получаем схему наблюдения дифракции Фраунгофе)а.  [c.888]

Оптическая схема микропрофилометра МИИ-12 представлена на рис. 27, а. Пучок лучей от осветителя 1 проходит через коллектор 2, апертурную диафрагму 3, линзы и 7 и полевую диафрагму 6, отражаясь от пластин 5 и 3, и поступает на отражательную пластину И, на которой нанесен светоделительный слой. Параллельный пучок лучей, отраженный от пластины 11, собирается линзами интер ренционного объектива 10 в точку на исследуемой поверхности 9, затем, отразившись от нее, снова проходит через интерференционный объектив и пластину И.  [c.100]

Апертурный луч оптической системы 323 Апертурный угол оптической системы 322 Апохроматические объективы (апохро маты) Технические характеристики 332, 333 Аппаратура сигнализации 538  [c.702]

Рис. 2.2.2. Схема хода лучей в оптической системе микроскопа МИМ-7 1 — лампа 2 — коллектор 3 — зеркало 4 — светофильтр 5 — апертурная диафрагаа Рис. 2.2.2. Схема хода лучей в <a href="/info/14569">оптической системе</a> микроскопа МИМ-7 1 — лампа 2 — коллектор 3 — зеркало 4 — светофильтр 5 — апертурная диафрагаа
Оптическая схема. микроскопа показана на рис. 1.8, а. Свет от источника 1 (лампы накаливания с йодным цик.том типа КИМ9-75) проходит через коллектор 2 и призмой 3 проецируется в плоскость апертурной диафрагмы 4 далее линзой 5, зеркалом 6, линзой 7 и полупрозрачной пластинкой 8. изображение источника 1 и апертурной диафрагмы проецир) -ется в плоскость опорного торца под объектив. Полевая диафрагма 9 помещается. в фокальной плоскости второй осветительной линзы 7 и проецируется сю в бесконечность, а после объектива — в плоскость предмета. Лучи, пройдя объектив и отразившись от шлифа, вновь проходят через объектив, пластинку 8 и телеобъективом 10 собираются в промежуточной плоскости, являющейся плоскостью предмета для панкратической системы 11. Затем лучи отражаются от зеркал 13 и 14, проходят через линзы оборачивающей системы 12 и призму 15 и поступают в бинокулярную насадку 1в.  [c.29]

В целом можно сказать, что комбинированный симметричный объектив с дифракционной асферикой довольно ограничен по своим возможностям. Силовым элементом в нем будет мениск с равными радиусами, который при небольшой толщине ввиду значительной кривизны поверхностен (требуемой для получения заданной оптической силы) не способен обеспечить значительного апертурного угла, т. е. высокого разрешения. При аномальном увеличении толщины мениска (di > г), добиваются высокого разрешения на оси системы, однако в этом случае входной зрачок объектива расположен вблизи предметной плоскости, в результате чего при отходе от оси резко возрастает угол между главным лучом и нормалью к поверхности мениска. Это приводит к росту аберраций высших порядков и уменьшению рабочего поля. Так, при габаритном размере системы L = 810 мм, что совпадает с габаритным размером симметричного двухлинзового дифракционного объектива при фокусном расстоянии каждой ДЛ f = 270 мм, и разрешении б = = 3 мкм на длине волны = 441,6 нм удается получить рабочее поле диаметром всего лишь 16 мм (ср. с данными табл. 4.6). Если не предъявлять высоких требований к разрешению и рабочему полю, комбинированный, триплет с дифракционной асферикой не лишен положительных качеств его светопропускание может быть обеспечено на уровне обычного рефракционного объектива, а хроматизм позволяет использовать излучение газоразрядных приборов, например типа ртутной лампы высокого давления (см. гл. 6).  [c.168]

М. Г. Шпякин [141 предлагает способ нахождения системы с минимальными габаритами и наибольшими коррекционными возможностями, заключающийся в расчете хода двух параксиальных лучей, другими словами, в определении высот пересечения апертурного и полевого (главного) параксиальных лучей hay с поверхностями и оптических сил ф. На основании изучения наилучшим образом зарекомендовавших себя объективов ( Ан-женье , Варотал ) в [14] рассматривается вопрос о достижении минимально возможной длниц системы при заданных ее параметрах и требуемом качестве изображения. Для этой цели вводится некоторый эмпирический критерий качества объектива С вида  [c.306]

В настоящее время известны две группы оптических систем, образующих изображения предметов. Признаком, отличающ,им друг от друга эти группы, является ход изменения длины оптического пути с апертурным углом. Для первой группы хорошо известных оптических систем, состояш,нх из лннз и зеркал, длина оптического пути от точки объекта до его изображения является постоянной или почти постоянной вдоль всех лучей, пересекаюш,их любую точку входного зрачка. Для второй—менее известных н не получивших распространения оптических систем, примером которых служит зонная пластинка Сорэ или ее видоизменения (зонная пластинка Вуда [71 и др.), длина хода непостоянна и может изменяться на любое число длин волн, но принимаются меры к тому, чтобы длина оптического пути для всех точек работающей части зрачка могла быть представлена в виде а -Ь АХ, где а величина, составляющая по возможности небольшую часть длины волны й — любое целое число X — адина волны.  [c.562]


Оптическая схема (фиг. 27) при наблюдении препаратов в ультрафиолетовых лучах состоит из двух частей системы освещения и проектирования и системы, преобразующей ультрафиолетовое изображение в видимое. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 проектируется конденсором 4 в плоскость препарата 5. Для выделения длины волны света, необходимой для исследования, в осветительное системе устанавливаются различные светофильтры. Объектив 6 и дополнительная система 7 проектируют изображение препарата на люминесцирующий экран 8, который превращает невидимое изображение в видимое. Это видимое изображение рассматривается с помощью вспомогательного микроскопа, состоящего из объектива  [c.62]

Пусть теперь апертурная диафрагма помещена в переднюю фокальную плоскость линзы, т.е. реализуется оптическая система с телецентрическим ходом лучей (рис. 58). Тогда в пространстве изображений главные лучи оказываются параллельными оптической оси. Следовательно, спеклы также ориентированы параллельно оптической оси, и Дг = бг, т.е. поперечное смещшие спеклов в некоторой области субъективной спекл-структуры равно локальному изменению масштаба изображения вследствие продольного смещения объекта.  [c.111]

В комплект микроскопа МБИ-3 входит апланатиче-ский конденсор прямого и косого освещения ОИ-14. Он представляет собой оптическую систему из двух линз плосковыпуклой и параболической, заключенных в оправу, которая крепится в гильзе подвижного кронштейна конденсора. С нижней частью гильзы соединяется апертурная ирисовая диафрагма и откидная оправа светофильтра. Конденсор может перемещаться в вертикальной плоскости совместно с кронштейном с помощью реечного механизма. Косое освещение объектов достигается плавным перемещением апертурной диафрагмы в горизонтальной плоскости на расстояние 10 мм. В комплект конденсора входит также дополнительная осветительная линза в оправе. Заменяя ею оправу с плос-ковьшуклой линзой, можно получить конденсор с апертурой 0,4. Использование того или другого конденсора зависит от применяемого объектива. Т1ри работе с объективами от 20Х и выше следует пользоваться конденсором "С апертурой Ь4, при работе с объективами от 20 X и ниже — конденсором с апертурой 0,4. Конструкция конденсора ОИ-14 позволяет также работать без его линз, используя только апертурную диафрагму. Это может быть полезным при очень малых увеличениях микроскопа. Следует помнить, что получение правильного освещения возможно только при хорошо сфокусированном конденсоре. Фокусировка производится перемещением конденсора по вертикали, что изменяет угол схождения лучей, падающих на препарат. Числовая апертура конденсора по характеру аналогична числовой апертуре объектива. Для полного использования числовой апертуры конденсора нужно, чтобы она соответствовала числовой апертуре объектива. Числовая апертура конденсора уменьшается при опускании его и при сужении апертурной диафрагмы.  [c.44]

Выше были проведены основные теоретические положения о разрешающей способности объектива и способы повышения разрешения. Однако во всех случаях рассуждения и построенные на их основе зависимости рассматривались относительно световых лучей, 1йправ-ленных параллельно оптической оси микроскопа. Если же для освещения препарата использовать косо падающие лучи, то при наиболее косом освещений, насколько оно возможно, разрешающая способность увеличится ровно вдвое. Пределом наклона световых луч.ей по отношению к оптической оси объектива следует считать угол, при котором световые лучи еще мoгyf попасть в объектив и который приблизительно равен половине апертурного угла используемого объектива. Таким образом, при косом освещении микрообъектов можно практически вдвое увеличить разрешающую способность объектива, не изменяя среды, в которой изучается препарат, и применяемого источника света (22, с. 146]. В табл. 4.3 приведены вычисленные значения разрешающей способности для наиболее распространенных объективов при вертикальном и наиболее, косо падающем свете при ис-  [c.162]

На рис. 281 приведена схема фотометра с бнприз1гон Френеля с оптическими полями зрения. Осветитель имеет здесь тоже один источник света, как и фотометр Пульфриха. Однако здесь источник света играет роль зрачка входа, а осветительные линзы (96, и 06 играют роль люков входа и проектируются коллимационной линзой К в плоскость лпнзы о, соединенной с бипризмой Р. Изображения входных отверстий п 1. как апертурные диафрагл1ы проектируются линзой О с бипризмой в зрачки выхода прибора й, и где и устанавливается зрачок глаза. На рис. 282 дан ход лучей зрения через такой фотометр.  [c.351]

Все другие снособьг сочленения микроскопа со спектральным прибором, в частности с монохроматором, ничего принципиально нового не дают. Действительно, применение монохроматора позволяет, вообще говоря, сочленить его с микроскопом в обратном порядке, так что вначале после источника идет оптическая система монохроматора, а после нее — оптическая система микро- скопа. Однако от такой перестановки ход лучей через оптические системы сочлененных приборов, по закону обратимости лучей, не должен измениться. Согласование апертурной и полевой диафрагм остается тем же. Поэтому, обращаясь к рис. 307, можно теперь щель 8р спектрального прибора рассматривать как выходную щель монохроматора (полевая диафрагма), которая играет роль источника монохроматического излучения. Б плоскости же люка Л теперь должен быть расположен не источник света или осветительная линза О, а приемник света (например, фото- или термоэлемент).  [c.400]

Ограничение пучков в оптических системах в общем случае осуществляется по-разному для лучей, исходящих из разиых точек. предмета. Диафрагма, которая ограничивает пучок лучей, формирующий изображение расположенной на оси системы точки предмета, называется апертурной или действующей. Ее роль может выполнять оправа какой-либо линзы или специальная диафрагма, расположенная либо между линзами, либо перед системой или после нее. Изображение апертурной диафрагмы (действительное или мнимое), создаваемое находящейся перед ней частью оптической системы, называется входным зрачком, а изображение, создаваемое расположенными за диафрагмой оптическими элементами, — выходным зрачком (рис. 7.17). Входным зрачком определяется апертура — угол раскрытия пучка лучей, идущего из точки предмета Р через систему.  [c.348]

Когда апертурная диафрагма В расположена вблизи фокальной точки линзы (рис. 7.18,6), изображение диафрагмы в пространстве предметов удалено в бесконечность через центр диафрагмы пройдут те лучи, которые до линзы шли параллельно оптической оси. Главные лучи (через центр диафрагмы) действующих световых пучков, формирующих изображения предметов А и В. перед линзой направлены параллельно оптической оси. Поэтому иа экране изображения предметов А и В. лежащих на разных расстояниях, имеют оданаковые размеры (телецентрнческая перспектива). Изменение расстояния до предмета влияет в этом случае только на резкость изображения, но ие на его размеры. Такая перспектива применяется в измерительных микроскопах.  [c.350]

В месте установки исследуемого объекта апертурный угол составляет Ю , наименьшее сечение пучка лучей 6x20 мм. Сменный коллектив предназначается для согласования оптических систем осветителя и монохроматора и одновременно обеспечивает герметизацию внутреннего объема осветителя. В области спектра  [c.417]



Смотреть страницы где упоминается термин Оптические Лучи апертурные : [c.234]    [c.323]    [c.439]    [c.351]    [c.27]    [c.49]    [c.82]    [c.75]    [c.76]    [c.37]    [c.183]    [c.350]    [c.284]    [c.203]    [c.57]   
Справочник машиностроителя Том 2 Изд.3 (1963) -- [ c.323 ]



ПОИСК



Х-лучи



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте