Дифракция на ленте

В этом параграфе на примере двух задач—дифракции на ленте (щели) II излучения из секториального рупора к уголковой антенны— будут сопоставлены результаты расчетов по различным [c.190]

В гл. V мы вернемся к задаче о дифракции на ленте и наряду с рассмотрением вторичной дифракции приведем результаты численных расчетов по формулам [c.53]

ВТОРИЧНАЯ ДИФРАКЦИЯ НА ЛЕНТЕ. [c.131]

I 21. ВТОРИЧНАЯ ДИФРАКЦИЯ НА ЛЕНТЕ, Я-ПОЛЯРИЗАЦИЯ) [c.136]

ВТОРИЧНАЯ ДИФРАКЦИЯ НА ЛЕНТЕ -ПОЛЯРИЗАЦИЯ) [c.144]

Как и в случае дифракции на ленте,. новые (приближенные выражения учитывают в какой-то мере и третичную дифракцию [см. формулы (23.05) и"рис. 48]. [c.171]

При рассмотрении дифракционных задач первой группы нужно иметь в виду принцип двойственности [4], который позволяет легко переходить от ленты к щели, от диска к круговому отверстию и д. В литературе, как правило, предпочитают рассматривать отверстия в бесконечном плоском экране, в то время как в нашей книге исследована дифракция на ленте и диске, что облегчает переход к объемным телам (см. замечание в начале данной главы). [c.177]

Уфимцев П. Я Вторичная дифракция на ленте. ЖТФ, 28, № 3, 569—582, 1958. [c.237]

Задачи дифракции волн на простых решетках из лент, лежащих в одной плоскости, занимают особое место в теории дифракции на периодических структурах, поскольку именно для них впервые получены строго обоснованные решения, позволившие эффективно, в полном объеме, аналитически и численно проанализировать электродинамические характеристики ряда структур [25, 30, 63, 89, 135, 136, 207]. Математический аппарат, построенный в [25, 63] применительно к плоским ленточным решеткам, стал мощным импульсом, значительно ускорившим решение многих актуальных задач прикладной электродинамики. Подробный перечень соответствующих работ содержится в библиографии к [25, 63]. [c.37]

Теперь мы можем перейти к применению полученных результатов для решения конкретных дифракционных задач. Простейшей из. них является задача о дифракции на бесконечно длинной ленте, которая имеет [c.47]

У Ф и M Ц e в II. Я. Приближенный расчет дифракции плоских электромагнитных волн на некоторых металлических телах, ч. I. Дифракция на клине и ленте. ЖТФ, 27, X . 8, 1840—1849, 1957. [c.237]

Комбинацию этих двух эффектов называют просто эффектом размера источника , а его величина при поочередном наблюдении черного тела в печи и ленточной вольфрамовой лампы в нормальных условиях достигает значений в несколько десятых долей процента. Это показано на рис. 7.36. Величину компонента, обусловленного дифракцией, нетрудно вычислить [13]. На рис. 7.36 он показан штриховой линией. При сравнении вольфрамовой ленты шириной 2 мм, но очень длинной, с черным телом в печи эффект размера источника будет достигать примерно 0,2%. При сравнении двух черных тел эффект размера источника будет зависеть от различия в распределении яркостей в двух печах. Как и во всех процессах дифракции и рассеяния, эффект возрастает очень быстро при малых углах и очень медленно спадает при больших углах, как ясно из рис. 7.36. [c.379]

В общем случае поляризаторы, рассматриваемые в данной главе, представляют собой решетку из вертикальных металлических лент, помещенную в сложный диэлектрик (рис. 137). Для изучения простейшего случая рассмотрим сначала дифракцию линейно-поляризованной плоской волны (вектор Е составляет угол 45° с осью Ох) на ленточной ножевой решетке, где во = Sj = 82 = 1. Поскольку частные характеристики такой решетки для отдельных поляризаций исследованы в 6, при анализе будем опираться на эти результаты. [c.199]

В этп.ч работах рассматривается дифракция на щели в плоском экране для граничного условия Дирихле в силу прниципа Бабине эта задача эквивалентна задаче дифракции на ленте для граничного условия Неймана. [c.190]

Приведенные результаты относятся к задаче дифракции на ленте при граничном условии Пейматга. В случае граничного условия Дирихле сходимость как МПД, так и МСП существенно [c.196]

Сравнение расчета той же задачи, проведенного В. А. Попи-ченко по МСП с расчетом ио методу интегральных уравнений [93], показало, что относительная погрешность не превосходит 0,4%. Напомним, что те же порядки погрешности в приближении первичной и вторичной дифракций (т. е. Дг) имели место при А1 г 2л в задаче дифракции на ленте (см. рис. 6.19), Это показывает, что оценки погрешности, полученные для ленты, могут служить основой для гр>бых оценок погрешности и в других задачах. [c.198]

Горгошидзе А. Н. Эталонные расчеты и оценка некоторых приближенных решений для задачи дифракции на ленте. — Радиотехника и электроника . 1975, т, 20, № 7, с. 1354—1361. [c.243]

Однако формулы (12.11), (12.12) приводят к разрыву тангенциальной составляющей магнитного поля на плоскости г = 0, в которой лежит диск. Как и в случае дифракции на ленте, причина этого явления заключается в том, что нами не учтено взаимодействие краев. В учете указанного взаимодействия нуждается также рлучай [c.85]

Если ширина ленты достаточно велика по сравнению с длиной волны, то приближенно можно считать, что набегающая волна тока вблизи края ленты будет такой же, как на соответствующей полуплоскости, возбуждаемой линейным источником, момент которого выбра Н определенным образом. Очевидно также, что отраженные от края волны тока тогда тоже будут сов1падать. Следовательно, задача о вторичной дифракции на ленте может быть сведена к задаче о дифракции цилиндрической волны на полуплоскости. [c.133]

Сологуб В. Г. Об одном методе исследования задачи о дифракции на конечном числе лент, расположенных в одной плоскости.— Докл. АН УССР. Сер. А, [c.221]

Опыт. Дифракция на непрозрачных препятствиях. Этот опыт хорошо получается с белым источником света, который можно сделать из сильного ручного фонарика с 6-е лампой, если удалить линзу, а рефлектор закрыть черной материей. (Размер нити у лампы должен быть около 0,5 мм.) Расстояние между источником и препятствием должен быть не менее 3 м. При этих условиях волну в области препятствия размером в булавку можно считать когерентной плоской волной . В качестве экрана можно взять предметное стекло микроскопа, к которому приклеен слой полупрозрачной ленты скотча. Пусть тень от препятствия падает на этот экран, расположенный на расстоянии около 30 см. от глаза (подберите это расстояние по ваше1чу глазу, чтобы вам было удобно смотреть на экран). Ваш глаз должен быть почти по линии источник света — тень на экране, так как полупрозрачный экран рассеивает свет под малым углом (в направлении вперед). Целью нашего опыта (кроме наблюдения за прекрасными дифракционными картинами) является грубая проверка представления о длине тени о> которая определяется уравнением где О — ширина препятствия. Среди различных препятствий используйте булавку (если ее ширина 0,5 мм, то ЬцРи 50 см для видимого света) и волос (при толщине волоса 0,05 мм см). [c.470]

Следует отметить, что приближенные решения дифракционных задач были бы невозможны без использования результатов, полученных в математической теории дифракции. В частности, в данной книге широко используется строгое решение задачи о дифракции на клине, принадлежащее Зоммерфельду [16] в гл. I это решение получено иным методом. Работы Фока (17, 18] послужили отправным пунктом многочисленных исследований по дифракции на гладких выпуклых телах. Строгое решение задачи о дифракции а открытом конце волновода (19] вскрывает механизм образования первичных дифракционных волн и их затене1ние противопо- ложным краем волновода. Строгая теория, относящаяся к ленте и диоку, позволяет выяснить точность приближенной теории (см. гл. V). [c.11]

В данной главе исследуется вторичная дифракция на бесконечно длинной ленте ( 20—23) и круговом диске ( 24). Решение этих задач мож т быть получено с помощью принципа двойственности из решения дифракционных задач для бесконечной щели и круглото отверстия в 1ПЛОСКОМ идеально проводящем экране. Оказывается, что в последнем случае физическая трактовка дифракции краевых волн значительно проще именно поэтому почти все исследования дифракции краевых волн относятся к отверстиям в плоском экране. Однако мы не пойдем таким путем, а рассмотрим ленту и диск непосредственно. Соответствующий подход обладает тем преимуществом, что его легко обобщить на случай объемных тел. [c.131]

Дифракция на плоских бесконечно тонких пластинах (бесконечная лента, круговой диск) и дифракция на дополнительных отверст1 ях в плоском экране (бесконечная ш,ель, круговое отверстие). [c.177]

В последнее время для. решения задач о дифракции на отверстиях в ллоском экране применяется метод интегральных уравнений. В частности, Гринберг [53, 54] сводит решение дайной задачи к интегральному уравнению для теневого тока, который является по пашей терминологии половиной неравномерной части тока. Полученные интегральные уравнения могут быть. решены (при любых соотношениях между. размерами отверстия и длиной волны) методом последовательных приближений. Кроме того, они позволяют получить асимптотические выражения, пригодные для коротких волн. В статье [55] Гринберг нашел асимптотическое выражение для тока на ленте при ка >1 (2а —ширина ленты). Гринберг и Пименов [56]. получили аналогичное. решение в случае нор.мальног падения плоской волны на круглое отверстие. Таким же методом майдено асим.птотйческое выра- [c.179]

В том случае, когда технология закалки при производстве аморфных лент недостаточно совершенна и концентрация металлоидов выбрана не совсем правильно, в аморфной ленте могут образовываться мелкие кристаллы, что приводит к существенному возрастанию коэрцитивной силы. Можно предположить, что и рост коэрци-тивности в случае, показанном на рис. 5.25, происходит из-за наличия мелких кристаллов, вкрапленных в аморфную структуру. В ряде работ Такахаси [72—76] предложена модель, согласно жоторой присутствие в аморфной структуре мелких кристаллов размеров 10 нм, не выявляемое методами рентгеновской дифракции, сильно влияет на величину коэрцитивной силы и магнитную анизотропию. [c.145]

Остаточные напряжения на поверхности материалов. Для оценки влияния технологии изготовления образцов на величину и глубину поля остаточных напряжений было проведено рентгеноструктурное исследование поверхностного слоя образцов из стали 13Х1Ш2В2МФ и сплава BT3-L Примененная интегральная рентгеновская методика позволяет по ширине линий дифракции рентгеновских лучей судить о макро- н микродеформациях. Работа проводилась на рентгеновском аппарате ДРОН-2 в железном излучении. Регистрация интенсивности дифрагированного образцом излучения и фиксирование дифракционных линий (110). (200), (211), (220) для стали 13Х11Н2В2МФ и (100), (200), (101), (102), (110), (103) для титанового сплава ВТЗ-1 проводились сцинтиляционным счетчиком в режиме записи на диаграммной ленте потенциометра [c.103]

Известно [197], что при дифракции нормально падающей -поляризо-ванной волны на щели в тонком экране максимальное прохождение падающего поля имеет место при kd, равном 3,42. Это свойство щели усиливает прозрачность решетки из лент вблизи kd — 2я0и = 3,42. При этом редкая решетка (0 > 0,85) в диапазоне длин волн 0,8 < и < 1 становится почти полностью прозрачной ( йо >0,95). Наложение условий проявления аномалий Вуда для решетки и режима максимального прохождения для щели приводит к особо сильным, так называемым двойным аномалиям у решетки. Это происходит при нормальном падении вблизи значений (и 0), равных (1 0,55), (2 0,27). Заметим, что наиболее ярким у щели и решетки является первый резонанс. Решетка при и = 1, ф = 0 становится практически прозрачной для 0,56 < 0 < 1. [c.44]

Важную роль в кинетике зарождения р -фазы играет дефектная структура. Наиболее явным образом это проявляется в следующем эксперименте. Лента, предварительно насыщенная водородом в течение 30 мин, затем дегазировалась на воздухе в течение 1600 ч. При вторичном насыщении в том же режиме 3-фаза в образце не была обнаружена. Процесс насыщения был повторен еще раз, и опять 3-фаза не была обнаружена тщательное исследование в области углов дифракции, соответствующих положению наиболее сильной линии (200) /3-фазы, не выявило даже следов этой линии. Лишь повышение плотности тока до 3,75 мА/см позволило получить /0-фазу содержанием 85% в области когерентного рассеяния ориентировки (100). [c.161]

Ранее были приведены и исследованы формулы для первых членов асимптотического разложения краевой волны для задачи дифракции произвольного лучевого поля на теле с искривленными гранями и криволинейным ребром. При столь общей постановке задачи лучевая структура падающей волны отличается от лучевой структуры отраженной и краевой волн. Существует, однако, ряд важных с практической точки зрения задач, в которых первичная волна и последовательно возникающие в процессе решения краевые волны имеют одну и ту же лучевую структуру цилиндрических, сферических или тороидальных волн. Так, при дифракции па нескольких телах, расположенных друг относительно друга в зоне Фраунгофера, все волны, образующиеся в результате взаимных дифракций, можно считать сферическими, В плоской задаче при днфракции цилиндрической волны на многоугольнике (частные случаи лента, призма, щель в экране, уголковая антенна) все последовательно возникающие волны также цилиндрические. В осесимметрическом аналоге последней задачи все краевые волны тороидальные. Для таких задач можно найти и последующие члены асимптотики модельных задач, что позволяет проанализировать влияние ряда более топких факторов, в частности, влияние изменения закона амплитуды по фронту падающей волны. Поэтому в этом случае необходимо расширить понятие модельной задачи, понимая под ней задачу, в которой учтено влияние не только локальной геометрии тела и фронта падающей волны, но н более тонкой характеристики —распределения амплитуды по фронту волны. Введем новое понятие эталонные волны [6, 78]. [c.121]

Очевидно, при дифракции первичпой цилиндрической волны источника Q на малом зеркале (ленте) образуется полутеневое поле, ГО часть которого — цилиндрическая волиа с центром в фокусе параболы Р. В отличие от ф-лы (4.61) при его записи надо учесть, что оно имеет не одну, а две границы свет —тень (линии 1 1) и 7 Z на рис, 4.21), т. е, оно имеет вид [c.128]

Поскольку до недавнего времени считалось, что все загрязнения, в том числе и пленку окисла, можно удалить с поверхности вольфрамового образца простым нагреванием до температуры свыше 2600 К, то на измерения работы выхода вольфрама было затрачено больше усилий, чем на какой-либо другой материал. Вольфрам обладает также некоторыми другими преимуществами. Его твердость мало уменьшается при высоких температурах. Из-за большой энергии связи очень тонкое вольфрамовое острие способно выдерживать очень большие напряженности поля, прикладываемого в опытах по холодной эмиссии. Вольфрам образует большие монокристаллы просто за счет перекристаллизации проволок или лент, нагретых до температур, необходимых для очистки и дегазации. Однако наблюдением дифракции медленных электронов было установлено, что одну из растворимых примесей, а именно углерод, невозможно удалить с поверхности простым нагреванием. Это было показано Тейлором [35] и Стерном [36] соответственно для кристаллических плоскостей (И1) и (110). При обсуждении последующих данных следует всегда помнить, что приводимые значения работы выхода различных плоскостей вольфрама и любых других эмиссионных параметров поликристаллического вольфрама могут [c.219]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...