Светорассеяние

Идея Смолуховского о флуктуациях плотности, которые имеют место при любых, отличных от нуля температурах среды, или о причине светорассеяния легла в основу статистической теории рассеяния света, развитой в дальнейшем разными авторами. [c.311]

Рис. 29.1. К вопросу о роли оптической неоднородности при светорассеянии.

Точно регламентированные показатели светотехнических свойств — светопропускания, светорассеяния и избирательного светопоглощения в видимой части спектра [c.440]

Важной оптической характеристикой стекла является его спектральное пропускание. При прохождении излучения через границу раздела сред и их толщин имеют место потери в виде отражения части потока на преломляющих поверхностях, поглощения части потока на отражающих поверхностях, поглощения и светорассеяния в толще оптической среды. Эти потери оцениваются коэффициентами отражения р , поглощения и светорассеяния [c.507]

Коэффициент светорассеяния на 1 мм толщины клеящего слоя в триплексе в %, не более. ...... 0,5-10-" [c.167]

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ ДИСПЕРСНЫХ СИСТЕМ ПО ХАРАКТЕРИСТИКАМ СВЕТОРАССЕЯНИЯ [c.211]

В соответствии с характерными областями размеров частиц, рассмотренными в предыдущем параграфе, остановимся вкратце на двух основных схемах измерения эффектов светорассеяния измерении спектральной [c.221]

Растяжение тонких листов и пленок Светорассеяние [c.435]

Радиус инерции 5о обычно определяется методом светорассеяния в разбавленных растворах полимеров. Коэффициент трения резко возрастающий при образовании зацепления, является характеристикой силы, необходимой для продвижения полимерной цепи между соседними цепями. Он обратно пропорционален коэффициенту самодиффузии полимера [9] и его зависимость от температуры приблизительно описывается уравнением ВЛФ [c.69]

Напомним, что углы наклонов трансформированных волн составляют дискретный набор значений, определяемых исключительно эффективной длиной резонатора (см. 2.4 возводимым в квадрат малым наклоном порождающей рассеянное излучение основной волны в оценках можно пренебречь). Поэтому, как ни странно, от степени наклона торцов зависит только распределение интенсивности между отдельными пятнами в угловом распределении, но не их взаимное расположение (некоторые комментарии будут также в посвященных светорассеянию материалах следующего параграфа). [c.137]

И все же деполяризация распределяет суммарную мощность только между двумя поляризационными компонентами, что при вынесении поляризатора из резонатора может привести не более чем к двукратному проигрышу в мощности плоскополяризованного света. К намного более тяжелым последствиям может привести светорассеяние порой оно способно вовлечь в процесс генерации огромное число мод идеального резонатора с близкими порогами возбуждения, вызывая уменьшение осевой силы света на несколько порядков. С подобными явлениями мы ознакомимся в следующем параграфе. [c.144]

Крупномасштабные аберрации и светорассеяние [c.144]

Кратко рассмотрим роль светорассеяния в резонаторах разных типов. На устойчивых можно особенно не останавливаться. Дело в том, что они чаще всего используются при числах Френеля N порядка единицы только тогда генерация осуществляется на одной или двух-трех низших модах (см. следующий параграф). В этом случае одно зеркало видно от другого под углом, близким к дифракционному поэтому рассеянный свет, будучи отклоненным на гораздо большие углы, просто выходит из резонатора, являясь источником дополнительных потерь мощности, но не влияя на модовую структуру. Если же N велико, то генерация при устойчивых резонаторах с интенсивно возбужденной средой осуществляется почти исключительно на модах высокого порядка (см. опять-таки следующий параграф). Эти моды сами по себе обладают столь большой дифракционной компонентой расходимости ( 1.3), что светорассеяние уже мало что может к ней добавить. [c.164]

Рис. 3.10. Угловое распределение излучения в неустойчивом резонаторе со светорассеянием а, б - после одного и после двух обходов идеальной вначале волны, геометрическое приближение в - установившееся распределение, дифракционное приближение

Из (3.8) следует, что даже при небольших а светорассеяние с широкой индикатрисой может сильно уменьшить осевую силу света. И все же, конечно, ситуация здесь намного лучше, чем в случае широкоапертурных плоских резонаторов как было видно из нашего анализа, полная угловая расходимость 2в при телескопическом резонаторе с М 2 практически совпадает с шириной индикатрисы светорассеяния 2 о в то время как в широкоапертурных плоских резонаторах даже угол, в котором заключена половина мощности, обычно значительно превышает 2Qq. [c.167]

Затронем еще вопрос о модах дифракционного приближения и потерях. Можно ожидать, что светорассеяние на микронеоднородностях наподобие дифракции на резком крае зеркала ( 2.5) способно привести к существованию целой группы мод с близкими значениями потерь. Однако можно также ожидать, что в неустойчивых резонаторах с большими зеркалами вырожденные по потерям моды, как и в случае с краевой дифракцией, будут различаться лишь мелкими деталями распределения [c.167]

Что касается приближенной величины потерь, то она с той точностью, с которой можно заменять суммированием амплитуд большого числа случайных волн суммированием их интенсивностей, равна 1 — 1/М (ведь на обходе резонатора интенсивность каждой угловой компоненты уменьшается в раз). Таким образом, светорассеяние, в первом приближении, не меняет потерь неустойчивого резонатора. [c.168]

Далее, как в задаче о неустойчивых резонаторах со светорассеянием, следует учесть, что мы имеем дело, по существу, с углами наклона фронтов парциальных волн, каждая из которых ввиду ограниченности сечения имеет конечную расходимость дифракционного происхождения. Поэтому можно считать, что формирование пучка с дифракционной расходимостью основной моды — завершается тогда, когда геометрическая расходимость уменьшается до значения X/ (2а) (у разложения суммарного поля в ряд Фурье остается фактически единственный член). Это происходит через число обходов Wq, определяемое соотношением 2а/= = XI(2а), или Af" = 4a l( f2) К данному моменту внутри резонатора остается доля первичного затравочного излучения, равная = [c.173]

Чрезмерно большие коэффициенты М могут оказаться невыгодными также при наличии светорассеяния особенно под углами, близкими к 180° [c.209]

Упомянув о светорассеянии, нельзя не отметить, что необходимо не только разумно выбрать конфигурацию резонатора, но и принять все возможные меры, чтобы исключить образование сходящихся волн с заметной начальной интенсивностью. В случае телескопического резонатора чисто сходящаяся волна образуется, как нетрудно видеть, при частичном отражении основной волны от плоских поверхностей раздела, перпендикулярных оси резонатора поэтому имеющиеся в лазере поверхности раздела (например торцевые поверхности стержня) должны быть заметно наклонены. [c.210]

Номинальные значения параметров, определяющих следующие фнзнко-хп-мическне свойства и характеристики оптических стекол оптические, термо-оитические и тенлотехиическпе характеристики, устойчивость к ионизирующим излучениям, светорассеяние, механические свойства, химическая устойчивость п электрические характеристики установлены ГОСТ 13659—78. [c.406]

Интересный спектроскоп предложили Г. Р. Кирхгоф и Р. В. Бунзен. Несмотря на свою простоту, этот прибор имел существенные недостатки и впоследствии был усовершенствован. Для увеличения дисперсии известный немецкий оптик К. А. Штейнгель во второй половине XIX в. создал спектроскоп с четырьмя призмами. Первые три призмы имели преломляющий угол 45°, а четвертая призма 60°. Впоследствии вместо призм в качестве диспергирующего элемента стали применять дифракционные решетки, при помощи которых можно было получить значительное светорассеяние. Первые дифракционные решетки были изготовлены Й. Фраунгофером. Они состояли. либо из рамки с натянутыми в ней тонкими параллельными проволочками, либо из стеклянной пластинки, покрытой сажей с нанесенными на нее штрихами. [c.348]

Методика определения дисперсного состава частиц мутной среды может быть заметно упрощена в тех случаях, когда представляется возможность отбора для исследования представительной пробы частиц из среды без существенного нарушения ее структуры. В этом случае для повышения надежности анализа легко воспользоваться несколькими независимыми методами исследования, например сочетать оптические методы, основанные на изучении характеристик светорассеяния, с известными седиментометрическими и химическими методами, а также с такими оптическими методами, как сахариметрия, нефелометрия, тинделометрия и др. [c.233]

Эти условия достаточно хорошо выполняются, если в коллоиде отсутствуют частицы с мицелярной структурой, а концентрация твердой фазы ограничена, например, пределами, указанными в параграфе 7-1. При этом, как показывает опыт, изучение спектральных характеристик светорассеяния позволяет получить надежные данные о спектре размеров частиц коллоида. [c.234]

Если объект является самосветящимся (плазма, продукты взрыва) и его зондаж осуществляется с помощью излучения источника /, то для уменьшения засветки изображения собств, светом объекта иснользуют транспарант в виде кенроарачного экрана с отверстием на оси, пропускающим весь поток зондирующего излучения. Для наблюдения мелких рассеивающих свет частиц и оптич. неоднородностей в прозрачных средах используют т. н. теневые методы, при к-рых перекрывают центр, часть сечения фокальной плоскости. В результате до системы регистрации доходит лишь рассеянный свет и распределение освещённости в плоскости 7 соответствует картине распределения неоднородностей (источников светорассеяния) в плоскости объекта. [c.153]

Второй определяется как удельное (на единицу объёма V среды) дифференц, сечение рассеяния dh = — dot t/V. Обе величины измеряются в обратных длинах и связаны друг с другом соотношением, к-рое в случае изотропного рассеяния неполяризов. света имеет вид h = (i6n/3)R ,i, где h — полная экстинк-ция светорассеяния, — коэф, рассеяния под углом 90° к направлению падения излучения. [c.278]

Некоторые соотношения реагентов (ПДФС, АН и ЦТ) приводят к агрегации полимера, что вызывает заметное светорассеяние в оптических спектрах и неравномерное распределение ПМЧ по высоте образца. [c.49]

Из-за малой толщины отдельных слоев МИС на ее эффективность (коэффициент отражения) и оптическое качество (светорассеяние) оказывают влияние различного рода дефекты (даже атомного масштаба), неизбежно возникающие в процессе изготовления структуры. Среди них мы выделим следующие шероховатость подложки и отклонение формы ее поверхности от идеальной межплоскостные шероховатости случайный разброс в толтдинах слоев взаимодиффузия соседних слоев несплошность отдельных пленок. [c.105]

Мысль о том, что дифракционные решетки можно получать голографическим способом, впервые высказал Ю. Н. Денисюк в 1962 г. С тех пор голографические решетки получают все большее распространение в спектральном приборостроении благодаря своим преимуш,ествам отсутствию духов (порядков, обусловленных нарушением периодичности), малого случайного светорассеяния, быстроты изготовления, дешевизны, меньшей трудоемкости. Естественно, что от голографических решеток сложнее добиться нужных дифракционных характеристик, чем в случае нарезной решетки, например типа эшёлетт, где геометрия просто определяет так необходимый оптикам угол блеска. Однако, как неоднократно отмечалось во многих работах, при меньшей, чем у нарезных решеток, дифракционной эффективности решетки, изготовленные голографическим методом, обеспечивают более высокое качество волнового фронта в рабочем порядке (гармонике). К тому же в последнее время появился ряд работ, в которых утверждается, что с использованием фоторезиста и определенных схем записи — восстановления голограмм — возможно получение рельефно модулированных решеток с заданным профилем, в том числе и эшелеттов. [c.6]

Помимо колебаний типа изображенных на рис. 3.4, не связанных с модами основного резонатора, к паразитным могут быть причислены также колебания с нежелательной структурой или поляризащ1ей, на поддержание которых затрачивается часть излучения основного пучка, отщепляемая от него благодаря наличию светорассеяния, двулучепреломления и т.п. Такие колебания оказываются особенно интенсивными в тех случаях, когда рассеянное излучение имеет возможность, отражаясь от зеркал резонатора, долго блуждать по нему, так что происходит наложение полей излучения, рожденного за счет рассеяния на целом ряде последовательных обходов резонатора основным пучком. [c.142]

Все это побудило нас с Аникичевым [27] использовать известный в операторном анализе простой и эффективный прием, позволяющий обойти трудности, связанные с наличием вырождения собственных функций резонаторов из бесконечных зеркал. Этот прием в обсуждаемой ситуации сводится к тому, что искомые моды возмущенного резонатора ищутся в виде суммы не бесконечного, а конечного числа р образующих комплекс с единой частотой исходных мод. В это число включаются моды, в наибольшей степени связанные между собой светорассеянием за счет возмущения (соответствующие матричные элементы оператора возмущения относительно велики, а разности собственных значений малы). В результате такого приближенного представления решений система (3.1) из бесконечной переходит в систему из р уравнений относительно р неизвестных коэффициентов йуп, малость каких-либо из которых уже не предполагается. Далее следует стандартная процедура требование существования ненулевых решений приводит к характеристическому уравнению, из которого находится р значений /3. Каждому из них соответствует свой набора , определяющий одну из собственных функций возмущенного резонатора в данном приближении. [c.150]

Светорассеяние. Обычно причиной светорассеяния является приобретение волной в результате прохождения через содержащую мелкомасштабные неоднородности среду (турбулентный газовый поток, кристалл с микровключениями и т.п.) носящих случайный характер фазовых искажений ф (х, у). Подсчитаем долю а рассеянного света начало отсчета фазы выберем так, что ф = О (усреднение производится по сечению), исходную волну будем для простоты считать плоской и следующей вдоль оси. [c.164]

Высокая чувствительность пшрокоапертурных плоских резонаторов к светорассеянию может быть истолкована примерно в том же ключе, что и чувствительность к малым крупномасштабным аберрациям. Мы уже упоминали о том, что такие резонаторы имеют совсем малые, по сравнению с устойчивыми, разности собственных значений, а с ними и частот. В результате наличие даже слабой связи (за счет светорассеяния) одновременно между множеством мод с близкими частотами приводит к их объединению в комплексы с единой частотой. Такие комплексы, порой действительно состоящие из огромного числа мод идеального резонатора со случайно распределенными амплитудами и фазами, и представляют собой моды резонатора со светорассеянием (экспериментально их существование было показано автором и Седовым в [64]). [c.165]

Структура мод и обихий вид углового распределения существенно зависят от соотношения между шириной индикатрисы светорассеяния 2во [c.165]

Здесь пора вспомнить, что пока мы имели дело, в сущности, лишь с наклонами фронтов парциальных плоских волн с учетом же дифракции расход>1мость каждой из них вовсе не является бесконечно малой и равна 2бд jD. По этой причине следа1ть за процессом уменьшения угловых диаметров пятен имеет смысл лишь до тех пор, пока они не сравниваются с дифракционной шириной расходимости. На последующих обходах реальная картина распределения уже не меняется, причем убыль света из дифракционного керна за счет светорассеяния компенсируется поступлением за счет сжатия пятен, образовавшихся на предыдущих обходах. Условный вид установившегося распределения изображен на рис. 3.1 Ов. [c.167]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...