Методы изображения распределения напряжений

Напряжённое состояние 1 (2-я)—179 — Методы изображения распределения напряжений 1 (2-я)—180 Тензометрирование 1 (2-я) —388 3 — 219 [c.61]

Напряжённое состояние в точке 1 (2-я)—172 - детали 1 (2-я) — 179 Методы изображения распределения напряжений 1 (2-я)—180 [c.169]

При оптическом методе исследование ведется не на самой детали, а на геометрически подобной ей по форме и характеру нагружения модели, изготовленной из оптически активного материала. Такую модель помещают в специальную установку, называемую полярископом, нагружают и просвечивают Пучком плоскополяризованного света. При этом на экране появляется изображение модели, покрытое системой полос, анализ которых позволяет изучить характер напряженного состояния модели в каждой ее точке. После соответствующего пересчета данные исследования переносятся на натурный- объект. Обоснование правомерности такого переноса дано в теории упругости, где доказано, что при некоторых условиях, в пределах упругих деформаций, распределение напряжений в детали не зависит от упругих констант ее материала. [c.229]

Широта 1 (1-я) —282 Распределение напряжений — Исследование экспериментальными методами 1 (2-я) — 382 3—219, 250 — Методы изображения 1 (2-я)— 180, 382 — см. также Концентрация напряжений Напряжения [c.232]

Это распределение напряжений также изображено на фигуре с целью показать повышение интенсивности напряжения при изменении радиуса. Полярные кривые напряжений оказываются поэтому наложенными друг на друга, но это не имеет большого значения при сравнении максимальных напряжений этот метод изображения зато имеет преимущество в том отношении, что указывает на наличие в обоих случаях максимума напряжений в точках радиуса, лежащего приблизительно под одним и тем же углом к горизонтали. [c.407]

Изображение поля напряжений около отдельной краевой дислокации, сфотографированное в поляризованном инфракрасном свете, показано на рис. 13.28. Наблюдаемые розетки двойного лучепреломления полностью подтверждают распределение напряжений [см. формулу (13.27)], найденное теоретически. Поляризационно-оптический метод позволяет получить более полную информацию о дислокационной структуре, чем травление и декорирование так, по розетке двойного лучепреломления можно определить величину и направление вектора Бюргерса, а также тип и знак дислокаций (рис. 13.29). [c.453]

Рассматриваемый вопрос имеет теоретическое и практическое значение для оптико-механической промышленности в связи с тем, что формирующаяся пленка вызывает в изделии напряжения и деформации. Это может привести к изменению оптических свойств и ухудшению изображения. Теоретическое решение дает возможность исследовать напряженное состояние в любых телах, как в прозрачных, так и в непрозрачных. Экспериментальные исследования с применением оптического метода дают картину распределения напряжений в оптической детали и позволяют убедиться в годности применяемой теории. Оптики часто сталкиваются с формирующимися на поверхностях деталей пленками это и склеивающие слои в составных оптических деталях, и защитные или декоративные покрытия, и диэлектрические покрытия на металлических зеркалах, и т. п. Исследование напряжений в таких пленках должно представлять непосредственный интерес. [c.170]

Движение вихревого кольца в жидкости, которая (внутри или снаружи) ограничена неподвижной сферической поверхностью для случая, когда прямолинейная ось кольца проходит через центр шара, было исследовано Леви ) с помощью метода зеркальных изображений. Следующее упрощенное доказательство принадлежит Лармору ). Вихревое кольцо эквивалентно ( 150) сферическому слою дублетов с равномерно распределенной плотностью, который концентричен твердой сфере. Зеркальное изображение этого слоя согласно 96 есть другой концентрический однородный двойной слой, который, с своей стороны, эквивалентен вихревому кольцу, соосному с первым. Из только что названных параграфов легко получается теперь, что напряжения (х, ) и радиусы ( >, о> ) вихревого кольца и его изображения связаны соотношением [c.305]

Аналитическая модель. Распределение потенциала двухэлектродной симметричной иммерсионной линзы всегда может быть записано в виде (3.183). Так как в уравнении параксиальных лучей (7.1), так же как и в выражениях для коэффициентов аберрации (уравнения (7.4) и (7.5)), присутствуют только отношения первой и второй производных к распределению потенциала, очевидно, что оптические свойства линзы зависят от функции распределения ф(г) и отношения потенциалов изображение— объект (Уг—С/о)/(У1—и ). Структура указанных уравнений показывает, что отношение потенциалов входит в них в нелинейном виде, поэтому нужно всякий раз решать эти уравнения для каждого отношения потенциалов, за исключением очень малых значений этого отношения, когда могут быть использованы формулы тонкой линзы, и очень больших значений, когда некоторые уравнения могут быть упрощены. Можно аппроксимировать характеристические оптические величины степенными рядами отношения потенциалов [44], но результирующее выражение также будет чрезмерно громоздким, а его точность будет зависеть от диапазона отношения напряжений. Зависимость этих величин от отношения напряжений для реальных линз будет исследована в соответствующих разделах численными методами. [c.389]

На рис. 2.7,а показано спектральное распределение интенсивности излучения рентгеновской трубки с молибденовым антикатодом при напряжении в 30 кВ. На рис. 2.7,6 показано распределение по энергиям нейтронов, испускаемых ядерным реактором. Отразив пучок рентгеновских лучей или нейтронов от кристалла-монохроматора, как показано на рис. 2.8, получают п чок с распределением интенсивности, которое, например, на рис. 2.7,6 показано заштрихованной полосой. Простой нейтронный спектрометр, используемый для исследований методом вращения кристалла, изображен на рис, 2.9. [c.69]

Теория распределения напряжений в круговом кольце была проверена при помощи оптического метода для кольца, с отношением внешнего и внутреннего радиусов а и Ь равным 1, 994. Для достижения возможно близкого соответствия с условиями, принятыми при вычислениях, нагрузка прикладывалась при помощи целлюлоид-ных призм, изображенных на фиг. 4.331. Полученная при этом картина распределения напряжений на внешнем и внутреннем контурах изображена в виде полярной диаграммы. Наблюдения показали, что на внешнем контуре теоретические результаты близки к опытным то же можно сказать и о внутреннем конутре, за исключением участка вблизи среднего поперечного Фиг. 4.331. сечения, где наблюдавшиеся напряже- [c.328]

В некоторых случаях (например, когда объект недоступен для прямых измерений) приходится иметь дело с фотографией или точной копией объекта. В этом случае корреляционные методы оказываются все еще применимыми. Маром [43] разработал метод корреляции фотографий объекта, находящегося в двух напряженных состояниях, и получил численное распределение напряжений. Можно также изготовить согласованный фильтр с одной из фотографий, а второе изображение использовать как входное, чтобы получать в результате пик корреляции. Этот метод удается автоматизировать. [c.346]

Фязвческне основы метода фотоупругостн. Метод основан на том, что некоторые прозрачные материалы при деформации становятся оптически анизотропными в деформированном состоянии они приобретают свойство двойного лучепреломления (стекло, целлулоид, желатин, бакелит ц др.). Такие материалы называют оптически активными. В оптическом методе исследуется не сама деталь, а ее модель, изготовленная из такого материала. Модель помещается в оптическую установку, называемую полярископом, где она просвечивается пучком поляризованного света. При нагружении модели на зкране цоявляется ее изображение, покрытое системой полос, анализ которых дает возможность изучить распределение напряжений в модели. [c.529]

Имеется много задач 6 напряженном состоянии, когда деформация, по существу, происходит в одной плоскости. Это так называемые двумерные задачи. Примерами служат изгиб балок узкого прямоугольного поперечного сечения, изгиб ферм, арок, зубчатых колес или вообще пластинок какой угодно формы, но постоянной толщины, на которые действуют силы или моменты в плоскости пластинки. Форма пластинок может быть такой, что становится весьма затруднительным аналитическое определение закона распределения напряжений для таких случаев оказывается весьма полезным фотоупругий метод. В этом методе применяются модели, вырезанные из пластинок изотропного прозрачного материала, как, например, стекло, целлулоид или бакелит. Хорошо известно, что под действием напряжений эти материалы становятся двояколучепреломляющими, м если луч поляризованного гее/иа проходит через прозрачную модель, находящуюся в напряженном состоянии, то при этом йожно получить окрашенное изображение, по которому удается найти закон распределения напряжений ). [c.276]

Таким образом, каждая точка исходного распределения интенсивности размывается в диск интенсивности, а пе >екрытие таких дисков приводит к размытию всего изображения и ухудшению его разрешения. Сказанное определяет функцию размытия как отклик системы на падающее излучение в виде дельта-функции, в данном случае падающее от точечного источника. Это лежит в основе метода функции Грина, который весьма удобен для использования в теории рассеяния и во многих других областях физики, а также для анализа характеристики электронных схем путем измерения их чувствительности к острому пику напряжения или импульсу тока. [c.40]

В третьем методе, который впервые независимо друг от друга применили Боллман и Хирш, контраст изображения образуется локальными изменениями интенсивностей дифрагированных пучков. Этот дифракционный контраст зависит от изменений ориентации и толщины и от смещений атомов с их нормальных положений, вызванных напряжениями в решетке. В совершенном кристалле этот тип контраста является причиной экстинкционных контуров, которые соответствуют участкам постоянной толщины или ориентации. На изображении несовершенного кристалла дислокации выявляются в виде линий, что обусловлено смещением положений атомов около дислокаций дефекты упаковки дают характерную полосчатость. Этот метод получения контраста имеет то преимущество, что не требует разрешения атомных плоскостей, поэтому разрешающая сила не является лимитирующим фактором и условия, которым должен удовлетворять образец, не так строги. Метод дифракционного контраста в основном применяют для исследования распределения и поведения дефектов, например, после нагрева или деформации образца первые два метода весьма пригодны для наблюдения атомных смещений около дефектов. [c.52]

В методах первой группы для получения картины распределения звук, давления самый распространённый приём — сканирование исследуемого поля миниатюрным приёмником звука, напряжение на выходе к-рого модулирует яркость перемещаемого синхронно с ним точечного источника света. Этот метод обычно используют в диапазоне частот до 100 кГц. Более современный вариант подобного метода В. 3. п., используемый в диапазоне частот от 100 кГц до неск. десятков МГц, осуществляется в электрон-но-акустич. преобразователях распределение звук, давления преобразуется с помощью пьезоэлектрич. пластинки в соответствующее распределение электрич. потенциала на её поверхности, к-рое считывается электронным лучом и преобразуется с помощью электроннолучевого осциллографа (кинескопа) в видимое изображение звук. поля. [c.76]

Голографическая интерферометрия, будучи бесконтактным методом испытания, может быть использована для измерения деформаций внутри пространства, ограниченного прозрачными стенками, например вакуумных баллонов или элементов, заключенных в капсулы. Проведение испытания оказывается возможным при условии наличия какого-либо окна для ввода и вывода света, причем низкое оптическое качество этого окна не играет роли. В 1966 г. Гейенс и Гильдебранд [12] продемонстрировали движение проволочной сетки внутри блока усиления изображения, обусловленное электростатическими силами, возникающими при приложении напряжения. Таким же образом могут быть измерены изменения распределения плотности газа внутри прозрачного баллона. Гефлингер с сотр. [13] в 1966 г. проиллюстрировали эту возможность, получив замороженные интерференционные полосы, сформированные при прохождении тока через нить обыкновенной электрической лампы. [c.189]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...