Световой луч углов

Свет — освещенная часть поверхности предмета. Освещенность поверхности зависит от того угла, под которым падают на эту поверхность световые лучи. Наиболее освещенная поверхность та, которая расположена перпендикулярно к направлению лучей света. [c.171]

Полученные выражения легко обобщаются на другие задачи. Так, например, для сферического зеркала можно допустить, что i будет углом отражения, а п = —п. Тогда закон преломления световых лучей переходит в закон отражения г = —i, а формула (6. 26) преобразуется к выражению, позволяющему по положению объекта найти положение изображения, даваемого сферическим зеркалом [c.280]

Рис. 10.5. Для наблюдателя, находящегося на Земле (3), свет имеет горизонтальную составляющую скорости и и вертикальную составляющую с. Следовательно, световой луч, идущий от источника, наклонен под углом а. причем tg = vie.

Понятие светового луча можно получить из рассмотрения реального светового пучка в однородной среде, из которого при помощи одной или последовательности диафрагм с отверстиями выделяется узкий параллельный пучок. Чем меньше диаметр этих отверстий, тем уже выделяемый пучок, и в пределе, переходя к отверстиям сколь угодно малым, можно казалось бы получить световой луч как прямую линию. Мы знаем, однако, что подобный процесс выделения сколь угодно узкого пучка (луча) невозможен вследствие явления дифракции. Неизбежное угловое расширение реального светового пучка, пропущенного через диафрагму диаметра О, определяется углом дифракции ф к/О (направление на 1-й минимум, см. 39). Только в предельном случае, когда = О, подобное расширение не имело бы места, и можно было бы говорить о луче как о геометрической линии, направление которой определяет направление распространения световой энергии. Таким образом, световой луч есть абстрактное математическое понятие, а не физический образ, и геометрическая оптика есть лишь предельный случай реальной волновой оптики, соответствующий исчезающе малой длине световой волны. [c.272]

Для измерения угла поворота а служит зеркало, освещаемое узким световым лучом. Луч при отклонении зеркала перемещается по линейной шкале. Если шкала имеет миллиметровые деления и удалена от зеркала на расстояние 1 м, то постоянная прибора по напряжению имеет значение порядка 10" В/мм. Сопротивление [c.36]

Планка 1 (рис. 10, а), установленная на образце 2, удерживается при помощи пружинной струбцинки 3. Одной опорой планки служит острие В, другой конец планки опирается на призму А ромбического сечения. Длина АВ, которую обозначим через I, называется базой прибора. К призме А прикреплено зеркальце (на рис. 10, а плоскость зеркальца перпендикулярна к плоскости чертежа). На некотором расстоянии D от зеркальца на особой подставке установлена линейка 7 с миллиметровыми делениями. Посредством оптической трубы 4 наблюдают отсчеты по линейке, отражаемой зеркальцем. Пусть в начале испытания по волоску трубы прочитывается некоторый отсчет п , определяемый точкой F на линейке световой луч 5 от этой точки падает под некоторым углом фх на зеркальце [c.19]

После нагружения образца растягивающими силами длина I получает приращение к. Соответствующий угол поворота призмы А обозначим через а (рис. 10, б). На такой же угол повернется зеркальце. На рис. 10, а показано пунктиром новое положение зеркальца. Углы падения и отражения светового луча 6 обозначены через фз. Отсчет по шкале определяется теперь точкой Е. Разность отсчетов щ — = Ап, разделенная на расстояние D, [c.19]

Микроскопический метод исследования с помощью светового потока. Направляя луч монохроматического света через специальную линзу микроскопа на отражающую плоскую поверхность металла под углом 45°, с помощью другой линзы можно наблюдать отраженное изображение. При неровной поверхности световые лучи отклоняются на величину, пропорциональную высоте неровностей поверхности. Таким образом, если с небольшой площади поверхности полностью удалить металлическое покрытие и направить на этот участок луч света, то отклонение луча даст абсолютную величину толщины покрытия. В случае прозрачных покрытий, т. е. неметаллических (таких, как чистые оксидные покрытия, образуемые анодным окислением алюминия), получают отражение от поверхности как покрытия, так и основного металла, без снятия покрытия. Данный метод не приводит к нарушению покрытия. [c.140]

При стилоскопировании между электродом из меди, угля или чистого железа и деталью возбуждается электрический разряд. Световые лучи от разряда направляют в систему линз и призм, в которых они разлагаются по длинам волн в линейчатый спектр. Раскаленные пары каждого металла имеют свои вполне определенные линии в спектре, свойственные только одному этому металлу. Спектр сплава складывается из спектров металлов-компонентов, Если, например, в состав стали входит хром, то в спектре паров стали обязательно имеются линии хрома. Чем выше содержание хрома в стали, тем ярче его линии. По наличию характерных ярких линий в спектре паров стали можно быстро определить наличие легирующих элементов. Наличие хрома, молибдена, ванадия и других элементов определяется на глаз. Качественное определение легирующих примесей при помощи портативного переносного стило-скопа в заводских или монтажных условиях занимает доли минуты. [c.233]

Пакет лопаток устанавливался в зажимном устройстве, смонтированном на фундаменте. Для возбуждения свободных колебаний применялось специальное устройство со спускным механизмом, которое крепилось к стене, не связанной с фундаментом. Осциллограммы записывались с помощью светового луча, отраженного от зеркала, приклеенного к образцу в месте наибольшего угла поворота последнего. [c.42]

Для измерения углов, образованных плоскими поверхностями, способными хорошо отражать световые лучи, пользуются гониометрами. [c.110]

Этот момент соответствует тако Му положению призмы относительно коллиматора, при котором световые лучи после призмы идут под наименьшим углом отклонения (положение / на рис. 115. [c.136]

Коллиматор посылает вдоль проверяемой плоскости пучок света, несущий изображение шкалы 3, помещенной в фокальной плоскости коллиматора. Пучок света попадает в объектив зрительной трубы, в фокальной плоскости которой помещена визирная сетка 4, рассматриваемая через окуляр. Если оптическая ось коллиматора по отношению к оптической оси зрительной трубы смещена на угол а, то световые лучи входят в линзу зрительной трубы под углом а. Световые лучи собираются в сетке зрительной [c.119]

СТОПА — один из простых поляризационных приборов, представляющий собой набор прозрачных плоских пластин, устанавливаемых под иек-рыы углом к падающему свету. Коэф. пропускания и отражения для компонент световых лучей, Поляризованных параллельно и перпендикулярно плоскости падения на С., различны (см. Френеля формулы). Поэтому естественный свет, прошедший через С., поляризуется в нём преобладает компонента, электрич. вектор к-рой лежит в плоскости падения. Степень поляризации р тем выше, чем больше наклон лучей к С., однако оптим. углом установки С. является угол Брюстера (см. Брю- [c.694]

Аналогия строится в конечных областях, на контуре которых располагается пленка. Если решается уравнение Пуассона, то контур области представляет собой контур отверстия в верхней стенке коробки, в которой затем создается избыточное давление р воздуха. Прогиб мембраны обычно измеряется механически с помощью микрометрического винта, укрепленного в координатнике, причем момент касания щупа определяется по замыканию электрической цепи через щуп и жидкую пленку. Остроумный способ определения линий равных углов наклона пленки основан на фотографировании вдоль оси z отражения в пленке сети координат, расположенной в перпендикулярной плоскости X, у. Наиболее точный из известных способов измерений заключается в определении направления тонкого светового луча, отраженного от пленки. [c.265]

Показатель преломления равен отношению синуса угла падающего светового луча к синусу угла луча преломленного он меняется в зависимости от температуры и природы света. Обычно показатель преломления измеряют при 25° С и длине световой волны, соответствующей натриевой D-линии. Показатель преломления легко измерить при помощи серийных приборов типа Аббе или каких-либо других аналогичных типов. [c.147]

Если пустить ультраакустические волны по трем направлениям, то мы получим пространственную решетку для световых лучей. Впрочем, даже при наличии расположения, указанного на рис. 10.4, когда ультраакустические волны идут в направлении оси 2, мы, по существу, имеем пространственную решетку, но по двум направ-.тениям X и У период решетки есть нуль, т. е. имеются сплошные отражающие плоскости — зеркала. Закон отражения от этих зеркал (луч падающий н луч отраженный лежат в одной плоскости с нормалью к зеркалу и угол падения равен углу отражения) определит значения углов а и р в соотношениях (54.1)—(54.4), а взаимная интерференция лучей, отраженных от системы зеркал, даст третье дифракционное условие для угла у.. Таким образом, и в этом случае мы имеем для трех углов три дифракционньгх условия и четвертое геометрическое. Явление пространственной дифракции (дис- [c.233]

Из чисто прикладного использования ОКГ можно указать на способы передачи информации и на возможности осуществления светолокаторов. Если первое дает практически неограниченное по числу каналов размещение в световом луче отдельных линий связи (например, несколько десятков миллионов одновременных передач), то второе — может резко повысить точность местоопределения с помощью светолокационных методов (в этом случае вполне реально создание направленного излучения с углом расхождения луча в пределах единиц угловых секунд). Наиболее подходящи квантово-оптические системы для создания линий связи и телеуправления в космосе. Использование тех же систем в условиях атмосферы в ряде случаев может встретить затруднения из-за поглощения и рассеяния световых волн в облаках и тумане. Однако уже и сейчас делаются попытки применить лучи этих диапазонов для канализации сообщений в земных условиях. Например, в Москве действует опытная соединительная линия между АТС, где связь осуществляется по световому лучу . [c.414]

Определить химический состав стали с целью выявить наличие легирующих элементов можно стилоскопированием. Этот метод заключается в качественном спектральном анализе при помощи портативного стилоскопа, благодаря чему результат может быть получен быстро, так как продолжительность испытания составляет доли минуты. В заводских или монтажных условиях стилоскопиро-вание целесообразно применять для проверки материала деталей, не имеющих сертификата или с нарушенной маркировкой можно определить, например, изготовлены детали из легированной или углеродистой стали. Принцип действия стилоскопа заключается в следующем. Между электродом из меди, угля или чистого железа и деталью возбуждается электрический разряд. Световые лучи, [c.217]

Акустооптичеекое взаимодействие в оптических волноводах. В оптич. волповодах, представляющих собой тонкий слой прозрачного материала на поверхности подложки (т. н. планарные волноводы), возникает взаимодействие оптич. волноводных мод с поверхности ными акустическими волнами (ПАВ), обычно рэлеев-скими. В результате появляется свет, распространяющийся вдоль плоскости волновода, но отклонённый от своего первоначального направления. Для эфф. дифракции необходимо, чтобы в н.поскости волновода световые лучи падали на пучок ПАВ под соответствующим брэгговским углом. Поскольку даже в изотропной волноводной системе скорости распространения разных оптич. мод отличны друг от друга, то при разл. углах падения светового пучка возможна как дифракция света без изменения номера моды, аналогичная обычной брэгговской дифракции, так и дифракция, при к-рой падающий и дифрагированный свет принадлежит к разным волноводным модам. В последнем случае законы дифракции аналогичны закономерностям анизотропной дифракции, возникающей при взаимодействии объемных волн в двулуче-преломляющей среде. В волноводных системах распределение как эл.-магн. полей для оптич. моды, так и поля деформации в ПАВ неоднородно в поперечном сечении волновода. Эффективность акустооптич. диф- [c.49]

Величина колебат. скорости о определяется по ф-лв V— У"3х6/4рг 81а20, . где 0 — малый угол, на, к-рый поворачивается диск в к-рый наблюдают по отклонению отражённого от зеркальца светового луча, р —-плотность среды, 0 — угол между нормалью к диску до включения звука к направлением колебат. скорости, коэф. упругости кручения ннтнт = 4n Af/Г определяется по периоду Г свободных колебаний и моменту инерции Л1 Р, д., г радиус диска, к-рый должен быть много меньше длины волны звука X. Р. д. обычно устанавливают под углом 0в = 45 , т. к. при этом его чувствительность максимальна. Чувствительные Р, д. позволяют определять малые колебат. скорости о 0,1 см/с. В звуковых полях, где имеют место простые соотношении между колебат. скоростью, звуковым давлением р и интенсивностью звука I (нанр., в поле плоской волны), Р. д. пользуются для определения р и 1. [c.404]

СВЕТОВОЙ ПУЧОК — совокупность световых лучей, испускае.чых эле.ментом поверхности источника dS в пределах малого телесного угла (Ш. Если яркость поверхности источника равна /, а ось пучка и нормаль к йВ совпадают, го поток энергии, переносимой С. п., равен (1Ф = (dSdii. [c.463]

Главным сечением, называется плоскость, проходящая через оптическую ось. Обычно рассматривают главное сечение, проходящее через световой луч. Луч, поляризованный в плоскости главного сечения, называется обык-новенны.и. Он подчиняется законам преломления геометрической оптики. Луч, поляризованный в плоскости, перпендикулярной главному сечению, называется необыкновенным его показатель преломления зависит от угла падения плоскости, построенные на нормали к поверхности в точке падения и падающем и преломленном лучах, могут не совпадать. [c.223]

Множитель а предсггавляет собой амплитуду колебаний исходного светового луча. Следовательно, чем ярче исходящий луч, тем четче картина на экране. Множитель sin 2а зависит от угла а. При значениях а = О и а = я/2 он равен нулю, т.е. на э1фане будет темный участок. Эти участки образуют два взаимно ортогональных семейства кривых (изоклины), указывающих на точки, в которых направления отавных напряжений совпадают с направлением плоскости поляризации. По полям изоклин, поворачивая постоянно скрещенные под углом 90° поляризатор и анализатор, делая пометки на экране, можно получить поля траекторий главных напряжений. Следовательно, по изоклинам можно определить направления действия главных напряжений в любой точке модели. [c.270]

Выполнение колебательной системы, обеспечивающее совпадение узлов колебаний с центром тяжести грузов, и использование системы возбуждения с замкнутым силовым контуром позволяют применять высокоточную аппаратуру для измерения параметров колебаний исследуемой системы. Для этого в нижней части одного из грузов устанавливают решетчатый модулятор фотооптического датчика механических колебаний, предназначенного для определения угла поворота груза. Вращательные колебания груза благодаря изменению интенсивности проходящего через модулятор светового луча преобразуются фотоприемниками датчика в электрические сигналы, которые усиливаются и, в свой очередь, преобразуются в числовые значения амплитуды колебаний. Индикация последних проводится в цифровом виде на табло регистратора и на электронном осциллотрафе, а регистрация - на цифропечатающем устройстве. [c.322]

При рассмотрении полированных металлических поверхностей в светлом поле пучок света встречается с поверхностью образца под прямым углом, отражается от нее и попадает через окуляр в глаз наблюдателя. Детали на этой поверхности можно различить лишь в том случае, когда они изменяют световые лучи при отражении таким образом, что в отличие от нормальной (гладкой) поверхности возникают различия в яркости (светло—темно) или в цвете. Следовательно, в светлом поле на полированных поверхностях могут быть обнаружены только случайные царапины, образовавшиеся при полировании трещины поры или такие детали, которые и шеняют яркость пли цвет отражающихся лучей (такими деталями являются лреимуш,ественно немсталлическис включения). Структурные составляю-и ие на нолированпых поверхностях не различаются. [c.20]

Смотреть страницы где упоминается термин Световой луч углов : [c.92] [c.45] [c.129] [c.21] [c.128] [c.399] [c.166] [c.316] [c.75] [c.234] [c.19] [c.166] [c.15] [c.47] [c.47] [c.47] [c.515] [c.437] [c.60] [c.60] [c.687] [c.20] [c.160]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...