Призма тонкая

Для построения изометрической проекции усеченной пирамиды (рис. 176,6) проводят изометрическую ось Л. По координатам точек ЛВС строят основание пирамиды тп. Сторона основания АС параллельна оси х или совпадает с осью v. Как и в предыдущем примере, строят изометрию горизонтальной проекции фигуры сечения I 2 3 (используя точки / III и IV), она нанесена тонкими сплошными линиями. Из этих точек проводят вертикальные прямые, на которых откладывают длины, взятые с фронтальной или профильной проекций призмы v, Kj и К . Полученные точки I, 2, 3 соединяют прямыми между собой и вершинами основания. [c.100]

Задача № 54. Для определения момента инерции шатун подвесили на горизонтальную призму (рис. 117). Через ту же призму перекинули тонкую нить. [c.158]

Интерференционные явления используются также для очень точного определения углов. Здесь также оказывается возможным применение весьма разнообразных приемов. Так, для контроля правильности углов в стеклянных призмах используют явления в тонких пластинках (воздушный клин). Изготовив стандартный стеклянный угольник и накладывая его на грани призмы, можно по интерференционным картинам контролировать правильность угла призмы с точностью, соответствующей воздушному клину, катет которого не превышает 0,03 мкм. [c.149]

Майкельсон применил интерферометрическое наблюдение для оценки малых угловых расстояний между двойными звездами, а также для оценки углового диаметра звезд. Метод Майкельсона, равно как и применение его к определению размеров субмикроскопических частичек, будет изложен ниже (см. 45). Наконец, понятно, что интерференционные методы, позволяющие с огромной точностью определять длину волны, могут служить для самых тонких спектроскопических исследований (тонкая структура спектральных линий, исследование формы и ширины спектральных линий, ничтожные изменения в строении спектральных линий). Интерференционные спектроскопы, их достоинства и недостатки будут обсуждены вместе с другими спектральными приборами (дифракционная решетка, призма) в 50. [c.149]

Так как изохроматы образуют замкнутые кривые, охватывающие оптическую ось (или оси), то наблюдение интерференционных картин позволяет установить число осей кристалла и определить их положение. Интерференционные картины можно наблюдать в микроскоп, снабженный двумя призмами Николя (поляризационный микроскоп). С помощью такого микроскопа можно измерять угол между оптическими осями двухосного кристалла (необходимо учитывать, что при выходе из кристалла свет преломляется). Указанный способ пригоден для определения положения оптических осей и измерения их наклона даже для очень небольщих кристалликов, попадающихся в тонких слоях минералов. [c.63]

Найдем сначала составляющую давления по оси х, для чего разобьем тело на ряд весьма тонких горизонтальных призм с осями, параллельными этой оси. Нетрудно видеть, что так как глубины [c.52]

Для оценки чувствительности магнитных порошков, паст и суспензий предназначена также установка У-2498-78, выполненная в виде переносного ящика с выходным кронштейном, на котором находится ванночка с контрольным образцом. Контрольный образец состоит из двух ферромагнитных призм, между которыми проложена тонкая медная фольга, имитирующая трещину. Напряжение питающей сети 220 В. О чувствительности контролируемого вещества (порошка, пасты, суспензии) судят [c.40]

Для подтверждения этого достаточно представить себе призму (или цилиндр) разделенной на бесконечно тонкие слои посредством [c.37]

Хромат стронция кристаллизуется в виде моноклинических призм и пластинок, образующих пучки из длинных тонких игл. Из разбавленных растворов выделяются крупные кристаллы в [c.57]

Проследим за наблюдаемой в опыте деформацией растяжения резиновой прямоугольной призмы. Призма взята резиновой с целью получения достаточно наглядной картины деформации. На боковой поверхности краской нанесена сетка тонких линий одна система их параллельна продольным ребрам призмы, другая — им перпендикулярна. Растягивающие силы равномерно распределены по торцам (рис. 2.1). Равнодействующая нагрузки, приложенной к [c.91]

Предварительный габаритный расчет оптической системы. Расчет производится на основании теории идеальной оптической системы и в предположении, что линзы являются тонкими, в предварительном расчете призмы и зеркала заменяют воздушным слоем, длина которого равна длине хода в них осевого луча, деленной на показатель преломления их стекла. Затем, исходя из необходимого расположения оптических элементов системы, их фокусных расстояний и диаметра одной из диафрагм, рассчитывают последовательно диаметры отверстий всех элементов по уравнениям тангенсов [c.234]

В процессе бесцентрового шлифования обрабатываемая деталь лежит на опорном ноже и ведущем круге, образующих призму (рис. 245). Опорный нож устанавливают по высоте так, чтобы центр шлифуемой детали был выше линии центров шлифовального и ведущего кругов примерно на 0,5й(, но не более чем на 14 мм. Тонкие, длинные и недостаточно прямолинейные прутки целесообразно располагать ниже линии центров на ту же величину. Опорная поверхность ножа должна располагаться параллельно оси шлифовального круга. [c.404]

Акриловый клей. Рекомендуется для склеивания поляризационных призм из кальцита, различных светофильтров и клиньев (с желатиновыми поливиниловыми пленками), оптических деталей из квасцов, зеркальных объективов, лимбов, объект-микрометров, а также в тех случаях, когда необходимо получить очень тонкий эластичный склеивающий слой. Может применяться для склеивания стекла с металлом. [c.735]

Хаотическое расположение частиц (рис. 6-1, а) заменяем упорядоченным (рис. 6-1, б), при котором расстояние I между частицами в направлении теплового потока q принимаем по формуле (6-2), а наличие контактов заменим моделью твердых бесконечно тонких стержней, соединяющих частицы. Для упрощения дальнейших геометрических расчетов считаем, что шары эквивалентны квадратным призмам с площадью сечения d . Тогда высота призмы h [c.190]

Пластиной называют плоское тело, имеющее форму призмы или цилиндра, толщина которого мала по сравнению с размерами основания. В зависимости от отношения максимальной толщины h к наименьшему размеру пластины в плане d i=h/d) различают тонкие [c.119]

Светло-серые Мелкие темные призмы в тонких слоях прозрачны. Высокий показатель преломления 1 0=2,567 = 2,824. Чрезвычайно высокое двупреломление [c.37]

Отношение входящее в формулу (П.53), обратно пропорционально увеличению в зрачках системы, стоящей впереди призмы. В случае, когда эта система — бесконечно тонкий [c.180]

Призма с неправильными углами развертывается, как было указано на стр. 164 эквивалентная ей пластинка с непараллельными гранями может быть заменена комбинацией из плоскопараллельной пластинки и весьма тонкого клина с малым углом у вершины. Клин вносит изменение в ход лучей, отчего меняется положение изображения кроме того, вводятся аберрации, которые могут быть вычислены на основании формул гл. VII. Приведем сводку формул для аберраций призмы. [c.182]

По неподвижной призме А, расположенной под углом а к горизонту, скользит призма В массы тг. К призме В, посредством цилиндрического шарнира О и спиральной пружины с коэффициентом жесткости с, присоединен тонкий однородный стержень OD массы mi и длины I. Стержень совершает колебания вокруг осп О, перпендикулярной плоскости рисунка. Положения Призмы В н стержня OD определены посредстпом координат s п ф. Написать дифференциальные уравнения движения материальной [c.364]

Модульный принцип конструирования блоков радиоэлектронной аппаратуры иллюстрируется на рисунке 6.1, е. Минимальный призматический прямоугольный блок-модуль показан в правом верхнем углу (см. рис. 6Л, е). Остальные отсеки стойки аппаратуры выбирают кратными высоте и ширине модуля. Сотовую конструкцию из шестигранных призм (рис. 6.1, ж) применяют в качестве сеток, управляющих электронными потоками в электровакуумных приборах. Такие сетки имеют больщую прозрачность (в связи с тонкими перемычками) при хорошей механической прочности и высокой теплопроводности. На рисунке 6.1,3 показано применение призматических поверхностей в качестве направляющей прямолинейного движения с одной степенью свободы. Такие направляющие широко используются в различных видах технологического оборудования, особенно в металлорежущих станках. [c.73]

Задача № 142. Для определения момента инерции шатун подвесили на горизонтальную призму (рис. 198) (М. М. Гернет. Новый метод определения моментов инерции. Вестник инж. и техн., 1941, № 3). Через ту же призму перекинули тонкую нить, на одном конце которой висел небольшой грузик, а другой натягивали рукой. Отклонив шатун и грузик из равновесного положения, заставили их [c.346]

Явление интерференции позволяет свести к минимуму коэффициент отражения поверхностей различных элементов (линз, призм и т. и.) оптическо11 системы — осуществить так называемое просветление оптики. С этой целью на поверхность элемента, например линзы, методом напыления в вакууме наносят тонкие пленки с коэ( к )ицие1ггом преломления, меньшим, чем у материала линзы. Падающий на поьерхносгь пленки пучок света / (рис. 5.14) частично отражается от внешней границы просветляющего слоя [c.106]

Toporo показана на рис. 24.3. Полное внутреннее отражение происходит на границе между стеклом (с известным и по возможности высоким показателем преломления) и тонким слоем жидкости, наносимым на поверхность стекла. На шкале прибора, определяющей положение трубы по отношению к призме при визировании светлой границы (указывающей начало полного внутреннего отражения), обычно наносят непосредственно значения показателя преломления. Такой рефрактометр обеспечивает определение показателя пре томления с погрешностью, не превышающей 0,1%. [c.485]

Схема опыта ясна из рис. 24.7. Пучок параллельных лучей падает на границу раздела стекло — флуоресцеин под углом, большим предельного, и испытывает полное внутреннее отражение. Весь отраженный свет концентрируется в направлении МС, N0. Однако зеленоватый свет флуоресценции в слое жидкости, прилегающем к участку призмы ММ, виден и по иным направлениям, что служит доказательством флуоресценции тонкого слоя жидкости под действием зашедшей туда волны. Явление выступает еще отчетливее, если использовать два скрещенных фильтра и выбранных так, что через их последовательность свет от источника не проходит. Но свет, прошедший через р1, способен вызвать флуоресценцию с другим спектральным составом, чем возбудивший ее свет (закон Стокса, см. 216). Этот измененный свет пропускается вторым фильтром р2- Таким образом, скрещенные фильтры задерживают полностью свет от источника, но свет флуоресценции, возбужденный волной, зашедшей во вторую среду, явственно виден. [c.488]

При испарении тонкого слоя исследуемого вещества с торца угольного электрода время свечения ее паров очень мало. Поэтому установку расстояния между электродами нужно проводить до включения дуги с помощью устройства для теневой проекции, имеющегоея на дуговом штативе и еостоящего из лампочки накаливания, поворотной призмы и линзы, не показанных на рис. И. [c.34]

При анализе устического поля наклонного преобразователя будем использовать следующие термины. Акустической осью преобразователя в изделии ON будем называть преломленную акустическую ось 0 0 пьезопластины (рис. 1.45). Точку преломления О называют точкой ввода будем считать, что для призмы и изделия это одна точка, так как слой контактного смазочного материала между ними бесконечно тонкий. Акустическая ось преобразователя может не совпадать с центральным лучом, который также начинается в точке ввода, но всегда соответствует максимуму диаграммы направленности. Угол преломления центрального луча называют углом ввода. Основной плоскостью (плоскостью падения) будем считать плоскость преломления акустической оси, дополнительной — перпендикулярную ей плоскость, также проходящую через акустическую ось. [c.84]

Рис. 13.49. Поперечное сечение призмы в виде тонкого кругового полукольца и расположение центра тяжести плошдди и центра изгиба ъ плоскости поперечного сечения.

С помощью оборудования системы Призма-2 выполняются следующие технологические операции измерения припуска на обработку и выбор оптимальной глубины резания и числа проходов черновая обработка — фрезерование, сверление и подобные операции чпстовая обработка — фрезерование, сверление, развертывание и подобные операции измерение припуска и выбор оптплшльной глубины шлифования и числа проходов тонкая обработка — шлифование поверхностей и направляющих манипуляционные с изделием — зажим, разжим, освобождение, очистка от стружки, промывка и охлаждение контроль качества — [c.33]

Основным узлом каждого кронштейна вяляется чашечный шарнир, состоящий из двух точёных чашек, скреплённых болтом. Для обеспечения плавной работы шарнира между чашками помещено тонкое бронзовое кольцо, а под головкой и контргайкой болта установлены сферические штампованные стальные шайбы. Для плечей и стоек кронштейнов применяются газовые трубы с внутренним диаметром 1/2". Все детали кронштейнов для предохранения от коррозии хромированы. Основанием для кронштейнов типов К-11 и К-41 служат чугунные литые клеммовые коробки в виде трёхгранной призмы. Такая конфигурация придана основанию для того, чтобы кронштейн можно было крепить как к горизонтальной, так и к вертикальной плоскостям. [c.531]

Интересный спектроскоп предложили Г. Р. Кирхгоф и Р. В. Бунзен. Несмотря на свою простоту, этот прибор имел существенные недостатки и впоследствии был усовершенствован. Для увеличения дисперсии известный немецкий оптик К. А. Штейнгель во второй половине XIX в. создал спектроскоп с четырьмя призмами. Первые три призмы имели преломляющий угол 45°, а четвертая призма 60°. Впоследствии вместо призм в качестве диспергирующего элемента стали применять дифракционные решетки, при помощи которых можно было получить значительное светорассеяние. Первые дифракционные решетки были изготовлены Й. Фраунгофером. Они состояли. либо из рамки с натянутыми в ней тонкими параллельными проволочками, либо из стеклянной пластинки, покрытой сажей с нанесенными на нее штрихами. [c.348]

Для получения полной поляризации преломленного света можно применять 8—10 стеклянных пластинок (стопу) с последовательным преломлением. В качестве поляризаторов и анализаторов часто применяют поляроиды в виде прозрачной пластинки с тонким слоем (порядка 0,1 мм) дихроичных кристаллов (герапатит и др.) или в виде тонких пластин дихроичных кристаллов. Они менее прозрачны, чем поляризационные призмы из исландского шпата, и не обеспечивают полной поляризации крайних лучей спектра (фиолетовых и красных). Однако ввиду возможности их изготовления с относительно большой поверхностью и их невысокой стоимости они успешно применяются в технике. [c.317]

Для исследований в УФ-области используют весьма близкую к традиционной (для видимого диапазона) астр, аппаратуру (телескопы, детекторы, спектрометры). Пропускающими штериалами дая линз, призм и окон детекторов служат кристаллы LiF, MgF j, aF, BaF, кристал-лич. и плавленый кварц. Коротковолновая граница LiF достигает 1050 А, MgF —1150 А. В более коротковолновой области (Х< 1000 А) применяют тонкие плёнки металлов А1, Sn и др. толщиной 0,1 —10 мкм. К сожалению, эти плёнки не являются герметичными и потому не пригодны для окон детекторов. В качестве отражательных покрытий для зеркал И дифракционных решёток используется А1 с защитным слоем из MgFj или LiF толщиной 100—500 А. Такие покрытия обладают коэф. отражения до 70% для длин волн больших 1050 А. В более коротковолновой области спектра применяют незащищённые покрытия из Ац, Pt, Re или Os с коэф. отражения до 25%. [c.219]

Твердые вещества и жидкости, как правило, обладают значительным поглощением. Большая часть веществ уже в слое толщиною всего в несколько микронов является очень непрозрачной для излучений, что объясняет невозможность нахождения среди этих материалов таких тел, которые обладали бы достаточной прозрачностью для изготовления из них призм или фильтров. Но эта непрозрачность позволяет получать спектры поглощения, используя тонкие слои, т. е. весьма малые количества вещества спектры поглощения содержат максимумы и минимумы, характеризующие некоторые колебания молекул, что и позволяет использовать их для анализа. Спектры поглощения в этом отношении представляют, в общем, больщий интерес, нежели спектры отражения, потому что их легче получать и потому что участки непрозрачности более заметны и более отчетливы, чем участки избирательного отражения. В некоторых случаях те и другие спектры могут дополнять друг друга. [c.127]

Плоскопараллельиые пластинки, стоящие неперпендикулярио к оси. Плоскопараллельные пластинки, поверхности которых образуют с оптической осью системы углы, отличные от прямого, Вводят в систему асимметрию, так что она перестает быть центрированной и на оси появляются все аберрации, свойственные обычно только наклонным пучкам, например кома, астигматизм, дисторсия. Если углы между нормалью к поверхностям пластинки и осью системы невелики, можно рассчитывать аберрации по вышеприведенным формулам, переходя к новым координатным осям и принимая за временную оптическую иормалЬ к поверхностям призмы. Как правило, даже очень тонкие пластинки (порядка 1—2 мм), поставленные под большим (свыше 30°) наклоном к оси, заметно портят качество изображения. [c.183]

Кома прнзмы и системы прнзм. Призма, поставленная на пути сходящегося монохроматического пучка, отклоняя пучок лучей от первоначального положения, уничтожает гомоцентрнчность пучка. Автором 17 ] было показано, что в этом случае имеет место явление комы, которое при пользовании призмами в сходящихся пучках имеет гораздо большее значение, чем астигматизм, которому отводится в курсах геометрической оптики совершенно незаслуженное внимание. Эго обстоятельство тем более существенно, что призмы применяются только в спектроскопических исследованиях, где их астигматизм не приносит никакого вреда, так как предметом наблюдения являются тонкие щели, параллельные ребру прнзмы. Аберрация комы для лучей, лежащих в плоскости главного сечения, может быть легко выведена. Достаточно проследить за ходом трех лучей, из которых два расположены симметрично относительно среднего (главного луча). После преломле- [c.530]

Можно, однако, обойтись и без склепывания тонких деталей, используя при их опиливании приспособления, называемые наметками. К таким приспособлениям относятся опиловочные призмы, раздвижнь5е рамки, плоскопараллельные наметки, копирные приспособления (кондукторы) И др. Применение наметок облегчает точную установку и закрепление деталей, что позволяет слесарю работать с большей уверенностью, без опасения испортить обрабатываемую поверхность или не получить нужный размер. Рабочие части приспособлений (наметок) точно обработаны, закалены и отшлифованы. [c.171]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...