Метод измерения интерференционный

Интерференционные методы измерений. Интерференционные методы измерения основываются на волновой природе света. Ниже приведены исходные положения интерференционного метода измерения. [c.359]

Метод измерения интерференционный 319—321 Методы контроля статистические — Термины и области применения 426—431 [c.522]

Исследования интерференции интенсивностей и когерентности второго и более высоких порядков существенно расширили область классических интерференционных проблем. и исследования стали возможны благодаря развитию в последние десятилетия техники счета фотонов (техники фотоотсчетов), о ней будет рассказано в 13.2. Они привели к возникновению нового метода измерения когерентных свойств света, называемого спектроскопией флуктуаций интенсивности. [c.293]

Д. С. Рождественским был разработан простой, весьма удобный и точный метод измерения по аномальной дисперсии величины названный им методом крюков". Метод заключается в том, что в одну из ветвей интерферометра вводится трубка с изучаемыми парами, а в другую — плоскопараллельная пластинка. Тогда возникают характерные изгибы интерференционных полос ( крюки") по обе стороны от линии поглощения (снимок IX). Из теории, развитой Д. С. Рождественским, следует, что значение fn Ni определяется через расстояние Д между соседними крюками. В наиболее благоприятных случаях метод позволяет определять значения с ошибкой, не превышающей %. Для тех линий, у которых нижним является нормальный уровень, концентрация атомов (в формуле (1а) есть концентрация на нижнем уровне), как сказано, практически совпадает с полным числом атомов N в единице объема. ) Для таких линий может быть найдено абсолютное значение Как и при методе поглощения, значения получаются при этом менее точными, чем значения так как в большинстве случаев упругость насыщающих паров металлов известна недостаточно хорошо. [c.401]

Из сказанного ясно, что интерференционные измерения неровностей поверхности принадлежат к профильным методам измерений. [c.90]

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ [c.187]

Технический интерференционный метод измерения применяют, если размеры проверяемой и исходной плиток разнятся не более чем на 1,5 (Л. [c.189]

Абсолютный интерференционный метод измерения плиток описан лишь в самом общем виде" . Чтобы получить действительный размер плитки, в результаты измерений необходимо ввести поправки на отклонение температуры, барометрического давления и упругости водяного пара от стандартных значений, при которых нормированы длины волн. [c.189]

Метод измерений углов путем определения угла поворота интерференционных полос применяют преимущественно при измерениях отклонений от О или 180 . [c.734]

Методы измерения концевых мер. Абсолютный интерференционный метод осу-по- [c.86]

Высокоточным методом аттестации образцовых колец из прозрачного материала является метод абсолютных интерференционных измерений при отражении света от диаметрально противоположных участков поверхности отверстия. По данным работы 110], этот метод обеспечивает измерения с погрешностью 0,05 мкм. Интересен метод аттестации прозрачных колец по аттестованным пробкам [11 ]. Во ВНИИМ им. Менделеева создан прибор для измерения диаметров аттестованных колец с погрешностью 0,3 мкм. Прибор содержит двухлучевой интерферометр, фотоэлектрический оптический щуп и систему подачи с помощью пьезокерамического устройства [ 1 ]. [c.202]

Простейший интерференционный метод измерения отклонений от плоскостности основан на наблюдении интерференционных полос, возникающих при наложении иа поверяемую поверхность стеклянной пластины. Пластины плоские стеклянные для интерференционных измерений изготовляют по ГОСТ 2923—75Е из оптического стекла марок К8, ЛК4, ЛК7. Нижние пластины 1-го и 2-го классов точности (рис. 10.9, [c.289]

Погрешность Ала оценки показателя преломления на рефрактометре = Разность между расчетными и измеренными значениями показателя преломления на длине метр дает погрешность интерференционного метода измерения длины до 0,4 мкм. Допускаемые погрешности оценки показателя преломления воздуха для прецизионных измерений длины приведены в ГОСТ 8.050—73. [c.89]

Интерференционно-голографические методы измерений основаны на регистрами фазовых возмущений волнового фронта, возникающих при отражении от неко-вибрирующей поверхности В общем случае реализация методов представляет ой двухстадийный процесс записи (регистрации) голограммы и восстановления отражения (действительного или мнимого) за счет преобразования голограммой °Рной волны в копию предметной Оптическая схема, реализующая данные ме- [c.129]

Относительные методы интерференционный метод трубки, или метод включений метод стержня метод широкой полосы метод измерения удлинения с помощью определения электросопротивления. [c.151]

Вторичные эталонные длины волн должны также обладать точностью воспроизведения, близкой к точности первичной нормали. Их роль в метрологии подобна роли вторичных материальных искусственных эталонов, так как с их помощью значение длины волны оранжевой линии Кг будет передаваться непосредственно рабочим мерам — применением абсолютного интерференционного метода измерения концевых и штриховых мер. [c.70]

Развитие интерференционного метода измерения длины открыло возможность повысить точность воспроизведения метра, определив его как длину, равную некоторому числу длин световой волны. Исследования с целью выбора наиболее яркой, узкой и точно воспроизводимой спектральной линии позволили в 1960 г. XI Генеральной конференции по мерам и весам принять новое определение метра, приведенное выше. Тем самым метр снова стали воспроизводить с помощью естественного эталона. [c.26]

Копылов Ю. Л. Интерференционный метод измерения фокусных рас стояний тепловых линз в активных элементах твердотельных оптических кван товых генераторов. — Приборы и техника эксперимента, 1979, № 1, с. 195—196 [c.193]

В настоящее время интерференционные методы исследования тонких пленок, в том числе и многолучевой интерференционный метод, достаточно полно систематизированы и освещены в ряде работ [28, 98, 138]. Поэтому остановимся лишь на некоторых вопросах, связанных с методами измерений параметров тонких пленок. [c.230]

При создании первых лазеров готовых методов измерения лазерных параметров, разумеется, не было, хотя существовали хорошо освоенные методы, развитые в оптике, спектроскопии, радиотехнике и в технике СВЧ. Среди них можно отметить интерференционные методы измерения длины волны, гетеродинный метод измерения частоты и др. Поэтому многие методы измерения лазерных параметров были разработаны самими исследователями в процессе изучения оптических квантовых генераторов. Так, например, были разработаны тонкие радиотехнические методы исследования спектра частот оптического квантового генератора и форумы спектральной линии с чрезвычайно высокой разрешающей способностью, недоступной для методов оптической интерферометрии. [c.6]

В инфракрасной области (1—3 мк) интерферометрическими методами измерено большое число линий инертных газов [70 . В ультрафиолетовой области (2000—3000 А) удобные стандартные линии имеются в спектре Си , который измерен интерференционными методами [71]. [c.354]

Действующим в настоящее время ОСТ 85000-39 Меры длины концевые плоскопараллельные установлена система последовательной передачи размеров от эталона длины (основной световой волны кадмия) до изделия включительно. Условия воспроизведения длины основной световой волны кадмия изложены в ОСТ 7762. Промежуточным звеном в этой метрологической схеме служат рабочие длины волн криптона и гелия эти волны являются производными от основно световой волны и применяются для обеспечения взаи.м-ного соответствия поверок концевых мер первого разряда (на абсолютном интерференционном компараторе) и второго разряда при относительном интерференционном методе измерения. Следующим основным звеном метрологической цепи в этой системе являются плоскопараллельные концевые меры длины, подразделяющиеся, в свою очередь, на разряды и классы. Поскольку почти все заводские измерения исходят из соответственным образом аттестованных плоскопараллельных концевых мер, практически длина световой волны кадмия является исходной мерой в системе измерения длин. [c.72]

Явление интерференции двух световых лучей — прямого от источника света и отраженного от вибрирующей поверхности используется преимущественно для лабораторных испытаний. Этот метод является одним из наиболее точных при измерении малых амплитуд. Интерференционный метод довольно широко применялся в начале нашего столетия, но затем он уступил место более совершенным методам измерения при помощи электромеханических систем. Однако в последнее время интерференционный метод снова стал применяться для абсолютной калибровки других типов виброизмери-тельной аппаратуры при высоких частотах и весьма малых амплитудах вибрации. Интерференционному методу посвящена уже довольно обширная современная литература. Применение фотоумножителя в качестве регистратора [28 ] и использования для наблюдения интерференционных максимумов высшего порядка [29] значительно расширяет возможности метода. [c.404]

Высокостабилизированные одномодовые лазеры позволят в еще большей мере использовать голографические и интерференционные методы измерений. К голографическим методам в настоящее время проявляется все больший и больший интерес многих специалистов, в отношении их применения определяются весьма большие перспективы. С помощью голографической интерферометрии можно обнаруживать отклонения от заданных размеров различных оптических непрозрачных объектов, а также производить испытания линз и зеркал, для которых не существует ручных шаблонов. [c.322]

Методы измерения концевых мер. Абсолютный интерференционный метод осуществляется компаратором Кестерса (фиг. 12). В нем пучок параллельных лучей определенной длины волны (одного цвета) разделяется наклонной пластиной 1 на два пучка. Один пучок отражается частично от стеклянной пластины 2, частично от проверяемой плитки 3, другой — от зеркала 4. После нескольких отражений пучки вновь соединяются и интерферируют. между собой. Интерференционная картина рассматривается непосредственно глазом через щель 5 поверхности стола и плитки кажутся пересеченными каждая системой полос б, сдвинутых одна относительно другой. Величина сдвига выражает дробную долю общего числа длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. Такое же измерение производится и для двух-трех других линий спектра (других длин волн). Если заранее приближенно определить измеряемый размер, то по дробным [c.669]

Э й д и н о в В. Я Л о г а ч е в а Л. Н. Определение точности интерференционного метода измерения углов и области его применения. Материалы БНИИК, 1958. [c.396]

Карташев А. И., Эцнн И, Ш. Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах. — Успехи физических наук. 1972, т. 106, вып, 4. с, 687 — 721. [c.133]

В последнее время в связи с развитием лазерной техники разрабатываются методы измерения полей деформаций сложных форм деталей на основе голографического эффекта — способа получения пространственных объектов с использованием когерентногр освещения [11]. Исходной для анализа полей деформаций является интерференционная картина, характеризующая деформации объекта (детали) за время между двумя экспозициями и получаемая при наложении друг на друга голограмм с детали. Метод голографической интерферометрии широко применяют для измерения перемещений и деформаций в элементах конструкций (балок, пластин, лопаток, оболочек и пр.) под действием статических и динамических нагрузок, а также вследствие возникновения нестационарных температурных полей. [c.172]

Лазерная доплеровская анемометрия. Метод измерения скорости основан на эффекте Доплера и состоит в зондировании потока пересекающимися лазерными лучами, регистрации рассеянного на движущихся в потоке метках лазерного излучения и измерении разности частот рассеянных волн. В схеме, изображенной на рис. 6.14, использованы два луча, которые сфокусированы в исследуемую область потока, где при этом образуется интерференционная картина, проецируемая на поверхность детектора. Доплеровская частота сигнала обусловленного пересечением метками интерференци- [c.386]

К моменту принятия нового определения метра, т. е. к 1960 г., во многих странах были уже созданы интерферометры для измерения концевых мер, получившие название интерференционных компараторов. Они предназначены для измерения расстояний непосредственно в длинах световых волн (абсолютным методом) и для точного сравнения длины двух мер (относительным методом). При абсолютном методе измерения длину меры на основании явлений интерференции света сравнивают с длиной световой волны как с эталоном единицы длины. В этом случае длина световой волны представляет собой естественный и неизменный масштаб, аналогичный штриховому эталону при компарировании штриховых мер. [c.77]

После рассмотрения различных методов измерения шероховатости сверхгладких поверхностей возникает вопрос о том, какой же метод следует предпочесть для оценки качества поверхности рентгеновских зеркал. Каждый из рассмотренных методов и приборов имеет свои недостатки и достоинства. Совокупность таких требований, как предельная чувствительность, простота реализации, возможность неразрушающего контроля, минимизация времени измерения и т. п., оказывается противоречивой. Понятно, что самую полную информацию о поверхности рентгеновского зеркала дает метод измерения индикатрисы рассеяния той энергии, где предполагается использование зеркала. Однако отсутствие выпускаемых промышленностью приборов такого типа и их достаточно высокая сложность практически исключают возможность использования их как средства контроля технологии изготовления зеркальной рентгеновской оптики. Проведенный обзор и анализ методов показывает, что в качестве приборов для контроля готовых образцов рентгеновских зеркал можно рекомендовать щуповой профилометр, прибор для измерения TIS и метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии. Вторая группа приборов, имеющих самостоятельное значение, — приборы для контроля качества рентгеновской оптики в процессе ее изготовления. Наиболее удобен для этой цели дифференциальный интерференционный микроскоп Номарского при условии его достаточной калибровки (в некоторых случаях можно использовать щуповой профилометр). [c.244]

Неплоско с тность шаброванных поверхностей чаще всего контролируют с помощью поверочных плит по методу пятен на краску . Отклонение от плоскостности в общем случае может быть проверено в линейных единицах как разность наибольшего и наименьшего показаний измерительной головки в различных точках проверяемой поверхности, полученных при перемещении головки по базовой плоскости. Возможен также пневматический метод измерения неплоскостности. Неплоскостность доведенных поверхностей контролируется также интерференционным методом. При упрощенном методе определения неплоскостности проверяют непрямолйнейность поверхности в двух взаимно перпендикулярных Или нескольких произвольных направлениях, при этом за велйчину неплоскостности принимают наибольшее измеренное значение Непрямолинейности. [c.270]

Описанные методы измерения Ха с помощью получения и исследования интерференционной картины ( полос Мейкера ) позволяют измерить все компоненты тензора. Однако уровень мощности сигаапа невысок, поэтому в качестве источников излучения используются мощные лазеры,, а для регастращш — чувствительные приборы. [c.90]

Следует также отметить, что по физической природе интерференционные методы практически безынерционны (временные ограничения могут вносить лишь средства регистрации интер-ферограмм), что позволяет проводить изучение быстропроте-кающих процессов в натуральном масштабе времени. По сравнению с другими оптическими методами, основанными на температурных измерениях, интерференционные методы обеспечивают большую чувствительность измерений приращений оптических путей. [c.174]

Метод измерения заключается в перемещении фотонегатива в направлении, перпендикулярном к интерференционным полосам, до тех (Юр, пока оба фотоэлемента будут показывать одинаковую силу тока (центр полосы при этом находится на оптической оси системы). После этого проводится серия измерений, фиксирующих положение максимумов интерференционных полос. Средняя ошибка измерений составляет 0,004 ширины полосы. [c.151]

Метод измерения времени затухания люминесценции в твердых и жидких лазерных средах в принципе несложен. Типичная схема экспериментальной установки [72] представлена на фиг. 5.14. Для возбуждения берется небольшая лампа-вспышка (FX-12) с постоянной времени, составляюш,ей несколько микросекунд. Она снабжена фильтром-кожухом, отсекаюш.им спектр люминесценции. Приемником служит фотоумножитель с интерференционным фильтром, который пропускает только нужный свет люминесценции. Для уменьшения рассеянного света предусматривают соответствующую линзу и диафрагму. Кривую затухания, развернутую на экране осциллографа, снимают фотоприставкой фирмы Polaroid. [c.291]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...