Компараторы интерференционные

Способы 785 Ковочные машины и прессы — Расчет усилий 800—802 Коллиматоры 736, 743, 744 Компараторы интерференционные 668, 669 Компаунды заливочные 368, 569 Константан 198, 515 Контркалибры 600, 611 --к калибрам для длин, глубин и высот уступов — Допуски 614 [c.1009]

Комовая шкура 458, X. Компаратор интерференционный 252, IX. [c.470]

Фабри—Перо, одной из отражающих поверхностей которого является поверхность исследуемой концевой меры, а толщина концевой меры определяет расстояние до второй отражающей поверхности (иногда вводятся еще дополнительные зеркала). Существуют разнообразные интерференционные компараторы этого рода, приспособленные для сравнения длин двух концевых мер или для абсолютного определения их. Компараторы такого рода, применяемые в лучших государственных метрологических лабораториях, позволяют определять меры до 100 мм с ошибкой от 0,010 до 0,005 мкм и меры до 1000 мм с ошибкой от 0,1 до 0,05 мкм. [c.146]

Интерференционные компараторы 5—189 Интерференционные цвета — Таблица Ньютона [c.90]

Измерение плиток абсолютным интерференционным методом производится с помощью так называемых интерференционных компараторов (фиг. 31). [c.189]

Для определения полного (целого и дробного) количества длин полуволн, заключающихся в длине плитки, поступают следующим образом. Измеряют плитку предварительно более грубым способом (например, относительным методом на оптиметре с точностью 1 р). Затем на интерференционном компараторе определяют дробные доли длин полуволн не менее чем для трёх, линий спектра. Если длины световых волн этих линий спектра известны, то вычисление общего количества длин полуволн, заключающихся в длине плитки, не представляет затруднений полученное в результате измерения на компараторе сочетание дробных долей длин полуволн для нескольких линий спектра может соответствовать одному, и только одному, значению размера плитки (лежащему в определённом интервале). [c.189]

Интерференционные компараторы используются также для относительных измерений, т. е. для сличения размеров проверяемой н исходной плиток, притираемых рядом к кварцевой пластине. [c.189]

Оптическая схема рефрактометра, встроенного в эталонный интерференционный компаратор, показана па рис. 22. Пучок света от монохроматического источника 1, отразившись от зеркал S и 5, падает на разделительный блок 4. Разделенные пучки [c.88]

В 1963 г. длина метра № 11 была определена в длинах световых волн на универсальном интерференционном компараторе. Получены следующие результаты [c.51]

Несколько иначе дело обстоит со штриховыми эталонами. Приборы для измерения штрихового метра в длинах световых волн почти во всех странах находятся в стадии проектирования, создания и изучения. Только в 1964—1965 гг. Международное бюро мер и весов предполагает закончить новый интерференционный" компаратор для воспроизведения штрихового метра в длинах световых волн. В СССР ВНИИМ заканчивает работу по созданию прецизионного компаратора, предназначенного для воспроизведения длины штрихового метра с той точностью, которой можно достичь в связи с переходом на новое определение метра. [c.78]

Рис. 11.42. Контактный интерференционный компаратор

Для сличения штриховых мер, в том числе и платино-иридиевых прототипов метра, с концевыми мерами и с длиной эталонной световой волны в метрологических лабораториях применяют интерференционные фотоэлектрические компараторы. [c.49]

Таким образом, промеряя на компараторе смещение интерференционных полос для различных длин волн, можно получить экспе риментально функцию зависимости показателя преломления от длины волны. [c.472]

Интерференц-компаратор представляет собой интерферометр типа Майкельсона (см. гл. 3), который работает в монохроматическом свете. Концевая мера помещается на специальный столик, поверхность которого выполняет роль зеркала в одном из плеч интерферометра. Свободная поверхность концевой меры при этом выполняет роль еще одного отражающего зеркала в том же плече интерферометра. В поле зрения при этом наблюдаются две системы интерференционных полос, одна из которых связана с отражением от свободной части зеркала интерферометра, а другая — от свободной поверхности концевой меры. Процесс измерения сводится к определению разности порядков, соответствующих этим двум системам интерференционных полос. Разность порядков при учете показателя преломления воздуха дает число длин волн, укладывающихся в пределах длины концевой меры. [c.703]

Разность порядков определяется так называемым способом совпадения дробных частей , основанным на том, что дробные части расположенных вблизи репера интерференционных полос, измеренные для нескольких длин волн, находятся между собой в определенной зависимости, что и позволяет безошибочно определять порядок полос. Точность определения длин концевых мер на интерференц-компараторе составляет 0,06- 0,03) . [c.703]

I — метод прямых измерений 2 — сличение с Государственным эталоном с помощью эталонов сравнения 3 — сличение и калибровка на интерференционном компараторе 4 — сличение на контактном интерферометре 5 — сличение техническим интерференционным методом 6 — сличение на измерительной машине 7 — сличение на компараторе 8 — сличение на оптиметре [c.27]

И вот в Международном бюро мер и весов и во всех крупнейших национальных метрологических лабораториях в основу конструкции эталона метра были положены газоразрядные лампы с изотопом криптона-86. А для сличения вторичных эталонов (в том числе и платиноиридиевых прототипов метра) со световым метром стали применяться автоматические интерференционные фотоэлектрические компараторы — приборы сравнения. Эти приборы подсчитывают не все количество волн, вмещающихся в метр, а лишь оценивают разницу между длинами измеряемой и заданной. [c.29]

На фиг. 1.37 показана конструкция зубчатого ограничителя в интерференционном компараторе. На фигуре видны удлиненный зуб шестерни 1 и место расположения стопорного цилиндрического штифта во впадине шестерни 2. [c.22]

АХ — погрешность измерения длины волны по аттестату в мкм. Интерференционный компаратор выпускается народным предприятием Карл Цейсс (г. Иена). Прибор предназначен для относительных и абсолютных измерений концевых мер длины. Интерес представляет абсолютный интерференционный метод измерения (рис. 120, а). [c.180]

Рис. 120. Интерференционный компаратор а — схема, поясняющая принцип измерений б — конструктивная схема

Рассмотрим еще один тип интерференционного прибора для контроля шероховатости поверхности — микроскоп сравнения (компаратор) конструкции В. И. Саркина (рис. 12). [c.69]

Действующим в настоящее время ОСТ 85000-39 Меры длины концевые плоскопараллельные установлена система последовательной передачи размеров от эталона длины (основной световой волны кадмия) до изделия включительно. Условия воспроизведения длины основной световой волны кадмия изложены в ОСТ 7762. Промежуточным звеном в этой метрологической схеме служат рабочие длины волн криптона и гелия эти волны являются производными от основно световой волны и применяются для обеспечения взаи.м-ного соответствия поверок концевых мер первого разряда (на абсолютном интерференционном компараторе) и второго разряда при относительном интерференционном методе измерения. Следующим основным звеном метрологической цепи в этой системе являются плоскопараллельные концевые меры длины, подразделяющиеся, в свою очередь, на разряды и классы. Поскольку почти все заводские измерения исходят из соответственным образом аттестованных плоскопараллельных концевых мер, практически длина световой волны кадмия является исходной мерой в системе измерения длин. [c.72]

Методы измерения концевых мер. Абсолютный интерференционный метод осуществляется компаратором Кестерса (фиг. 12). В нем пучок параллельных лучей определенной длины волны (одного цвета) разделяется наклонной пластиной 1 на два пучка. Один пучок отражается частично от стеклянной пластины 2, частично от проверяемой плитки 3, другой — от зеркала 4. После нескольких отражений пучки вновь соединяются и интерферируют. между собой. Интерференционная картина рассматривается непосредственно глазом через щель 5 поверхности стола и плитки кажутся пересеченными каждая системой полос б, сдвинутых одна относительно другой. Величина сдвига выражает дробную долю общего числа длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. Такое же измерение производится и для двух-трех других линий спектра (других длин волн). Если заранее приближенно определить измеряемый размер, то по дробным [c.669]

Сравнительный интерференционный бесконтактный метод осуществляется на интерференционном компараторе Кестерса и других интерферометрах путем сличения проверяемой меры с образцовой. [c.671]

В этом приборе при подъеме измерительного стержня с зеркалом 6 (фиг. 51) вдоль шкалы перемещается система интерференционных полос, средняя из которых (черная полоса) служит указателем. Ход лучей в приборе подобен ходу лучей в интерференционном компараторе (см. фиг 15). Наклоном зеркала 7 изменяется угот клина между ним и мнимым изображением зеркала 6, а тем самым и расстояние между полосами, определяющее цену деления, изменяемую от 0,05 до 0,2 мк.. [c.99]

В последнее время измерение расстояний мелду интерференционными линиями производится нами с помощью компаратора между местами максимального потемне- [c.116]

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ КОМПАРАТОР — интерферометр для абс. измерений длин концевых мер (измерит. плиток) сравнением (комнарированием) их с длиной волны енота X, а также для относит. нзмерегн Й длин двух концевых мер. [c.162]

К моменту принятия нового определения метра, т. е. к 1960 г., во многих странах были уже созданы интерферометры для измерения концевых мер, получившие название интерференционных компараторов. Они предназначены для измерения расстояний непосредственно в длинах световых волн (абсолютным методом) и для точного сравнения длины двух мер (относительным методом). При абсолютном методе измерения длину меры на основании явлений интерференции света сравнивают с длиной световой волны как с эталоном единицы длины. В этом случае длина световой волны представляет собой естественный и неизменный масштаб, аналогичный штриховому эталону при компарировании штриховых мер. [c.77]

С помощью системы зеркал или двойных разделяющих световой пучок призм в оптических схемах интерференционных компараторов световой пучок от монохроматического источника или источника белого света разделяется на два когерентных, взаимно раздвинутых на любое расстояние пучка. В интерференционных компараторах используется явление интерференции как в клине (полосы равной толщины), так и в плоскопараллельной пластинке (полосы равного накала), а также используются полосы перена-ложения, получающиеся в белом свете при сложении этих двух интерференционных картин. [c.77]

На рис. 78 показана одна из схем фотоэлектрического компаратора [133L Источник света / — вольфрамовая ленточная лампа накаливания — изображается с помощью конденсора 2 на намеряемой фотопластинке (пленке) 3. Система линз и 5 проектирует изображение фотопластинки на щель II, за которой установлен фотоумножитель 12, посылающий сигнал через усилитель на вертикальные пластины осциллографа. На пути световых лучей перед щелью помещается куб-призма о с двумя противоположными зачерненными Гранями. Призма, приводимая в движение от мотора 8, тоедназиачена для сканирования интерференционной картины. Для исключения колебании напряжения и ( уктуаций источника в схеме предусмотрен оптический прерыватель 7, установленный [c.150]

Среди методов интерферометрии, используемых для изучения пленок, преобладающее место занимают многолучевые методы, что связано с их высокой чувствительностью измерений и высокой разрешающей способностью. Точность методов в льшой степени определяется точностью оценки смещения полосы. При малых расстояниях между зеркалами (при низких порядках интерференции), когда интер ренционные полосы имеют малую относительную ширину (отношение полуширины полосы к расстоянию между максимумами), точность методов достаточно высока. Однако при Сравнительно больших расстояниях ( 40—50 мм) для обеспечения высокой точности измерений необходимо применять объ-ективнь(е методы регистрации положения интерференционной полосы (например, с помощью фотоэлектрических компараторов). В этом случае весьма удо о применять фотометрическую обработку интерферограмм, позволяющую достаточно просто и с высокой степенью точности получать линии равных толщин прозрачных пленок. [c.231]

Методы измерения концевых мер. Непосредственный интерференционный метод осуществляется на компараторе Кестерса. [c.617]

Для измерения концевых мер длины применяют бесконтактные абсолютный и относительный интерференционные методы измерений с помошью интерференционных компараторов, контактный относительный интерференционный метод измерения (на интерферометре Уверского). В практике широкое распространение получил относительный технический интерференционный метод измерения, с помощью стеклянных пластин. [c.363]

Интерференционный компаратор Кестерса. Схема интерференционного компаратора Кестерса для абсолютных и относительных измерений средин- [c.363]

Контактный интерферометр. Контактные интерференционные компараторы, разработанные И. Г. Уверским, предназначаются для измерения концевых мер длины сравнительным методом. По ГОСТу 8290—57 предусмотрены два типа интерферометров — вертикальные ИКПВ (рис. И.42, а) и горизонтальные ИКПГ. Основным узлом обоих типов интерферометров является трубка интерферометра. Отличительным преимуществом контактного интерферометра является устройство для изменения цены деления шкалы в пределах от 0,05 до 0,2 мкм. Предельная погрешность Л показаний интерферометра на любом участке шкалы рассчитывается по формуле (ГОСТ 8290-57) [c.364]

Рабочими эталонами служат наборы, состоящие из мер длиной 1 мм — 1 м. Действительное значение рабочих эталонов определяют как интерференционным методом с использованием вторичных эталонов длин волн, так и слачени-ем со вторичными платино-иридиевыми эталонами посредством компараторов методом калибровки. [c.68]

Современная техника измерений сложилась в результате длительного развития методов и средств измерений на основе учения об измерениях — метрологии. Ускоренный прогресс техники измерений начался во второй половине XVIII в. и был связан с развитием промышленности. Повышение точности и производительности измерительных приборов происходило благодаря использованию новых принципов измерений, основанных на достижениях науки и техники. Первые приборы для высокоточных линейных измерений — компараторы для сравнения штриховых мер — были созданы в 1792 г. Промышленное производство инструментов для абсолютных измерений — штангенциркулей — организовано в 1850 г., а микрометров — в 1867 г. В конце XIX в. получили широкое распространение сначала нормальные, а затем предельные калибры, появились концевые меры длины. Механические приборы, предназначенные для относительных измерений, резко повысили точность в 1890 г. разработаны рычажные, затем зубчатые и рычажнозубчатые измерительные головки, в 1937 г. — пружинные измерительные головки. С 20-х гг. нашего столетия быстро развиваются оптико-механические приборы оптиметры созданы в 1920 г., интерференционные приборы — в 1923 г., универсальный микроскоп и измерительные машины — в 1926 г., проекторы — в 1930 г. В [c.4]

Абсолютный интерференционный метод предназначен для измерения длины образцовых мер 1-го разряда и рабочих мер класса точности 00 в длинах световых волн. В интерферометре (рис. 98) для абсолютных и относительных измерений (интерференционного компаратора Кестерса) свет от источника 6, пройдя конденсор 5, поступает в коллиматор 3 — оптическую трубу, предназначенную для получения параллельного пучка лучей. Входная щель 4 трубы расположена в фокусе объектива 2. Лучи света, выходящие из коллиматора, освещают специальную призму 1, с помощью которой в интерферометр можно направлять свет разной длины волны (любого цвета спектра). Свет, идущий от призмы 1, разделяется на полупосеребренной полупрозрачной стеклянной пластине 10 на два потока. [c.135]

Аттестация концевых мер по 1-му разряду производится абсолютным интерференци0 1ным методом, допускающим непосредственное сличение длины измеряемой меры с длиной световой волны. Измерение производится на интерференционных компараторах, сосредоточенных в органах Комитета по делам мер и измерительных приборов при Совете Министров СССР. [c.22]

Аттестация по 2-му разряду сравнительным интерференционным методом может производиться как интерференционными компараторами, так и при помощи интерферометра И. Т. Уверского. Аттестация по 3 и 4-му разрядам может производиться также при помощи интерферометра Уверского или техническим интерференционным методом. [c.22]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...