Плоскопараллельность — Интерференционные методы измерений

Относительный технический интерференционный метод измерения. Наибольшее распространение на машиностроительных заводах для измерения концевых мер длины получил технический относительный метод интерференции. В основе его лежит разделение пучка света с помощью воздушного клина, образованного поверхностями плоскопараллельной стеклянной пластинки и концевой меры, как это было рассмотрено выше (см. рис. П.39). [c.366]

Технический интерференционный метод измерения срединного размера плиток. Плоские оптические пластины предназначены главным образом для сравнительных измерений плоскопараллельных концевых мер (плиток) 3-го и 4-го разрядов (см. табл. 3) техническим интерференционным методом. Для этой цели применяется набор из двух пластин — нижней и верхней (фиг. 72)—диаметром 60 мм. Сопоставление размеров исходной и проверяемой плиток производится следующим образом. [c.433]

Плоско-клиноременные передачи 483 Плоскопараллельность — Интерференционные методы измерений 21 [c.838]

При интерференционных методах измерения плоскопараллельных концевых мер эта величина является эталоном длины. [c.630]

Развитие интерференционных методов измерений позволило выразить метр в длинах световых волн и способствовало широкому распространению плоскопараллельных концевых мер длины, которые в настоящее время являются основным средством передачи размера. Таким образом, практически эталоном длины является длина световой волны. За основную световую волну по ОСТ ВКС 7762 принята красная линия кадмия, длина которой считается равной 0,64385033 мк. [c.404]

Развитие производства плоскопараллельных концевых мер послужило толчком для создания конструкций рычажно-механических приборов, оптико-механических приборов, а впоследствии — технического интерференционного метода измерения и контактного интерферометра, предназначенных для относительного метода измерения. При относительном методе измерения, когда прибор настраивается по блоку концевых мер на требуемый размер, повышается точность измерения и, следовательно, улучшается технологичность таких приборов. В данном случае мы имеем пример того, как достижение в области технологии производства, — доводка плоскостей, обеспечивающая сцепление концевых мер, — явилось решающим фактором в развитии и совершенствовании техники измерений в машиностроении. [c.11]

Д. С. Рождественским был разработан простой, весьма удобный и точный метод измерения по аномальной дисперсии величины названный им методом крюков". Метод заключается в том, что в одну из ветвей интерферометра вводится трубка с изучаемыми парами, а в другую — плоскопараллельная пластинка. Тогда возникают характерные изгибы интерференционных полос ( крюки") по обе стороны от линии поглощения (снимок IX). Из теории, развитой Д. С. Рождественским, следует, что значение fn Ni определяется через расстояние Д между соседними крюками. В наиболее благоприятных случаях метод позволяет определять значения с ошибкой, не превышающей %. Для тех линий, у которых нижним является нормальный уровень, концентрация атомов (в формуле (1а) есть концентрация на нижнем уровне), как сказано, практически совпадает с полным числом атомов N в единице объема. ) Для таких линий может быть найдено абсолютное значение Как и при методе поглощения, значения получаются при этом менее точными, чем значения так как в большинстве случаев упругость насыщающих паров металлов известна недостаточно хорошо. [c.401]

Пределы допустимых погрешностей показаний распространенных на заводах приборов для измерения шероховатости поверхности лежат в границах от 4,5 до 45% (нижняя граница относится к грубым поверхностям, а верхняя — к самым чистым), что составляет от 0,03 до 4 мкм. Нижняя граница по этим данным почти в 2 раза меньше нормативной погрешности аттестации ( 0,05 мкм) срединной длины самых малых плоскопараллельных концевых мер (до 10 мм) по наивысшему (1-му) разряду посредством наиболее точного (абсолютного интерференционного) метода. В этом состоит вторая особенность измерений неровностей поверхности. [c.64]

В данной главе описан самый чувствительный метод измерения температуры прозрачных плоскопараллельных пластин. В настоящее время метод лазерной интерференционной термометрии (ЛИТ) применяется наиболее часто (по сравнению с любыми другими методами) для изучения процессов при взаимодействии плазмы с поверхностью, а также для контроля температуры полупроводниковых и диэлектрических подложек в микротехнологии. Метод ЛИТ объединяет качества, на первый взгляд кажущиеся взаимно исключающими очень высокую температурную чувствительность и широкий диапазон измеряемых температур. [c.131]

Какой порядок подготовки мер к поверке 3. Что называется интерференцией света 4. Почему возникают интерференционные полосы на стеклянных пластинах 5. Чем ограничено использование белого света при интерференционных измерениях 6. Когда применяется монохроматический свет 7. Как проверяют притираемость угловых мер 8. В каком порядке измеряют отклонения концевых мер от плоскопараллельности 9. Какие концевые меры длины поверяют техническим интерференционным методом 10. В чем заключается технический метод 11. Что представляют собой стеклянные пластины для интерференционных измерений 12. В чем различие относительного и абсолютного интерференционных методов 13. Как измеряют размер угловых мер гониометрическим методом 14. Какие угловые меры поверяют относительным контактным методом [c.141]

Для того, чтобы обеспечить сиепление плоскопараллельных концевых мер, их рабочие поверхности должны иметь ровную плоскость с высокой степенью чистоты отделки. Высокие требования к чистоте рабочих поверхностей плоскопараллельных концевых мер необходимы также для измерения их размеров интерференционным методом, который позволяет производить наиболее точные измерения в длинах световых волн. [c.44]

Ввиду того, что измерение плоскопараллельных концевых мер производят интерференционным методом, размер плоскопараллельных концевых мер определяют расстоянием между двумя измери- [c.331]

Действующим в настоящее время ОСТ 85000-39 Меры длины концевые плоскопараллельные установлена система последовательной передачи размеров от эталона длины (основной световой волны кадмия) до изделия включительно. Условия воспроизведения длины основной световой волны кадмия изложены в ОСТ 7762. Промежуточным звеном в этой метрологической схеме служат рабочие длины волн криптона и гелия эти волны являются производными от основно световой волны и применяются для обеспечения взаи.м-ного соответствия поверок концевых мер первого разряда (на абсолютном интерференционном компараторе) и второго разряда при относительном интерференционном методе измерения. Следующим основным звеном метрологической цепи в этой системе являются плоскопараллельные концевые меры длины, подразделяющиеся, в свою очередь, на разряды и классы. Поскольку почти все заводские измерения исходят из соответственным образом аттестованных плоскопараллельных концевых мер, практически длина световой волны кадмия является исходной мерой в системе измерения длин. [c.72]

Методы измерения плоскопараллельных концевыхмер. Общая характеристика методов измерения концевых мер приведена в табл. 10. Наиболее точными являются интерференционные методы измерения, применяемые для аттестации концевых мер высших разрядов. Остальные гетоды связаны с применением широко распространенных и описываемых в последующих параграфах измерительных средств (оптиметры, измерительные машины). [c.79]

Отличительным признаком измерительной головки является увеличивающее устройство, преобразующее малое перемещение измерительного штока 9, вызываемое отклонением Ад детали, в значительно большее перемещение указателя 8, отсчитываемое по шкале 7. Шкалы этих приборов, в отличие от приборов для абсолютных измерений, не являются штриховыми мерами. В связи с этим для этих приборов вводится понятие цена деления шкалы, определение которого дано выше. Приборы для относительных измерений получили широкое распространение после практического освоения и распространения плоскопараллельных концевых мер длины и интерференционных методов их измерений. Эти приборы значительно повысили точность измерений по сравнению с инструментами и приборами для абсолютных измерений. С помощью концевых мер длины практически можно составлять блоки любых применяемых в машиностроении размеров через 0,001 мм. Следовательно, можно подобрать блок такого размера А, чтобы неизвестное отклонение Ад сделать весьма малым. Это позволяет использовать прибор с большим увеличением, тем самым повышая точность измерения. Размеры концевых мер длины и блоки из них с помощью интерференционных методов измерений можно аттестовать с точностью до сотых долей микрона. [c.348]

Интерферометры. Интерференционные методы измерений применяются для весьма точной проверки плоскостности доведенных поверхностен металлов, стекла и других материалов, а также для проверки плоскопараллельности и срединного размера концевых мер длины (плиток). Различают абсолютный, сравнительный и технический интерференционные методы. Первый меюд используется при измерениях с помощью бесконтактных интерферометров, второй — при измерениях на бесконтактных и контактных интерферометрах, третий — при измерениях посредством плоских оптических пластин. [c.21]

Плиты круглые 3—197 Плоские кривые 1 — 258 Плоско-клинсременные передачи 4 — 483 Плоскопараллельность — Интерференционные методы измерений 4 — 21 [c.453]

Сущность измерения углов интерференционным методом путем ечета полос заключается в том, что в прямоугольном треугольнике с малым измеряемым углом меньший катет измеряют в длинах световых волн. Например, при измерении параллельности измерительных поверхностей микрометров интерференционным методом с помощью плоскопараллельной пластины большим катетом является диаметр измерительной поверхности микрометра, а малым — число интерференционных полос на обеих поверхностях, переведенное в микроны. При установке измеряемого клина, притертого к плоской пласгинке на столике интерферометра (например, интерферометра Кестерса, применяемого для измерения концевых мер), на свободной поверхности этого клина, как и на поверхности плоской пластины, наблюдается интерференционная картина. Измерение двугранного угла клина основано на определении числа полос на данном отрезке каждой стороны измеряемого угла. [c.302]

В зависимости от назначения применяют два типа плоских стеклянных пластин нижние (опорные) пластины, к которым притирают плоскопараллельные концевые меры длины при измерении их интерференционным методом, служат для проверки плоскостности измерительных поверхностей калибров и измерительных приборов рис. 44, а) верхние пластины служат для измерения плоскопа-раллельности концевых мер длины интерференционным методом (рис. 44, б). [c.106]

Контроль формы поверхностей. Простейшими примерами применепия интерференционных методов для технических целей является определение радиусов кривизны линз и испытание качества плоскопараллельных пластинок. Обычно радиусы кривизны линз определяются с помощью сферометра. При этом требуется измерить радиус сферического сегмента линзы и его стрелку. Погрешность измерения стрелки составляет 1ц. Эта точность вполне удовлетворяет требованиям, если радиусы кривизны поверхностей линз достаточно малы, что обусловливает большую стрелку сегмента. Однако существует ряд оптических приборов, в которых линзы имеют большие радиусы кривизны и соответственно малую стрелку сегмента, охватываемого стойками сферометра. Относительная точность измерений при этом сильно падает и становится неудовлетворительной. [c.700]

Современные методы измерений обеспечивают достаточно, высокую точность аттестации наружных размеров калибров и образцовых деталей. Точность измерения внутренних размеров установочных калибров часто оказывается недостаточной. Значительное повышение точности измерений достигается при использовании калибра специальной конструкции. Установочный калибр с внутренним рабочим размером представляет собой плоскопараллельную концевую меру с отверстием (фиг. 264). Ось отверстия параллельна наружным рабочим поверхностям меры. Длина меры Ь может быть измерена абсолютным интерференционным методом с точностью до (0,05- -+ 0,5-10 Ь мм) мк. Размеры 4 и 2. непревышающие 10 мм, могут быть измерены на контактном интерферометре по мерам 1-го разряда с точностью до 0,12 жк (т. е. несколько грубее, чем плоскопараллельные концевые меры 2-го разряда по мерам 1-го разряда). Для измерения размеров и 1 применяется специальный измерительный наконечник (фиг. 264). Диаметр отверстия калибра в сечении, перпендикулярном к его плоским рабочим поверхностям, равен [c.370]

Гораздо проще измерять относительную величину оптической нелинейности. В этом случае, во-первых, отпадает необходимость в абсолютном измерении мощностей взаимодействующих волн. Кроме того, такие измерения обычно не связаны с получением синхронного взаимодействия, и, следовательно, требования к качеству нелинейного кристалла существенно снижаются. Наконец, при относительных измерениях нет необходимости точно исследовать параметры основного излучения, поскольку то же самое излучение воздействует и на опорный образец. Метод измерений, о котором идет речь, был впервые использован Мейкером и соавт. [105] в 1962 г. в настоящее время он известен как техника полос Мейкера. Плоскопараллельная пластинка исследуемого кристалла ориентируется таким образом, чтобы измеряемый нелинейный коэффициент являлся основным в используемом взаимодействии. Например, для измерения коэффициента 36 = z3 y в кристалле KDP необходимо вырезать пластинку так, чтобы ось 2 кристалла лежала в плоскости ее входной грани, а нормаль к входной грани составляла угол 45° с осями хну. Тогда, если луч лазера, падающий нормально на входную грань пластинки, поляризован под углом 90° к оси z, компоненты поля и Еу равны. При этом генерируемая волна второй гармоники будет поляризована параллельно оси 2. Однако при, такой геометрии взаимодействие не будет синхронным и, следовательно, сигнал второй гармоники будет слабым. При повороте кристалла в плоскости, образованной падающим лучом и осью 2, мощность второй гармоники периодически меняется, поскольку при этом меняется эффективная длина взаимодействия и фазовая расстройка. Полученная зависимость мощности второй гармоники от угла поворота кристаллической пластинки представляет собой систему максимумов и минимумов и очень напоминает систему интерференционных полос, за что описанный метод и получил свое название. В действительности же появление таких полос обусловлено природой генерации второй гармоники при больших фазовых расстройках Ak. [c.106]

При сдувании с полированной твердой поверхности слоя жидкости (например, смазочного масла) этот слой может быть настолько тонким, что в отраженном свете окажется возможным наблюдать интерференционные линии равной толщины. Такое сдувание с удобством может быть использовано для быстрой и чрезвычайно наглядной характеристики реологических свойств смазочных масел при данной температуре. Применяя сдувание в узкой плоскопараллельной щели в форме прямоугольника, Б. Дерягин, Г. Страховский и Л. Малышева показали, что этим методом можно характеризовать вязкость тонких пристенных слоев жидкостей и исследовать аномалию их механических свойств [1]. Этот же метод е успехом может быть применен для быстрого измерения обычной объемной вязкости жидкостей. При сдувании в узкой клиновидной щели [2, 3] оказывается возможным в результате одного опыта получить полную характеристику механических свойств жидкостей, обладающих как нормальной, так и,аномальной вязкостью, а также жидкостей, у которых существует предельное напряжение сдвига. В последнем случае особенно удобен радиальный вариант метода сдувания [4]. Возможны, разумеется, и другие варианты метода сдувания, отличающиеся друг от друга главным образом геометрией узкой щели (например, сдувание в узкой цилиндрической щели и др.) и имеющие каждый свою область применения. [c.111]

Ограничения методов ЛТ. Степень универсальности метода определяется количеством разнородных объектов, для которых возможна регистрация температурно-зависимого параметра и термометрия. Методы ЛТ являются узкоспециализированными, в отличие от универсального метода термометрии по тепловому излучению. Узрсая специализация методов ЛТ означает, что любой из них позволяет проводить измерения лишь для ограниченного набора материалов, а в некоторых случаях имеются еще дополнительные требования к геометрической форме образца и свойствам поверхности. Например, для применения метода лазерной интерференционной термометрии полупроводников и диэлектриков необходимо, чтобы образец имел форму плоскопараллельной пластины, которая прозрачна для зондирующего излучения и имеет достаточно гладкие поверхности (тогда пластина может выполнять роль интерферометра Фабри-Перо). Компенсировать узкую специализацию рсаждого из методов ЛТ удается их многочисленностью и разнообразием. [c.201]

Описанный метол измерения п(к), предложенный Пуччианти в 1901 г., нагляден, но мало пригоден для количественного исследования дисперсии, так как изменение положения точек на круто изменяющей свое направление кривой сопряжено с большими погрешностями. Рождественский разработал новый метод исследования дисперсии вблизи линии поглощения (метод крюков ), позволяющий проводить измерения с большой точностью. В одно из плеч интерферометра вводится тонкая плоскопараллельная стеклянная пластинка определенной толщины Это ведет к большой добавочной разности хода (п —1)Г. где п — показатель преломления пластинки. Пока в кювете, расположенной в другом плече, исследуемого вещества нет, будут наблюдаться наклонные интерференционные полосы высоких порядков тЗ>1 (рис. 5.26, в). При одновременном действии исследуемого вещества (паров металла) и стеклянной пластинки вызываемые ими противоположные смещения полос суммируются для каждого значения к. Вдали от линии поглощения показатель преломления п разреженных паров близок к единице, поэтому наклон полос обусловлен только стеклянной пластинкой. Вблизи линии поглощения показатель преломления паров изменяется очень сильно и найдется такая длина волны, для которой действия паров и пластинки будут точно скомпенсированы, так что наклон интерференционной кривой пройдет через нуль. В результате полосы вблизи линии поглощения своеобразно изгибаются, образуя крюки, положения вершин которых на шкале длин волн можно точно измерить (рис. 5.26, г). [c.251]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...