Измерения интерференционные -

Измерение углов деталей машин 5—197 — см. также под названием отдельных измерительных инструментов и приборов, например Угловые плитки Угольники Измерения интерференционные — см. Интерференционные измерения [c.87]

На приборе можно производить измерение интерференционных полос для последующего определения высот неровностей контролируемой поверхности. В этом случае обычный окуляр 14 заменяется окуляр-микрометром. [c.119]

При создании автоматического измерителя измерение интерференционного максимума, лежащего на направлении ф = Фэ, позволяет свести к минимуму неоднозначность измерения в момент перехода с одного интерференционного порядка на другой, а также возможные в процессе эксплуатации измерителя погрешности, связанные со случайным переходом к измерению соседних интерференционных максимумов. [c.275]

Минутный ряд, содержащий 15 угловых мер от I до 29 с интервалом 2, установлен соответственно верхнему пределу измерения интерференционной установки. [c.361]

Для повышения точности измерений интерференционная картина фотографируется камерой 7 момент фотографирования фиксируется записью сигнала датчика срабатывания затвора фотоаппарата (для этого можно использовать контакты для подключения фотовспышки) на диаграммной ленте записывающего устройства 8. [c.190]

В инфракрасной области (1—3 мк) интерферометрическими методами измерено большое число линий инертных газов [70 . В ультрафиолетовой области (2000—3000 А) удобные стандартные линии имеются в спектре Си , который измерен интерференционными методами [71]. [c.354]

Рассеянные волны, складываясь в точке наблюдения с падающей волной, создают в каждый момент времени интерференционную картину. Вследствие нерегулярности распределения рассеивателей в пространстве и во времени рассеянные волны, исходящие от отдельных рассеивателей, некогерентны между собой и с падающей волной, так что за время измерения интерференционная картина смазывается. Вместо образования устойчивой интерференционной картины в каждой точке происходит сложение интенсивностей волн. [c.284]

Интерференционные методы измерений. Интерференционные методы измерения основываются на волновой природе света. Ниже приведены исходные положения интерференционного метода измерения. [c.359]

Измерение интерференционным методом 433 [c.1081]

Измерение — Интерференционные методы 21 [c.839]

Приемы измерений аналогичны описанным для ИЗК-46. Цена деления шкалы равна 0,1 мм, штрихи, соответствующие целому миллиметру, обозначены цифрами. Цена деления прибора при измерении интерференционной картины определяется исходя из того, сколько делений шкалы укладывается в расстояние Ь (фиг. 103). Допустим, что величине Ь соответствуют четыре деления шкалы. Тогда цена деления шкалы будет равна 0,07 лл . [c.138]

НАБЛЮДЕНИЕ И ИЗМЕРЕНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ [c.158]

НАБЛЮДЕНИЕ И ИЗМЕРЕНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ КАРТИНЫ 159 [c.159]

Дополнительная приемная часть необходима для одновременного наблюдения интерференционных картин в белом и монохроматическом свете. Интерференционную картину можно наблюдать при помощи окуляров с увеличением 5>- и 10х, фотографировать камерой Зенит или снимать камерой АКС-2 с частотой 24 и 48 кадров в секунду с диаметром снимка на пленке 18 мм. Диаметр наблюдаемого поля Ъ0 мм. Точность измерения интерференционных полос при визуальном наблюдении 0,2 полосы, при фотографировании 0,1—0,05 полосы. [c.199]

Интерферометры для контроля плоских поверхностей. Они основаны на принципе интерференции света и содержат стандартную оптическую пластину и линзы с микрометрическими перекрещивающимися нитями для измерения интерференционных полос. Однако в эту товарную позицию не входят стандартные оптические пластины для контроля формы и чистоты обработки поверхности (9001) и интерферометры для измерения коэффициентов преломления (9027). [c.173]

Метод измерения интерференционный 319—321 Методы контроля статистические — Термины и области применения 426—431 [c.522]

Измерения интерференционным методом производится на микроинтерферометрах МИИ-4. МИИ-5, МИИ-9 и МИИ-10. t у [c.444]

Прилегающие поверхности и профили соответствуют условиям сопряжения деталей при посадках с нулевым зазором. При измерении прилегающими поверхностями служат рабочие поверхности контрольных плит, интерференционных стекол, лекальных и поверочных линеек, калибров, контрольных оправок и т. п. Количественно отклонение формы оценивается наибольшим расстоянием А от точек реальной поверхности (профиля) до прилегающей поверхности (профиля) по нормали к последней. [c.286]

Форма интерференционной картины, положения максимумов и минимумов зависят от толщины и формы пластин, от угла между их поверхностями, от состояния поиерхности н т. д. Следовательно, можно, изучая форму и положение интерференционных полос, судить о свойствах исследуемой пластинки. Иначе говоря, интерференционные явления могут быть применены для измерения физических параметров прозрачных тел. Ценность интерференционного метода заключается, в частности, в том, что он чувствителен [c.104]

Крюки Рождественского . При исследовании дисперсии паров металлов вблизи линий поглощения резкое изменение направления интерференционных полос приводит к ухудшению точности измерений. С целью увеличения точности Рождественский усовершенствовал вышеописанную установку, вводя в другое плечо [c.267]

Обычно с помощью интерферометров решают вполне определенные физические и технические задачи (например, измерение длин или углов, определение показателя преломления и т.д.). Наблюдение интерференционной картины становится не целью исследования, а средством проведения того или иного измерения. Поэтому оптическая схема интерферометра должна удовлетворять ряду дополнительных требований. Для повышения точности часто вводят значительную разность хода между интерферирующими пучками и работают в высоких порядках интерференции. В таких случаях используют относительно высокую степень монохроматичности излучения резко повышаются и требования к юстировке оптической системы. В дальнейшем рассказано также об исследованиях, в которых интерферометры применяют для изучения основных характеристик излучения (степени монохроматичности, длины волнового цуга и др.). [c.221]

Попробуем провести простую оценку чувствительности метода. Если на пути одного луча вставить в кювету длиной 1, наполненную газом с показателем преломления ni, а на пути другого — эквивалентную кювету, наполненную другим веществом с показателем преломления П2, то появится дополнительная разность хода д = Zi n,i — П2) Следовательно, произойдет сдвиг интерференционных полос. Охарактеризуем этот сдвиг дробью т, показывающей, на какую часть одного порядка интерференции сместились интерференционные полосы. Тогда Д = т Х. Измеряя сдвиг т, определим Д . Например, полосы сдвинулись на 0,1 порядка интерференции, т.е. т = 0,1. Теперь оценим Ап = Д /Zi. Обычно одна из кювет служит контрольной (проводятся относительные измерения). Для простоты будем считать 2=1 (вакуум) и определим Ап из соотношения Д = i(ni — 1) = 1 Ап. При = 10 см т = 0,1 X = 5 10" см получим Ап = т к11 = 5 10 , т.е. можно измерить изменение показателя преломления в шестом знаке после запятой. [c.223]

В интерферометре Рождественского используются относительно невысокие порядки интерференции. Первоначальная юстировка проводится по нулевой полосе , соответствующей А = 0. Правда, в последующих измерениях дисперсии паров обычно вводят дополнительную разность хода и исследуют интерференционные кривые более высоких порядков. Этот прибор, предназначенный для точных измерений изменения показателя преломления газов или паров вблизи линии поглощения, рассчитан на исследование интерференционной картины в разных длинах волн. Поэтому обычно интерферометр освещают источником непрерывного спек- [c.224]

Исследование экспериментальной кривой видимости для желтого дублета натрия, подобной расчетной кривой (рис. 5.45,6), показало, что между двумя максимумами этой кривой возникает 490 интерференционных полос, а каждая из компонент дублета имеет сложную структуру. В опытах Майкельсона также было обнаружено расщепление на две компоненты красной линии водорода (Нц). Более поздние измерения подтвердили их положение [c.231]

Принципиальная схема таких измерений довольно проста Надо переделить число длин волн, укладывающихся в какой-то стандартной мере. Эту меру (в первичных экспериментах — пластину толщиной I = 0,39 мм) прикладывают к зеркалу интерферометра и наблюдают, как сместится интерференционная картина, т.е. считают число максимумов, которое пройдет в поле зрения при возвращении к исходной интерференционной картине путем отодвигания подвижного зеркала на отрезок длины I. Затем эту меру сравнивают с другой, примерно в два раза большей, и т.д. Таким способом в результате длительных и трудоемких измерений было определено число длин волн, укладывающихся в одном метре. [c.237]

Бхатиа и Торнтон [36] указывают на то, что для выяснения связи между атомной структурой и термодинамическими параметрами жидкого металла экспериментально измеренные интерференционные функции S(Q) можно разделить на составляющие Snn Q), связанную с колебаниями плотности, S (Q). связанную с колебаниями концентрации и обменную составляюш,ую Sif (Q)-Связь между атомами разного сорта выражается через Sij(Q) (i, j равно А или В). Если основываться на этих соображениях, то интерференционная функция бинарного аморфного сплава Sbt(Q) и интенсивность когерентного рассеяния hoh(Q) должны быть следующим образом связаны между собой [c.75]

Следует также отметить, что по физической природе интерференционные методы практически безынерционны (временные ограничения могут вносить лишь средства регистрации интер-ферограмм), что позволяет проводить изучение быстропроте-кающих процессов в натуральном масштабе времени. По сравнению с другими оптическими методами, основанными на температурных измерениях, интерференционные методы обеспечивают большую чувствительность измерений приращений оптических путей. [c.174]

Поверочная схема предус.матривает в качестве следующих звеньев метрологической цепи для штриховых мер образцовые штриховые меры 1-го разряда (поверяемые сличением с рабочими эталонами либо измерением интерференционным методом с использованием вторичных эталонных длин волн) и образ-ховые штриховые меры 2-го разряда (поверяемые по образцовым мерам 1-го разряда). [c.68]

Абсолютный интерференционный метод предназначен для измерения длины образцовых мер 1-го разряда и рабочих мер класса точности 00 в длинах световых волн. В интерферометре (рис. 98) для абсолютных и относительных измерений (интерференционного компаратора Кестерса) свет от источника 6, пройдя конденсор 5, поступает в коллиматор 3 — оптическую трубу, предназначенную для получения параллельного пучка лучей. Входная щель 4 трубы расположена в фокусе объектива 2. Лучи света, выходящие из коллиматора, освещают специальную призму 1, с помощью которой в интерферометр можно направлять свет разной длины волны (любого цвета спектра). Свет, идущий от призмы 1, разделяется на полупосеребренной полупрозрачной стеклянной пластине 10 на два потока. [c.135]

Подобные ш терферометры, служащие для измерения показателен преломления и их измерений, называются интерференционными рефрактометрами (ИТР). [c.111]

Малейшее изменение формы объекта из-за деформащп в промежутке между двумя регистрациями изменяет фазу п[)едметной волны. Следовательно, если в промежуток времени между двумя экспозициями (важно, чтобы фотопластинка не сдвинулась между двумя экспозициями) произошли какие-то деформации, то при просвечивании этих голограмм увидим изображение объекта, перерезанное интерференционными полосами, но форме которых можно судить о характере деформации. Точность измерения этого метода весьма высокая он позволяет измерить деформации порядка десятой доли микрона. Возможности ко[1троля размеров, формы и качества обработки сложных деталей с помощью голографии сделают этот метод наиболее ценным в производстве. [c.222]

Заканчивая этот краткий обзор различных электромагнитных волн, следует отметить разницу между физической оптикой, изучению которой посвящена эта книга, и физиологической оптикой, не рассматриваемой здесь. В некоторых случаях различие между ними очевидно если ввести в дугу соль натрия и разложить ее излучение в спектр призмой или дифракционной решеткой, то мы увидим на экране ярко-желтый дублет. То, что длины волн этих линий равны 5890—5896 А, нетрудно установить измерениями, целиком относящимися к методам физической оптики. Но вопрос о том, почему эти линии кажутся нам желтыми, нельзя решить в рамках этой науки, и он относится к физиологической оптике. Конечно, проведение столь четкой границы между ними дЕ1леко не всегда возможно, и иногда трудно решить, имеем ли мы, например, дело с истинной интерференционной картиной или с кажущимися глазу полосами, возникновение которых связано с явлением контраста, и т. д. Некоторые интересные данные по физиологической оптике содержатся в лекциях Р.Фейнмана, который счел возможным сочетать изложение этих вопросов с основами физической и геометрической оптики. [c.14]

При измерении средней суммарной энергии < > мы неизбежно встречаемся с двумя различными результатами опыта в зависимости от того, что получается при усреднении произведения , названного интерференционным членом [c.176]

Измерение показателя преломления — это особая область метрологии, названная рефрактометрией. Проведенная оценка показывает, что интерференционный метод обеспечивает весьма высокую чувствительность относительных рефрактометрических измерений. Это позволяет использовать такой метод для решения разнообразных задач. Вместе с тем ясно, что реализов 1ть столь высокую чувствительность совсем не просто и, чтобы добиться высокой стабильности интерферометрических измерений, необходимы чрезвычайная аккуратность и тщательность в подготовке эксперимента. [c.223]

Такой метод исследования дисперсии паров различных металлов вблизи линий поглощения применялся некоторыми исследователями. Его недостаток состоит в неизбежном ухудшении точности измерений по мере приближения к линии поглощения, где интерференционные полосы очень резко изменяют свое направление и оказываются почти перпендикулярными первоначальному направлению. Заслугой Д.С. Рождественского явля- [c.226]

При измерениях по методу < крюков в одну из ветвей интерферометра (кроме кюветы или компенсационной трубки) вводится стеклянная (кварцевая) пластинка вполне определенной толщины. Это приводит к дополнительной разности хода, т.е. к возникновению наклонных интерференционных полос высокого порядка, которые для некоторой длины волны компенсируют наклон полос, обусловленный дисперсией паров. В результате вблизи линии поглощения по обе стороны от нее образуются характерные изгибы интерференционных полос — это и есть крюки Рождественского. Чем толще стеклянная пластинка, т.е. чем больше введенная разность хода, тем острее крюки . В зависимости от условий эксперимента выгодно использовать пластинку той или иной толщины. На рис. 5.АЗ,б,в показаны крюки , образующиеся у линий поглощения титана при использовании двух пластинок pasHoii толщины. [c.227]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...