Интерференционные методы измерения концевых мер длины

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ КОНЦЕВЫХ МЕР ДЛИНЫ [c.135]

Интерференционный метод обеспечивает наибольшую точность измерения длин концевых мер по сравнению с другими существующими способами. Возможны два метода измерений концевых мер длины относительный и абсолютный. При относительном интерференционном методе измеряются отклонения длины измеряемой меры от длины образцовой меры более высокого разряда. Абсолютный интерференционный метод основан на сравнении длины измеряемой меры с длиной волны света. Достоинство эталона — длины волны света — состоит в том, что он легко воспроизводится и не изменяется со временем. [c.178]

Вторичные эталонные длины волн должны также обладать точностью воспроизведения, близкой к точности первичной нормали. Их роль в метрологии подобна роли вторичных материальных искусственных эталонов, так как с их помощью значение длины волны оранжевой линии Кг будет передаваться непосредственно рабочим мерам — применением абсолютного интерференционного метода измерения концевых и штриховых мер. [c.70]

Относительный технический интерференционный метод измерения. Наибольшее распространение на машиностроительных заводах для измерения концевых мер длины получил технический относительный метод интерференции. В основе его лежит разделение пучка света с помощью воздушного клина, образованного поверхностями плоскопараллельной стеклянной пластинки и концевой меры, как это было рассмотрено выше (см. рис. П.39). [c.366]

АХ — погрешность измерения длины волны по аттестату в мкм. Интерференционный компаратор выпускается народным предприятием Карл Цейсс (г. Иена). Прибор предназначен для относительных и абсолютных измерений концевых мер длины. Интерес представляет абсолютный интерференционный метод измерения (рис. 120, а). [c.180]

Методы измерения концевых мер. Абсолютный интерференционный метод осуществляется с помощью интерференционного компаратора (фиг. 29). В нем пучок параллельных лучей определенной длины волны (одного цвета) разделяется наклонной пластиной 1 на два пучка. Один [c.410]

Так, например, в СССР создана образцовая аппаратура и производятся интерференционные измерения концевых мер длины абсолютным методом в длинах световых волн до 1200 мм с точностью 3-10 , в то время как в Западной Германии эти измерения хотя производятся и с той же точностью, но только в длинах световых волн до 1000 мм, а в Англии до 250—300 мм. [c.530]

Развитие интерференционных методов измерения, позволивших выразить метр в длинах световых волн, а также широкое распространение технических измерений длин с помощью плоско-параллельных концевых мер (см. ниже) привели (1927 г.) к выбору в качестве естественного эталона длины волны красной линии кадмия (Х ). По ОСТ 7762 длина волны X = 0,64385033 мк . [c.52]

Какой порядок подготовки мер к поверке 3. Что называется интерференцией света 4. Почему возникают интерференционные полосы на стеклянных пластинах 5. Чем ограничено использование белого света при интерференционных измерениях 6. Когда применяется монохроматический свет 7. Как проверяют притираемость угловых мер 8. В каком порядке измеряют отклонения концевых мер от плоскопараллельности 9. Какие концевые меры длины поверяют техническим интерференционным методом 10. В чем заключается технический метод 11. Что представляют собой стеклянные пластины для интерференционных измерений 12. В чем различие относительного и абсолютного интерференционных методов 13. Как измеряют размер угловых мер гониометрическим методом 14. Какие угловые меры поверяют относительным контактным методом [c.141]

В промышленности имеют применение сравнительные интерференционные методы, допускающие сличение длины измеряемой концевой меры с длиной заранее измеренной концевой меры того же номинального размера, но высшего разряда. [c.22]

При интерференционных методах измерения плоскопараллельных концевых мер эта величина является эталоном длины. [c.630]

Концевые меры длины поверяют с помощью интерференционных методов измерения. В зависимости от класса точности изготовления и методов поверки точность концевых мер оценивают пятью разрядами (1, 2, 3, 4 и 5). [c.239]

Развитие интерференционных методов измерений позволило выразить метр в длинах световых волн и способствовало широкому распространению плоскопараллельных концевых мер длины, которые в настоящее время являются основным средством передачи размера. Таким образом, практически эталоном длины является длина световой волны. За основную световую волну по ОСТ ВКС 7762 принята красная линия кадмия, длина которой считается равной 0,64385033 мк. [c.404]

Интерференционный метод измерения является одним из наиболее точных, поэтому он применяется в основном для аттестации концевых мер длины высших разрядов. [c.401]

Пределы допустимых погрешностей показаний распространенных на заводах приборов для измерения шероховатости поверхности лежат в границах от 4,5 до 45% (нижняя граница относится к грубым поверхностям, а верхняя — к самым чистым), что составляет от 0,03 до 4 мкм. Нижняя граница по этим данным почти в 2 раза меньше нормативной погрешности аттестации ( 0,05 мкм) срединной длины самых малых плоскопараллельных концевых мер (до 10 мм) по наивысшему (1-му) разряду посредством наиболее точного (абсолютного интерференционного) метода. В этом состоит вторая особенность измерений неровностей поверхности. [c.64]

Абсолютный метод интерференционного измерения плоских. концевых мер, допускающий непосредственное сличение длины измеряемой меры с длиной световой волны, применяется для измерения с предельной практически достижимой точностью концевых мер 1-го разряда. [c.80]

Для того, чтобы обеспечить сиепление плоскопараллельных концевых мер, их рабочие поверхности должны иметь ровную плоскость с высокой степенью чистоты отделки. Высокие требования к чистоте рабочих поверхностей плоскопараллельных концевых мер необходимы также для измерения их размеров интерференционным методом, который позволяет производить наиболее точные измерения в длинах световых волн. [c.44]

Методы измерения концевых мер. Абсолютный интерференционный метод осуществляется компаратором Кестерса (фиг. 12). В нем пучок параллельных лучей определенной длины волны (одного цвета) разделяется наклонной пластиной 1 на два пучка. Один пучок отражается частично от стеклянной пластины 2, частично от проверяемой плитки 3, другой — от зеркала 4. После нескольких отражений пучки вновь соединяются и интерферируют. между собой. Интерференционная картина рассматривается непосредственно глазом через щель 5 поверхности стола и плитки кажутся пересеченными каждая системой полос б, сдвинутых одна относительно другой. Величина сдвига выражает дробную долю общего числа длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. Такое же измерение производится и для двух-трех других линий спектра (других длин волн). Если заранее приближенно определить измеряемый размер, то по дробным [c.669]

Для измерения концевых мер длины применяют бесконтактные абсолютный и относительный интерференционные методы измерений с помошью интерференционных компараторов, контактный относительный интерференционный метод измерения (на интерферометре Уверского). В практике широкое распространение получил относительный технический интерференционный метод измерения, с помощью стеклянных пластин. [c.363]

Контактный интерферометр. Контактные интерференционные компараторы, разработанные И. Г. Уверским, предназначаются для измерения концевых мер длины сравнительным методом. По ГОСТу 8290—57 предусмотрены два типа интерферометров — вертикальные ИКПВ (рис. И.42, а) и горизонтальные ИКПГ. Основным узлом обоих типов интерферометров является трубка интерферометра. Отличительным преимуществом контактного интерферометра является устройство для изменения цены деления шкалы в пределах от 0,05 до 0,2 мкм. Предельная погрешность Л показаний интерферометра на любом участке шкалы рассчитывается по формуле (ГОСТ 8290-57) [c.364]

Действующим в настоящее время ОСТ 85000-39 Меры длины концевые плоскопараллельные установлена система последовательной передачи размеров от эталона длины (основной световой волны кадмия) до изделия включительно. Условия воспроизведения длины основной световой волны кадмия изложены в ОСТ 7762. Промежуточным звеном в этой метрологической схеме служат рабочие длины волн криптона и гелия эти волны являются производными от основно световой волны и применяются для обеспечения взаи.м-ного соответствия поверок концевых мер первого разряда (на абсолютном интерференционном компараторе) и второго разряда при относительном интерференционном методе измерения. Следующим основным звеном метрологической цепи в этой системе являются плоскопараллельные концевые меры длины, подразделяющиеся, в свою очередь, на разряды и классы. Поскольку почти все заводские измерения исходят из соответственным образом аттестованных плоскопараллельных концевых мер, практически длина световой волны кадмия является исходной мерой в системе измерения длин. [c.72]

Сущность измерения углов интерференционным методом путем ечета полос заключается в том, что в прямоугольном треугольнике с малым измеряемым углом меньший катет измеряют в длинах световых волн. Например, при измерении параллельности измерительных поверхностей микрометров интерференционным методом с помощью плоскопараллельной пластины большим катетом является диаметр измерительной поверхности микрометра, а малым — число интерференционных полос на обеих поверхностях, переведенное в микроны. При установке измеряемого клина, притертого к плоской пласгинке на столике интерферометра (например, интерферометра Кестерса, применяемого для измерения концевых мер), на свободной поверхности этого клина, как и на поверхности плоской пластины, наблюдается интерференционная картина. Измерение двугранного угла клина основано на определении числа полос на данном отрезке каждой стороны измеряемого угла. [c.302]

К моменту принятия нового определения метра, т. е. к 1960 г., во многих странах были уже созданы интерферометры для измерения концевых мер, получившие название интерференционных компараторов. Они предназначены для измерения расстояний непосредственно в длинах световых волн (абсолютным методом) и для точного сравнения длины двух мер (относительным методом). При абсолютном методе измерения длину меры на основании явлений интерференции света сравнивают с длиной световой волны как с эталоном единицы длины. В этом случае длина световой волны представляет собой естественный и неизменный масштаб, аналогичный штриховому эталону при компарировании штриховых мер. [c.77]

Отличительным признаком измерительной головки является увеличивающее устройство, преобразующее малое перемещение измерительного штока 9, вызываемое отклонением Ад детали, в значительно большее перемещение указателя 8, отсчитываемое по шкале 7. Шкалы этих приборов, в отличие от приборов для абсолютных измерений, не являются штриховыми мерами. В связи с этим для этих приборов вводится понятие цена деления шкалы, определение которого дано выше. Приборы для относительных измерений получили широкое распространение после практического освоения и распространения плоскопараллельных концевых мер длины и интерференционных методов их измерений. Эти приборы значительно повысили точность измерений по сравнению с инструментами и приборами для абсолютных измерений. С помощью концевых мер длины практически можно составлять блоки любых применяемых в машиностроении размеров через 0,001 мм. Следовательно, можно подобрать блок такого размера А, чтобы неизвестное отклонение Ад сделать весьма малым. Это позволяет использовать прибор с большим увеличением, тем самым повышая точность измерения. Размеры концевых мер длины и блоки из них с помощью интерференционных методов измерений можно аттестовать с точностью до сотых долей микрона. [c.348]

В зависимости от назначения применяют два типа плоских стеклянных пластин нижние (опорные) пластины, к которым притирают плоскопараллельные концевые меры длины при измерении их интерференционным методом, служат для проверки плоскостности измерительных поверхностей калибров и измерительных приборов рис. 44, а) верхние пластины служат для измерения плоскопа-раллельности концевых мер длины интерференционным методом (рис. 44, б). [c.106]

Интерферометры. Интерференционные методы измерений применяются для весьма точной проверки плоскостности доведенных поверхностен металлов, стекла и других материалов, а также для проверки плоскопараллельности и срединного размера концевых мер длины (плиток). Различают абсолютный, сравнительный и технический интерференционные методы. Первый меюд используется при измерениях с помощью бесконтактных интерферометров, второй — при измерениях на бесконтактных и контактных интерферометрах, третий — при измерениях посредством плоских оптических пластин. [c.21]

Современная техника измерений сложилась в результате длительного развития методов и средств измерений на основе учения об измерениях — метрологии. Ускоренный прогресс техники измерений начался во второй половине XVIII в. и был связан с развитием промышленности. Повышение точности и производительности измерительных приборов происходило благодаря использованию новых принципов измерений, основанных на достижениях науки и техники. Первые приборы для высокоточных линейных измерений — компараторы для сравнения штриховых мер — были созданы в 1792 г. Промышленное производство инструментов для абсолютных измерений — штангенциркулей — организовано в 1850 г., а микрометров — в 1867 г. В конце XIX в. получили широкое распространение сначала нормальные, а затем предельные калибры, появились концевые меры длины. Механические приборы, предназначенные для относительных измерений, резко повысили точность в 1890 г. разработаны рычажные, затем зубчатые и рычажнозубчатые измерительные головки, в 1937 г. — пружинные измерительные головки. С 20-х гг. нашего столетия быстро развиваются оптико-механические приборы оптиметры созданы в 1920 г., интерференционные приборы — в 1923 г., универсальный микроскоп и измерительные машины — в 1926 г., проекторы — в 1930 г. В [c.4]

Развитие мер шло в направлении создания единой Международной системы единиц. На первом этапе возникали трудносопоставимые национальные меры, которые определялись такими условными единицами, как локоть, фут (ступня), вершок (половина указательного пальца), а позднее — специальными образцами. В конце XVIII в. во Франции была разработана метрическая система мер, основанная на естественных эталонах — метре и килограмме. Метр был определен как длина одной десятимиллионной части четверти Парижского меридиана. Первый прототип метра, названный метр Архива , был изготовлен в виде платиновой концевой меры длиной 1 м, шириной 25 мм и толщиной 4 мм. Чтобы избежать расхождений в определении естественного метра вследствие погрешности измерений, по прототипу был изготовлен 31 эталон в виде штриховых мер из платиноиридиевого сплава, отличающегося высокой размерной стабильностью во времени. Каждый эталон представлял собой брус Х-образного сечения, размером 20X20 мм, со штрихами, нанесенными по краям на расстоянии 1 м друг от друга. Эталон Л Ь 6 в 1889 г. был утвержден в качестве международного прототипа метра. Эталон № 28, полученный Россией, был в дальнейшем утвержден (до 1960 г.) Государственным эталоном СССР. Поиски нового естественного эталона, нераз-рушаемого и имеющего большую точность, и развитие интерференционного метода измерений позволили в 1960 г. принять новое определение и создать современный эталон метра. [c.5]

С помощью распространенных на практике плоских стеклянны.ч пластин для интерференционных измерений осуп1есгвляется технический интерференционный метод измерения срединной длины и отклонений от плоскостности концевых мер низших разрядов, а также отклонений от плоскостности рабочи.х поверхностей других средств измерений. Стеклянную пластину накладывают на поверхность измеряемого предмета и добиваются появления интерференционных полос, создавая между внутренними поверхностями воздущный клин. При наличии выпуклости проверяемой поверхности (мера /) (рис. 3.31,а) полосы выпуклые по отнощению к ребру клина, а при наличии вогнутости (мера 2) —вогнутые. Величина отклонения от плоскостности на основании изложенного выше [c.118]

За последние годы научно-исследовательскими метрологическими институтами Комитета создано большое количество образцовой поверочной аппаратуры, значительно упрощающей процесс поверки и одновременно повышающей точность измерения. К числу такой аппаратуры в области линейноугловых измерений относится образцовая концевая измерительная машина до 12 м, уникальный интерференционный компаратор для измерения длин до 30 Л1, интерферометр для измерения абсолютным методом концевых мер длины и кварцевых жезлов до 1200 мм, интерференционный компаратор для компарирования штриховых и концевых мер длины до 1000 мм, автоколи-мационный и контактный прибор типов АПУ-2 и КПУ-1 для поверки угловых мер, прибор типа ППИ- для поверки индикаторов и т. д. [c.530]

Аттестация концевых мер по 1-му разряду производится абсолютным интерференци0 1ным методом, допускающим непосредственное сличение длины измеряемой меры с длиной световой волны. Измерение производится на интерференционных компараторах, сосредоточенных в органах Комитета по делам мер и измерительных приборов при Совете Министров СССР. [c.22]

Современные методы измерений обеспечивают достаточно, высокую точность аттестации наружных размеров калибров и образцовых деталей. Точность измерения внутренних размеров установочных калибров часто оказывается недостаточной. Значительное повышение точности измерений достигается при использовании калибра специальной конструкции. Установочный калибр с внутренним рабочим размером представляет собой плоскопараллельную концевую меру с отверстием (фиг. 264). Ось отверстия параллельна наружным рабочим поверхностям меры. Длина меры Ь может быть измерена абсолютным интерференционным методом с точностью до (0,05- -+ 0,5-10 Ь мм) мк. Размеры 4 и 2. непревышающие 10 мм, могут быть измерены на контактном интерферометре по мерам 1-го разряда с точностью до 0,12 жк (т. е. несколько грубее, чем плоскопараллельные концевые меры 2-го разряда по мерам 1-го разряда). Для измерения размеров и 1 применяется специальный измерительный наконечник (фиг. 264). Диаметр отверстия калибра в сечении, перпендикулярном к его плоским рабочим поверхностям, равен [c.370]

При механическом контакте определенное измерительное усилие необходимо для того, чтобы выдавить слой газа, масла или жира. Необходимое измерительное усилие должно быть тем меньше, чем меньше поверхность касания. Только при оптических методах измерения измерительное усилие отсутствует, однако свет проникает в материал на определенную часть длины волны. Это учитывается при аттестации концевых мер по DIN 861 (расстояние между поверхностями двух притертых мер), при работе на перфлектометре (см. разд. 245), интерференционном компараторе (см. разд. 248). [c.179]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...