Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Условие максимумов интенсивности пластинке

Линии равного наклона. Если на пластинку падает пучок непараллельных лучей, то в отраженном пучке будут присутствовать лучи различных направлений распространения с соответствующими различными углами преломления. Те из них, для которых удовлетворяется условие (29.5), дают при интерференции максимум интенсивности. Следовательно, если с помощью линзы в ее фокальной плоскости образовать интерференционную картину, то интерференционная линия определенной интенсивности соответствует определенному углу 0пр в (29.4) или, что то же самое, определенному углу падения или отражения. Другими словами, эта линия соответствует определенному углу наклона образующих ее лучей к поверхности пластины. Поэтому такие интерференционные линии называются линиями равного наклона. Они локализованы на бесконечности.  [c.181]


В соответствии с формулой (5.11) светлые полосы расположены в местах, для которых 2иЛ os 6 Я.о/2 = тЯ,о, где т — целое число, называемое порядком интерференции. Полоса, соответствующая данному порядку интерференции, обусловлена светом, падающим на пластинку под вполне определенным углом 6. Поэтому такие полосы называют интерференционными полосами равного наклона. Если ось объектива расположена перпендикулярно пластинке, полосы имеют вид концентрических колец с центром в фокусе. В центре картины порядок интерференции максимален. Исходя из (5.11) легко показать, что угловой масштаб наблюдаемой картины пропорционален 1//й (чем тоньше пластинка, тем шире полосы), а радиусы последовательных светлых полос пропорциональны квадратному корню из целых чисел (при условии, что в центре максимум интенсивности).  [c.213]

Предположим теперь, что из среды / в среду II падают сдвиговые УЗК под углом, равным или превышаюш,им 33° (луч S ). Тогда в среде I возникнут два отраженных луча Si и L (сдвиговые и, соответственно, продольные УЗК), а в среде II — один преломленный луч 11 (продольные УЗК), направленный под углом Р, равным или превышающим 14°. Таким образом, используя трансформацию сдвиговых УЗК в продольные и обратно, можно, послав сдвиговые УЗК из среды / под некоторым углом, ввести их в среду III под тем же углом. Эти соображения были проверены экспериментально. Кварцевая пластинка У-среза посылала импульсы сдвиговых УЗК (/ = 2,5 Мгц) под углом падения а = 20°, сдвиговые УЗК из алюминиевой призмы вводились через слой трансформаторного масла в алюминиевый полудиск и регистрировались анализатором (аналогичная кварцевая пластинка У-среза), отмечающим луч, направленный примерно под тем же углом 20°. Вращение анализатора вокруг его оси полностью подтвердило прием сдвиговых УЗК- При ориентировке пластины анализатора параллельно поляризатору наблюдался максимум интенсивности (это означает, что вращения плоскости поляризации преломленного луча, по крайней мере, при условии совпадения плоскости поляризации падающего луча с плоскостью его падения, не наблюдается), при взаимно-перпендику-лярном расположении (аналогично скрещенным николям в оптике) минимум. Поляризация при этом наблюдается все же не линейная, а эллиптическая, но степень поляризации значительно выше, чем в преломленном луче, образованном путем трансформации из продольных УЗК. Измерение скорости УЗК с помощью глубиномера прибора В4-7И, на котором осуществлялся эксперимент, также не оставляет никаких сомнений в том, что принимались сдвиговые УЗК. Одновременно с регистрацией сдвиговых УЗК можно было обнаружить и продольные УЗК в виде луча, направленного приблизительно под углом преломления Р = 52°, что также совпадает с расчетными данными. Регистрация продольных УЗК, наблюдающихся при отсутствии полного внутреннего отражения их, производилась обычной искательной головкой с кварцевой пластиной Х-среза. Полученные результаты открывают интереснейшие перспективы. Во-первых, искательная головка для работы сдвиговыми волнами может быть выполнена не из органического стекла, как это общепринято, а из металла. При этом радикально решается вопрос об износостойкости этих головок. Во-вторых, и это не менее важно, появляется возможность использовать поляризацию УЗК для повышения чувствительности и осуществить контроль металлов с высоким уровнем  [c.73]


Если на такую плоскопараллельную пластинку падает не идеально монохроматический свет, то по условиям видимости максимумов и минимумов интерференции кольца, соответствующие разным длинам волн, могут быть расположены раздельно, могут налагаться друг на друга, т. е. свет может быть разложен по частоте в зависимости от дисперсии пластинки. Более того, многолучевая плоскопараллельная пластинка может играть роль своего рода спектрального прибора. И для нее, как и для всякого спектрального прибора, справедлив упомянутый выше критерий Рэлея, в соответствии с которым две спектральные линии равной интенсивности разрешены, если — < 0,8.  [c.31]

С показателем преломления Пж, то разность хода между интерферирующими лучами будет равна Л = ( о — Пж)1. Пусть толщина слоя пластинки (или ее показатель преломления) непрерывно меняется. В результате изменения А распределение интенсивности в дифракционной картине меняется, что показано на рис. 3.8.5, б. По графикам рис. 3.8.5, б мы можем проследить сдвиг нулевого максимума вправо и постепенное его замещение максимумов первого порядка. Граница раздела образец— жидкость исчезает при А = к к, т. е. при к = О, 1, 2 и т. д. Для исключения неопределенности в значении По используют образец переменной толщины. При этом условии граница раздела будет полностью невидима только при По = ж. Для четкой фиксации этого момента наблюдают интерференционные полосы, возникающие в зоне дифракции Френеля, т. е. вблизи границы образец — жидкость.  [c.218]

Интенсивность света будет при этом достигать максимума в том случае, если пластинка кварца установлена так, что угол 0/2 между направлением падающего вета и фронтом звуковой волны удовлетворяет брэгговскому условию (см. рис. 152).  [c.289]

Дополнительная разность фаз, вызванная отражением, здесь отсутствует, так как оба внутренних отражения происходят в одинаковых условиях. Интерференционная картина, создаваемая протяженным источником, и в этом случае локализована в бесконечности. Сравнивая (17) и (7а), мы видим, что картины в проходящем и отраженном свете дополнительны, т. е. светлые полосы одной и темные полосы другой находятся на одном и том же угловом расстоянии относительно нормали к пластинке. Одиако если отражательная способность поверхности пластинки мала (как, например, на границе стекло— воздух, где при нормальном падении она примерно равна 0,04), то интенсивности двух интерферирующих лучей, прошедших сквозь пластинку, очень сильно отличаются друг от друга. Поэтому (см. (7.2.16)) различие в интенсивности максимумов и минимумов оказывается малым, а видность полос — низкой.  [c.266]

Слева—бюст-из гнпса справа—бюст из гипса, металлизированного алюминием Фотография сделана в-тех же условиях, что на рис. 50 и выполнена на пластинках с максимумом чувствительности при 8500 А. Следует отметить интенсивность бликов на алюминированном бюсте, передающую разницу коэффициентов отражения (0,10 для гипса 0.80 для алюминия). Очень заметен контраст между белым и черным на алюминированном бюсте, объясняемый малой ролью, которую играет рассеяние, весьма заметное на гипсовом бюсте  [c.83]

При изменении температуры пластинки происходит изменение сразу нескольких параметров кристалла, от которых зависят коэффициенты Д и Т. Зависимость, вносяш,ую основной вклад в температурное изменение регистрируемого сигнала, назовем управляюш,ей функцией. Далее будет показано, что среди многих управляющих функций наиболее эффективны ехр(—а/г) и со8 2пкН). Первая из этих функций лежит в основе широко распространенного метода термометрии полупроводников по температурному сдвигу края межзонных оптических переходов [1.40]. При выполнении условия 0,2 аН 2 этот сдвиг обеспечивает высокую температурную чувствительность при регистрации отраженного или проходящего излучения. При аН <С 0,1 и аН > 3 чувствительность мала. На гармонической управляющей функции основан не менее распространенный метод лазерной интерференционной термометрии полупроводников и диэлектриков [1.43]. Здесь чувствительность также имеет максимум при определенной длине волны и падает как в длинноволновой, так и в коротковолновой областях спектра. Обе эти управляющие функции позволяют реализовать усиление изменений при малом относительном изменении температуры в и управляющего параметра а в) или п в) относительное изменение регистрируемой интенсивности света оказывается не малым. Двухступенчатое преобразование изменений температуры в регистрируемый сигнал (в данном случае сигналом является изменение интенсивности света после взаимодействия с пластинкой) характерно для активной оптической термометрии и, по-видимому, не характерно для традиционных методов (это проявляется в том, что отсутствует возможность усиливать или ослаблять коэффициент преобразования К = Д2/Д0 путем выбора условий считывания сигнала).  [c.21]


Поперечный градиент температуры. К снижению контраста интерференции приводит неоднородность температуры пластинки по диаметру зондируюш,его пучка [6.33]. Вследствие температурных зависимостей п[в) и к[в) неоднородность температуры Ав преобразуется в неоднородность оптической толш,ины А[пЬ) по диаметру пучка. Наличие поперечного градиента температуры означает образование теплового клина. Такая неоднородность влияет на интерференционный контраст точно так же, как клиновидность пластины, т. е. приводит к частичной или полной компенсации максимумов и минимумов при регистрации интенсивности пучка. Условие, при котором градиент температуры оказывает суш,ественное влияние на контраст, можно записать следуюш,им образом  [c.152]

При больших нагрузках в зонах концентрации напряжений появляются пластические деформации. На рис. 14 показано распределение напряжений Оу и интенсивности деформаций в наиболее нагруженном сечении растягиваемой пластинки с отверстием в условиях плоского напряженного состояния, а таюке изменение нормальных напряжений (Т0 и интенсивности деформаций в э на контуре отверстия (материал пластийки — сталь 45, 65 кгс/мм ). Расчет напряжений и деформаций произведен вариационно-разностным методом. Из рисунка видно, что при наличии упруго-пластических деформаций (зоны пластичности заштрихованы) максимум напряжений сдвигается от контура отверстия вглубь. Последнее связано с возникновением в глубине зон плоского напряженного состояния с одинаковыми знаками главных напряжений. что затрудняет пластическое течение и делает соответствуюш,ие кольцевые слои более жесткими.  [c.556]

В той части книги, которая посвящена оптическим задачам, он дает обзор различных классических теорий неприемлемым представляется только его объяснение глории. В двух более коротких статьях (Брикар, 1941, а, Ь) приводятся данные об интенсивности для ряда углов О от 10 до 50° и от 140 до 172°. По Бри-кару, поляризация радуг находится в согласии с теорией и с лабораторными измерениями, показанными на рис. 99, а именно она положительна, т. е. электрический вектор касателен к дугам радуги. Далее в этой статье он сообщает, что максимумы сдвигаются на место минимумов при наблюдении радуги сквозь пластинку поляроида, которая пропускает только более слабый компонент (Е перпендикулярно дугам). Объяснение этого явления было предложено в разд. 13.24. Несколько озадачивающим является сообщение Брикара о том, что кольца глории имеют тот же знак поляризации, что и радуги. Это противоречит приведенным в разд. 13.33 данным, полученным в лаборатории и в естественных условиях.  [c.498]

Рис. 11.4. Зависимость амплитуды лучателя В магниево-алюминиевом второй гармоники продольной вол- сплаве при напряжении на из-ны в магниево-алюминиевом сплаве лучателе (кварцевая пластинка X-от расстояния до излучателя. среза) 1000 В. Измерения проводились импульсным методом особые предосторожности были предприняты, чтобы резонансный усилитель не перегружался прямым сигналом — 5 МГц. Для этого во входной цепи усилителя, настроенного на частоту второй гармоники, необходимо поставить фильтр-пробку на эту частоту и использовать приемную пластинку, имеющую резонанс на второй гармонике. Измерения проводились на образцах различной длины (до 50 см) при сохранении условий эксперимента неизменными. Как видно из рис. 11.4, импульсы второй гармоники по мере прохождения волной расстояния от излучателя возрастают, достигают максимума (расстояние стабилизации, определяемое выражением лГс =(]п 2)/2аа) и затем, вследствие преобладающего влияния диссипативных процессов, убывают. Расчетная интенсивность звука в этих экспериментах составляла около 1 Вт/см , амплитуда звукового давления около 6 атм и амплитуда колебательной скорости около 1,7 см/с. Рис. 11.4. Зависимость амплитуды лучателя В магниево-алюминиевом <a href="/info/179087">второй гармоники</a> продольной вол- сплаве при напряжении на из-ны в <a href="/info/115358">магниево-алюминиевом сплаве</a> лучателе (кварцевая пластинка X-от расстояния до излучателя. среза) 1000 В. Измерения проводились <a href="/info/320626">импульсным методом</a> особые предосторожности были предприняты, чтобы <a href="/info/87324">резонансный усилитель</a> не перегружался прямым сигналом — 5 МГц. Для этого во <a href="/info/753770">входной цепи</a> усилителя, настроенного на частоту <a href="/info/179087">второй гармоники</a>, необходимо поставить <a href="/info/390457">фильтр-пробку</a> на эту частоту и использовать приемную пластинку, имеющую резонанс на <a href="/info/179087">второй гармонике</a>. Измерения проводились на образцах различной длины (до 50 см) при сохранении условий эксперимента неизменными. Как видно из рис. 11.4, импульсы <a href="/info/179087">второй гармоники</a> по мере прохождения волной расстояния от излучателя возрастают, достигают максимума (<a href="/info/201344">расстояние стабилизации</a>, определяемое выражением лГс =(]п 2)/2аа) и затем, вследствие преобладающего влияния <a href="/info/389023">диссипативных процессов</a>, убывают. Расчетная <a href="/info/18585">интенсивность звука</a> в этих экспериментах составляла около 1 Вт/см , <a href="/info/19375">амплитуда звукового давления</a> около 6 атм и амплитуда <a href="/info/201371">колебательной скорости</a> около 1,7 см/с.
Интенсивность деформаций и границы всех зон не стабильны, меняются в зависимости от хода зависаний пород покрывающей толщи, достигая максимумов в периоды действия над забоем суммарных максимальных изгибающих моментов. Отсюда вытекает весьма важный вывод относительно воздействий на надрабатываемые пласты и горные выработки воздействие надработки — не постоянно, имеет определенную для данных условий периодичность приводит к различным их деформациям, т. е. на одних участках эти воздействия — максимальны, на других — минимальны, а не постоянны, как это нередко предполагается в ряде литературных источников.  [c.215]

В покрывающей толще по мере возрастания глубины, вплоть до разрабатываемого пласта, интенсивность опорного давления все более увеличивается, разница между нормальной составляющей тензора напряжений an = Y p-iHi osa и максимумами опорного давления все более возрастает. Покрывающая толща представляет собой нагрузку, имеющую своеобразный и вполне закономерный характер распределения, но различный для разных условий.  [c.231]


Смотреть страницы где упоминается термин Условие максимумов интенсивности пластинке : [c.171]    [c.517]   
Прикладная физическая оптика (1961) -- [ c.173 ]



ПОИСК



Условие максимумов интенсивности



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте